CN219891512U - 一种显示面板及显示装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型实施例公开了一种显示面板及显示装置，该显示面板包括：彩膜基板，包括公共电极层；阵列基板，包括两个接地电极和连接检测辅助线，接地电极和连接检测辅助线位于阵列基板朝向彩膜基板的一侧表面，两个接地电极分别与连接检测辅助线电连接，连接检测辅助线断路；彩膜基板在阵列基板上的投影位于阵列基板内，且与接地电极不交叠；液晶层，位于彩膜基板和阵列基板的投影交叠区域之间；导电胶结构，位于阵列基板上且附着于彩膜基板的侧壁上，导电胶结构在垂直阵列基板的方向上的高度高于彩膜基板在垂直阵列基板的方向上的高度；导电胶结构与接地电极电接触。本实用新型实施例实现了对银胶是否连接彩膜基板上的公共电极层的有效检测。

Description

一种显示面板及显示装置

技术领域

本实用新型实施例涉及显示面板技术领域，尤其涉及一种显示面板及显示装置。

背景技术

液晶显示装置(Liquid Crystal Display，LCD)具有重量轻、厚度薄、功耗低以及无辐射的优点，广泛应用在手机、电脑以及车辆等设备中。但是，在LCD的使用过程中，静电是无法完全避免的，且静电的存在会影响显示面板的显示效果和寿命。

目前，显示面板可以通过银胶连接彩膜基板和阵列基板，将彩膜基板上的静电通过阵列基板上的接地导线释放到接地端。但是，由于彩膜基板上公共电极层的厚度以及连接检测辅助线的长度或宽度等的干扰问题，点银胶前与点银胶后的银胶阻值检测线路的阻值无差异，导致银胶阻值检测线路的检测失效，无法对银胶是否连接彩膜基板上的公共电极层进行有效检测。

图1是现有的一种显示面板的俯视结构示意图，如图1所示，该显示面板包括彩膜基板10、阵列基板20和导电胶结构40。其中，彩膜基板10包括公共电极层，阵列基板20包括两个接地电极21和连接检测辅助线24，两个接地电极21分别与连接检测辅助线24电连接。彩膜基板10在阵列基板20上的投影位于阵列基板20内，导电胶结构40位于阵列基板20上且附着于彩膜基板10的侧壁上，导电胶结构40可以增加玻璃面板的抗静电能力，起到静电防护的作用，则阵列基板20上的连接检测辅助线24可以通过导电胶结构40与彩膜基板10上的公共电极层电连接，连接检测辅助线24与公共电极层形成并联回路，使得两个导电胶结构40与彩膜基板10上的公共电极层导通连接与未导通连接时，均能检测到银胶阻值，然后根据银胶阻值的范围，确定两个导电胶结构40与彩膜基板10上的公共电极层是否导通连接。但导电胶结构40与彩膜基板10上的公共电极层是否导通连接的检测过程，受限于彩膜基板10上的公共电极层的厚度以及连接检测辅助线24的长度或宽度等的干扰，点银胶前与点银胶后的检测线路的阻值无差异，不能准确得出导电胶结构40与彩膜基板10上的公共电极层是否导通连接。示例性地，图2是现有的一种银胶阻值检测线路的电路示意图，如图2所示，在检测两个导电胶结构40之间的阻抗时，可以将公共电极层的电阻值记为R_CF，将连接检测辅助线24的电阻值记为R_TFT，银胶导通方式受限于彩膜基板10上的公共电极层的厚度以及连接检测辅助线24的长度或宽度等的干扰，则若导电胶结构40与彩膜基板10上的公共电极层导通连接，则检测得到的银胶阻值为公共电极层11和连接检测辅助线24的并联电阻值，即R_CF*R_TFT/(R_CF+R_TFT)，若导电胶结构40与彩膜基板10上的公共电极层未导通连接，则检测得到的银胶阻值为连接检测辅助线24的电阻值，即R_TFT。这两种情况所检测得到的电阻值存在区间重叠的情况，通过这两种情况所检测得到的电阻值无法准确判断导电胶结构40与彩膜基板10上的公共电极层是否导通连接。

示例性地，图3是图1所示的显示面板对应的点胶前和点胶后分别检测得到的银胶阻值的示意图，如图1和图3所示，连接检测辅助线24的长度为347030μm，连接检测辅助线24的宽度为252μm，则点胶前连接检测辅助线24的电阻值为320Ω，彩膜基板10上的公共电极层的电阻值为500Ω，点胶后理论上检测得到的银胶阻值为320*500/(320+500)＝195Ω，将320Ω与195Ω进行比较，可以发现点胶前后连接检测辅助线24的电阻值差异较小，检测得到的电阻值存在区间重叠的情况。

图4是现有的另一种显示面板的俯视结构示意图，图5是图4所示的显示面板对应的点胶前和点胶后分别检测得到的银胶阻值的示意图，如图4和图5所示，连接检测辅助线24的长度为681488μm，连接检测辅助线24的宽度为70μm，则点胶前连接检测辅助线24的电阻值为1172Ω，彩膜基板10上的公共电极层的电阻值为40Ω，点胶后理论上检测得到的银胶阻值为1172*40/(1172+40)＝38Ω，将1172Ω与38Ω进行比较，可以发现点胶前后连接检测辅助线24上的电阻值差异较大，检测得到的电阻值不存在区间重叠的情况。图4相比于图1，两个接地电极21的设置位置不同，连接检测辅助线24的长度、线宽均不同，图4的显示面板对应的点胶前和点胶后所检测得到的银胶阻值的差异更明显。

如上图1和图4所示可以看出，由于连接检测辅助线24的长度、线宽等的影响，点胶前后检测的两个导电胶结构40之间的阻抗差值也会有所不同，如图3和图5所示实施例，某些显示面板结构中点胶前后检测的两个导电胶结构40之间的阻抗会存在重叠区域，会导致无法根据阻抗的不同来判断导电胶结构40是否与彩膜基板10中的公共电极层电连接。

实用新型内容

本实用新型实施例提供一种显示面板及显示装置，以实现对银胶是否连接彩膜基板上的公共电极层的有效检测，改善漏检风险，减少客诉问题。

第一方面，本实用新型实施例提供了一种显示面板，包括：

彩膜基板，包括公共电极层，所述公共电极层至少部分裸露于所述彩膜基板的侧面或表面；

阵列基板，所述阵列基板包括两个接地电极和连接检测辅助线，所述接地电极和所述连接检测辅助线位于所述阵列基板朝向所述彩膜基板的一侧表面，两个所述接地电极分别与所述连接检测辅助线电连接，所述连接检测辅助线断路；所述彩膜基板在所述阵列基板上的投影位于所述阵列基板内，且与所述接地电极不交叠；

液晶层，位于所述彩膜基板和所述阵列基板的投影交叠区域之间；

导电胶结构，位于所述阵列基板上且附着于所述彩膜基板的侧壁上，所述导电胶结构在垂直所述阵列基板的方向上的高度高于所述彩膜基板在垂直所述阵列基板的方向上的高度；所述导电胶结构与所述接地电极电接触。

可选地，所述连接检测辅助线包括第一辅助线段和第二辅助线段，所述第一辅助线段和所述第二辅助线段分别与两个所述接地电极电连接，所述第一辅助线段和所述第二辅助线段断路。

可选地，所述阵列基板还包括接地导线和接地焊盘，部分所述接地导线一端与所述连接检测辅助线电连接，另一端与所述接地焊盘电连接，部分所述接地导线一端与所述接地电极电连接，另一端与所述接地焊盘电连接。

可选地，两个所述接地电极分别位于所述彩膜基板在所述阵列基板的投影的不同边的外侧。

可选地，所述彩膜基板在所述阵列基板的投影包括第一边和第二边，所述第一边和所述第二边相邻且相接；

所述第一边包括第一边角，所述第二边包括第二边角，所述第一边角为所述第一边上远离所述第二边的边角，所述第二边角为所述第二边上远离所述第一边的边角；

两个所述接地电极分别位于所述第一边角和所述第二边角的外侧。

可选地，所述彩膜基板还包括第一基板，所述公共电极层位于所述第一基板朝向所述阵列基板的一侧表面且延伸至所述第一基板的边缘。

可选地，所述彩膜基板还包括第一基板，所述公共电极层位于所述第一基板背离所述阵列基板的一侧表面，所述导电胶结构至少部分覆盖于所述公共电极层背离所述第一基板的一侧表面上。

可选地，所述彩膜基板还包括色阻层和黑矩阵，所述色阻层位于所述第一基板朝向所述阵列基板的一侧；所述色阻层包括至少两种颜色的多个色阻，所述黑矩阵填充于相邻的色阻之间。

可选地，还包括框胶，所述框胶位于所述彩膜基板和所述阵列基板的投影交叠区域之间，且与所述彩膜基板和所述阵列基板形成容纳区，所述液晶层位于所述容纳区中。

第二方面，本实用新型实施例还提供了一种显示装置，包括如第一方面任一项所述的显示面板。

本实用新型实施例提供了一种显示面板及显示装置，该显示面板包括：彩膜基板，包括公共电极层，公共电极层至少部分裸露于彩膜基板的侧面或表面；阵列基板，阵列基板包括两个接地电极和连接检测辅助线，接地电极和连接检测辅助线位于阵列基板朝向彩膜基板的一侧表面，两个接地电极分别与连接检测辅助线电连接，连接检测辅助线断路；彩膜基板在阵列基板上的投影位于阵列基板内，且与接地电极不交叠；液晶层，位于彩膜基板和阵列基板的投影交叠区域之间；导电胶结构，位于阵列基板上且附着于彩膜基板的侧壁上，导电胶结构在垂直阵列基板的方向上的高度高于彩膜基板在垂直阵列基板的方向上的高度；导电胶结构与接地电极电接触。本实用新型实施例设置导电胶结构与接地电极电接触，接地电极与连接检测辅助线电连接，且与连接检测辅助线断路，则导电胶结构与彩膜基板上的公共电极层导通连接与未导通连接的两种情况，银胶阻值检测线路所反映的阻值差异大，实现了对银胶是否连接彩膜基板上的公共电极层的有效检测，不受限于彩膜基板上的公共电极层的厚度以及连接检测辅助线的长度或宽度等的干扰，有利于准确、快速且方便地检测银胶是否连接彩膜基板上的公共电极层，改善了漏检风险，减少了客诉问题。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是现有的一种显示面板的俯视结构示意图；

图2是现有的一种银胶阻值检测线路的电路示意图；

图3是图1所示的显示面板对应的点胶前和点胶后分别检测得到的银胶阻值的示意图；

图4是现有的另一种显示面板的俯视结构示意图；

图5是图4所示的显示面板对应的点胶前和点胶后分别检测得到的银胶阻值的示意图；

图6是本实用新型实施例提供的一种显示面板的俯视结构示意图；

图7是本实用新型实施例提供的一种显示面板的侧视结构示意图；

图8是本实用新型实施例提供的一种银胶阻值检测线路的电路示意图；

图9是本实用新型实施例提供的另一种显示面板的侧视结构示意图；

图10是本实用新型实施例提供的一种显示装置的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本实用新型作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本实用新型，而非对本实用新型的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本实用新型相关的部分而非全部结构。

需要说明的是，本实用新型的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本实用新型的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。

图6是本实用新型实施例提供的一种显示面板的俯视结构示意图，图7是本实用新型实施例提供的一种显示面板的侧视结构示意图，如图6和图7所示，该显示面板包括彩膜基板10、阵列基板20、液晶层30和导电胶结构40。其中，彩膜基板10包括公共电极层11，公共电极层11至少部分裸露于彩膜基板10的侧面或表面；阵列基板20包括两个接地电极21和连接检测辅助线24，接地电极21和连接检测辅助线24位于阵列基板20朝向彩膜基板10的一侧表面，两个接地电极21分别与连接检测辅助线24电连接，连接检测辅助线24断路；彩膜基板10在阵列基板20上的投影位于阵列基板20内，且与接地电极21不交叠；液晶层30位于彩膜基板10和阵列基板20的投影交叠区域之间；导电胶结构40位于阵列基板20上且附着于彩膜基板10的侧壁上，导电胶结构40在垂直阵列基板20的方向上的高度高于彩膜基板10在垂直阵列基板20的方向上的高度；导电胶结构40与接地电极21电接触。

具体地，该显示面板包括彩膜基板10、阵列基板20、液晶层30和导电胶结构40，示例性地，彩膜基板10可以为CF(Color Filter，彩色滤光器)基板，阵列基板20可以为TFT(Thin Film Transistor，薄膜晶体管)基板，导电胶结构40可以为银胶或其他材料类型的导电胶。其中，彩膜基板10包括公共电极层11，液晶层30位于彩膜基板10和阵列基板20的投影交叠区域之间，液晶层30中包含多个液晶分子，阵列基板20靠近彩膜基板10的一侧设置像素电极(图6和图7中未示出)，负责配合彩膜基板10上的公共电极层11形成纵向电场，以此驱动像素电极所在区域的液晶分子的偏转，以选择是否透射背光光线。阵列基板20包括两个接地电极21和连接检测辅助线24，接地电极21和连接检测辅助线24位于阵列基板20朝向彩膜基板10的一侧表面，两个接地电极21分别与连接检测辅助线24电连接，连接检测辅助线24断路，在检测导电胶结构40是否与彩膜基板10上的公共电极层11导通时，可直接在断路处接入检测电表，若检测电表读数显示的为一有限值时，则表示导电胶结构40与彩膜基板10上的公共电极层11导通连接，若读数显示的为一无穷大值时，则表示导电胶结构40与彩膜基板10上的公共电极层11未导通连接。示例性地，公共电极层11可以为铟锡氧化物半导体透明导电膜(Indium TinOxides，ITO)。彩膜基板10在阵列基板20上的投影位于阵列基板20内，且与接地电极21不交叠。导电胶结构40位于阵列基板20上且附着于彩膜基板10的侧壁上，且公共电极层11至少部分裸露于彩膜基板10的侧面或表面，导电胶结构40在垂直阵列基板20的方向上的高度高于彩膜基板10在垂直阵列基板20的方向上的高度，目的是使得导电胶结构40与彩膜基板10中的公共电极层11实现电接触，从而通过导电胶结构40与接地电极21的电接触，将彩膜基板10中公共电极层11中的静电电荷释放，可以增加玻璃面板的抗静电能力，起到静电防护的作用。此处导电胶结构40由于是附着在彩膜基板10的侧壁上，与公共电极层11的电接触效果可能会存在不良，故需要进行是否电连接的检测。示例性地，图8是本实用新型实施例提供的一种银胶阻值检测线路的电路示意图，如图8所示，在检测两个导电胶结构40之间的阻抗时，可以将公共电极层11的电阻值记为R_CF，将连接检测辅助线24的断路的电阻值记为R_TFT，且R_TFT可以理解为无穷大，则两个导电胶结构40之间的阻抗计算公式为R_CF*R_TFT/(R_CF+R_TFT)。由该阻抗计算公式可知，若导电胶结构40与彩膜基板10上的公共电极层11导通连接，则检测得到的银胶阻值为彩膜基板10上公共电极层11的电阻值(或为一有限值)，即R_CF，若导电胶结构40与彩膜基板10上的公共电极层11未导通连接，则检测得到的银胶阻值为一无穷大值，即R_TFT。这两种情况所检测得到的电阻值不存在区间重叠的情况，通过这两种情况所检测得到的电阻值可以准确判断导电胶结构40与彩膜基板10上的公共电极层11是否导通连接，银胶导通方式不再受限于彩膜基板10上的公共电极层11的厚度以及连接检测辅助线24的长度或宽度等的干扰。

本实用新型实施例中的技术方案，该显示面板包括：彩膜基板，包括公共电极层，公共电极层至少部分裸露于彩膜基板的侧面或表面；阵列基板，阵列基板包括两个接地电极和连接检测辅助线，接地电极和连接检测辅助线位于阵列基板朝向彩膜基板的一侧表面，两个接地电极分别与连接检测辅助线电连接，连接检测辅助线断路；彩膜基板在阵列基板上的投影位于阵列基板内，且与接地电极不交叠；液晶层，位于彩膜基板和阵列基板的投影交叠区域之间；导电胶结构，位于阵列基板上且附着于彩膜基板的侧壁上，导电胶结构在垂直阵列基板的方向上的高度高于彩膜基板在垂直阵列基板的方向上的高度；导电胶结构与接地电极电接触。本实用新型实施例设置导电胶结构与接地电极电接触，接地电极与连接检测辅助线电连接，且连接检测辅助线断路，通过接入检测电表，则可直观快速的检测出导电胶结构与彩膜基板上的公共电极层导通连接还是未导通连接，实现了对银胶是否连接彩膜基板上的公共电极层的有效检测，不受限于彩膜基板上的公共电极层的厚度以及连接检测辅助线的长度或宽度等的干扰，有利于准确、快速且方便地检测银胶是否连接彩膜基板上的公共电极层，改善了漏检风险，减少了客诉问题。

可选地，继续参考图6和图7，连接检测辅助线24包括第一辅助线段241和第二辅助线段242，第一辅助线段241和第二辅助线段242分别与两个接地电极21电连接，第一辅助线段241和第二辅助线段242断路。

具体地，连接检测辅助线24包括第一辅助线段241和第二辅助线段242，第一辅助线段241和第二辅助线段242分别与两个接地电极21电连接，第一辅助线段241和第二辅助线段242断路，第一辅助线段241和第二辅助线段242之间的电阻值可以理解为无穷大。在检测银胶阻值时，本实施例可在断路的第一辅助线段241和第二辅助线段242断路之间连接检测电表，通过检测电表检测直接测出检测得到银胶阻值，若读数显示的为一有限值，则表示银胶与彩膜基板10上的公共电极层11导通连接，若读数显示的为一无穷大值，则表示银胶与彩膜基板10上的公共电极层11未导通连接。可以理解的是，可在第一辅助线段241和第二辅助线段242未与接地电极21电连接的一端各设一测试PAD，在需要检测银胶与彩膜基板10上的公共电极层11是否导通连接时，通过该测试PAD，将检测电表连接至连接检测辅助线24上，有利于准确、快速且方便地检测银胶是否连接彩膜基板10上的公共电极层11，改善了漏检风险，减少了客诉问题。

可选地，继续参考图6和图7，阵列基板20还包括接地导线22和接地焊盘23，部分接地导线22一端与连接检测辅助线24电连接，另一端与接地焊盘23电连接，部分接地导线22一端与接地电极21电连接，另一端与接地焊盘23电连接。

具体地，阵列基板20包括接地电极21、接地导线22、接地焊盘23和连接检测辅助线24，接地焊盘23可以为与驱动芯片的接地引脚绑定的焊盘，阵列基板20与驱动芯片直接连接，接地焊盘23也可以为柔性电路板的接地引脚绑定的焊盘，阵列基板20通过柔性电路板与驱动芯片连接。部分接地导线22一端与接地电极21电连接，另一端与接地焊盘23电连接，可以实现彩膜基板10上的公共电极层11上的静电电荷通过接地导线22进行释放，实现静电防护功能。同时，接地导线22也可使得彩膜基板10上的公共电极层11上的各个位置的电位均衡，达到电磁屏蔽效果。此外，部分接地导线22一端与连接检测辅助线24电连接，另一端与接地焊盘23电连接，可以增加静电电荷导出的路径，从而提高静电电荷的导出效率。

在一具体实施例中，可选地，继续参考图6和图7，两个接地电极21分别位于彩膜基板10在阵列基板20的投影的不同边的外侧。

具体地，两个接地电极21分别位于彩膜基板10在阵列基板20的投影的不同边的外侧，若导电胶结构40与彩膜基板10上的公共电极层11导通连接，则检测得到的两个接地电极21之间的银胶阻值为彩膜基板10的电阻值(或为一有限值)，若导电胶结构40与彩膜基板10上的公共电极层11未导通连接，则检测得到的两个接地电极21之间的银胶阻值为一无穷大值。

进一步地，继续参考图6和图7，彩膜基板10在阵列基板20的投影包括第一边12和第二边13，第一边12和第二边13相邻且相接；第一边12包括第一边角121，第二边13包括第二边角131，第一边角121为第一边12上远离第二边13的边角，第二边角131为第二边13上远离第一边12的边角；两个接地电极21分别位于第一边角121和第二边角131的外侧。

具体地，彩膜基板10在阵列基板20的投影包括第一边12和第二边13，第一边12和第二边13相邻且相接，第一边12包括第一边角121，第二边13包括第二边角131。且第一边角121为第一边12上远离第二边13的边角，第二边角131为第二边13上远离第一边12的边角，则第一边角121和第二边角131位于彩膜基板10在阵列基板20的投影的对角线位置上，两个接地电极21分别位于第一边角121和第二边角131的外侧，导电胶结构40与接地电极21电连接，接地电极21与连接检测辅助线24电连接，若导电胶结构40与彩膜基板10上的公共电极层11导通连接，则检测得到的两个接地电极21之间的银胶阻值为彩膜基板10的电阻值(或为一有限值)，若导电胶结构40与彩膜基板10上的公共电极层11未导通连接，则检测得到的两个接地电极21之间的银胶阻值为一无穷大值。

可选地，继续参考图7，彩膜基板10还包括第一基板14，公共电极层11位于第一基板14朝向阵列基板20的一侧表面且延伸至第一基板14的边缘。进一步地，彩膜基板10还包括色阻层15和黑矩阵16，色阻层15位于第一基板14朝向阵列基板20的一侧；色阻层15包括至少两种颜色的多个色阻，黑矩阵16填充于相邻的色阻之间。

具体地，彩膜基板10包括公共电极层11、第一基板14、色阻层15和黑矩阵16。其中，公共电极层11位于第一基板14朝向阵列基板20的一侧表面且延伸至第一基板14的边缘，导电胶结构40可以与公共电极层11的断面接触。色阻层15位于第一基板14朝向阵列基板20的一侧，色阻层15包括至少两种颜色的多个色阻，黑矩阵16填充于相邻的色阻之间，黑矩阵16可以避免相邻的两个色阻的出光颜色出现干扰或串扰等。

可选地，图9是本实用新型实施例提供的另一种显示面板的侧视结构示意图，如图9所示，彩膜基板10还包括第一基板14，公共电极层11位于第一基板14背离阵列基板20的一侧表面，导电胶结构40至少部分覆盖于公共电极层11背离第一基板14的一侧表面上。进一步地，彩膜基板10还包括色阻层15和黑矩阵16，色阻层15位于第一基板14朝向阵列基板20的一侧；色阻层15包括至少两种颜色的多个色阻，黑矩阵16填充于相邻的色阻之间。

具体地，彩膜基板10包括公共电极层11、第一基板14、色阻层15和黑矩阵16。其中，公共电极层11位于第一基板14背离阵列基板20的一侧表面，导电胶结构40至少部分覆盖于公共电极层11背离第一基板14的一侧表面上，导电胶结构40可以与公共电极层11的表面接触。色阻层15位于第一基板14朝向阵列基板20的一侧；色阻层15包括至少两种颜色的多个色阻，黑矩阵16填充于相邻的色阻之间，黑矩阵16可以避免相邻的两个色阻的出光颜色出现干扰或串扰等。

可选地，继续参考图6和图7，显示面板还包括框胶50，框胶50位于彩膜基板10和阵列基板20的投影交叠区域之间，且与彩膜基板10和阵列基板20形成容纳区，液晶层30位于容纳区中。

具体地，显示面板包括彩膜基板10、阵列基板20、液晶层30、导电胶结构40和框胶50。其中，框胶50位于彩膜基板10和阵列基板20的投影交叠区域之间，且与彩膜基板10和阵列基板20形成容纳区，液晶层30位于容纳区中。

基于同一构思，本实用新型实施例还提供了一种显示装置。图10是本实用新型实施例提供的一种显示装置的结构示意图，如图10所示，该显示装置包括如本实用新型实施例任一项提供的显示面板1，因此，本实用新型实施例提供的显示装置具备本实用新型实施例提供的显示面板1相应的有益效果，这里不再赘述。示例性地，该显示装置可以是手机、电脑、智能可穿戴设备(例如，智能手表)以及车载显示设备等电子设备，本实用新型实施例对此不作限定。

注意，上述仅为本实用新型的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解，本实用新型不限于这里所述的特定实施例，对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整、相互结合和替代而不会脱离本实用新型的保护范围。因此，虽然通过以上实施例对本实用新型进行了较为详细的说明，但是本实用新型不仅仅限于以上实施例，在不脱离本实用新型构思的情况下，还可以包括更多其他等效实施例，而本实用新型的范围由所附的权利要求范围决定。

Claims (10)

1.一种显示面板，其特征在于，包括：

彩膜基板，包括公共电极层，所述公共电极层至少部分裸露于所述彩膜基板的侧面或表面；

阵列基板，所述阵列基板包括两个接地电极和连接检测辅助线，所述接地电极和所述连接检测辅助线位于所述阵列基板朝向所述彩膜基板的一侧表面，两个所述接地电极分别与所述连接检测辅助线电连接，所述连接检测辅助线断路；所述彩膜基板在所述阵列基板上的投影位于所述阵列基板内，且与所述接地电极不交叠；

液晶层，位于所述彩膜基板和所述阵列基板的投影交叠区域之间；

导电胶结构，位于所述阵列基板上且附着于所述彩膜基板的侧壁上，所述导电胶结构在垂直所述阵列基板的方向上的高度高于所述彩膜基板在垂直所述阵列基板的方向上的高度；所述导电胶结构与所述接地电极电接触。

2.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述连接检测辅助线包括第一辅助线段和第二辅助线段，所述第一辅助线段和所述第二辅助线段分别与两个所述接地电极电连接，所述第一辅助线段和所述第二辅助线段断路。

3.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述阵列基板还包括接地导线和接地焊盘，部分所述接地导线一端与所述连接检测辅助线电连接，另一端与所述接地焊盘电连接，部分所述接地导线一端与所述接地电极电连接，另一端与所述接地焊盘电连接。

4.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，两个所述接地电极分别位于所述彩膜基板在所述阵列基板的投影的不同边的外侧。

5.根据权利要求4所述的显示面板，其特征在于，所述彩膜基板在所述阵列基板的投影包括第一边和第二边，所述第一边和所述第二边相邻且相接；

所述第一边包括第一边角，所述第二边包括第二边角，所述第一边角为所述第一边上远离所述第二边的边角，所述第二边角为所述第二边上远离所述第一边的边角；

两个所述接地电极分别位于所述第一边角和所述第二边角的外侧。

6.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述彩膜基板还包括第一基板，所述公共电极层位于所述第一基板朝向所述阵列基板的一侧表面且延伸至所述第一基板的边缘。

7.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述彩膜基板还包括第一基板，所述公共电极层位于所述第一基板背离所述阵列基板的一侧表面，所述导电胶结构至少部分覆盖于所述公共电极层背离所述第一基板的一侧表面上。

8.根据权利要求6或7所述的显示面板，其特征在于，所述彩膜基板还包括色阻层和黑矩阵，所述色阻层位于所述第一基板朝向所述阵列基板的一侧；所述色阻层包括至少两种颜色的多个色阻，所述黑矩阵填充于相邻的色阻之间。

9.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，还包括框胶，所述框胶位于所述彩膜基板和所述阵列基板的投影交叠区域之间，且与所述彩膜基板和所述阵列基板形成容纳区，所述液晶层位于所述容纳区中。

10.一种显示装置，其特征在于，包括如权利要求1-9任一项所述的显示面板。