CN220105150U - 一种带滤波功能的晶体管工作电流采样电路 - Google Patents

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Abstract

本实用新型涉及发射机检测技术领域,具体涉及一种带滤波功能的晶体管工作电流采样电路;包括第一滤波器、第二滤波器和电路检测模块;电路检测模块用于产生模拟电压,不同的电压差产生不同的模拟电压,对应不同的工作电流;第一滤波器用于连通低频,阻止高频,抑制高频信号非常大,降低射频干扰;第二滤波器用于用于电流较小的直流电压滤波电路中,减小直流电压的纹波电压,提高输出直流电压的纯净度,通过在电路检测模块采用第二滤波器,电路检测模块输出的模拟电压纹波更小,采样数据更准确;使用第一滤波器滤除高频信号,让高频信号不能进入电路检测模块,避免了射频信号干扰的现象发生,让发射机过流保护功能更加可靠。

Description

一种带滤波功能的晶体管工作电流采样电路
技术领域
本实用新型涉及发射机检测技术领域,尤其涉及一种带滤波功能的晶体管工作电流采样电路。
背景技术
目前广播电视发射机的市场需求越来越大,特别是为了我国5G通信的发展,广播电视行业启动了清频项目,清频项目累计新生产上万台发射机,目前所有发射机已全部安装完成,但在用户使用过程中,不同生产厂家的发射机或多或少都出现了故障,根据故障统计和分析,发现主要是发射机晶体管损坏导致的发射机输出功率变小。据了解,不同生产厂家的发射机都有工作状态检测功能,能实时检测晶体管工作电流大小,并在工作电流过大时,让发射机立即启动过流保护来防止晶体管受到损坏,但是实际效果并不理想,主要体现在发射机晶体管工作电流采样不准确和经常出现异常,让过流保护形同虚设。
现有的发射机晶体管电流采样电路中,电流采样电路输出的模拟电压滤波都是直接采用电容滤波,其滤波效果不好,导致电流采样芯片输出的模拟电压波动较大,采样的电流不准确,当采样电流偏小时,不能及时触发过流保护功能导致发射机晶体管损坏,同时电流采样电路受到发射机自身大功率无线射频信号的干扰导致采样数据异常,电流检测芯片输出的模拟电压时有时无,对发射机的过流保护功能造成影响,发射机无法正常工作。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种带滤波功能的晶体管工作电流采样电路,解决了现有的发射机晶体管电流采样电路容易出现射频信号干扰的发生,影响发射机正常工作的问题。
为实现上述目的,本实用新型采用的一种带滤波功能的晶体管工作电流采样电路,包括第一滤波器、第二滤波器和电路检测模块,所述第一滤波器和所述第二滤波器分别与所述电路检测模块连接;
所述电路检测模块用于产生模拟电压,不同的电压差产生不同的模拟电压,对应不同的工作电流;
所述第一滤波器用于连通低频,阻止高频,抑制高频信号非常大,降低射频干扰;
所述第二滤波器用于电流较小的直流电压滤波电路中,减小直流电压的纹波电压,提高输出直流电压的纯净度。
其中,所述第一滤波器包括第一电容C1、第一电容C2和电感L1,所述电感L1的一端与所述第一电容C2连接,所述电感L1的另一端分别与所述第一电容C1和所述电路检测模块连接。
其中,所述第二滤波器包括第三电阻R3和第三电容C3,所述第三电阻R3与所述电路检测模块连接,所述第三电容C3与所述第三电阻R3连接。
其中,所述电路检测模块包括第一电阻R1、第二电阻R2和检测芯片IC1,所述第一电阻R1的一端分别与所述第一电容C1、所述电感L1和所述检测芯片IC1连接,所述第一电阻R1的另一端分别与所述第二电阻R2和所述检测芯片IC1连接,所述第二电阻R2和所述第三电阻R3分别与所述检测芯片IC1连接。
本实用新型的一种带滤波功能的晶体管工作电流采样电路,所述电路检测模块用于产生模拟电压,不同的电压差产生不同的模拟电压,对应不同的工作电流;所述第一滤波器用于连通低频,阻止高频,抑制高频信号非常大,降低射频干扰;所述第二滤波器用于电流较小的直流电压滤波电路中,减小直流电压的纹波电压,提高输出直流电压的纯净度;所述第一滤波器为π型滤波器,所述第二滤波器为RC滤波器,在所述电路检测模块采用RC滤波器,RC滤波器的滤波效果比纯电容滤波效果好,让所述电路检测模块输出的模拟电压纹波更小,采样数据更准确;在晶体管与所述电路检测模块之间增加了π型滤波器,π型滤波器可以滤除所有高频信号,让晶体管通过馈电线缆传过来的高频信号不能进入所述电路检测模块,避免了射频信号干扰的现象发生,让发射机过流保护功能更加可靠。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本实用新型的带滤波功能的晶体管工作电流采样电路的电路原理图。
具体实施方式
请参阅图1,其中图1是带滤波功能的晶体管工作电流采样电路的电路原理图。
本实用新型提供了一种带滤波功能的晶体管工作电流采样电路,包括第一滤波器、第二滤波器和电路检测模块,所述第一滤波器和所述第二滤波器分别与所述电路检测模块连接;
所述电路检测模块用于产生模拟电压,不同的电压差产生不同的模拟电压,对应不同的工作电流;
所述第一滤波器用于连通低频,阻止高频,抑制高频信号非常大,降低射频干扰;
所述第二滤波器用于电流较小的直流电压滤波电路中,减小直流电压的纹波电压,提高输出直流电压的纯净度。
在本实施方式中,所述电路检测模块用于产生模拟电压,不同的电压差产生不同的模拟电压,对应不同的工作电流;所述第一滤波器用于连通低频,阻止高频,抑制高频信号非常大,降低射频干扰;所述第二滤波器用于电流较小的直流电压滤波电路中,减小直流电压的纹波电压,提高输出直流电压的纯净度;所述第一滤波器为π型滤波器,所述第二滤波器为RC滤波器,在所述电路检测模块采用RC滤波器,RC滤波器的滤波效果比纯电容滤波效果好,让所述电路检测模块输出的模拟电压纹波更小,采样数据更准确;在晶体管与所述电路检测模块之间增加了π型滤波器,π型滤波器可以滤除所有高频信号,让晶体管通过馈电线缆传过来的高频信号不能进入所述电路检测模块,避免了射频信号干扰的现象发生,让发射机过流保护功能更加可靠。
进一步地,所述第一滤波器包括第一电容C1、第一电容C2和电感L1,所述电感L1的一端与所述第一电容C2连接,所述电感L1的另一端分别与所述第一电容C1和所述电路检测模块连接。
进一步地,所述第二滤波器包括第三电阻R3和第三电容C3,所述第三电阻R3与所述电路检测模块连接,所述第三电容C3与所述第三电阻R3连接。
进一步地,所述电路检测模块包括第一电阻R1、第二电阻R2和检测芯片IC1,所述第一电阻R1的一端分别与所述第一电容C1、所述电感L1和所述检测芯片IC1连接,所述第一电阻R1的另一端分别与所述第二电阻R2和所述检测芯片IC1连接,所述第二电阻R2和所述第三电阻R3分别与所述检测芯片IC1连接。
在本实施方式中,所述检测芯片IC1的型号为LTC6101,DC电源输入为晶体管工作电压接入点,首先DC电源先经过所述第一电阻R1后再通过由所述电感L1和所述电容C1、所述电容C2组成的π型滤波器,然后将电源送到晶体管,给晶体管供电,当电流经过所述第一电阻R1上,产生压降由所述检测芯片IC1的3(IN-)脚和4(IN+)脚进行检测和放大,然后由所述检测芯片IC1的1(OUT)脚输出,最后再经过所述第三电阻R3和所述第三电容C3进行滤波输出到AD进行采集;所述带滤波功能的晶体管工作电流采样电路的工作电压宽,可以对常见的28V、50V晶体管进行电流检测,由于增加了π型滤波器和RC滤波器,抗干扰能力变强,不受工作频率影响,可以广泛用于地面数字电视广播发射机和立体声调频广播发射机整机电流检测。
以上所揭露的仅为本实用新型一种较佳实施例而已,当然不能以此来限定本实用新型之权利范围,本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例的全部或部分流程,并依本实用新型权利要求所作的等同变化,仍属于实用新型所涵盖的范围。

Claims (4)

1.一种带滤波功能的晶体管工作电流采样电路,其特征在于,
包括第一滤波器、第二滤波器和电路检测模块,所述第一滤波器和所述第二滤波器分别与所述电路检测模块连接;
所述电路检测模块用于产生模拟电压,不同的电压差产生不同的模拟电压,对应不同的工作电流;
所述第一滤波器用于连通低频,阻止高频,抑制高频信号非常大,降低射频干扰;
所述第二滤波器用于电流较小的直流电压滤波电路中,减小直流电压的纹波电压,提高输出直流电压的纯净度。
2.如权利要求1所述的带滤波功能的晶体管工作电流采样电路,其特征在于,
所述第一滤波器包括第一电容C1、第一电容C2和电感L1,所述电感L1的一端与所述第一电容C2连接,所述电感L1的另一端分别与所述第一电容C1和所述电路检测模块连接。
3.如权利要求2所述的带滤波功能的晶体管工作电流采样电路,其特征在于,
所述第二滤波器包括第三电阻R3和第三电容C3,所述第三电阻R3与所述电路检测模块连接,所述第三电容C3与所述第三电阻R3连接。
4.如权利要求3所述的带滤波功能的晶体管工作电流采样电路,其特征在于,
所述电路检测模块包括第一电阻R1、第二电阻R2和检测芯片IC1,所述第一电阻R1的一端分别与所述第一电容C1、所述电感L1和所述检测芯片IC1连接,所述第一电阻R1的另一端分别与所述第二电阻R2和所述检测芯片IC1连接,所述第二电阻R2和所述第三电阻R3分别与所述检测芯片IC1连接。
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