CN220290466U - Nand flash测试设备 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开一种Nand flash测试设备，该Nand flash测试设备包括：USB拓展器，所述USB拓展器设有多个USB接口并具有连接上位机的数据线；多个单片机，每一个单片机分别与所述USB拓展器的一个所述USB接口通过连接线连接；多个测试座，每一个所述测试座分别与一个所述单片机通信连接，所述测试座用于搭载Nand flash以对Nand flash进行测试。本实用新型Nand flash测试设备通过所设USB拓展器一拖多个单片机及测试座，每次可实现批量Nand flash的测试，提高了测试效率。

Description

Nand flash测试设备

技术领域

本实用新型涉及存储器技术领域，特别涉及一种Nand flash测试设备。

背景技术

Nand-flash存储器是flash存储器的一种，其内部采用非线性宏单元模式，为固态大容量内存的实现提供了廉价有效的解决方案。Nand-flash存储器具有容量较大、改写速度快等优点，适用于大量数据的存储，因而在业界得到了越来越广泛的应用，如嵌入式产品中包括数码相机、体积小巧的U盘等。

其中，为提高Nand-flash存储器的出厂质量，Nand-flash存储器在出厂之间均需进行产品测试。目前，通常是通过单片机发送测试指令至测试座，测试座根据测试指令对其上的Nand-flash存储器进行测试，即每次执行单个Nand-flash存储器的测试，测试效率低。

实用新型内容

本实用新型的主要目的是提出一种Nand flash测试设备，旨在解决目前Nandflash测试效率低的技术问题。

为实现上述目的，本实用新型提出一种Nand flash测试设备，该Nand flash测试设备包括：

USB拓展器，所述USB拓展器设有多个USB接口并具有连接上位机的数据线；

多个单片机，每一个单片机分别与所述USB拓展器的一个所述USB接口通过连接线连接；

多个测试座，每一个所述测试座分别与一个所述单片机通信连接，所述测试座用于搭载Nand flash以对Nand flash进行测试。

在一些实施例中，所述测试座为可更换设置，所述测试座为SPI测试座、PPI测试座和SD测试座中的一种。

在一些实施例中，所述Nand flash测试设备还包括：

电源模块，用于向多个所述单片机以及多个所述测试座供电。

在一些实施例中，所述Nand flash测试设备还包括：

第一电压转换模块，分别与所述电源模块和多个所述单片机电性连接，所述第一电压转换模块转换所述电源模块向所述单片机输出的工作电压。

在一些实施例中，所述Nand flash测试设备还包括：

第二电压转换模块，分别与所述电源模块和多个所述测试座电性连接，所述第二电压转换模块转换所述电源模块向所述测试座输出的工作电压。

在一些实施例中，所述Nand flash测试设备还包括：

上位机，所述上位机插接所述USB拓展器的数据线以与多个所述单片机通信连接。

本实用新型所提供的Nand flash测试设备测试时，USB拓展器传输上位机下发的测试指令至单片机，各单片机对应将测试指令发送至其所对应的测试座，测试座根据测试指令以对其上所搭载的Nand flash进行测试。本Nand flash测试设备通过所设USB拓展器一拖多个单片机及测试座，每次可实现批量Nand flash的测试，提高了测试效率。

附图说明

图1为本实用新型一实施例中Nand flash测试设备的结构示意图。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的方案进行清楚完整的描述，显然，所描述的实施例仅是本实用新型中的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

需要说明，本实用新型实施例中所有方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后……)仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。

还需要说明的是，当元件被称为“固定于”或“设置于”另一个元件上时，它可以直接在另一个元件上或者可能同时存在居中元件。当一个元件被称为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接另一个元件或者可能同时存在居中元件。

另外，在本实用新型中涉及“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本实用新型要求的保护范围之内。

本实用新型提出一种Nand flash测试设备，参照图1，该Nand flash测试设备包括：

USB拓展器100，USB拓展器100设有多个USB接口并具有连接上位机的数据线；

多个单片机200，每一个单片机200分别与USB拓展器100的一个USB接口通过连接线连接；

多个测试座300，每一个测试座300分别与一个单片机200通信连接，测试座300用于搭载Nand flash以对Nand flash进行测试。

本实施例所涉及的Nand flash测试设备主要包括USB拓展器100、单片机200和测试座300，其中，USB拓展器100也即拓展坞，对于其规格类型不作限制。比如，USB拓展器100采用GLB852GT型号的USB拓展器100。USB拓展器100用于建立单片机200与上位机之间的通信连接，USB拓展器100的数据线用于连接上位机，单片机200则通过连接线连接至USB拓展器100的USB接口，USB拓展器100上USB接口的数量不作限制。单片机200和测试座300均为多个且数量对应，每一个单片机200对应连接一个测试座300，测试座300可搭载Nand flash以对Nand flash进行测试。可选地，单片机200采用STM32F730V8TX型号的单片机200。作为示例，如图1所示，USB拓展器100上的USB接口为四个，对应设置有四个单片机200和四个测试座300，四个单片机200与四个USB接口一一对应且分别通过连接线连接。

本实用新型所提供的Nand flash测试设备测试时，USB拓展器100传输上位机下发的测试指令至单片机200，各单片机200对应将测试指令发送至其所对应的测试座300，测试座300根据测试指令以对其上所搭载的Nand flash进行测试。本Nand flash测试设备通过所设USB拓展器100一拖多个单片机200及测试座300，每次可实现批量Nand flash的测试，提高了测试效率。

在一些实施例中，测试座300为可更换设置，测试座300为SPI测试座300、PPI测试座300和SD测试座300中的一种。

本实施例中，测试座300可更换，可对应更换为SPI测试座300、PPI测试座300或SD测试座300，以对应测试SPI Nand flash、PPI Nand flash或SD Nand flash。其中，单片机200的接口可进行协议转换，以对应适配连接不同的测试座300，如SPI测试座300、PPI测试座300、SD测试座300等。通过更换测试座300，可兼容测试不同接口的Nand flash，提高Nandflash测试设备的测试性能。

在一些实施例中，参照图1，Nand flash测试设备还包括：

电源模块400，用于向多个单片机200以及多个测试座300供电。

其中，电源模块400可以为单个，以同时负责多个单片机200以及多个测试座300的供电，即单片机200和测试座300采用同一电源统一供电；或者，电源模块400也可以为多个，多个电源模块400中的一部分电源模块400负责多个单片机200的供电，另一部分电源模块400则负责多个测试座300的供电，即单片机200和测试座300采用不同电源分开供电。

在一些实施例中，参照图1，Nand flash测试设备还包括：

第一电压转换模块510，分别与电源模块400和多个单片机200电性连接，第一电压转换模块510转换电源模块400向单片机200输出的工作电压。

本实施例中，通过所设第一电压转换模块510，电源模块400可向单片机200输出与之相适应的工作电压。比如，电源模块400为5V电源模块，经第一电压转换模块510进行电压转换之后，向单片机200输出3.3V的工作电压。

在一些实施例中，参照图1，Nand flash测试设备还包括：

第二电压转换模块520，分别与电源模块400和多个测试座300电性连接，第二电压转换模块520转换电源模块400向测试座300输出的工作电压。

本实施例中，通过所设第二电压转换模块520，电源模块400可向测试座300输出与之相适配的工作电压。比如，电源模块400为5V电源模块，经第二电压转换模块520进行电压转换之后，向测试座300输出3.3V或1.8V的工作电压。

在一些实施例中，参照图1，Nand flash测试设备还包括：

上位机600，上位机600插接USB拓展器100的数据线以与多个单片机200通信连接。

本实施例中，上位机600通过USB拓展器100与各单片机200之间双向通信，上位机600可发送控制指令并经USB拓展器100传输至单片机200，比如测试指令等。而单片机200则可经USB拓展器100向上位机600发送测试数据等，上位机600对测试数据进行分析、显示。其中，上位机600为PC计算机，以在Windows系统下对Nand flash进行测试，PC计算机上对应具有测试软件，测试人员可通过测试软件的测试界面以执行测试操作、数据监控等。

以上所述的仅为本实用新型的部分或优选实施例，无论是文字还是附图都不能因此限制本实用新型保护的范围，凡是在与本实用新型一个整体的构思下，利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构变换，或直接/间接运用在其他相关的技术领域均包括在本实用新型保护的范围内。

Claims (6)

1.一种Nand flash测试设备，其特征在于，包括：

USB拓展器，所述USB拓展器设有多个USB接口并具有连接上位机的数据线；

多个单片机，每一个单片机分别与所述USB拓展器的一个所述USB接口通过连接线连接；

多个测试座，每一个所述测试座分别与一个所述单片机通信连接，所述测试座用于搭载Nand flash以对Nand flash进行测试。

2.根据权利要求1所述的Nand flash测试设备，其特征在于，所述测试座为可更换设置，所述测试座为SPI测试座、PPI测试座和SD测试座中的一种。

3.根据权利要求1所述的Nand flash测试设备，其特征在于，还包括：

电源模块，用于向多个所述单片机以及多个所述测试座供电。

4.根据权利要求3所述的Nand flash测试设备，其特征在于，还包括：

第一电压转换模块，分别与所述电源模块和多个所述单片机电性连接，所述第一电压转换模块转换所述电源模块向所述单片机输出的工作电压。

5.根据权利要求3所述的Nand flash测试设备，其特征在于，还包括：

第二电压转换模块，分别与所述电源模块和多个所述测试座电性连接，所述第二电压转换模块转换所述电源模块向所述测试座输出的工作电压。

6.根据权利要求1-5任一项所述的Nand flash测试设备，其特征在于，还包括：

上位机，所述上位机插接所述USB拓展器的数据线以与多个所述单片机通信连接。