CN219799240U - 多光束多位荧光系统 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及检测技术领域，提供多光束多位荧光系统，通过将不同点位的激发光源进行同光路准直，即增强激发光的强度也可以实现多光源的出射的光束一致性，到达激发点到各个第一检测器的位置基本一致；设置了参考装置，实时监测激发光源的光源的强度检测，实时检测实时调整出射光的强度；第一检测器环形布置，出射光源与环形布局的第一检测器完全垂直，减少整体出射光对垂直激发荧光或者反射光的影响；通过光束调整单元将不同点位的多组激发光源准直到同一条线状光线中，线状光线垂直通过第一检测器布置环中心，实现多波长激发体系和多点测量体系；通过环形设置第一检测器，实现一波长激发多波长测量或多波长激发单波长测量，实现矩阵式的测量。
Description
技术领域
本实用新型涉及检测技术领域，特别涉及一种多光束多位荧光系统。
背景技术
散射荧光系统通过光束激发被测物质并产生荧光，按照产生荧光的特定波长信号的强弱来指示物质的浓度，可以快速有效的获得水样中被测物质的信息，是研究水体特性重要工具，对生态研究、环境评估以及水产养殖具有重大意义。为增加被测物的测量准确性，通过多色荧光系统，进行多维度测量和补偿成为一种趋势。
目前，市场上的多色通道荧光检测器，虽然具有多色激发光、荧光检测器，但它们通过移动或转动的方式，在同一时刻只能检测一种荧光，难以解决多光源准直集成及等比例光源校准问题，无法测量复杂体系下物质的相对浓度，无法去除其他物质对被检测物的干扰，不能满足多光源多点探测的实际需求。
实用新型内容
为了解决上述问题，本实用新型提供以下技术方案：
本实用新型提供多光束多位荧光系统，包括：
多组激发光源，用于发射不同波段的光束；
光束调整单元，用于调整所述激发光源发出的光束的准直度和方向；
荧光检测装置，用于对待测样品荧光检测；
参考装置，用于激发光源的光强的参考检测，可以实时检测、实时调整激发光源的出射光的强度；
所述光束调整单元包括棱镜，所述荧光检测装置和所述参考装置设置在所述棱镜的出光处，所述激发光源位于所述棱镜的不同位置。
进一步的，所述激发光源包括多色光源和单色光源。
进一步的，所述棱镜为反射棱镜或正棱镜。
进一步的，所述光束调整单元还包括准直器，所述准直器设置在所述棱镜的出光处，用于对所述激发光源发射的光束进行准直，将光源处理为准平行光或汇聚光源，减小对测量的影响。
进一步的，所述准直器设置在所述荧光检测装置和棱镜之间、参考装置和棱镜之间。
进一步的，所述荧光检测装置包括分度结构件和第一检测器，所述分度结构件上均布设有放置槽，所述放置槽环形布置，所述第一检测器设置在所述放置槽内，所述第一检测器也环形设置。
通过光束调整单元调整后的出射光源与环形布局的第一检测器完全垂直，减少整体出射光对垂直激发荧光或者反射光的影响，设计特别针对激发光与接受光波长相同的时候引起的反射现象。
进一步的，所述荧光检测装置还包括检测器电路板，所述第一检测器与所述检测器电路板电连接。
优选的，所述检测器电路板设置在所述分度结构件一侧。
进一步的，所述第一检测器上设有窄带滤光片，用滤除所述荧光中的杂散光。
进一步的，所述参考装置包括第二检测器和预留衰减片，所述预留衰减片设置在所述第二检测器一侧。
优选的，所述预留衰减片用来调整光路强度。
进一步的，所述多组激发光源、光束调整单元、荧光检测装置和参考装置均放置在壳体内。
优选的，所述壳体内还设有控制电路板，所述多组激发光源与所述控制电路板电连接，所述第二检测器也与所述控制电路板电连接。
优选的，所述多组激发光源、光束调整单元和参考装置均设置在固定件内，所述固定件放置在所述控制电路板上。
优选的，所述壳体的一端还连接有防水接头。
优选的，防止反射光的影响，棱镜、准直器、第一检测器、第二检测器、窄带滤光片等各零件和玻璃器件进行了哑光处理。
所述多组激发光源通过正棱镜或反射镜反射后，可以通过同一棱镜面出射，根据棱镜的对称性，可有一束对称光线从棱镜的另一面射出，所述荧光检测装置和所述参考装置设置在所述棱镜的出光处，由于激发光源有一定的发散角，防止部分光源由于物理反射的原因进入第一检测器和/或第二检测器，导致测量的误差，在棱镜的两个出光面设有准直器进行光源准直处理，将光源处理为准平行光或汇聚光源，减小对测量的影响；由于第一检测器环形设置，出射光唯一，使各个第一检测器的测量位置一致，实现多光源的出射的光束一致性，到达激发点到各个第一检测器的位置基本一致。
通过光束调整单元将不同点位的多组激发光源准直到同一条线状光线中，线状光线垂直通过第一检测器布置环中心，实现多波长激发体系和多点测量体系。
本实用新型具有以下有益效果：
(1)本实用新型通过将不同点位的激发光源进行同光路准直，即增强激发光的强度也可以实现多光源的出射的光束一致性，到达激发点到各个第一检测器的位置基本一致；
(2)本实用新型设置了参考装置，实时监测激发光源的光源的强度检测，实时检测实时调整出射光的强度；
(3)本实用新型的第一检测器环形布置，出射光源与环形布局的第一检测器完全垂直，减少整体出射光对垂直激发荧光或者反射光的影响；
(4)本实用新型通过光束调整单元将不同点位的多组激发光源准直到同一条线状光线中，线状光线垂直通过第一检测器布置环中心，实现多波长激发体系和多点测量体系；
(5)本实用新型通过环形设置第一检测器，实现一波长激发多波长测量或多波长激发单波长测量，实现矩阵式的测量。
附图说明
图1是本实用新型的结构布局图。
图2是本实用新型的固定件内部结构示意图。
图3是本实用新型的分度结构件示意图。
图4是本实用新型的光束调整单元示意图。
图5是本实用新型的整体结构的剖面图。
具体实施方式
以下结合附图对本实用新型的具体实施方式做详细描述，应当指出的是，实施例只是对实用新型的具体阐述，不应视为对实用新型的限定，实施例的目的是为了让本领域技术人员更好地理解和再现本实用新型的技术方案，本实用新型的保护范围仍应当以权利要求书所限定的范围为准。
如图1所示，本实用新型提供多光束多位荧光系统，包括：
多组激发光源1，用于发射不同波段的光束；
光束调整单元2，用于调整所述激发光源1发出的光束的准直度和方向；
荧光检测装置3，用于对待测样品荧光检测；
参考装置4，用于激发光源1的光强的参考检测，可以实时检测、实时调整激发光源1的出射光的强度；
如图2所示，所述光束调整单元2包括棱镜21，所述荧光检测装置3和所述参考装置4设置在所述棱镜21的出光处，所述激发光源1位于所述棱镜21的不同位置。
在一些优选方案中，所述激发光源1包括多色光源和单色光源。
在一些优选方案中，所述棱镜21为反射棱镜或正棱镜。
在一些优选方案中，所述光束调整单元2还包括准直器22，所述准直器22设置在所述棱镜21的出光处，用于对所述激发光源1发射的光束进行准直，将光源处理为准平行光或汇聚光源，减小对测量的影响。
在一些优选方案中，所述准直器22设置在所述荧光检测装置3和棱镜21之间、参考装置4和棱镜21之间。
如图3-4所示，所述荧光检测装置3包括分度结构件31和第一检测器32，所述分度结构件31上均布设有放置槽311，所述放置槽311环形布置，所述第一检测器32设置在所述放置槽311内，所述第一检测器32也环形设置。
通过光束调整单元2调整后的出射光源与环形布局的第一检测器32完全垂直，减少整体出射光对垂直激发荧光或者反射光的影响，设计特别针对激发光与接受光波长相同的时候引起的反射现象。
如图5所示，所述荧光检测装置3还包括检测器电路板33，所述第一检测器32与所述检测器电路板33电连接。
优选的，所述检测器电路板33设置在所述分度结构件31一侧。
在一些优选方案中，所述第一检测器32上设有窄带滤光片，用滤除所述荧光中的杂散光。
如图2所示，所述参考装置4包括第二检测器41和预留衰减片42，所述预留衰减片42设置在所述第二检测器41一侧，通过设置参考装置4，实时监测激发光源1的光源的强度检测，实时检测实时调整出射光的强度。
优选的，所述预留衰减片42用来调整光路强度。
在一些优选方案中，所述多组激发光源1、光束调整单元2、荧光检测装置3和参考装置4均放置在壳体6内。
优选的，所述壳体6内还设有控制电路板7，所述多组激发光源1与所述控制电路板7电连接，所述第二检测器41也与所述控制电路板7电连接。
所述第一检测器32和第二检测器41优选小型光电倍增管。
优选的，所述多组激发光源1、光束调整单元2和参考装置4均设置在固定件8内，所述固定件8放置在所述控制电路板7上。
优选的，所述壳体6的一端还连接有防水接头9。
优选的，防止反射光的影响，棱镜21、准直器22、第一检测器32、第二检测器41、窄带滤光片等各零件和玻璃器件进行了哑光处理。
所述多组激发光源1通过正棱镜或反射镜反射后，可以通过同一棱镜面出射，根据棱镜的对称性，可有一束对称光线从棱镜的另一面射出，所述荧光检测装置3和所述参考装置4设置在所述棱镜21的出光处，由于激发光源1有一定的发散角，防止部分光源由于物理反射的原因进入第一检测器32和/或第二检测器41，导致测量的误差，在棱镜21的两个出光面设有准直器22进行光源准直处理，将光源处理为准平行光或汇聚光源，减小对测量的影响；由于第一检测器32环形设置，出射光唯一，使各个第一检测器32的测量位置一致，实现多光源的出射的光束一致性，到达激发点到各个第一检测器32的位置基本一致。
通过光束调整单元2将不同点位的多组激发光源1准直到同一条线状光线中，线状光线垂直通过第一检测器32布置环中心，实现多波长激发体系和多点测量体系。
通过将不同点位的激发光源1进行同光路准直，即增强激发光的强度也可以实现多光源的出射的光束一致性，到达激发点到各个第一检测器32的位置基本一致；
第一检测器32环形布置，出射光源与环形布局的第一检测器32完全垂直，减少整体出射光对垂直激发荧光或者反射光的影响；
通过光束调整单元2将不同点位的多组激发光源1准直到同一条线状光线中，线状光线垂直通过第一检测器32布置环中心，实现多波长激发体系和多点测量体系；
通过环形设置第一检测器32，实现一波长激发多波长测量或多波长激发单波长测量，实现矩阵式的测量。
尽管已描述了本申请的优选实施例，但本领域内的技术人员一旦得知了基本创造性概念，则可对这些实施例做出另外的变更和修改。所以，所附权利要求意欲解释为包括优选实施例以及落入本申请范围的所有变更和修改。
Claims (7)
1.多光束多位荧光系统，其特征在于，包括：
多组激发光源，用于发射不同波段的光束；
光束调整单元， 用于调整所述激发光源发出的光束的准直度和方向；
荧光检测装置，用于对待测样品荧光检测；
参考装置，用于激发光源的光强的参考检测；
所述光束调整单元包括棱镜，所述荧光检测装置和所述参考装置设置在所述棱镜的出光处，所述激发光源位于所述棱镜的不同位置；
所述荧光检测装置包括分度结构件和第一检测器，所述分度结构件上均布设有放置槽，所述放置槽环形布置，所述第一检测器设置在所述放置槽内，所述第一检测器也环形设置；
所述荧光检测装置还包括检测器电路板，所述第一检测器与所述检测器电路板电连接；
所述第一检测器上设有窄带滤光片。
2.根据权利要求1所述的多光束多位荧光系统，其特征在于，所述激发光源包括多色光源和单色光源。
3.根据权利要求1所述的多光束多位荧光系统，其特征在于，所述棱镜为反射棱镜或正棱镜。
4.根据权利要求1所述的多光束多位荧光系统，其特征在于，所述光束调整单元还包括准直器，所述准直器设置在所述棱镜的出光处，用于对所述激发光源发射的光束进行准直。
5.根据权利要求4所述的多光束多位荧光系统，其特征在于，所述准直器设置在所述荧光检测装置和棱镜之间、参考装置和棱镜之间。
6.根据权利要求1所述的多光束多位荧光系统，其特征在于，所述参考装置包括第二检测器。
7.根据权利要求1所述的多光束多位荧光系统，其特征在于，所述多组激发光源、光束调整单元、荧光检测装置和参考装置均放置在壳体内。
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2022
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