CN219831210U - 一种集成电路静态测量快速扫描器 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供了一种集成电路静态测量快速扫描器，包括：用于为低阻检测模块、高阻检测模块供电的电源模块，用于检测集成电路中正常阻值小于或等于N欧姆的元器件状态的低阻检测模块，用于检测集成电路中正常阻值大于N欧姆的元器件状态的高阻检测模块；其中，电源模块第一输出端连接低阻检测模块电源正极性端，电源模块第二输出端连接高阻检测模块电源正极性端；电源模块输入端连接低阻检测模块电源负极性端、高阻检测模块电源负极性端。本实用新型所述集成电路静态测量快速扫描器具有检测效率高、结构简单、成本低等特点，可广泛引用于集成电路领域。

Description

一种集成电路静态测量快速扫描器

技术领域

本发明涉及检测技术领域，特别是涉及一种集成电路静态测量快速扫描器。

背景技术

静态测量是集成电路在线检测的一种常用检测方法，即，测量集成电路中各元件对应的静态阻值，并将测量得到的静态阻值与对应的元件正常阻值进行比较，从而查找集成电路中故障点的一种方法。在集成电路板的检修过程中，通过静态测量可以缩小故障查找范围，也能降低不必要的重复焊接，以降低对电路板的损伤。在实际工作中，技术人员通常采用万用表的欧姆档进行静态测量，测量过程中必须进行一测一读的操作，即，测量元件的一个引脚读一次数据；对于中等规模以上的集成电路而言，由于集成在电路板上的元器件很多，故采用万用表测量的方式就会导致工作效率非常低的问题。

用万用表欧姆档进行静态电路测量时，一般采用一测一读的方法，即测一个引脚读一次数据，对于测试大规模集成电路来说，工作效率非常低。本装置利用比较器原理，配合声光报警装置，可实现被测电路的快速扫描测试。

由此可见，在现有技术中，尚无一种检测效率高的集成电路静态检测装置。

发明内容

有鉴于此，本实用新型的主要目的在于提供一种检测效率高、结构简单、成本低的集成电路静态测量快速扫描器。

为了达到上述目的，本实用新型提出的技术方案为：

一种集成电路静态测量快速扫描器，包括：用于为低阻检测模块（2）、高阻检测模块（3）供电的电源模块（1），用于检测集成电路中正常阻值小于或等于N欧姆的元器件状态的低阻检测模块（2），用于检测集成电路中正常阻值大于N欧姆的元器件状态的高阻检测模块（3）；其中，N为实数；

电源模块（1）的第一输出端连接低阻检测模块（2）的电源正极性端，电源模块（1）的第二输出端连接高阻检测模块（3）的电源正极性端；电源模块（1）的输入端连接低阻检测模块（2）的电源负极性端、高阻检测模块（3）的电源负极性端。

综上所述，当本实用新型所述集成电路静态测量快速扫描器进行低阻检测时，电源模块向低阻检测模块供电，但电源模块不为高阻检测模块供电；低阻检测模块检测集成电路中电阻值小于或等于N欧姆的电气元件是否正常。当本实用新型所述集成电路静态测量快速扫描器进行高阻检测时，电源模块向高阻检测模块供电，但电源模块不为低阻检测模块供电；高阻检测模块检测集成电路中电阻值大于N欧姆的电气元件是否正常。采用本实用新型所述集成电路静态测量快速扫描器能够快速检测集成电路中大量电气元件是否正常，并快速锁定集成电路的故障范围，为集成电路进一步故障检测提供了良好的基础；由此可见，本实用新型所述集成电路静态测量快速扫描器检测效率高，而且结构简单、成本低。

附图说明

图1为本实用新型所述集成电路静态测量快速扫描器的总体组成结构示意图。

图2为本实用新型所述电源模块的组成结构示意图。

图3为本实用新型所述低阻检测模块的组成结构示意图。

图4为本实用新型所述高阻检测模块的组成结构示意图。

实施方式

为使本实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图及具体实施例对本实用新型作进一步地详细描述。

图1为本实用新型所述集成电路静态测量快速扫描器的总体组成结构示意图。如图1所示，本实用新型所述一种集成电路静态测量快速扫描器包括：用于为低阻检测模块2、高阻检测模块3供电的电源模块1，用于检测集成电路中正常阻值小于或等于N欧姆的元器件状态的低阻检测模块2，用于检测集成电路中正常阻值大于N欧姆的元器件状态的高阻检测模块3；其中，N为实数；

电源模块1的第一输出端连接低阻检测模块2的电源正极性端，电源模块1的第二输出端连接高阻检测模块3的电源正极性端；电源模块1的输入端连接低阻检测模块2的电源负极性端、高阻检测模块3的电源负极性端。

总之，当本实用新型所述集成电路静态测量快速扫描器进行低阻检测时，电源模块向低阻检测模块供电，但电源模块不为高阻检测模块供电；低阻检测模块检测集成电路中电阻值小于或等于N欧姆的电气元件是否正常。当本实用新型所述集成电路静态测量快速扫描器进行高阻检测时，电源模块向高阻检测模块供电，但电源模块不为低阻检测模块供电；高阻检测模块检测集成电路中电阻值大于N欧姆的电气元件是否正常。采用本实用新型所述集成电路静态测量快速扫描器能够快速检测集成电路中大量电气元件是否正常，并快速锁定集成电路的故障范围，为集成电路进一步故障检测提供了良好的基础；由此可见，本实用新型所述集成电路静态测量快速扫描器检测效率高，而且结构简单、成本低。

图2为本实用新型所述电源模块的组成结构示意图。如图2所示，本实用新型所述电源模块1包括：直流电源Vcc、按钮开关S1、单刀双掷开关S2；其中，直流电源Vcc正极性端连接单刀双掷开关S2的固定端，直流电源Vcc负极性端连接按钮开关S1一端，单刀双掷开关S2的第一切换端作为电源模块1的第一输出端，单刀双掷开关S2的第二切换端作为电源模块1的第二输出端，按钮开关S1另一端作为电源模块1的输入端。

实际应用中，单刀双掷开关S2控制直流电源Vcc向低阻检测模块2或高阻检测模块3供电：当单刀双掷开关S2打向其第一切换端时，低阻检测模块2工作，此时，高阻检测模块3与电源模块1是断开的；当单刀双掷开关S2打向其第二切换端时，高阻检测模块3工作；此时，低阻检测模块2与电源模块1是断开的。

图3为本实用新型所述低阻检测模块的组成结构示意图。如图3所示，本实用新型所述低阻检测模块2包括：第一运算放大器W1、第一探针TZ1、第一电阻至第八电阻R1~R8、第一可变电阻器RP1、第一档位开关SA1、第一发光二极管VD1、第一蜂鸣器LS1，其中，

第一运算放大器W1第3引脚连接第三电阻R3一端、第四电阻R4一端，第三电阻R3另一端连接第一电阻R1一端、第一探针TZ1正极性端，第四电阻R4另一端连接第二电阻R2一端、第五电阻R5一端、第六电阻R6一端、第七电阻R7一端、第一可变电阻器RP1一端；第一运算放大器W1第2引脚连接第一探针TZ1负极性端、第一档位开关SA1固定端O，第一档位开关SA1第一切换位1Ⅰ连接第五电阻R5另一端，第一档位开关SA1第二切换位1Ⅱ连接第六电阻R6另一端，第一档位开关SA1第三切换位1Ⅲ连接第七电阻R7另一端，第一档位开关SA1第四切换位1Ⅳ连接第一可变电阻器RP1另一端；第一可变电阻器RP1控制端连接第一可变电阻器RP1一端；第一运算放大器W1第1引脚连接第一发光二极管VD1阴极、第一蜂鸣器LS1负极性端，第一发光二极管VD1阳极连接第八电阻R8一端；第一电阻R1另一端、第一运算放大器W1第8引脚、第八电阻R8另一端、第一蜂鸣器LS1正极性端连接在一起共同作为所述低阻检测模块2的电源正极性端，连接电源模块1的第一输出端；第二电阻R2另一端、第一运算放大器W1第4引脚连接在一起共同作为所述低阻检测模块2的电源负极性端，连接电源模块1的输入端。这里，第一运算放大器W1为LM393比较器。

实际应用中，第五电阻R5的电阻值、第六电阻R6的电阻值、第七电阻R7的电阻值、第一可变电阻器RP1的电阻值依次增大，第一可变电阻器RP1的电阻值应该在一定范围内大于N欧姆，该一定范围为N欧姆电阻的检测余量。

在低阻检测模块中，第一电阻R1、第二电阻R2、第三电阻R3、第四电阻R4均为分压电阻，且第一电阻R1的电阻值与第二电阻R2的电阻值相等，第三电阻R3的电阻值与第四电阻R4的电阻值相等。第一档位开关SA1与第五电阻R5、第六电阻R6、第七电阻R7、第一可变电阻器RP1按照图3所示的上述连接关系，共同组成了低阻切换单元。第一探针TZ1连接的待检测电子元件、第三电阻R3、第四电阻R4以及低阻切换单元组成了一个桥式电路。实际上，第一探针TZ1连接的待检测电子元件与低阻切换单元也组成了一个分压支路。低阻切换单元的电阻值随着切换档位的不同而不同。当待检测电子元件的电阻值小于低阻切换单元的电阻值时，第一运算放大器W1的第2引脚的电位高于第3引脚的电位，这时，第一运算放大器W1的第1引脚输出低电平信号，第一蜂鸣器LS1产生蜂鸣声，第一发光二极管VD1点亮。当待检测电子元件的电阻值大于低阻切换单元的电阻值时，第一运算放大器W1的第2引脚的电位低于第3引脚的电位，这时，第一运算放大器W1的第1引脚输出高电平信号，第一蜂鸣器LS1不工作，第一发光二极管VD1熄灭。实际应用中，第一档位开关SA1投切至第一切换位Ⅰ时，通常进行短路测试。

图4为本实用新型所述高阻检测模块的组成结构示意图。如图4所示，本实用新型所述高阻检测模块3包括：第二运算放大器W2、第二探针TZ2、第九电阻至第十六电阻R9~R16、第二可变电阻器RP2、第二档位开关SA2、第二发光二极管VD2、第二蜂鸣器LS2，其中，

第二运算放大器W2第2引脚连接第十一电阻R11一端、第十二电阻R12一端，第十二电阻R12另一端连接第十电阻R10一端、第二探针TZ2负极性端，第十一电阻R11另一端连接第九电阻R9一端、第二档位开关SA2固定端P；第二运算放大器W2第3引脚连接第十三电阻R13一端、第十四电阻R14一端、第十五电阻R15一端、第二可变电阻器RP2一端、第二探针TZ2正极性端；第二档位开关SA2的第一切换位2Ⅰ连接第二可变电阻器RP2另一端，第二档位开关SA2第二切换位2Ⅱ连接第十五电阻R15另一端，第二档位开关SA2第三切换位2Ⅲ连接第十四电阻R14另一端，第二档位开关SA2第四切换位2Ⅳ连接第十三电阻R13另一端；第二可变电阻器RP2控制端连接第二可变电阻器RP2一端。第二运算放大器W2第1引脚连接第二发光二极管VD2阴极、第二蜂鸣器LS2负极性端，第二发光二极管VD2阳极连接第十六电阻R16一端；第九电阻R9另一端、第二运算放大器W2第8引脚、第十六电阻R16另一端、第二蜂鸣器LS2正极性端连接在一起共同作为所述高阻检测模块3的电源正极性端，连接电源模块1的第二输出端；第十电阻R10另一端、第二运算放大器W2第4引脚连接在一起共同作为所述高阻检测模块3的电源负极性端，连接所述电源模块1的输入端。这里，第二运算放大器W2为LM393比较器。

实际应用中，第二可变电阻器RP2的电阻值、第十五电阻R15的电阻值、第十四电阻R14的电阻值、第十三电阻R13的电阻值依次增大。

在高阻检测模块3中，第九电阻R9、第十电阻R10、第十一电阻R11、第十二电阻R12均为分压电阻，且第九电阻R9的电阻值与第十电阻R10的电阻值相等，第十一电阻R11的电阻值与第十二电阻R12的电阻值相等。第二档位开关SA2与第二可变电阻器RP2、第十五电阻R15、第十四电阻R14、第十三电阻R13按照图4所示的上述连接关系，共同组成了高阻切换单元。第二探针TZ2连接的待检测电子元件、第十一电阻R11、第十二电阻R12以及高阻切换单元组成了另一个桥式电路。实际上，第二探针TZ2连接的待检测电子元件与高阻切换单元也组成了一个分压支路。高阻切换单元的电阻值随着切换档位的不同而不同。当待检测电子元件的电阻值小于高阻切换单元的电阻值时，第二运算放大器W2的第2引脚的电位高于第3引脚的电位，这时，第二运算放大器W2的第1引脚输出低电平信号，第二蜂鸣器LS2产生蜂鸣声，第二发光二极管VD2点亮。当待检测电子元件的电阻值大于高阻切换单元的电阻值时，第二运算放大器W2的第2引脚的电位低于第3引脚的电位，这时，第二运算放大器W2的第1引脚输出高电平信号，第二蜂鸣器LS1不工作，第二发光二极管VD2熄灭。实际应用中，第二档位开关SA2投切至第四切换位2Ⅳ时，通常进行断路测试。

实际应用中，低阻切换单元与高阻切换单元均可以根据实际需要设置档位数量，并非本实用新型所示的四个档位。另外，第一电阻R1的电阻值与第二电阻R2的电阻值可以不相等，第三电阻R3的电阻值与第四电阻R4的电阻值可以不相等，第九电阻R9的电阻值与第十电阻R10的电阻值可以不相等，第十一电阻R11的电阻值与第十二电阻R12的电阻值可以不相等；这些电阻的电阻值大小可以根据实际需要具体确定。可见，本实用新型所述集成电路静态测量快速扫描的扩展性也比较好。

实施例

本实施例中，将图3所示的低阻检测模块2、图4所示的高阻检测模块3与电源模块1按照上述描述进行连接后，就组成了本实施例的集成电路静态测量快速扫描器。本实施例中，N=500Ω，R1=R2=R9=R10=330Ω，R3=R4=R11=R12=2KΩ，R5=2.2Ω，R6=5.1Ω，R7=10Ω，RP1=510 Ω，R8=R16=300 Ω，RP2=100K Ω，R15=200KΩ，R14=500KΩ，R13=2MΩ。本实施例中，低阻检测模块检测集成电路中电阻值小于或等于500欧姆的电气元件是否正常，高阻检测模块检测集成电路中电阻值大于500欧姆的电气元件是否正常。

综上所述，以上仅为本实用新型的较佳实施例而已，并非用于限定本实用新型的保护范围。凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (6)

1.一种集成电路静态测量快速扫描器，其特征在于，所述扫描器包括：用于为低阻检测模块（2）、高阻检测模块（3）供电的电源模块（1），用于检测集成电路中正常阻值小于或等于N欧姆的元器件状态的低阻检测模块（2），用于检测集成电路中正常阻值大于N欧姆的元器件状态的高阻检测模块（3）；其中，N为实数；

电源模块（1）的第一输出端连接低阻检测模块（2）的电源正极性端，电源模块（1）的第二输出端连接高阻检测模块（3）的电源正极性端；电源模块（1）的输入端连接低阻检测模块（2）的电源负极性端、高阻检测模块（3）的电源负极性端。

2.根据权利要求1所述的一种集成电路静态测量快速扫描器，其特征在于，所述电源模块（1）包括：直流电源（Vcc）、按钮开关（S1）、单刀双掷开关（S2）；其中，

直流电源（Vcc）正极性端连接单刀双掷开关（S2）的固定端，直流电源（Vcc）负极性端连接按钮开关（S1）一端，单刀双掷开关（S2）的第一切换端作为电源模块（1）的第一输出端，单刀双掷开关（S2）的第二切换端作为电源模块（1）的第二输出端，按钮开关（S1）另一端作为电源模块（1）的输入端。

3.根据权利要求1或2所述的一种集成电路静态测量快速扫描器，其特征在于，所述低阻检测模块（2）包括：第一运算放大器（W1）、第一探针（TZ1）、第一电阻至第八电阻（R1~R8）、第一可变电阻器（RP1）、第一档位开关（SA1）、第一发光二极管（VD1）、第一蜂鸣器（LS1），其中，

第一运算放大器（W1）第3引脚连接第三电阻（R3）一端、第四电阻（R4）一端，第三电阻（R3）另一端连接第一电阻（R1）一端、第一探针（TZ1）正极性端，第四电阻（R4）另一端连接第二电阻（R2）一端、第五电阻（R5）一端、第六电阻（R6）一端、第七电阻（R7）一端、第一可变电阻器（RP1）一端；第一运算放大器（W1）第2引脚连接第一探针（TZ1）负极性端、第一档位开关（SA1）固定端（O），第一档位开关（SA1）第一切换位（1Ⅰ）连接第五电阻（R5）另一端，第一档位开关（SA1）第二切换位（1Ⅱ）连接第六电阻（R6）另一端，第一档位开关（SA1）第三切换位（1Ⅲ）连接第七电阻（R7）另一端，第一档位开关（SA1）第四切换位（1Ⅳ）连接第一可变电阻器（RP1）另一端；第一可变电阻器（RP1）控制端连接第一可变电阻器（RP1）一端；第一运算放大器（W1）第1引脚连接第一发光二极管（VD1）阴极、第一蜂鸣器（LS1）负极性端，第一发光二极管（VD1）阳极连接第八电阻（R8）一端；第一电阻（R1）另一端、第一运算放大器（W1）第8引脚、第八电阻（R8）另一端、第一蜂鸣器（LS1）正极性端连接在一起共同作为所述低阻检测模块（2）的电源正极性端，连接所述电源模块（1）的第一输出端；第二电阻（R2）另一端、第一运算放大器（W1）第4引脚连接在一起共同作为所述低阻检测模块（2）的电源负极性端，连接所述电源模块（1）的输入端。

4.根据权利要求3所述的一种集成电路静态测量快速扫描器，其特征在于，所述第一运算放大器（W1）为LM393比较器。

5.根据权利要求1或2所述的一种集成电路静态测量快速扫描器，其特征在于，所述高阻检测模块（3）包括：第二运算放大器（W2）、第二探针（TZ2）、第九电阻至第十六电阻（R9~R16）、第二可变电阻器（RP2）、第二档位开关（SA2）、第二发光二极管（VD2）、第二蜂鸣器（LS2），其中，

第二运算放大器（W2）第2引脚连接第十一电阻（R11）一端、第十二电阻（R12）一端，第十二电阻（R12）另一端连接第十电阻（R10）一端、第二探针（TZ2）负极性端，第十一电阻（R11）另一端连接第九电阻（R9）一端、第二档位开关（SA2）固定端（P）；第二运算放大器（W2）第3引脚连接第十三电阻（R13）一端、第十四电阻（R14）一端、第十五电阻（R15）一端、第二可变电阻器（RP2）一端、第二探针（TZ2）正极性端；第二档位开关（SA2）第一切换位（2Ⅰ）连接第二可变电阻器（RP2）另一端，第二档位开关（SA2）第二切换位（2Ⅱ）连接第十五电阻（R15）另一端，第二档位开关（SA2）第三切换位（2Ⅲ）连接第十四电阻（R14）另一端，第二档位开关（SA2）第四切换位（2Ⅳ）连接第十三电阻（R13）另一端；第二可变电阻器（RP2）控制端连接第二可变电阻器（RP2）一端；

第二运算放大器（W2）第1引脚连接第二发光二极管（VD2）阴极、第二蜂鸣器（LS2）负极性端，第二发光二极管（VD2）阳极连接第十六电阻（R16）一端；第九电阻（R9）另一端、第二运算放大器（W2）第8引脚、第十六电阻（R16）另一端、第二蜂鸣器（LS2）正极性端连接在一起共同作为所述高阻检测模块（3）的电源正极性端，连接所述电源模块（1）的第二输出端；第十电阻（R10）另一端、第二运算放大器（W2）第4引脚连接在一起共同作为所述高阻检测模块（3）的电源负极性端，连接所述电源模块（1）的输入端。

6.根据权利要求5所述的一种集成电路静态测量快速扫描器，其特征在于，所述第二运算放大器（W2）为LM393比较器。