CN220418793U - 激光像距测量及调整装置 - Google Patents
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Abstract
激光像距测量及调整装置,包括底座,所述底座上部左侧设置有光斑分析仪,光斑分析仪固定在光斑分析仪运动平台上,光斑分析仪运动平台包括旋转机调节机构和竖直调节机构;所述底座上部右侧设置有激光运动平台,激光运动平台包括第一调节机构和垂直设置于第一调节机构上部的第二调节机构,第二调节机构上部设置激光镜;所述光斑分析仪运动平台用于调节光斑分析仪的位置,激光运动平台用于调节激光镜的位置。本实用新型可测量、调整激光像距,及测量激光光斑椭圆度。
Description
技术领域
本实用新型属于光学测量领域,具体涉及一种应用于增材制造领域的激光像距测量及调整装置。
背景技术
激光增材制造技术是一种集成计算机、数控、激光和新材料等最新技术而发展起来的自动化的成形技术。它可以将复杂的三维结构离散成一系列层片进行加工,大大降低了加工难度。目前,可以采用激光送丝沉积技术将金属丝材加工成金属构件。
目前存在的问题是,出厂的激光器件不符合增材制造的要求,需要针对激光器件进行像距测量及调整后方可使用。
发明内容
本实用新型为一种激光像距测量及调整装置,用于测量、调整增材制造中使用的激光的像距,及其激光光斑的椭圆度。
激光像距测量及调整装置,包括底座,所述底座上部左侧设置有光斑分析仪,光斑分析仪固定在光斑分析仪运动平台上,光斑分析仪运动平台包括旋转调节机构和竖直调节机构;所述底座上部右侧设置有激光运动平台,激光运动平台包括第一调节机构和垂直设置于第一调节机构上部的第二调节机构,第二调节机构上部设置激光镜;所述光斑分析仪运动平台用于调节光斑分析仪的位置,激光运动平台用于调节激光镜的位置。
进一步的,所述第一调节机构一侧设置有像距尺,所述像距尺一侧设置有油标尺。
进一步的,所述旋转调节机构底部设置有角度指针,所述角度指针用于指示光斑分析仪的角度位置。
进一步的,该装置连接上位机,还可用于测量激光光斑的椭圆度。
有益技术效果为:本实用新型通过调整光斑分析仪和激光镜的位置,通过上位机观察最小光斑位置,测量并调整至理想的激光像距,用于实际的增材制造工作。同时,本实用新型可测量最小光斑情况下的光斑椭圆度,为满足增材制造过程中对激光光斑椭圆度的要求。
附图说明
图1是本实用新型的结构示意图。
图2是本实用新型的俯视图。
图3是本实用新型的侧视图。
图中:1-光斑分析仪;2-激光镜;31-旋转调节机构;311-角度指针;32-竖直调节机构;41-第一调节机构;411-像距尺;412油标尺;42-第二调节机构;43-激光运动平台;5-底座。
具体实施方式
下面将结合实施例及附图,对本实用新型技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分的实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型的实施例,本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他是实施例,都属于本实用新型的保护范围。
本实用新型的实施参考图1-3。
如图1所示,激光像距测量装置包括底座5,底座5上部左侧设置有光斑分析仪1,光斑分析仪1固定在光斑分析仪运动平台上,光斑分析仪运动平台包括旋转调节机构31和竖直调节机构32,该竖直调节机构32为竖直方向的调节块,可使得光斑分析仪1上下运动,调整位置;该旋转调节机构31底部设置有角度指针311,角度指针311用于指示光斑分析仪31的角度位置。
底座5上部右侧设置有激光运动平台,激光运动平台包括x方向的第一调节机构41和设置于第一调节机构41上部y方向的第二调节机构42。激光镜2设置于第二调节机构42上部。第一调节机构41可以使激光镜在x方向上移动,第二调节机构42可以使激光镜在y方向上移动。其中,第一调节机构41侧部设置有像距尺411,像距尺411用于测量激光镜2与光斑分析仪1之间的成像距离即激光像距。
工作过程:本实用新型可测量激光像距并调整像距。本实用新型还可以测量激光光斑的椭圆度。
(一)激光像距测量过程。
s1:打开激光,通过旋转调节机构31调整光斑分析仪1的角度,使激光光束能够垂直照射到光斑分析仪1镜头;
s2、调整光斑分析仪1的高度,调整激光镜2,使激光镜2沿着第二调节机构42移动,使激光光斑处于光斑分析仪1镜头中央;
s3、调节激光镜1沿着第一调节机构41移动,通过上位机观察激光光斑,根据激光光斑的变化规律,直到激光光斑尺寸达到最小时停止移动,并读取此时像距尺411与油标尺412的示数,即为激光像距。
(二)激光光斑椭圆度测量。
s1、打开激光,调整光斑分析仪1角度和高度,使激光按实际增材工作中需要的角度照射到光斑分析仪1的镜头;
s2、调整光斑分析仪1的高度,调整激光镜2,使激光镜2沿着第二调节机构42移动,使激光光斑处于光斑分析仪1镜头中央;
s3、调节激光镜1沿着第一调节机构41移动,通过上位机观察激光光斑,根据激光光斑变化规律,直到激光光斑尺寸达到最小时停止移动,记录此时上位机中光斑分析仪1测量的光斑椭圆长短轴的尺寸,并计算椭圆度,椭圆度为长轴/短轴。
(三)激光像距调整(或镜头端面到焦点的距离)。
s1、调整激光运动平台,使激光镜1沿着第一调节机构41延伸方向移动至实际增材工作状态下激光镜2镜头端面到光斑分析仪1的距离,即对焦距离;
s2、打开激光,调整光斑分析仪1的角度和高度,调整第二调节机构42使激光镜2沿着第二调节机构42延伸方向移动,使激光光斑处于光斑分析仪1镜头中央;
s3、调整激光镜2镜片位置,通过上位机观察激光光斑尺寸,直到光斑尺寸达到最小时,停止操作,即可得到要求的激光像距。
对本领域技术人员而言,上述实施例是示范性的、非限制性的,本实用新型的保护范围不因上述实施例而限定,同时不应将权利要求书中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求的保护范围。
在本实用新型的描述中,需要理解的是,术语“长度”、“宽度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本实用新型和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本实用新型的限制。
Claims (4)
1.激光像距测量及调整装置,其特征在于:包括底座,所述底座上部左侧设置有光斑分析仪,光斑分析仪固定在光斑分析仪运动平台上,光斑分析仪运动平台包括旋转调节机构和竖直调节机构;所述底座上部右侧设置有激光运动平台,激光运动平台包括第一调节机构和垂直设置于第一调节机构上部的第二调节机构,第二调节机构上部设置激光镜;所述光斑分析仪运动平台用于调节光斑分析仪的位置,激光运动平台用于调节激光镜的位置。
2.根据权利要求1所述的激光像距测量及调整装置,其特征在于:所述第一调节机构一侧设置有像距尺,所述像距尺一侧设置有油标尺。
3.根据权利要求1所述的激光像距测量及调整装置,其特征在于:所述旋转调节机构底部设置有角度指针,所述角度指针用于指示光斑分析仪的角度位置。
4.根据权利要求1-3任一所述的激光像距测量及调整装置,其特征在于:该装置连接上位机,还可用于测量激光光斑的椭圆度。
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