CN220525954U - 一种集成电路测试工装 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种集成电路测试工装，涉及集成电路测试技术领域，包括测试台，所述测试台侧面对称垂直固定设置有金属板，所述金属板侧面沿竖直方向开设有竖直槽，所述金属板侧面固定设置有接电环，所述金属板顶部固定设置有切换电机，所述切换电机输出端固定设置有移位螺杆，所述移位螺杆沿竖直方向设置有使得多个接电柱依次得电的接电组件，所述测试台顶部边缘位置固定设置有对集成电路辅助固定的固定组件。本实用新型在测试台侧面设置有接电组件，接电组件受切换电机上的移位螺杆驱动，接电组件可使得电笔依次与集成电路芯片接触，替代工人，大大降低了测试人员的劳动强度，且集成电路芯片的测试效率有效提高。

Description

一种集成电路测试工装

技术领域

本实用新型涉及集成电路测试技术领域，尤其涉及一种集成电路测试工装。

背景技术

集成电路芯片是一种内含集成电路的硅片，体积很小，常常是计算机或其他电子设备的一部分，公开号为CN216718602U的实用新型专利“一种芯片测试用工装”，通过类似于手机支架原理通过卡壳对万用表进行卡接固定，通过表笔卡接槽对表笔进行固定与电路板进行电性连接，方便的使工作人员解放出双手操作万用表以及读数。

然而集成电路芯片常常设置有多组引脚，需要工作人员握持表笔依次精密接触各个位置的引脚，不仅集成电路芯片的测试速度较慢，而且工作人员长时间握持表笔依次精密接触各个位置的引脚时，对工作人员手部负担较重。

发明内容

本实用新型的目的是为了解决现有技术中上述背景技术中所提的问题，而提出的一种集成电路测试工装。

为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：

一种集成电路测试工装，包括测试台，所述测试台侧面对称垂直固定设置有金属板，所述金属板侧面沿竖直方向开设有竖直槽，所述金属板侧面固定设置有接电环，所述金属板顶部固定设置有切换电机，所述切换电机输出端固定设置有移位螺杆，所述移位螺杆沿竖直方向设置有使得多个接电柱依次得电的接电组件，所述测试台顶部边缘位置固定设置有对集成电路辅助固定的固定组件。

可选地，所述接电环顶部螺纹旋入有边缘螺栓，所述测试台侧面边缘位置固定设置有延伸台。

可选地，所述接电组件包括接触块、接电杆、金属块，所述金属块螺纹旋入到移位螺杆外壁，所述金属块侧面与接电杆一端固定连接。

可选地，所述接电杆为倾斜设置，所述接电杆侧面等距固定设置有接触块，所述接触块位置与接电柱位置一一对应。

可选地，所述固定组件包括顶挡板、中间螺栓、竖直板，所述竖直板垂直固定设置在测试台顶部边缘位置，所述竖直板侧面沿水平方向滑动设置有顶挡板。

可选地，所述顶挡板顶面边缘位置固定设置有阻挡边，所述竖直板顶部中间位置螺纹旋入有中间螺栓，所述中间螺栓底部接触到顶挡板顶部中间位置。

与现有技术相比，本实用新型具备以下优点：

1、本实用新型在测试台侧面设置有接电组件，接电组件受切换电机上的移位螺杆驱动，接电组件可使得电笔依次与集成电路芯片接触，替代工人，大大降低了测试人员的劳动强度，且集成电路芯片的测试效率有效提高。

2、本实用新型在测试台侧面设置有固定组件，测试台两侧面等距设置有接电柱，接电柱可辅助集成电路芯片的针脚与接电组件连通。

附图说明

图1为本实用新型整体结构示意图。

图2为固定组件的局部结构示意图。

图3为接电杆与其连接件的局部结构示意图。

图中：1、测试台；2、竖直板；3、延伸台；4、切换电机；41、移位螺杆；5、金属板；51、竖直槽；52、接电柱；6、接电环；61、边缘螺栓；7、中间螺栓；8、阻挡边；9、顶挡板；10、接电杆；11、接触块；12、金属块。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。

在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。

参照图1-3，一种集成电路测试工装，包括测试台1，测试台1侧面对称垂直固定设置有金属板5，金属板5侧面沿竖直方向开设有竖直槽51，金属板5侧面固定设置有接电环6，接电环6顶部螺纹旋入有边缘螺栓61，通过边缘螺栓61与接电环6可将测电笔的表笔进行固定，测试台1侧面边缘位置固定设置有延伸台3，用于安装测电笔的表笔。

金属板5顶部固定设置有切换电机4，切换电机4输出端固定设置有移位螺杆41，移位螺杆41沿竖直方向设置有使得多个接电柱52依次得电的接电组件，接电组件包括接触块11、接电杆10、金属块12，金属块12螺纹旋入到移位螺杆41外壁。

金属块12侧面与接电杆10一端固定连接，接电杆10为倾斜设置，接电杆10侧面等距固定设置有接触块11，接触块11位置与接电柱52位置一一对应，测试台1顶部边缘位置固定设置有对集成电路辅助固定的固定组件。

固定组件包括顶挡板9、中间螺栓7、竖直板2，竖直板2垂直固定设置在测试台1顶部边缘位置，竖直板2侧面沿水平方向滑动设置有顶挡板9，顶挡板9顶面边缘位置固定设置有阻挡边8，竖直板2顶部中间位置螺纹旋入有中间螺栓7，中间螺栓7底部接触到顶挡板9顶部中间位置。

本实用新型的具体实施步骤与原理如下：

测试人员将集成电路芯片放置在测试台1上，人力横移顶挡板9，顶挡板9将集成电路芯片简单固定，此时集成电路芯片的引脚与接电柱52一一接触，通过接电环6将测电笔的表笔固定，初始状态下，金属块12处于竖直槽51最顶部，此时只有接电杆10最低端的接触块11与一个接电柱52接触，启动切换电机4带动接电杆10下移，接电杆10上的新接触块11与接电柱52接触，原本旧接触块11与接电柱52分离，通过观察测电笔的示数，完成对集成电路芯片的测试工作。

以上所述，仅为本实用新型较佳的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，根据本实用新型的技术方案及其发明构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。

Claims (6)

1.一种集成电路测试工装，包括测试台(1)，其特征在于，所述测试台(1)侧面对称垂直固定设置有金属板(5)，所述金属板(5)侧面沿竖直方向开设有竖直槽(51)，所述金属板(5)侧面固定设置有接电环(6)，所述金属板(5)顶部固定设置有切换电机(4)，所述切换电机(4)输出端固定设置有移位螺杆(41)，所述移位螺杆(41)沿竖直方向设置有使得多个接电柱(52)依次得电的接电组件，所述测试台(1)顶部边缘位置固定设置有对集成电路辅助固定的固定组件。

2.根据权利要求1所述的一种集成电路测试工装，其特征在于，所述接电环(6)顶部螺纹旋入有边缘螺栓(61)，所述测试台(1)侧面边缘位置固定设置有延伸台(3)。

3.根据权利要求1所述的一种集成电路测试工装，其特征在于，所述接电组件包括接触块(11)、接电杆(10)、金属块(12)，所述金属块(12)螺纹旋入到移位螺杆(41)外壁，所述金属块(12)侧面与接电杆(10)一端固定连接。

4.根据权利要求3所述的一种集成电路测试工装，其特征在于，所述接电杆(10)为倾斜设置，所述接电杆(10)侧面等距固定设置有接触块(11)，所述接触块(11)位置与接电柱(52)位置一一对应。

5.根据权利要求1所述的一种集成电路测试工装，其特征在于，所述固定组件包括顶挡板(9)、中间螺栓(7)、竖直板(2)，所述竖直板(2)垂直固定设置在测试台(1)顶部边缘位置，所述竖直板(2)侧面沿水平方向滑动设置有顶挡板(9)。

6.根据权利要求5所述的一种集成电路测试工装，其特征在于，所述顶挡板(9)顶面边缘位置固定设置有阻挡边(8)，所述竖直板(2)顶部中间位置螺纹旋入有中间螺栓(7)，所述中间螺栓(7)底部接触到顶挡板(9)顶部中间位置。