CN219890368U - 一种光学晶体高精度测量装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种光学晶体高精度测量装置,包括工作台,所述工作台表面焊接连接有竖板和导向柱,竖板上焊接连接有固定架,导向柱上内插入有立杆,立杆顶端焊接连接有固定筒,固定筒一端与刻度板固定粘接并相连通,且固定筒内设置有激光器,立杆底面开设有螺纹孔槽,螺纹孔槽内旋入有丝杆,所述固定架顶端贯穿有与其轴承活动连接的旋转筒,其底端贯穿有与其轴承活动连接的旋转杆,调节杆和旋转杆相对的一端均焊接连接有夹紧板。该光学晶体高精度测量装置设置有一组平行设置的夹紧板对光学晶体夹紧定位,光学晶体可以随着夹紧板轴向转动,在旋转过程中,可以切换楔角与激光器对齐,以此来提高测量效率。
Description
技术领域
本实用新型涉及测量装置技术领域,具体为一种光学晶体高精度测量装置。
背景技术
光学晶体在进行仪器测量合格后才能进行包装,目前的测量方式均是通过夹具对光学晶体进行定位,保证被测面的测量精度,减少测量误差,如(CN212227996U)公开的一种光学晶体用激光角度测量装置,其通过定位夹块与活动夹块对光学晶体夹紧定位,光学晶体可以随着工作台进行前后位置和上下位置的调节,由于为手动调节,精度较低,而且测量过程需要配置两个人员,无形中增加了人力成本,
由于被检测的光学晶体为带楔角的特殊圆柱体,当该光学晶体的外圆面具有多个楔角时,光学晶体通过前后、上下调节无法切换楔角与激光器对齐,只能将光学晶体从夹块中取下,调整角度后重新夹紧定位,操作繁琐,工作效率低下,
鉴于以上现有技术中存在的缺陷,有必要将其进一步改进,使其更具备实用性,才能符合实际使用情况。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种光学晶体高精度测量装置,以解决上述背景技术提出的问题。
为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:一种光学晶体高精度测量装置,包括工作台,所述工作台表面焊接连接有竖板和导向柱,竖板上焊接连接有固定架,导向柱上内插入有立杆,立杆顶端焊接连接有固定筒,固定筒一端与刻度板固定粘接并相连通,且固定筒内设置有激光器,立杆底面开设有螺纹孔槽,螺纹孔槽内旋入有丝杆,
所述固定架顶端贯穿有与其轴承活动连接的旋转筒,其底端贯穿有与其轴承活动连接的旋转杆,旋转筒内穿入有与其弹性活动连接的调节杆,调节杆和旋转杆相对的一端均焊接连接有夹紧板,所述夹紧板上贯穿有呈环形分布的T型杆,T型杆一端设置有橡胶球,
所述丝杆和旋转杆底端均与工作台轴承活动连接,且两者均对接有伺服电机对接。
进一步的,所述固定架呈直角“U”型结构,其上的旋转筒和旋转杆共轴心线。
进一步的,所述旋转筒内壁上焊接连接有一组第一固定环,两个第一固定环之间焊接连接有导向杆,
所述调节杆直径小于第一固定环内径,调节杆上套有与其焊接连接的第二固定环,第二固定环外径小于旋转筒内径;
所述导向杆从第二固定环中穿过,且导向杆上套有第二弹簧,第二弹簧两端与第一固定环以及第二固定环均焊接连接。
进一步的,所述T型杆上套有第一弹簧,且第一弹簧两端与T型杆一端以及夹紧板表面均焊接连接。
进一步的,所述橡胶球内部开设有空腔,且橡胶球与T型杆端面密封粘接。
进一步的,所述导向柱横截面均矩形框状,立杆横截面为矩形,且立杆外壁与导向柱内壁相贴合。
与现有技术相比,本实用新型的有益效果是:该光学晶体高精度测量装置设置有一组平行设置的夹紧板对光学晶体夹紧定位,两个夹紧板分别与光学晶体顶面和底面贴合,这样光学晶体的外圆面不受遮挡,并且光学晶体可以随着夹紧板轴向转动,在旋转过程中,可以切换楔角与激光器对齐,以此来提高测量效率;
并且激光器可以随着激光器竖直移动,可以对往上反射和往下反射的激光进行测量,激光器的竖直运动和夹紧板旋转运动均由伺服电机驱动,无需人工调节,通过机器代替人工,提高了测量精度,使用效果好。
附图说明
图1为本实用新型正视结构示意图;
图2为本实用新型旋转筒和调节杆剖视结构示意图;
图3为本实用新型夹紧板和T型杆立体结构示意图;
图4为本实用新型橡胶球剖视结构示意图;
图5为本实用新型导向柱和立杆剖视结构示意图。
图中:1、工作台;2、竖板;3、固定架;4、旋转筒;5、调节杆;6、旋转杆;7、夹紧板;8、T型杆;9、第一弹簧;10、橡胶球;1001、空腔;11、导向柱;12、立杆;13、固定筒;14、刻度板;15、丝杆;16、螺纹孔槽;17、第一固定环;18、第二固定环;19、导向杆;20、第二弹簧。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
请参阅图1-5,本实用新型提供一种技术方案:一种光学晶体高精度测量装置,工作台1表面焊接连接导向柱11,导向柱11上内插入有立杆12,立杆12顶端焊接连接有固定筒13,导向柱11横截面均矩形框状,立杆12横截面为矩形,且立杆12外壁与导向柱11内壁相贴合,导向柱11为中空结构,且导向柱11和立杆12的结构设计,使得立杆12可以在导向柱11内部进行竖直移动,并且移动时不会发生偏斜,有利于后续的测量精度;
立杆12底面开设有螺纹孔槽16,螺纹孔槽16内旋入有丝杆15,丝杆15底端与工作台1轴承活动连接,且丝杆15底端与伺服电机输出端键连接,伺服电机通电运行后,其可以带动丝杆15轴向旋转,由于立杆12只能在导向柱11竖直移动,无法进行轴向旋转,进而立杆12随着丝杆15的转动,会进行竖直移动;
固定筒13一端与刻度板14固定粘接并相连通,且固定筒13内设置有激光器,固定筒13可以随着立杆12同步移动,进而可以改变激光器的高度,从而可以对往上反射和往下反射的激光进行测量。
工作台1表面焊接连接有竖板2,竖板2上焊接连接有固定架3,固定架3顶端贯穿有与其轴承活动连接的旋转筒4,旋转筒4内穿入有调节杆5,旋转筒4内壁上焊接连接有一组第一固定环17,两个第一固定环17之间焊接连接有导向杆19,调节杆5直径小于第一固定环17内径,调节杆5上套有与其焊接连接的第二固定环18,第二固定环18外径小于旋转筒4内径,导向杆19从第二固定环18中穿过,且导向杆19上套有第二弹簧20,第二弹簧20两端与第一固定环17以及第二固定环18均焊接连接,第二固定环18可以顺着导向杆19在旋转筒4内部进行移动,这样调节杆5在旋转筒4内竖向移动,在移动时会拉伸第二弹簧20,在第二弹簧20弹力作用下,使得调节杆5在旋转筒4内部处于弹性活动结构;
第一固定环17通过导向杆19可以与第二固定环18形成为一体,使得旋转筒4和调节杆5也可以看成一个整体,这样旋转筒4和调节杆5可以在固定架3上轴向旋转;
固定架3底端贯穿有与其轴承活动连接的旋转杆6,调节杆5和旋转杆6相对的一端均焊接连接有夹紧板7,在对光学晶体夹持定位时,可以根据光学晶体的厚度或者高度来调节两个夹紧板7的间距,通过向上拉动调节杆5,两个夹紧板7会分离开,此时将光学晶体放置于两个夹紧板7内即可,接着松开调节杆5,调节杆5会自动复位,并在第二弹簧20弹力作用下,两个夹紧板7会将光学晶体夹持牢固,避免发生松动,保证被测面的测量精度,
旋转杆6底端与工作台1轴承活动连接,且旋转杆6底端与伺服电机输出端键连接,这样旋转杆6带动伺服电机带动下可以轴向转动,旋转杆6通过夹紧板7可以带动光学晶体旋转,从而切换不同的楔角与激光器对齐,测量范围广。
旋转杆6和丝杆15均由伺服电机驱动,伺服电机作业精度高,进而提高了整体的测量精度。
夹紧板7上贯穿有呈环形分布的T型杆8,T型杆8一端设置有橡胶球10,T型杆8上套有第一弹簧9,且第一弹簧9两端与T型杆8一端以及夹紧板7表面均焊接连接,橡胶球10内部开设有空腔1001,且橡胶球10与T型杆8端面密封粘接,T型杆8通过第一弹簧9的弹力,使其在夹紧板7形成一个弹性活动结构,当光学晶体的表面非平面时,T型杆8可以根据光学晶体的表面形状进行活动调节,以此来对不规则的光学晶体进行夹持定位;
T型杆8通过橡胶球10可以增大与光学晶体的摩擦力,避免在夹持过程中,光学晶体出现滑脱,而且T型杆8带动橡胶球10与光学晶体表面贴合时,由于空腔1001的设置,橡胶球10会被挤压形变贴合于光学晶体表面,这样可以进一步增加摩擦力,确保夹持效果,而且使得光学晶体可以随着夹紧板7同步移动。
固定架3呈直角“U”型结构,其上的旋转筒4和旋转杆6共轴心线,固定架3的结构设计,使其开口的一端可以面向刻度板14,这样使得光学晶体待测面不会受到遮挡。
旋转筒4和旋转杆6共轴心线设计,使得两者上的夹紧板7可以同步旋转,并且夹持稳固。
尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明,对于本领域的技术人员来说,其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分技术特征进行等同替换,凡在本实用新型的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本实用新型的保护范围之内。
Claims (6)
1.一种光学晶体高精度测量装置,包括工作台(1),其特征在于:所述工作台(1)表面焊接连接有竖板(2)和导向柱(11),竖板(2)上焊接连接有固定架(3),导向柱(11)上内插入有立杆(12),立杆(12)顶端焊接连接有固定筒(13),固定筒(13)一端与刻度板(14)固定粘接并相连通,且固定筒(13)内设置有激光器,立杆(12)底面开设有螺纹孔槽(16),螺纹孔槽(16)内旋入有丝杆(15),
所述固定架(3)顶端贯穿有与其轴承活动连接的旋转筒(4),其底端贯穿有与其轴承活动连接的旋转杆(6),旋转筒(4)内穿入有与其弹性活动连接的调节杆(5),调节杆(5)和旋转杆(6)相对的一端均焊接连接有夹紧板(7),所述夹紧板(7)上贯穿有呈环形分布的T型杆(8),T型杆(8)一端设置有橡胶球(10),
所述丝杆(15)和旋转杆(6)底端均与工作台(1)轴承活动连接,且两者均对接有伺服电机对接。
2.根据权利要求1所述的一种光学晶体高精度测量装置,其特征在于:所述固定架(3)呈直角“U”型结构,其上的旋转筒(4)和旋转杆(6)共轴心线。
3.根据权利要求1所述的一种光学晶体高精度测量装置,其特征在于:所述旋转筒(4)内壁上焊接连接有一组第一固定环(17),两个第一固定环(17)之间焊接连接有导向杆(19),
所述调节杆(5)直径小于第一固定环(17)内径,调节杆(5)上套有与其焊接连接的第二固定环(18),第二固定环(18)外径小于旋转筒(4)内径;
所述导向杆(19)从第二固定环(18)中穿过,且导向杆(19)上套有第二弹簧(20),第二弹簧(20)两端与第一固定环(17)以及第二固定环(18)均焊接连接。
4.根据权利要求1所述的一种光学晶体高精度测量装置,其特征在于:所述T型杆(8)上套有第一弹簧(9),且第一弹簧(9)两端与T型杆(8)一端以及夹紧板(7)表面均焊接连接。
5.根据权利要求4所述的一种光学晶体高精度测量装置,其特征在于:所述橡胶球(10)内部开设有空腔(1001),且橡胶球(10)与T型杆(8)端面密封粘接。
6.根据权利要求1所述的一种光学晶体高精度测量装置,其特征在于:所述导向柱(11)横截面均矩形框状,立杆(12)横截面为矩形,且立杆(12)外壁与导向柱(11)内壁相贴合。
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