CN219737637U - 安全性高的仪表输入阻抗仪表输入阻抗自检装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型属于仪器仪表技术领域，尤其涉及一种安全性高的仪表输入阻抗仪表输入阻抗自检装置，应用于测量仪表，测量仪表具有表笔输入端，包括：输入保护模块，具有并连的第一保护支路、第二保护支路及第三保护支路；导通控制模块通过阻抗模块与第一保护支路连接该导通模块分别与第二保护支路、第三保护支路连接；安全输入检测模块的一端与导通控制模块连接；测量网络选择模块的第一端、第二端分别与导通控制模块连接；测量计算模块分别与测量网络选择模块、安装输入检测模块连接。本自检装置在进行电压测量前，仪表需要先经过阻抗自检，才能进行测量，从而提升仪表的测量安全性以及提升仪表的使用便捷性。

Description

安全性高的仪表输入阻抗仪表输入阻抗自检装置

技术领域

本申请涉及仪器仪表领域，特别涉及一种安全性高的仪表输入阻抗仪表输入阻抗自检装置。

背景技术

由于仪表的输入阻抗对测量精度和安全有着重要影响，测量人员有必要事先知道仪表的输入阻抗，并确认此阻抗值是否适合当前的测量。

在电压测量时，若测量仪表的输入阻抗过小，对测量引起的影响有：其一，当仪表的输入阻抗是被测信号源阻抗的1％时，将产生约1％的测量误差，仪表的输入阻抗越小产生的误差将越大；其二，过低的仪表输入阻抗，在测量电压时，可能会使保护开关跳闸，例如，测量火线和地线电压，若仪表输入阻抗过低，引起火线到地线的电流过大，则引起漏电开关跳闸；其三，过低的仪表输入阻抗，在测量高压时，可能会损坏仪表，严重地发生安全事故。

在相关技术中，万用表中并没有自检仪表本身输入阻抗的功能，使用人员只能从说明书中获得仪表输入阻抗的信息，非常不方便。

需要说明的是，在上述背景技术部分公开的信息仅用于加强对本公开的背景的理解，因此可以包括不构成本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。

实用新型内容

鉴于以上技术问题中的至少一项，本申请提供一种安全性高的仪表输入阻抗仪表输入阻抗自检装置，解决了万用表中并没有自检仪表本身输入阻抗的功能，使用人员只能从说明书中获得仪表输入阻抗的信息，非常不方便的问题。

本申请实施例，提供一种安全性高的仪表输入阻抗仪表输入阻抗自检装置，应用于测量仪表，所述测量仪表具有表笔输入端，包括输入保护模块、阻抗模块、导通控制模块、安全输入检测模块、测量网络选择模块及测量计算模块；

所述输入保护模块，具有并连的第一保护支路、第二保护支路及第三保护支路；

所述导通控制模块，该导通控制模块通过所述阻抗模块与所述第一保护支路连接，该导通模块分别与所述第二保护支路、第三保护支路连接；

所述安全输入检测模块，该安全输入检测模块的一端与所述导通控制模块连接；

所述测量网络选择模块，该测量网络选择模块的第一端、第二端分别与所述导通控制模块连接；

所述测量计算模块，该测量计算模块分别与所述测量网络选择模块、安装输入检测模块连接；

所述第二保护支路与所述导通控制模块之间连接有第二电阻，所述第三保护支路与所述导通控制模块之间连接有第三电阻。

本申请具有如下技术效果：本仪表输入阻抗仪表输入阻抗自检装置通过输入保护模块、阻抗模块、导通控制模块、安全输入检测模块、测量网络选择模块及测量计算模块配合，在进行电压测量前，仪表需要先经过阻抗自检，才能进行测量，从而提升仪表的测量安全性以及提升仪表的使用便捷性。

在一种实现方式中，所述第一保护支路包括第一保护单元，所述第二保护支路包括第二保护单元，所述第三保护支路包括第三保护单元，所述第一保护单元、第二保护单元及第三保护单元并联。

在一种实现方式中，所述阻抗模块包括依次串联的第一电阻、第四电阻、第五电阻及第六电阻，所述第一电阻与所述第一保护单元连接，所述第六电阻与所述导通控制模块连接。

在一种实现方式中，所述导通控制模块包括由所述测量计算模块控制的第一控制开关、第二控制开关、第三控制开关、第四控制开关及第五控制开关，所述第一控制开关、第二控制开关、第三控制开关、第四控制开关及第五控制开关均具有第一接触端及第三接触端，所述第一控制开关连接于所述第二保护单元、测量网络选择模块之间，所述第二控制开关、第三控制开关依次连接，所述第二控制开关与第三保护单元连接，所述第三控制开关与安全输入检测模块连接，所述第四控制开关、第五控制开关依次连接，所述第四控制开关与第六电阻连接，所述第五控制开关与测量网络选择模块连接。

在一种实现方式中，当测量仪表处于安全输入检测状态时，第一控制开关、第三控制开关、第四控制开关及第五控制开关均置于第一接触端，所述第二控制开关置于第三接触端。

在一种实现方式中，当测量仪表处于非阻抗支路自检状态时，第一控制开关、第二控制开关、第三控制开关均置于第三接触端，第四控制开关置于第一接触端；

在一种实现方式中，当测量仪表处于输入阻抗自检状态时，第二控制开关、第三控制开关、第四控制开关及第五控制开关均置于第三接触端，第一控制开关置于第一接触端。

在一种实现方式中，所述安全输入检测模块包括第五压敏电阻、第七电阻、第八电阻及电压比较器，所述第五压敏电阻与所述导通控制模块连接，所述第七电阻的第一端与所述第五压敏电阻连接，所述第七电阻的第二端、第八电阻的第一端共接且与电压比较器的正相输入端连接，所述电压比较器的反相输入端与第二电源连接，所述电压比较器的输出端与所述测量计算模块连接。

在一种实现方式中，所述测量计算模块包括ADC及MCU，所述ADC用于接收由所述测量网络选择模块发送的待测量信号，并发送至所述MCU进行计算。

在一种实现方式中，所述测量网络选择模块包括数据选择器，所述数据选择器的第一端、第二端分别与所述导通控制模块连接，所述数据选择器的第三端与所述测量计算模块连接。

下面结合附图与实施例，对本实用新型进一步说明。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本申请实施例中的仪表输入阻抗仪表输入阻抗自检装置的结构图；

图2是本申请实施例中的仪表输入阻抗仪表输入阻抗自检装置的电路图；

图3是本申请实施例中的仪表输入阻抗仪表输入阻抗自检装置处于安全检测状态下的电路原理图；

图4是本申请实施例中的仪表输入阻抗仪表输入阻抗自检装置处于非阻抗支路自检状态的电路原理图；

图5是本申请实施例中的仪表输入阻抗仪表输入阻抗自检装置处于输入阻抗自检状态的电路原理图；

图6是本申请实施例中的仪表输入阻抗仪表输入阻抗自检装置的工作原理图；

具体实施方式

为使本申请的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本申请的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本申请。但是本申请能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本申请内涵的情况下做类似改进，因此本申请不受下面公开的具体实施例的限制。

在本申请的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请的限制。

在本申请的描述中，需要理解的是，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本申请的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。

在本申请实施例中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本发明实施例中的具体含义。

在电压测量时，若测量仪表的输入阻抗过小，对测量引起的影响有：其一，当仪表的输入阻抗是被测信号源阻抗的1％时，将产生约1％的测量误差，仪表的输入阻抗越小产生的误差将越大；其二，过低的仪表输入阻抗，在测量电压时，可能会使保护开关跳闸，例如，测量火线和地线电压，若仪表输入阻抗过低，引起火线到地线的电流过大，则引起漏电开关跳闸；其三，过低的仪表输入阻抗，在测量高压时，可能会损坏仪表，严重地发生安全事故。在相关技术中，万用表中并没有自检仪表本身输入阻抗的功能，使用人员只能从说明书中获得仪表输入阻抗的信息，非常不方便。本仪表输入阻抗自检装置通过输入保护模块、阻抗模块、导通控制模块、安全输入检测模块、测量网络选择模块及测量计算模块配合，在进行电压测量前，仪表需要先经过阻抗自检，才能进行测量，从而提升仪表的测量安全性以及提升仪表的使用便捷性。

请参见图1、图2、图3、图4、图5及图6，其中，图1是本申请实施例中的仪表输入阻抗自检装置的结构图；图2是本申请实施例中的仪表输入阻抗自检装置的电路图；图3是本申请实施例中的仪表输入阻抗自检装置处于安全检测状态下的电路原理图；图4是本申请实施例中的仪表输入阻抗自检装置处于非阻抗支路自检状态的电路原理图；图5是本申请实施例中的仪表输入阻抗自检装置处于输入阻抗自检状态的电路原理图；图6是本申请实施例中的仪表输入阻抗自检装置的工作原理图；本申请实施例，提供一种仪表输入阻抗的仪表输入阻抗自检装置，应用于测量仪表，测量仪表具有表笔输入端J1，包括输入保护模块100、阻抗模块200、导通控制模块300、安全输入检测模块400、测量网络选择模块500及测量计算模块600；

结合参考图1、图2及图6，以下对仪表输入阻抗自检装置的具体电路结构、原理进行详细介绍。

输入保护模块100，具有并连的第一保护支路、第二保护支路及第三保护支路；

导通控制模块300，该导通控制模块300通过阻抗模块200与第一保护支路连接，该导通模块分别与第二保护支路、第三保护支路连接；

安全输入检测模块400，该安全输入检测模块400的一端与导通控制模块300连接；

测量网络选择模块500，该测量网络选择模块500的第一端、第二端分别与导通控制模块300连接；

测量计算模块600，该测量计算模块600分别与测量网络选择模块500、安装输入检测模块连接。

在一些示例中，结合参考图1、图2及图6，第一保护支路包括第一保护单元，第二保护支路包括第二保护单元，第三保护支路包括第三保护单元，第一保护单元、第二保护单元及第三保护单元并联。

第一保护支路还包括第四压敏电阻DT4，第二保护电阻还包括第二压敏电阻DT2，第三保护电阻还包括第一压敏电阻DT1。第一保护单元为第一热敏电阻PTC1，第二保护单元为第二热敏电阻PTC2，第三保护单元第三热敏电阻PTC3。

其中，第一热敏电阻PTC1、第二热敏电阻PTC2、第三热敏电阻PTC3的一端共接，第一热敏电阻PTC1的另一端与第四压敏电阻DT4连接，第二热敏电阻PTC2的另一端与第二压敏电阻DT2连接，第三热敏电阻PTC3的另一端与第一压敏电阻DT1连接，第一压敏电阻DT1、第二压敏电阻DT2及第四压敏电阻DT4通过第三压敏电阻DT3接地。如此，通过第一热敏电阻PTC1、第二热敏电阻PTC2、第三热敏电阻PTC3、第一压敏电阻DT1、第二压敏电阻DT2、第四压敏电阻DT4及第三压敏电阻DT3配合，构成测量仪表的表笔输入端J1的浪涌保护。

在一些示例中，结合参考图1、图2及图6，阻抗模块200包括依次串联的第一电阻R1、第四电阻R4、第五电阻R5及第六电阻R6，第一电阻R1与第一保护单元连接，第六电阻R6与导通控制模块300连接。

在一些示例中，结合参考图1、图2及图6，导通控制模块300包括由测量计算模块600控制的第一控制开关K1、第二控制开关K2、第三控制开关K3、第四控制开关K4及第五控制开关K5，第一控制开关K1、第二控制开关K2、第三控制开关K3、第四控制开关K4及第五控制开关K5均具有第一接触端及第三接触端，第一控制开关K1连接于第二保护单元、测量网络选择模块500之间，第二控制开关K2、第三控制开关K3依次连接，第二控制开关K2与第三保护单元连接，第三控制开关K3与安全输入检测模块400连接，第四控制开关K4、第五控制开关K5依次连接，第四控制开关K4与第六电阻R6连接，第五控制开关K5与测量网络选择模块500连接。

在一些示例中，结合参考图1、图2及图6，测量计算模块600包括ADC及MCU，ADC用于接收由测量网络选择模块500发送的待测量信号，并发送至MCU进行计算。

在一些示例中，结合参考图1、图2及图6，测量网络选择模块500包括数据选择器，数据选择器的第一端、第二端分别与导通控制模块300连接，数据选择器的第三端与测量计算模块600连接。

测量网络选择模块500还包括第一节点a、第二节点b、第三节点c、第九电阻R9、第十电阻R10及第一电源V1，第九电阻R9的第一端与第一节点a连接，第九电阻R9的第二端与第二节点b连接，第一节点a分别与上述的第五控制开关K5的第三接触端、数据选择器的第一端连接，第十电阻R10的第一端与第三节点c连接，第十电阻R10的第二端与第二节点b连接，第三节点c与数据选择器的第二端连接，第一电源V1与第二节点b连接。

在一些示例中，结合参考图3，当测量仪表处于安全输入检测状态时，第一控制开关K1、第三控制开关K3、第四控制开关K4及第五控制开关K5均置于第一接触端，第二控制开关K2置于第三接触端。

安全输入检测模块400包括第五压敏电阻DT5、第七电阻R7、第八电阻R8及电压比较器U1，第五压敏电阻DT5与导通控制模块300连接，第七电阻R7的第一端与第五压敏电阻DT5连接，第七电阻R7的第二端、第八电阻R8的第一端共接且与电压比较器U1的正相输入端连接，电压比较器U1的反相输入端与第二电源连接，电压比较器U1的输出端与测量计算模块600连接。

其中，第五压敏电阻DT5的导通条件为，测量电压大于180V。在上述的第三热敏电阻PTC3与上述的第二控制开关K2之间还连接有第三电阻R3。

当仪表进行电压测量前，首先对仪表的电压输入状态进行检测。具体为，上述的MCU控制上述的第一控制开关K1、第三控制开关K3、第四控制开关K4及第五控制开关K5均置于第一接触端，控制第二控制开关K2置于第三接触端，此时，若表笔输入端J1有高于180V的电压输入，则第五压敏电阻DT5导通，使该测量电压通过上述的第三热敏电阻PTC3、第三电阻R3、第五压敏电阻DT5、第七电阻R7及第八电阻R8构成的回路，第八电阻R8为取样电阻，该第八电阻R8上的取样电压输入至电压比较器U1中，使电压比较器U1输出高电平至上述的MCU。如此，MCU可以判断表笔输入端J1的测量电压有无高压输入，如此，有效判断测量电压的电压大小，有效防止过大的测量电压对仪表造成伤害，从而损坏测量仪表。

在一些示例中，结合参考图4，当测量仪表处于非阻抗支路自检状态时，第一控制开关K1、第二控制开关K2、第三控制开关K3均置于第三接触端，第四控制开关K4置于第一接触端；

其中，在上述的第二热敏电阻PTC2、上述的第一控制开关K1之间连接有第二电阻R2。

当仪表输入阻抗自检装置在安全输入检测状态时，电压比较器U1并未输出高电平至MCU，则，仪表输入阻抗自检装置进入到非阻抗支路自检状态。当仪表输入阻抗自检装置处于非阻抗支路自检状态时，MCU控制第一控制开关K1、第二控制开关K2、第三控制开关K3均置于第三接触端，第四控制开关K4置于第一接触端，此时，第一电源V1输出第一电压，并通过第十电阻R10、第二电阻R2、第二热敏电阻PTC2、第三热敏电阻PTC3及第三电阻R3构成的回路，上述的ADC通过数据选择器读取到第二节点b、第三节点c上的电压，具体为第二电阻R2、第二热敏电阻PTC2、第三热敏电阻PTC3、第三电阻R3串联分压Vc及Vb，故第十电阻R10上的电压为V_R10＝V_b-V_c，MCU通过公式Rf＝V_c×R10÷V_R10，计算得出非阻抗支路的输入阻抗。

在一些示例中，结合参考图5，当测量仪表处于输入阻抗自检状态时，第二控制开关K2、第三控制开关K3、第四控制开关K4及第五控制开关K5均置于第三接触端，第一控制开关K1置于第一接触端。

当仪表输入阻抗自检装置在非阻抗支路自检状态，非阻抗支路的输入阻抗在设计范围内，则仪表输入阻抗自检装置进入到输入阻抗自检状态。当仪表输入阻抗自检装置处于输入阻抗自检状态时，MCU控制第二控制开关K2、第三控制开关K3、第四控制开关K4及第五控制开关K5均置于第三接触端，控制第一控制开关K1置于第一接触端。此时，上述第一电源V1输出的第一电压，通过第九电阻R9、第六电阻R6、第五电阻R5、第四电阻R4、第一电阻R1、第一热敏电阻PTC1、第三热敏电阻PTC3及第三电阻R3构成的回路，ADC通过上述的数据选择器读取到第一节点a、第二节点b上的电压，具体为第六电阻R6、第五电阻R5、第四电阻R4、第一电阻R1、第一热敏电阻PTC1、第三热敏电阻PTC3及第三电阻R3串联分压Va及Vb，故第九电阻R9上的电压为V_R9＝V_b-V_a，MCU通过公式Rin＝V_a×R9÷V_R9，计算得到仪表电压测量的输入阻抗Rin。

当仪表电压测量的输入阻抗Rin处于设计范围时，测量仪表进入到电压测量状态，MCU控制第一控制开关K1、第二控制开关K2、第三控制开关K3及第五控制开关K5均置于第一接触端，第四控制开关K4置于第三接触端。被测电压从表笔输入端J1输入，经过输入保护模块100的浪涌保护后，再经过第一电阻R1、第四电阻R4、第五电阻R5及第六电阻R6的串联并与第十一电阻分压，ADC测量第十一电阻上的电压，并由公式V_in＝V_R11×(R1+R4+R5+R6+R11)÷R11，计算出测量电压。

结合参考图6，当仪表打到电压测量挡位时，第一控制开关K1、第二控制开关K2、第三控制开关K3、第四控制开关K4及第五控制开关K5均置于第一接触端，使所有输入支路断开。然后MCU控制进入安全输入检测状态，若检测到有高压输入，则仪表发出警示，且仪表不进入下一步。若没有检测到高压输入，则仪表进入非阻抗支路自检状态，若非阻抗支路的电阻不在设计范围，则仪表发出警示，且仪表不进入下一步。若非阻抗支路的电阻在设计范围中，则仪表进入到输入阻抗自检状态，并将自检到的输入阻抗值Rin显示到显示屏上，若输入阻抗不在设计范围，则仪表发出警示。若输入阻抗在设计范围，则持续2秒后退出自检状态进入正常测量状态。

以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上所述，仅是本申请的较佳实施例而已，并非对本申请作任何形式上的限制。任何熟悉本领域的技术人员，在不脱离本申请技术方案范围情况下，都可利用上述揭示的方法和技术内容对本申请技术方案做出许多可能的变动和修饰，或修改为等同变化的等效实施例。故凡是未脱离本申请技术方案的内容，依据本申请之形状、构造及原理所作的等效变化，均应涵盖于本申请的保护范围内。

Claims (10)

1.一种安全性高的仪表输入阻抗仪表输入阻抗自检装置，应用于测量仪表，所述测量仪表具有表笔输入端，其特征在于，包括输入保护模块、阻抗模块、导通控制模块、安全输入检测模块、测量网络选择模块及测量计算模块；

所述输入保护模块，具有并连的第一保护支路、第二保护支路及第三保护支路；

所述导通控制模块，该导通控制模块通过所述阻抗模块与所述第一保护支路连接，该导通模块分别与所述第二保护支路、第三保护支路连接；

所述安全输入检测模块，该安全输入检测模块的一端与所述导通控制模块连接；

所述测量网络选择模块，该测量网络选择模块的第一端、第二端分别与所述导通控制模块连接；

所述测量计算模块，该测量计算模块分别与所述测量网络选择模块、安装输入检测模块连接；

所述第二保护支路与所述导通控制模块之间连接有第二电阻，所述第三保护支路与所述导通控制模块之间连接有第三电阻。

2.根据权利要求1所述的安全性高的仪表输入阻抗仪表输入阻抗自检装置，其特征在于，所述第一保护支路包括第一保护单元，所述第二保护支路包括第二保护单元，所述第三保护支路包括第三保护单元，所述第一保护单元、第二保护单元及第三保护单元并联。

3.根据权利要求2所述的安全性高的仪表输入阻抗仪表输入阻抗自检装置，其特征在于，所述阻抗模块包括依次串联的第一电阻、第四电阻、第五电阻及第六电阻，所述第一电阻与所述第一保护单元连接，所述第六电阻与所述导通控制模块连接。

4.根据权利要求3所述的安全性高的仪表输入阻抗仪表输入阻抗自检装置，其特征在于，所述导通控制模块包括由所述测量计算模块控制的第一控制开关、第二控制开关、第三控制开关、第四控制开关及第五控制开关，所述第一控制开关、第二控制开关、第三控制开关、第四控制开关及第五控制开关均具有第一接触端及第三接触端，所述第一控制开关连接于所述第二保护单元、测量网络选择模块之间，所述第二控制开关、第三控制开关依次连接，所述第二控制开关与第三保护单元连接，所述第三控制开关与安全输入检测模块连接，所述第四控制开关、第五控制开关依次连接，所述第四控制开关与第六电阻连接，所述第五控制开关与测量网络选择模块连接。

5.根据权利要求4所述的安全性高的仪表输入阻抗仪表输入阻抗自检装置，其特征在于，当测量仪表处于安全输入检测状态时，第一控制开关、第三控制开关、第四控制开关及第五控制开关均置于第一接触端，所述第二控制开关置于第三接触端。

6.根据权利要求4所述的安全性高的仪表输入阻抗仪表输入阻抗自检装置，其特征在于，当测量仪表处于非阻抗支路自检状态时，第一控制开关、第二控制开关、第三控制开关均置于第三接触端，第四控制开关置于第一接触端。

7.根据权利要求4所述的安全性高的仪表输入阻抗仪表输入阻抗自检装置，其特征在于，当测量仪表处于输入阻抗自检状态时，第二控制开关、第三控制开关、第四控制开关及第五控制开关均置于第三接触端，第一控制开关置于第一接触端。

8.根据权利要求1所述的安全性高的仪表输入阻抗仪表输入阻抗自检装置，其特征在于，所述安全输入检测模块包括第五压敏电阻、第七电阻、第八电阻及电压比较器，所述第五压敏电阻与所述导通控制模块连接，所述第七电阻的第一端与所述第五压敏电阻连接，所述第七电阻的第二端、第八电阻的第一端共接且与电压比较器的正相输入端连接，所述电压比较器的反相输入端与第二电源连接，所述电压比较器的输出端与所述测量计算模块连接。

9.根据权利要求1所述的安全性高的仪表输入阻抗仪表输入阻抗自检装置，其特征在于，所述测量计算模块包括ADC及MCU，所述ADC用于接收由所述测量网络选择模块发送的待测量信号，并发送至所述MCU进行计算。

10.根据权利要求1所述的安全性高的仪表输入阻抗仪表输入阻抗自检装置，其特征在于，所述测量网络选择模块包括数据选择器，所述数据选择器的第一端、第二端分别与所述导通控制模块连接，所述数据选择器的第三端与所述测量计算模块连接。