CN220455353U - 一种可靠性测试治具及测试装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种可靠性测试治具及测试装置,用于对产品进行测试,所述产品包括相对设置的测试面和固定面,所述治具包括相对设置的第一连接座和第二连接座,所述第二连接座内可拆卸的设置有腔体座,其中,所述第一连接座用于固定所述测试面;所述腔体座包括中心腔体以及围绕所述中心腔体设置的连接部,所述连接部用于固定所述固定面的四周;所述第一连接座和第二连接座中的至少一个用于沿背离方向运动以测试所述测试面的可靠性。
Description
技术领域
本实用新型一般涉及产品测试技术领域,具体涉及一种可靠性测试治具及测试装置。
背景技术
随着高密度、高集成度和小且薄的集成电路封装技术发展需求下,如何在既能保证基板材料平整度和稳定性的前提下,还能解决高热量的散热成了行业的主要问题。基板翘曲变形会致使应力集中,芯片接触不良,性能与寿命大幅缩减。
为了确保芯片产品的使用寿命,在芯片产品制作过程中和/或出厂前,需要监控封装设计的可靠性。但由于芯片上具有多种电子元件,例如,电阻、电容等元器件,这些元器件或基板等对封装层的测试过程中产生相互关联影响,导致可靠性测试数据的不准确性,现有测试过程中无法有效规避这些关联影响因素。
实用新型内容
鉴于现有技术中的上述缺陷或不足,期望提供一种可靠性测试治具及测试装置,可以对芯片产品进行可靠性测试,提高测试准确性。
第一方面,本申请提供了一种可靠性测试治具,用于对产品进行测试,所述产品包括相对设置的测试面和固定面,所述治具包括相对设置的第一连接座和第二连接座,所述第二连接座内可拆卸的设置有腔体座,其中,
所述第一连接座用于固定所述测试面;
所述腔体座包括中心腔体以及围绕所述中心腔体设置的连接部,所述连接部用于固定所述固定面的四周;
所述第一连接座和第二连接座中的至少一个用于沿背离方向运动以测试所述测试面的可靠性。
可选地,还包括提拉组件,所述提拉组件用于与测试设备连接,所述提拉组件包括与所述第一连接座可拆卸连接的第一拉杆和/或与所述第二连接座可拆卸连接的第二拉杆。
可选地,所述产品包括主体以及围绕所述主体四周设置的加强筋,所述连接部用于与所述加强筋的固定面固定连接。
可选地,所述连接部通过粘合的方式与所述加强筋固定连接,所述连接部上设置有多个胶槽,所述胶槽在所述连接部上的深度为0.3~0.35mm。
可选地,所述连接部与所述加强筋的固定面之间的粘合面积占所述主体面积的90~95%。
可选地,所述连接部包括与所述产品粘合的连接面,所述连接面上设置有围绕所述中心腔体的挡胶部,所述挡胶部凸出于所述连接面。
可选地,所述挡胶部为柔性胶圈,所述连接面上设置有用于安装所述挡胶部的凹槽,所述挡胶部凸出于所述连接面的高度为0.15~0.2mm。
可选地,所述连接面上设置有围绕所述中心腔体的溢胶槽,所述溢胶槽设置在所述挡胶部远离所述中心腔体的外侧,所述溢胶槽相对于所述连接面的深度为0.45~0.5mm。
可选地,所述第二连接座上设置有用于容纳所述腔体座的容纳腔,所述第二连接座上设置有用于与所述腔体座可拆卸连接的紧固件。
第二方面,本申请提供了一种可靠性测试装置,包括测试设备以及如以上任一所述的可靠性测试治具。
本实用新型的实施例提供的技术方案可以包括以下有益效果:
本实用新型实施例提供的可靠性测试治具,采用分体式设计,最大限度循环再利用,以降低使用成本;通过腔体座采用中间镂空的形态,可以适应产品上中间高两边低的形态,避免中间区域的元件等影响测试准确性;在对芯片产品进行可靠性测试时,操作简单、实用性强、连接可靠、测试准确,有效控制并提升产品的可靠性,规避和降低了不良品流入到客户和消费者手中。
附图说明
通过阅读参照以下附图所作的对非限制性实施例所作的详细描述,本实用新型的其它特征、目的和优点将会变得更明显:
图1为本实用新型的实施例提供的一种可靠性测试治具的结构示意图;
图2为本实用新型的实施例提供的一种产品的尺寸示意图;
图3为本实用新型的实施例提供的一种腔体座的结构示意图;
图4为图3中A处的放大示意图。
图中,
100、产品;200、第一连接座;300、第二连接座;400、腔体座;500、紧固件;600、第一拉杆;700、第二拉杆;
110、主体;120、加强筋;
410、中心腔体;420、连接部;430、连接面;440、胶槽;450、挡胶部;460、凹槽;470、溢胶槽。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本实用新型作进一步的详细说明。可以理解的是,此处所描述的具体实施例仅仅用于解释相关发明,而非对该发明的限定。另外还需要说明的是,为了便于描述,附图中仅示出了与发明相关的部分。
需要说明的是,在不冲突的情况下,本实用新型中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本实用新型。
请详见图1,本申请提供了一种可靠性测试治具,用于对产品100进行测试,所述产品100包括相对设置的测试面和固定面,所述治具包括相对设置的第一连接座200和第二连接座300,所述第二连接座300内可拆卸的设置有腔体座400,其中,
所述第一连接座200用于固定所述测试面;
所述腔体座400包括中心腔体410以及围绕所述中心腔体410设置的连接部420,所述连接部420用于固定所述固定面的四周;
所述第一连接座200和第二连接座300中的至少一个用于沿背离方向运动以测试所述测试面的可靠性。
本申请实施例中提供的可靠性测试治具用于对芯片产品100的封装层的可靠性进行测试,在不同实施例中还可以应用于电子产品100上的其他元器件区,本申请对此并不限制,根据应用场景的不同可以进行调整。示例性地,本申请中产品100的测试面即封装层的一侧,固定面即封装层的相反面,在固定面的主体110区域上设置有芯片产品100的多种电子元件,例如,电阻、电容等。
本申请中通过在腔体座400中设置中心腔体410,通过腔体座400与固定面的四周进行固定连接,可以将芯片上的主体110区域上的电子元件容置到该区域中,防止可靠性测试过程中电子元件等对测试数据产生影响,提高测试准确性;通过第一连接座200和第二连接座300连接测试设备,可以对产品100进行拉力测试,以此评价产品100的可靠性。
通过设置第二连接座300与腔体座400可拆卸连接方便,方便更换腔体座400。采用分体式设计,最大限度循环再利用,例如在对多个尺寸的产品100进行测试时,可以仅更好腔体座400,以降低使用成本。可选地,所述第二连接座300上设置有用于容纳所述腔体座400的容纳腔,所述第二连接座300上设置有用于与所述腔体座400可拆卸连接的紧固件500,所述紧固件500可以为螺栓,腔体座400上设置有与所述紧固件500配合的螺纹孔,紧固件500可以设置四个或者更多个。
需要说明的是,本申请实施例中,第一连接座200和第二连接座300可以均与测试设备进行连接,通过第一连接座200和第二连接座300均沿背离方向运动进行测试,当然,在其他实施例中,通过第一连接座200和第二连接座300中的一个进行运动也可以实现第一连接座200和第二连接座300之间的背离运动,以对测试面和产品100之间进行拉力的测试,在不同实施例中根据需要进行设置。
对应的,该可靠性测试治具还包括提拉组件,所述提拉组件用于与测试设备连接,所述提拉组件包括与所述第一连接座200可拆卸连接的第一拉杆600和/或与所述第二连接座300可拆卸连接的第二拉杆700。第一拉杆600和第二拉杆700上可以分别采用螺纹结构,第一连接座200和第二连接座300上分别设置有对应的螺纹孔,实现第一拉杆600和第一连接座200的可拆卸连接、第二拉杆700和第二连接座300的可拆卸连接。
在本申请的实施例中,所述产品100包括主体110以及围绕所述主体110四周设置的加强筋120,所述连接部420用于与所述加强筋120的固定面固定连接。可以理解的是,本申请中并不限制产品100的类型和尺寸,加强筋120设置在主体110的固定面上,加强筋120呈环形且沿所述主体110的四周边缘设置。
本申请中第一连接座200与测试面的固定方式可以采用胶水粘合的方式,还可以采用吸附的方式,本申请对此并不限制。为了简化设备并提高第一连接座200与测试面之间的连接强度,本申请中第一连接座200与测试面、腔体座400与固定面的连接方式均采用胶水粘合的方式。
具体地,所述连接部420通过粘合的方式与所述加强筋120固定连接,所述连接部420上设置有多个胶槽440,所述胶槽440在所述连接部420上的深度为0.3~0.35mm。多个胶槽440独立设置,用于容纳填充胶水,与光滑的连接面430相比可以有效保持胶水的胶量与厚度,提高腔体座400与加强筋120之间的连接强度。需要说明的是,在一些实施例中,腔体座400与加强筋120之间采用吸附的连接方式,在此连接部420上可以设置吸附孔。
在本申请实施例中,并不限制所述胶槽440的形状以及数量,在本申请实施例中,根据连接部420与加强筋120之间的接触面积等进行调整。例如,在本申请中示出了一种腔体座400上胶槽440的布置方式,其中,中心腔体410左右两侧的连接部420与加强筋120的粘合面积大于中心腔体410上下两侧的连接部420与加强筋120的粘合面积,因此,在中心腔体410左右两侧的连接部420上分别设置有独立的四个胶槽440,在中心腔体410上下两侧的连接部420上设置有一个细长型的胶槽440,以提高中心腔体410上下两侧的连接部420的胶量。
可选地,所述连接部420与所述加强筋120的固定面之间的粘合面积占所述主体110面积的90~95%,以保证连接部420与加强筋120之间的连接强度。
可以理解的是,腔体座400的尺寸可以根据产品100的尺寸进行设计,如图2所示,XY为产品100的外形尺寸,X0/X2/Y0/Y2为加强筋120的外形尺寸,所述中心腔体410的尺寸可以为X1/Y1,连接部420上的连接面430的尺寸可以大于加强筋120的外形尺寸,可以方便溢胶等。当然,在他实施例中在保证连接部420与加强筋120之间的连接强度的基础上也可以缩小连接面430的面积,本申请对此并不限制。
可选地,如图3-4所示,所述连接部420包括与所述产品100粘合的连接面430,所述连接面430上设置有围绕所述中心腔体410的挡胶部450,所述挡胶部450凸出于所述连接面430。在设置时,所述挡胶部450为柔性胶圈,所述连接面430上设置有用于安装所述挡胶部450的凹槽460,所述挡胶部450凸出于所述连接面430的高度为0.15~0.2mm。柔性胶圈可以提高与加强筋120之间的密封性,防止胶料溢出到中心腔体410位置处的芯片主体110上,提高连接部420与加强筋120之间的连接有效性。
另外,所述连接面430上设置有围绕所述中心腔体410的溢胶槽470,所述溢胶槽470设置在所述挡胶部450远离所述中心腔体410的外侧,所述溢胶槽470相对于所述连接面430的深度为0.45~0.5mm。溢胶槽470可以防止胶水从连接部420的外部流出,提高连接部420与加强筋120之间的连接有效性。
基于相同的构思,本申请提供了一种可靠性测试装置,包括测试设备以及如以上任一所述的可靠性测试治具。通过设置在第一连接座200上的第一拉杆600以及设置在第二连接座300上的第二拉杆700与测试设备连接,以对产品100进行可靠性拉力测试。
本申请在进行可靠性测试时,具体包括以下操作步骤:
(1)使用组合胶水均匀喷涂于第一连接座200的平台表面,胶水厚度以达到1mm±0.2mm为标准。
(2)使用胶木吸嘴吸取产品100的加强筋120,并使产品100的测试面垂直放于喷涂完成胶水的第一连接座200的平台表面,并同步施加5kg±1kg的压力,使测试面与第一连接座200的平台表面可以完全贴合。施加压力后,测试面与第一连接座200的平台表面之间间隙0.3mm>h1>0.2mm。
(3)将胶水均匀喷涂于腔体座400的连接部420上的胶槽440中,胶水厚度0.5mm≥h2>0.3mm,使腔体座400有胶水的连接面430与加强筋120的固定面紧密贴合。
(4)挡胶部450和溢胶槽470的作用为当人为操作不当时,胶水量超出标准,往外溢流时进入溢胶槽470中缓冲,往内溢流时挡胶部450可以阻挡胶水,完美的规避胶水将主体110中心上的部分区域与连接部420粘合而影响可靠性测试数值的准确性。
(5)将完成步骤1~4的产品100置放于110℃的烤箱中恒温保持一个小时,使胶水完全固化。
(6)组装拉力测量治具,腔体座400与第二连接座300使用内六角平头螺丝进行组装,第一拉杆600与第一连接座200旋紧组合、第二拉杆700与第一连接座200旋紧组合。
(7)将完成步骤1~6的产品100置放于拉力测试设备中,调整拉力测试设备使用2KN拉力进行测试,读取并收集测试数据进行分析,实现可靠性测试。
需要理解的是,术语“长度”、“宽度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本实用新型和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本实用新型的限制。
此外,术语“第一”、“第二”仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此,限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本实用新型的描述中,“多个”的含义是两个或两个以上,除非另有明确具体的限定。
除非另有定义,本文中所使用的技术和科学术语与本实用新型的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中使用的术语只是为了描述具体的实施目的,不是旨在限制本实用新型。本文中出现的诸如“设置”等术语既可以表示一个部件直接附接至另一个部件,也可以表示一个部件通过中间件附接至另一个部件。本文中在一个实施方式中描述的特征可以单独地或与其它特征结合地应用于另一个实施方式,除非该特征在该另一个实施方式中不适用或是另有说明。
本实用新型已经通过上述实施方式进行了说明,但应当理解的是,上述实施方式只是用于举例和说明的目的,而非意在将本实用新型限制于所描述的实施方式范围内。本领域技术人员可以理解的是,根据本实用新型的教导还可以做出更多种的变型和修改,这些变型和修改均落在本实用新型所要求保护的范围以内。
Claims (10)
1.一种可靠性测试治具,其特征在于,用于对产品进行测试,所述产品包括相对设置的测试面和固定面,所述治具包括相对设置的第一连接座和第二连接座,所述第二连接座内可拆卸的设置有腔体座,其中,
所述第一连接座用于固定所述测试面;
所述腔体座包括中心腔体以及围绕所述中心腔体设置的连接部,所述连接部用于固定所述固定面的四周;
所述第一连接座和第二连接座中的至少一个用于沿背离方向运动以测试所述测试面的可靠性。
2.根据权利要求1所述的可靠性测试治具,其特征在于,还包括提拉组件,所述提拉组件用于与测试设备连接,所述提拉组件包括与所述第一连接座可拆卸连接的第一拉杆和/或与所述第二连接座可拆卸连接的第二拉杆。
3.根据权利要求1所述的可靠性测试治具,其特征在于,所述产品包括主体以及围绕所述主体四周设置的加强筋,所述连接部用于与所述加强筋的固定面固定连接。
4.根据权利要求3所述的可靠性测试治具,其特征在于,所述连接部通过粘合的方式与所述加强筋固定连接,所述连接部上设置有多个胶槽,所述胶槽在所述连接部上的深度为0.3~0.35mm。
5.根据权利要求4所述的可靠性测试治具,其特征在于,所述连接部与所述加强筋的固定面之间的粘合面积占所述主体面积的90~95%。
6.根据权利要求3所述的可靠性测试治具,其特征在于,所述连接部包括与所述产品粘合的连接面,所述连接面上设置有围绕所述中心腔体的挡胶部,所述挡胶部凸出于所述连接面。
7.根据权利要求6所述的可靠性测试治具,其特征在于,所述挡胶部为柔性胶圈,所述连接面上设置有用于安装所述挡胶部的凹槽,所述挡胶部凸出于所述连接面的高度为0.15~0.2mm。
8.根据权利要求6所述的可靠性测试治具,其特征在于,所述连接面上设置有围绕所述中心腔体的溢胶槽,所述溢胶槽设置在所述挡胶部远离所述中心腔体的外侧,所述溢胶槽相对于所述连接面的深度为0.45~0.5mm。
9.根据权利要求1所述的可靠性测试治具,其特征在于,所述第二连接座上设置有用于容纳所述腔体座的容纳腔,所述第二连接座上设置有用于与所述腔体座可拆卸连接的紧固件。
10.一种可靠性测试装置,其特征在于,包括测试设备以及如权利要求1-9任一所述的可靠性测试治具。
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