CN220472808U - 一种用于黑体校准的红外测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型属于光电探测技术领域，具体为一种用于黑体校准的红外测试装置。本实用新型红外测试装置包括光学平台、载样台、探针装置、显微镜、导轨、带有斩波器的点源黑体、屏蔽罩；通过导轨使显微镜和带有斩波器的点源黑体能够进行位置切换，实现对位于载样台上的样品的测试，并且使测试过程更加灵活高效。在测试过程中，使用显微镜观察样品，保证测试的准确性，然后将显微镜移开，将黑体移动到样品正上方进行测试，提供稳定且可靠的测试环境。本实用新型的红外测试装置具有广泛的应用前景。

Description

一种用于黑体校准的红外测试装置

技术领域

本实用新型属于光电探测技术领域，具体涉及一种用于黑体校准的红外测试装置。

背景技术

随着二维材料的快速发展和广泛应用，对其性能和特性的准确测试成为关键需求。然而，目前存在一个挑战，即传统的黑体校准方法无法直接应用于二维材料的红外测试。传统黑体无法有效地与二维材料接触，由于二维材料的薄度和柔软性，黑体对其进行测试时难以确保接触稳定性和测量准确性。

为了克服这一问题，需要开发一种创新的红外测试装置，可用于黑体校准二维材料。该装置需要解决二维材料与传统黑体之间的接触和测试难题，同时保证测试结果的准确性和可靠性。

本实用新型提出了一种可用于黑体校准的红外测试装置，专门针对二维材料进行设计。该装置结合了显微镜、导轨和带有斩波器的点源黑体等元件，以实现对二维材料的高精度定位和观察。通过导轨的移动，显微镜和点源黑体可以在载样台上对二维材料进行位置切换，使样品能够通过扎探针进行测试时，通过显微镜进行观察。在测试过程中，显微镜被移开，点源黑体移至样品正上方进行红外测试。

通过本实用新型的红外测试装置，可以克服传统黑体校准方法在二维材料测试中的限制。适用于二维材料的红外测试需求。该装置不仅能够保证测试结果的准确性，还具有较低的成本和操作简单等优点。有望在材料科学、光电子领域以及相关研究和应用中发挥重要作用。

实用新型内容

针对目前黑体校准方法无法直接应用于二维材料的红外测试的问题，本实用新型提供一种红外测试装置，旨在实现测试结果准确、成本低、操作简单的黑体校准方法。

本实用新型提供的用于黑体校准的红外测试装置，包括光学平台、载样台、探针装置、显微镜、导轨、斩波器、点源黑体、屏蔽罩；其中，所述屏蔽罩覆盖在整个光学平台上，并将其余部件笼罩在屏蔽罩内；载样台和探针装置设置于光学平台上；载样台用于承载待测样品，探针装置布置于载样台旁侧；所述导轨布置于载样台的正上方；所述显微镜、点源黑体设置于导轨上，可沿导轨移动；所述斩波器布置于点源黑体下端处，可随点源黑体移动。

进一步地：

所述光学平台包括但不局限于振动隔离光学平台、光学转动平台等。

所述载样台是在X、Y方向可移动的。

所述探针装置是在X、Y、Z三个方向均可移动的，且探针装置的数量可以为若干个，例如为2-4个。

所述显微镜是包括但不局限于普通光学显微镜，为其他任何可用于观察微小物体的光学仪器均可。

所述黑体是带有可旋转斩波器的点源黑体。

所述样品可以为任意材料样品，尤其是对任何二维材料均适用。

通过导轨使显微镜和带有斩波器的点源黑体能够进行位置切换，从而实现对位于载样台上的样品的测试；在测试过程中，使用显微镜观察样品，保证测试的准确性，然后将显微镜移开，将黑体移动到样品正上方进行测试，提供稳定且可靠的测试环境。

上述测试装置中，进行红外光电测试操作流程为：

（1）使用显微镜观察样品，在样品合适位置下探针；

（2）通过导轨将显微镜移开，将带有斩波器的点源黑体移到样品正上方；

（3）调节黑体及斩波器，以给样品合适的探测信号；

（4） 通过电流锁相放大器、电流前置运算放大器以及半导体测试仪对信号进行处理分析，进而得出测试结果。

针对目前二维材料红外测试中黑体校准方法的局限性，本发明提供一种高效、精确的解决方案。其能够实现任意光电材料在红外波段的光电测试，并具备测试结果准确、成本低、操作简单的优势。该装置的应用前景广阔，特别可用于光电探测技术领域中。

附图说明

图1为本实用新型实施例中一种可用于黑体校准的红外光电测试装置示意图。

图2为本实用新型实施例中红外光电测试系统图。

图中标号：1为光学平台，2为载样台，3为探针装置，4为显微镜，5为导轨，6为斩波器，7为点源黑体，8为屏蔽罩。

实施方式

以下结合附图及实施例对本实用新型作进一步说明。

如图1所示，用于黑体校准的红外光电测试装置，包括光学平台、载样台、探针装置、显微镜、导轨、带有斩波器的点源黑体、屏蔽罩；通过导轨使显微镜和带有斩波器的点源黑体能够进行位置切换，从而实现对位于载样台上的样品的测试，在测试过程中，使用显微镜观察样品，保证测试的准确性，然后将显微镜移开，将黑体移动到样品正上方进行测试，提供稳定且可靠的测试环境。

本实施例中：

光学平台为振动隔离光学平台或光学转动平台；

载样台是在X、Y方向可移动的；

探针装置是在X、Y、Z三个方向均可移动的，且探针装置的数量为2-4个；

显微镜是普通光学显微镜；

导轨是位于载样台正上方的；

黑体是带有旋转斩波器的点源黑体；

样品为二维材料。

进行红外光电测试系统图如图2所示，具体为：

（1）使用显微镜观察样品，在样品合适位置下探针；

（2）通过导轨将显微镜移开，将带有斩波器的点源黑体移到样品正上方；

（3）调节黑体及斩波器，以给样品合适的探测信号；

（4） 通过电流锁相放大器、电流前置运算放大器以及半导体测试仪对信号进行处理分析，进而得出测试结果。

以上具体实施方式是对本实用新型提出的方案思想的具体支持，不能以此限定本实用新型的保护范围，凡是按照本实用新型提出的思想，在本方案基础上所做的任何等同变化或等效的改动，均仍属于本实用新型方案的保护范围。

Claims (4)

1.一种用于黑体校准的红外测试装置，其特征在于，包括光学平台、载样台、探针装置、显微镜、导轨、斩波器、点源黑体、屏蔽罩；其中，所述屏蔽罩覆盖在整个光学平台上，并将其余部件笼罩在屏蔽罩内；载样台和探针装置设置于光学平台上；载样台用于承载待测样品，探针装置布置于载样台旁侧；所述导轨布置于载样台的正上方；所述显微镜、点源黑体设置于导轨上，可沿导轨移动；所述斩波器布置于点源黑体下端处，可随点源黑体移动。

2.根据权利要求1所述的红外测试装置，其特征在于，所述载样台是在X、Y方向可移动；所述探针装置在X、Y、Z三个方向均可移动的，探针装置的数量为2-4个。

3.根据权利要求1所述的红外测试装置，其特征在于，所述光学平台为振动隔离光学平台或光学转动平台。

4.根据权利要求1所述的红外测试装置，其特征在于，所述样品为二维材料。