CN220752163U - 一种半导体测试设备 - Google Patents

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CN220752163U
CN220752163U CN202322220069.2U CN202322220069U CN220752163U CN 220752163 U CN220752163 U CN 220752163U CN 202322220069 U CN202322220069 U CN 202322220069U CN 220752163 U CN220752163 U CN 220752163U
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China
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李强
李彦锋
余文武
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Xinchuang Tianmen Electronic Technology Co ltd
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Xinchuang Tianmen Electronic Technology Co ltd
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Abstract

本实用新型涉及半导体检测技术领域,本实用新型公开了一种半导体测试设备,该一种半导体测试设备,包括检测台,所述检测台上表面固定安装有若干检测盒,每个所述检测盒内底部均安装有检测端子,所述检测盒内部活动安装有安装架,所述安装架内部设置有用于安装待检测件的空腔,所述安装架顶部固定安装有盒盖,将待检测设备插入安装架内部设置的空腔内部,并且将安装架推入检测盒内部,使得盒盖下表面固定安装有密封圈的连接在检测盒的开口部位,能够对开口部位进行密封,防止空气温度外泄,导致检测温度不稳定的现象,提升设备监测数据的稳定性,并且通过安装架能够对待检测设备进行定位,提升安装的便捷性。

Description

一种半导体测试设备
技术领域
本实用新型涉及半导体检测技术领域,尤其涉及一种半导体测试设备。
背景技术
半导体指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料,半导体在集成电路、消费电子、通信系统、光伏发电、照明、大功率电源转换等领域都有应用,如二极管就是采用半导体制作的器件。
现有技术中,授权公开号为CN215813172U的一种半导体测试设备,包括底板以及连接在底板顶端的顶板,在底板的底端呈矩形阵列固定有防滑垫,在顶板的顶端呈固定有多个安装盒,在底板的顶端面固定有多个与安装盒竖向对应的半导体制冷片,且底板的顶端面两侧均开设有连接槽,顶板通过底端装置的连接板与底板固定,其中底板的两侧面均设置有用于固定连接板的紧固组件,所述底板的顶端面呈矩形阵列开设有安装槽,同一侧的两个所述安装槽之间开设有连接槽,多个所述半导体制冷片均内嵌在安装槽中,所述底板的一侧面对称固定有与半导体制冷片连接的电源端子,该半导体测试设备,提升了半导体测试温度的多样性和测试效果,便于对测试设备进行安装和拆卸。
在上述技术方案中,在检测半导体设备时,需要对测试温度进行控制,而半导体设备插入半封闭的空间内,无法对检测盒进行密封,会导致空气温度外泄,影响检测环境温度的稳定性,从而导致测试数据不准确,并且无法监测检测环境的温度,为此我们提出了一种半导体测试设备。
实用新型内容
本实用新型提供一种半导体测试设备,解决了在检测半导体设备时,需要对测试温度进行控制,而半导体设备插入半封闭的空间内,无法对检测盒进行密封,会导致空气温度外泄,影响检测环境温度的稳定性,从而导致测试数据不准确,并且无法监测检测环境的温度的技术问题。
为解决上述技术问题,本实用新型提供的一种半导体测试设备,包括检测台,所述检测台上表面固定安装有若干检测盒,每个所述检测盒内底部均安装有检测端子,所述检测盒内部活动安装有安装架,所述安装架内部设置有用于安装待检测件的空腔,所述安装架顶部固定安装有盒盖,所述盒盖下表面位于安装架外部环绕固定安装有密封圈。
优选的,所述检测盒内部两侧壁均开设有安装腔。
优选的,其中一个所述安装腔内部安装有制冷器,另一个所述安装腔内部安装有制热器。
优选的,所述安装架下表面设置有用于插接检测端子的检测端子连接槽。
优选的,所述检测盒内部固定安装有温度传感器。
优选的,所述检测台外壁固定安装有若干显示模块,若干所述显示模块与若干检测盒一一对应设置,每个所述显示模块均与相对应检测盒内部的温度传感器电性连接。
优选的,所述检测盒内壁上设置有若干导向槽,每个所述导向槽内部均滑动安装有导向块,所述导向块固定在安装架的下端。
与相关技术相比较,本实用新型提供的一种半导体测试设备具有如下有益效果:
在使用时,将待检测设备插入安装架内部设置的空腔内部,并且将安装架推入检测盒内部,使得盒盖下表面固定安装有密封圈的连接在检测盒的开口部位,能够对开口部位进行密封,防止空气温度外泄,导致检测温度不稳定的现象,提升设备监测数据的稳定性,并且通过安装架能够对待检测设备进行定位,提升安装的便捷性。
通过检测台上表面固定安装有若干检测盒,能够使设备形成若干独立的检测腔室,从而适用于多组待检测设备同时在不同温度环境下的检测工作,提升设备检测效率。
附图说明
图1为一种半导体测试设备的整体结构示意图;
图2为一种半导体测试设备的整体俯视的结构示意图;
图3为一种半导体测试设备的图2中A-A处剖面的结构示意图;
图4为一种半导体测试设备的图3中B处放大的结构示意图;
图5为一种半导体测试设备的图3中C处放大的结构示意图。
图中标号:1、检测台;11、检测端子;2、检测盒;3、盒盖;31、密封圈;4、安装架;41、导向槽;42、导向块;43、检测端子连接槽;5、显示模块;51、温度传感器;6、安装腔;7、制冷器;8、制热器。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
实施例一,由图1-5给出,本实用新型一种半导体测试设备,包括检测台1,检测台1上表面固定安装有若干检测盒2,每个检测盒2内底部均安装有检测端子11,检测盒2内部活动安装有安装架4,安装架4内部设置有用于安装待检测件的空腔,安装架4顶部固定安装有盒盖3,盒盖3下表面位于安装架4外部环绕固定安装有密封圈31。
在本实施例中,在测试前,将待检测设备插入安装架4内部设置的空腔内部,并且将安装架4推入检测盒2内部,使得盒盖3下表面固定安装有密封圈31的连接在检测盒2的开口部位,能够对开口部位进行密封,防止空气温度外泄,导致检测温度不稳定的现象,提升设备监测数据的稳定性;
并且通过安装架4能够对待检测设备进行定位,提升安装的便捷性。
通过检测台1上表面固定安装有若干检测盒2,能够使设备形成若干独立的检测腔室,从而适用于多组待检测设备同时在不同温度环境下的检测工作,提升设备检测效率。
在本实施例中,检测盒2内部两侧壁均开设有安装腔6。
在本实施例中,其中一个安装腔6内部安装有制冷器7,另一个安装腔6内部安装有制热器8,通过制热器8与制冷器7能够将检测盒2内部调节为不同温度状态,从而实现不同温度的检测工作。
在本实施例中,安装架4下表面设置有用于插接检测端子11的检测端子连接槽43,在安装架4下行至检测盒2底部后,检测端子11端部插入检测端子连接槽43内部与待检测设备连接,从而进行检测工作。
在本实施例中,检测盒2内部固定安装有温度传感器51,检测台1外壁固定安装有若干显示模块5,若干显示模块5与若干检测盒2一一对应设置,每个显示模块5均与相对应检测盒2内部的温度传感器51电性连接,通过在检测盒2内部安装有温度传感器51,能够实时监测检测盒2内部的空气温度,并且将数据传输至电性连接的显示模块5,通过显示模块5显示出来,能够便于工作人员观察与调节检测温度。
在本实施例中,检测盒2内壁上设置有若干导向槽41,每个导向槽41内部均滑动安装有导向块42,导向块42固定在安装架4的下端,安装架4能够以导向块42与导向槽41为路径运动。
工作原理:
在测试前,将待检测设备插入安装架4内部设置的空腔内部,并且将安装架4推入检测盒2内部,使得盒盖3下表面固定安装有密封圈31的连接在检测盒2的开口部位,能够对开口部位进行密封,防止空气温度外泄,导致检测温度不稳定的现象,提升设备监测数据的稳定性;
并且通过安装架4能够对待检测设备进行定位,提升安装的便捷性。
通过检测台1上表面固定安装有若干检测盒2,能够使设备形成若干独立的检测腔室,从而适用于多组待检测设备同时在不同温度环境下的检测工作,提升设备检测效率。
通过在检测盒2内部安装有温度传感器51,能够实时监测检测盒2内部的空气温度,并且将数据传输至电性连接的显示模块5,通过显示模块5显示出来,能够便于工作人员观察与调节检测温度。
最后应说明的是:以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已,并不用于限制本实用新型,尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明,对于本领域的技术人员来说,其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分技术特征进行等同替换,凡在本实用新型的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (7)

1.一种半导体测试设备,包括检测台(1),其特征在于:所述检测台(1)上表面固定安装有若干检测盒(2),每个所述检测盒(2)内底部均安装有检测端子(11),所述检测盒(2)内部活动安装有安装架(4),所述安装架(4)内部设置有用于安装待检测件的空腔,所述安装架(4)顶部固定安装有盒盖(3),所述盒盖(3)下表面位于安装架(4)外部环绕固定安装有密封圈(31)。
2.根据权利要求1所述的一种半导体测试设备,其特征在于,所述检测盒(2)内部两侧壁均开设有安装腔(6)。
3.根据权利要求2所述的一种半导体测试设备,其特征在于,其中一个所述安装腔(6)内部安装有制冷器(7),另一个所述安装腔(6)内部安装有制热器(8)。
4.根据权利要求3所述的一种半导体测试设备,其特征在于,所述安装架(4)下表面设置有用于插接检测端子(11)的检测端子连接槽(43)。
5.根据权利要求1所述的一种半导体测试设备,其特征在于,所述检测盒(2)内部固定安装有温度传感器(51)。
6.根据权利要求1所述的一种半导体测试设备,其特征在于,所述检测台(1)外壁固定安装有若干显示模块(5),若干所述显示模块(5)与若干检测盒(2)一一对应设置,每个所述显示模块(5)均与相对应检测盒(2)内部的温度传感器(51)电性连接。
7.根据权利要求6所述的一种半导体测试设备,其特征在于,所述检测盒(2)内壁上设置有若干导向槽(41),每个所述导向槽(41)内部均滑动安装有导向块(42),所述导向块(42)固定在安装架(4)的下端。
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