CN219842140U - 通用fpc按键功能测试模块和通用fpc按键功能测试系统 - Google Patents

Abstract

本申请适用于按键技术领域，提供了一种通用FPC按键功能测试模块和通用FPC按键功能测试系统。该通用FPC按键功能测试模块包括FPC接口、MCU和上位连接接口；FPC接口用于连接FPC按键并提供多个内部引脚；MCU分别与FPC接口和上位连接接口相连，用于扫描FPC接口的多个引脚的高低电平状态并生成测试键值；上位连接接口用于与上位机相连，以传输测试键值至上位机。本申请结构简单，可以用于实现FPC按键的自动化测试，加快测试效率。

Description

通用FPC按键功能测试模块和通用FPC按键功能测试系统

技术领域

本申请属于自动化设备领域，尤其涉及一种通用FPC按键功能测试模块和通用FPC按键功能测试系统。

背景技术

现有的FPC按键测试仪器，只能通过“蜂鸣器&灯闪烁”的方式测试按键的导通良好，其需要人工去接收蜂鸣器的声音，或者人工观测测试灯的亮灭状态，使得FPC按键的测试效率很低，且不能用于自动化测试。

发明内容

本申请的目的在于克服上述现有技术的不足，提供了一种通用FPC按键功能测试模块和通用FPC按键功能测试系统，可以用于实现FPC按键的自动化测试，加快测试效率。

本申请提供一种通用FPC按键功能测试模块，包括FPC接口、MCU和上位连接接口；所述FPC接口用于连接FPC按键并提供多个内部引脚；所述MCU分别与所述FPC接口和所述上位连接接口相连，用于扫描所述FPC接口的多个内部引脚的高低电平状态并生成测试键值；所述上位连接接口用于与上位机相连，以传输所述测试键值至上位机。

可选地，所述MCU设置有至少一个稳压电源输入引脚，所述通用FPC按键功能测试模块还包括至少一个稳压电源，所述稳压电源的电压输出端与所述MCU的稳压电源输入引脚相连。

可选的，所述稳压电源为直流电压转换器。

可选的，所述通用FPC按键功能测试模块还包括多个电容，所述电容的第一端与所述MCU的稳压电源输入引脚相连，所述电容的第二端接地。

可选的，所述MCU设置有数据引脚、时钟引脚和复位引脚，所述通用FPC按键功能测试模块还包括线对板，所述线对板的数据引脚、时钟引脚和复位引脚分别与所述MCU的数据引脚、时钟引脚和复位引脚相连。

可选的，所述线对板的型号为AFC20-S05ACA-00。

可选的，所述MCU设置有通讯发送引脚和通讯接收引脚，所述MCU的通讯发送引脚和通讯接收引脚与所述上位连接接口的通讯接收引脚和通讯发送引脚分别相连。

可选的，所述MCU包括状态输出引脚，所述通用FPC按键功能测试模块还包括LED灯和电阻，所述MCU的状态输出引脚串联所述LED灯和所述电阻与稳压电源相连。

可选的，所述MCU的型号为STM32F103C8T6。

本申请还提供一种通用FPC按键功能测试系统，包括如上述的通用FPC按键功能测试模块和上位机，所述通用FPC按键功能测试模块与所述上位机相连。

本申请提供的通用FPC按键功能测试模块和通用FPC按键功能测试系统，该通用FPC按键功能测试模块包括FPC接口、MCU和上位连接接口；FPC接口用于连接FPC按键并提供多个内部引脚；MCU分别与FPC接口和上位连接接口相连，用于扫描FPC接口的多个引脚的高低电平状态并生成测试键值；上位连接接口用于与上位机相连，以传输测试键值至上位机。本申请结构简单，可以用于实现FPC按键的自动化测试，加快测试效率。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本申请一实施例的通用FPC按键功能测试模块的结构示意图。

图2是本申请一实施例的通用FPC按键功能测试模块中的FPC接口的结构示意图。

图3是本申请一实施例的通用FPC按键功能测试模块中的MCU的结构示意图。

图4是本申请一实施例的通用FPC按键功能测试模块中的稳压电源的结构示意图。

图5是本申请一实施例的通用FPC按键功能测试模块中的电容的连接示意图。

图6是本申请一实施例的通用FPC按键功能测试模块中的线对板的结构示意图。

图7是本申请一实施例的通用FPC按键功能测试模块中的上位连接接口的结构示意图。

图8是本申请一实施例的通用FPC按键功能测试模块中的LED灯的连接示意图。

图9是本申请一实施例的通用FPC按键功能测试模块发送上位机的键值的显示窗口。

具体实施方式

为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。

如图1所示，本申请实施例提供的通用FPC按键功能测试模块，包括FPC接口、MCU和上位连接接口。FPC接口用于连接FPC按键并提供多个内部引脚。MCU分别与FPC接口和上位连接接口相连，用于扫描FPC接口的多个引脚的高低电平状态并生成测试键值。上位连接接口用于与上位机相连，以传输测试键值至上位机。

具体地，通用FPC按键功能测试模块进行测试时，MCU可以以固定周期如1ms周期去扫描FPC接口的多个内部引脚的电平状态。当FPC按键没有按键按下时，FPC接口只有一个内部引脚被拉低处于低电平状态，其余内部引脚拉高处于高电平状态，一旦有按键按下导通，FPC接口就会有两个内部引脚被拉低处于低电平状态，其余内部引脚拉高处于高电平状态，通过被拉低的两个内部引脚就可以判定此按键是导通的，MCU可根据拉低的两个内部引脚生成相应的键值。MCU还能通过上位连接接口给上位机传输键值，从而实现FPC按键的自动化测试，加快测试效率。

在本申请一实施例中，如图2和图3所示，FPC接口设置有多个内部引脚，生成相应的信号如KB0~KB33，MCU可通过多个引脚（例如第3-6、10-22、25-34、37-43、45-46引脚）连接FPC接口的多个内部引脚，以用于扫描FPC接口的多个内部引脚的电平状态。

在本申请一实施例中，FPC接口的型号可以为0.5K-DX-34PWB，其第1至34引脚可以为内部引脚，其第35引脚可以接地，其第36引脚可以接地。

在本申请一实施例中，如图3和图4所示，MCU设置有至少一个稳压电源输入引脚（例如第1、9、24、48引脚），通用FPC按键功能测试模块还包括至少一个稳压电源如3V3输出电源，稳压电源的电压输出端与MCU的稳压电源输入引脚相连，以提供电源电压。

在本申请一实施例中，稳压电源可以为直流电压转换器，例如5V直流电压转换为3V直流电压的直流电压转换器。

在本申请一实施例中，稳压电源的型号可以为AMS1117-3.3。

在本申请一实施例中，MCU的型号可以为STM32F103C8T6。

在本申请一实施例中，如图5所示，通用FPC按键功能测试模块还包括多个电容，电容的第一端与MCU的稳压电源输入引脚相连，电容的第二端接地，用于对稳压电源的输出电压进行稳压滤波。

在本申请一实施例中，如图3和图6所示，MCU设置有数据引脚（如第34引脚）、时钟引脚（如第37引脚）和复位引脚（如第7引脚），通用FPC按键功能测试模块还包括线对板，线对板的数据引脚、时钟引脚和复位引脚分别与MCU的数据引脚、时钟引脚和复位引脚相连，以用于分别传输数据信号SWDIO、时钟信号SWCLK和复位信号MCU_RST，可用于MCU的编程。

在本申请一实施例中，线对板的型号可以为AFC20-S05ACA-00，其第1引脚可以接地，第2引脚为时钟引脚，第3引脚为数据引脚，第4引脚接电源电压为3V3电压，第5引脚为复位引脚。

在本申请一实施例中，如图3和图7所示，MCU设置有通讯发送引脚（如第30引脚）和通讯接收引脚（如第31引脚），MCU的通讯发送引脚和通讯接收引脚与上位连接接口的通讯接收引脚和通讯发送引脚分别相连，以用于MCU分别传输通讯发送信号UART1_TX和通讯接收信号UART1_RX，从而可以通过上位连接接口给上位机传输键值，可实施按键自动化设备测试。

在本申请一实施例中，如图7所示，上位连接接口可以包括连接器和UART转USB转换芯片，MCU的通讯发送引脚和通讯接收引脚与UART转USB转换芯片的通讯接收引脚和通讯发送引脚分别相连，以用于MCU分别传输通讯发送信号UART1_TX和通讯接收信号UART1_RX，从而，MCU可以通过上位连接接口进行USB通讯给上位机传输键值，可实施按键自动化设备测试。可选地，连接器的型号可以为HDGC2001WR-S-4P。可选地，UART转USB转换芯片的型号可以为CH340N，其第6引脚为通讯发送引脚，第7引脚为通讯接收引脚。

在本申请一实施例中，如图3和图8所示，MCU包括状态输出引脚（如第2引脚），通用FPC按键功能测试模块还包括LED灯和电阻，MCU的状态输出引脚串联LED灯和电阻与稳压电源相连。则MCU的状态输出引脚输出的状态输出信号RUN_LED为低电平时LED灯发光，为高电平时LED灯不发光。从而，MCU可配置为有两个内部引脚被拉低处于低电平状态时，MCU的状态输出引脚输出的状态输出信号RUN_LED为低电平，使得LED灯亮灯。则不仅可以实现人工手动测试，通过“亮灯”的方式说明测试按键的导通良好，还可以通过上位连接接口给上位机传输键值，可实施按键自动化设备测试。

在本申请一实施例中，如图9所示，MCU可配置为键值的编码为：①按键按下时，格式为Dxxxx+回车；②按键松开时，格式为Uxxxx+回车。其中，键值中的前2位或后2位组成的16进制数表示IO序号，从0开始，0表示第一个IO；以D040F为例，D表示按键按下，040F中的前2位与后2位表示此时导通的两个IO为第4个和第15个；以U0311为例，U表示按键松开，0311中的前2位与后2位表示此时导通的两个IO为第3个和第11个。MCU通过发送编码后的键值至上位机，可用于实现按键自动化设备测试。

本申请还提供一种通用FPC按键功能测试系统，包括如上述的通用FPC按键功能测试模块和上位机，通用FPC按键功能测试模块与上位机相连。

本申请提供的通用FPC按键功能测试模块和通用FPC按键功能测试系统，该通用FPC按键功能测试模块包括FPC接口、MCU和上位连接接口；FPC接口用于连接FPC按键并提供多个内部引脚；MCU分别与FPC接口和上位连接接口相连，用于扫描FPC接口的多个引脚的高低电平状态并生成测试键值；上位连接接口用于与上位机相连，以传输测试键值至上位机。本申请结构简单，可以用于实现FPC按键的自动化测试，加快测试效率。

在本文中，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，除了包含所列的那些要素，而且还可包含没有明确列出的其他要素。

以上所述，仅为本实用新型的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。因此，本实用新型的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。

Claims (10)

1.一种通用FPC按键功能测试模块，其特征在于，包括FPC接口、MCU和上位连接接口；

所述FPC接口用于连接FPC按键并提供多个内部引脚；

所述MCU分别与所述FPC接口和所述上位连接接口相连，用于扫描所述FPC接口的多个内部引脚的高低电平状态并生成测试键值；

所述上位连接接口用于与上位机相连，以传输所述测试键值至所述上位机。

2.如权利要求1所述的通用FPC按键功能测试模块，其特征在于，所述MCU设置有至少一个稳压电源输入引脚，所述通用FPC按键功能测试模块还包括至少一个稳压电源，所述稳压电源的电压输出端与所述MCU的稳压电源输入引脚相连。

3.如权利要求2所述的通用FPC按键功能测试模块，其特征在于，所述稳压电源为直流电压转换器。

4.如权利要求2所述的通用FPC按键功能测试模块，其特征在于，所述通用FPC按键功能测试模块还包括多个电容，所述电容的第一端与所述MCU的稳压电源输入引脚相连，所述电容的第二端接地。

5.如权利要求1所述的通用FPC按键功能测试模块，其特征在于，所述MCU设置有数据引脚、时钟引脚和复位引脚，所述通用FPC按键功能测试模块还包括线对板，所述线对板的数据引脚、时钟引脚和复位引脚分别与所述MCU的数据引脚、时钟引脚和复位引脚相连。

6.如权利要求5所述的通用FPC按键功能测试模块，其特征在于，所述线对板的型号为AFC20-S05ACA-00。

7.如权利要求1所述的通用FPC按键功能测试模块，其特征在于，所述MCU设置有通讯发送引脚和通讯接收引脚，所述MCU的通讯发送引脚和通讯接收引脚与所述上位连接接口的通讯接收引脚和通讯发送引脚分别相连。

8.如权利要求1所述的通用FPC按键功能测试模块，其特征在于，所述MCU包括状态输出引脚，所述通用FPC按键功能测试模块还包括LED灯和电阻，所述MCU的状态输出引脚串联所述LED灯和所述电阻与稳压电源相连。

9.如权利要求1所述的通用FPC按键功能测试模块，其特征在于，所述MCU的型号为STM32F103C8T6。

10.一种通用FPC按键功能测试系统，其特征在于，包括如权利要求1-9任一所述的通用FPC按键功能测试模块和上位机，所述通用FPC按键功能测试模块与所述上位机相连。