CN219798159U - 数码指针式高度尺 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种数码指针式高度尺，包括主尺和副尺，主尺与副尺滑动套接，副尺上设有数显组件本体，数显组件本体内设置有位移传感器、数据处理芯片和显示屏，位移传感器用于监测主尺和副尺的相对位移，主尺的端部铰接设有外护壳，数显组件本体的两端匹配副尺设有套块，一侧套块的外侧壁设有紧固旋钮。本实用新型与现有技术相比的优点在于：提供一种可以用指针读书，同时增加读数准确的数码指针式高度尺。

Description

数码指针式高度尺

技术领域

本实用新型涉及高度尺技术领域，具体是指数码指针式高度尺。

背景技术

目前，市面上销售的机械带表量具是以设置在主尺上的齿条驱动表盘内的齿轮从而带动表针旋转，副尺所示主尺的主刻度值加上表针停下时所指示的表盘刻度值，即为工件的实际尺寸值；这种读数方式需要使用者具备较专业的测量技能才能确保读数最接近工件的真实尺寸；另外，在光线稍弱的工作现场，受光线和视角的影响，即便是具备较专业的测量技能使用者，也难确保读数的准确性。

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题是，克服以上技术缺陷，提供一种可以用指针读书，同时增加读数准确的数码指针式高度尺。

为解决上述技术问题，本实用新型提供的技术方案为：一种数码指针式高度尺，包括主尺和副尺，所述主尺与副尺滑动套接，所述副尺上设有数显组件本体，所述数显组件本体内设置有位移传感器、数据处理芯片和显示屏，所述位移传感器用于监测主尺和副尺的相对位移，所述主尺的端部铰接设有外护壳，所述数显组件本体的两端匹配副尺设有套块，一侧所述套块的外侧壁设有紧固旋钮。

作为改进，所述显示屏上设置有数码数字、小数点、分度标识符号及测量单位符号和指针，所述数码数字和所述小数点用于显示高位数值，所述指针于显示屏的圆周方向完整分布，所述指针用于显示低位数值，所述分度标识符号及测量单位符号表示当前测量环境下的指针最小度量值及当前测量环境下的度量单位。

作为改进，所述指针为模拟刻度，其根据主尺与副尺的相对位移量的递增或递减按顺时针或逆时针方向动态显示。

作为改进，所述指针根据主尺与副尺的相对位移量的递增或递减按顺时针或逆时针方向动态显示。

作为改进，所述分度标识符号及测量单位符号为0.01mm，所述模拟刻度共包括100格，当模拟刻度显示满格时，所述主尺与副尺的相对位移量为1mm。

作为改进，所述分度标识符号及测量单位符号为0.0005in，所述模拟刻度共包括100格，当所述模拟刻度显示满格时，所述主尺与副尺的相对位移量为0.05in。

作为改进，所述分度标识符号及测量单位符号为0.001mm，所述模拟刻度共包括100格，当所述模拟刻度显示满格时，所述主尺与副尺的相对位移量为0.1mm。

作为改进，所述分度标识符号及测量单位符号为0.00005in，所述模拟刻度共包括100格，当所述模拟刻度显示满格时，所述主尺与副尺的相对位移量为0.005in。

作为改进，所述数显组件本体圆周方向上还设置有完整圆周的电子刻度盘，所述指针的显示位置位于具有完整圆周的电子刻度盘与数码数字之间，且所述指针根据所述主尺与副尺的相对位移量的递增或递减按顺时针或逆时针方向动态旋转。

本实用新型与现有技术相比的优点在于：数显组件本体设置在副尺上，通过位移传感器、数据处理芯片和显示屏等部件配合，在常规数码指针式高度尺的基础上，加入了机械式带表指示表设计的理念，方便读数使用，可以灵敏检测位移，在本申请中通过额外设置的紧固旋钮可以对测量时的主尺与副尺进行固定，从而增加读数的准确性。

附图说明

图1为本实用新型第一种具体实施方式中数码指针式高度尺的正视图；

图2为本实用新型第二种具体实施方式中数码指针式高度尺的正视图；

图3为本实用新型第三种具体实施方式中数码指针式高度尺的正视图；

图4为本实用新型第四种具体实施方式中数码指针式高度尺的正视图；

图5为图1中数码指针式高度尺的公制读数显示示意图；

图6为图1中数码指针式高度尺的英制读数显示示意图；

图7为图2中数码指针式高度尺的公制读数显示示意图；

图8为图2中数码指针式高度尺的英制读数显示示意图；

图9为图3中数码指针式高度尺的公制读数显示示意图；

图10为图3中数码指针式高度尺的英制读数显示示意图；

图11为图4中数码指针式高度尺的公制读数显示示意图；

图12为图4中数码指针式高度尺的英制读数显示示意图；

图13为数码指针式高度尺的公制数码显示示意图

图14为数码指针式高度尺的英制数码显示示意图

图1至图4中的附图标记如下：

1、分度标示符号及测量单位符号；2、指针；3、数码数字；4、小数点；5、数显组件本体；6、刻度盘；7、主尺；8、副尺。

具体实施方式

下面结合附图来进一步说明本实用新型的具体实施方式。其中相同的零部件用相同的附图标记表示。

需要说明的是，下面描述中使用的词语“前”、“后”、“左”、“右”、“上”和“下”指的是附图中的方向，词语“内”和“外”分别指的是朝向或远离特定部件几何中心的方向。

需要说明的是，当元件被称为“固设于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上也可以存在居中的元件，当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件，本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的。

除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本实用新型的技术领域的技术人员通常连接的含义相同，本文中在本实用新型的说明书中所使用的术语知识为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本实用新型，本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。

为了使本实用新型的内容更容易被清楚地理解，下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。

本实用新型核心是提供一种数码指针式高度尺，通过指针来显示低位数据；也可以在数字显示区显示完整的测量数据，指针用于显示所述主尺与所述副尺的相对位移量变化趋势，使得测量者在读数时更加直观清楚，配合紧固旋钮增加读数准确。

请参考图1-4，图1为本实用新型第一种具体实施方式中数码指针式高度尺的正视图；图2为本实用新型第二种具体实施方式中数码指针式高度尺的正视图；图3为本实用新型第三种具体实施方式中数码指针式高度尺的正视图；图4为本实用新型第四种具体实施方式中数码指针式高度尺的正视图。

在第一、第三种具体实施方式中，本实用新型提供的数码指针式高度尺，包括主尺7和副尺8，副尺8设置在主尺7上并可沿主尺7的长度方向滑动，另外副尺8上设置有数显组件本体5，数显组件本体5沿副尺8的长度方向设置，其内设置有位移传感器、数据处理芯片和显示屏。所述位移传感器用于侦测所述主尺与所述副尺之间的相对位移量并传送给所述数据处理芯片，所述数据处理芯片将接收到的相对位移量进行处理并显示在所述显示屏上。

所述显示屏上设置有数码数字3、小数点4、分度标识符号及测量单位符号1和指针2，实际测量时，数码数字3和小数点4用于显示高位数值，所述高位数值直接显示在所述显示屏上，另外，分度标识符号及测量单位符号1表示当前测量环境下的指针2的最小度量值及当前测量环境下的度量单位，指针2用于显示低位数值，具体数值需要提取，所述高位数值与所述低位数值相结合构成最终的测量结果。

在第一、第三具体实施方式中，指针2为电子显示的模拟刻度，所述模拟刻度为圆形刻度，其根据主尺7与副尺8的相对位移量的递增顺时针动态显示，同时根据主尺7与副尺8的相对位移量的递减逆时针方向动态显示，由此测量者可根据模拟刻度的显示清楚且迅速地读取指针2所显示的数值。

在第二、第四种具体实施方式中，指针2为电子显示的模拟刻度，所述模拟刻度为圆形刻度，其根据主尺7与副尺8的相对位移量的递增顺时针动态显示，同时根据主尺7与副尺8的相对位移量的递减逆时针方向动态显示，数码数字和所述小数点用于显示完整的测量数值，指针用于显示所述主尺与所述副尺的相对位移量变化趋势，使得测量者在读数时更加直观清楚。

在第一、第二、第三、第四种具体实施方式中包括两种度量单位，使用时可互相转换，一种是公制单位mm，一种是英制单位in，因此也对应两种模拟刻度。

采用公制单位测量时，可将分度标识符号及测量单位符号1设置为0.01mm，此时模拟刻度共包括100格，当模拟刻度显示满格时，对应主尺7与副尺8的相对位移量为1mm，也即每格模拟刻度代表0.01mm。

采用英制单位测量时，可将分度标识符号及测量单位符号1设置为0.0005in，此时模拟刻度共包括100格，当模拟刻度显示满格时，对应主尺7与副尺8的相对位移量为0.05in，也即每格模拟刻度代表0.0005in。

上述数码指针式高度尺也可以包括两种度量单位，使用时可互相转换，一种是公制单位mm，一种是英制单位in，因此也对应两种模拟刻度。

采用公制单位测量时，可将分度标识符号及测量单位符号1设置为0.001mm，此时模拟刻度共包括100格，当模拟刻度显示满格时，对应主尺7与副尺8的相对位移量为0.1mm，也即每格模拟刻度代表0.001mm。

采用英制单位测量时，可将分度标识符号及测量单位符号1设置为0.00005in，此时模拟刻度共包括100格，当模拟刻度显示满格时，对应主尺7与副尺8的相对位移量为0.005in，也即每格模拟刻度代表0.00005in。

在第三、第四种具体实施方式中，数显组件本体5上圆周方向还设置有圆形电子刻度盘6。测量开始时，指针2根据主尺7与副尺8的相对位移量的递增或递减按顺时针或逆时针方向动态旋转，由此测量者可根据模拟刻度的显示清楚且迅速地读取指针2所显示的数值。

上述数码指针式高度尺包括两种度量单位，使用时可互相转换，一种是公制单位mm，一种是英制单位in，因此也对应两种模拟刻度。

采用公制单位测量时，可将分度标识符号及测量单位符号1设置为0.001mm，此时模拟刻度共包括100格，当模拟刻度显示满格时，对应主尺7与副尺8的相对位移量为0.1mm，也即每格模拟刻度代表0.001mm。

采用英制单位测量时，可将分度标识符号及测量单位符号1设置为0.00005in，此时模拟刻度共包括100格，当模拟刻度显示满格时，对应主尺7与副尺8的相对位移量为0.005in，也即每格模拟刻度代表0.00005in。

为更好的对上述四种实施例中的读数方法进行说明，请参考图5-图14，图5为图1中数码指针式高度尺的公制读数显示示意图，其对应读数为25.39mm；图6为图1中数码指针式高度尺的英制读数显示示意图，其对应读数为1.9355in；图7为图2中数码指针式高度尺的公制读数显示示意图，其对应读数为25.39mm；图8为图2中数码指针式高度尺的英制读数显示示意图，其对应读数为1.9355in；图9为图3中数码指针式高度尺的公制读数显示示意图，其对应读数为25.39mm；图10为图3中数码指针式高度尺的英制读数显示示意图，其对应读数为1.9355in；图11为图4中数码指针式高度尺的公制读数显示示意图，其对应读数为25.39mm；图12为图4中数码指针式高度尺的英制读数显示示意图，其对应读数为1.9355in；图13为数码指针式高度尺纯数字显示公制读数显示示意图；图14为数码指针式高度尺纯数字显示英制读数显示示意图。

本说明书中未作详细描述的内容属于本领域专业技术人员公知的现有技术。

本实用新型使用到的标准零件均可以从市场上购买，异形件根据说明书的和附图的记载均可以进行订制，各个零件的具体连接方式均采用现有技术中成熟的螺栓、铆钉、焊接等常规手段，机械、零件和设备均采用现有技术中，常规的型号，加上电路连接采用现有技术中常规的连接方式，在此不再详述，本说明书中未作详细描述的内容属于本领域专业技术人员公知的现有技术。

以上对本实用新型及其实施方式进行了描述，这种描述没有限制性，附图中所示的也只是本实用新型的实施方式之一，实际的结构并不局限于此。总而言之如果本领域的普通技术人员受其启示，在不脱离本实用新型创造宗旨的情况下，不经创造性的设计出与该技术方案相似的结构方式及实施例，均应属于本实用新型的保护范围。

Claims (9)

1.一种数码指针式高度尺，包括主尺和副尺，其特征在于：所述主尺与副尺滑动套接，所述副尺上设有数显组件本体，所述数显组件本体内设置有位移传感器、数据处理芯片和显示屏，所述位移传感器用于监测主尺和副尺的相对位移，所述主尺的端部铰接设有外护壳，所述数显组件本体的两端匹配副尺设有套块，一侧所述套块的外侧壁设有紧固旋钮。

2.根据权利要求1所述的一种数码指针式高度尺，其特征在于：所述显示屏上设置有数码数字、小数点、分度标识符号及测量单位符号和指针，所述数码数字和所述小数点用于显示高位数值，所述指针于显示屏的圆周方向完整分布，所述指针用于显示低位数值，所述分度标识符号及测量单位符号表示当前测量环境下的指针最小度量值及当前测量环境下的度量单位。

3.根据权利要求2所述的一种数码指针式高度尺，其特征在于：所述指针为模拟刻度，其根据主尺与副尺的相对位移量的递增或递减按顺时针或逆时针方向动态显示。

4.根据权利要求2所述的一种数码指针式高度尺，其特征在于：所述指针根据主尺与副尺的相对位移量的递增或递减按顺时针或逆时针方向动态显示。

5.根据权利要求3所述的一种数码指针式高度尺，其特征在于：所述分度标识符号及测量单位符号为0.01mm，所述模拟刻度共包括100格，当模拟刻度显示满格时，所述主尺与副尺的相对位移量为1mm。

6.根据权利要求3所述的一种数码指针式高度尺，其特征在于：所述分度标识符号及测量单位符号为0.0005in，所述模拟刻度共包括100格，当所述模拟刻度显示满格时，所述主尺与副尺的相对位移量为0.05in。

7.根据权利要求3所述的一种数码指针式高度尺，其特征在于：所述分度标识符号及测量单位符号为0.001mm，所述模拟刻度共包括100格，当所述模拟刻度显示满格时，所述主尺与副尺的相对位移量为0.1mm。

8.根据权利要求3所述的一种数码指针式高度尺，其特征在于：所述分度标识符号及测量单位符号为0.00005in，所述模拟刻度共包括100格，当所述模拟刻度显示满格时，所述主尺与副尺的相对位移量为0.005in。

9.根据权利要求2所述的一种数码指针式高度尺，其特征在于：所述数显组件本体圆周方向上还设置有完整圆周的电子刻度盘，所述指针的显示位置位于具有完整圆周的电子刻度盘与数码数字之间，且所述指针根据所述主尺与副尺的相对位移量的递增或递减按顺时针或逆时针方向动态旋转。