CN219625348U - 一种用于多参数测量的比色装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种用于多参数测量的比色装置，包括耦合器、壳体部和检测部；所述壳体部中设置有供比色池放置的比色腔，所述耦合器和检测部分别设置于壳体部长度方向的两端面上，所述耦合器中设置有调节组件和透镜组件；本方案在使用时将比色池放置于比色腔中，光纤与耦合器中的透镜组件连接，通过调节组件对透镜组件的位置进行调节，当光束在比色池中出现偏离的时候修正其光路位置，使光路始终与检测部连接，解决了现有技术无法使用长比色池进行测量的问题。
Description
技术领域
本实用新型涉及比色池检测技术领域，特别涉及一种用于多参数测量的比色装置。
背景技术
现在的多参数测量大多用30mm以下的比色池来进行测量，用长比色池(100mm)大多是单参数测量。这是由于在多参数测量时，采用的是机械分光或者是钨灯+(电机旋转)滤光片的形式，这种形式不仅造价昂贵，而且易出故障；现有技术中如果采用长比色池长，其进入其中光的能量会减少，信噪比降低，光纤系统分出的光容易打在比色池的侧壁上，从而造成不能准确的测量。
正是由于上述的问题，市面上基本上没有既能用长比色池，又能多参数测量的仪器。
实用新型内容
本实用新型的目的在于，针对上述不足之处提供一种用于多参数测量的比色装置，解决了现有技术中采用对于多参数测量时，仅造价昂贵，而且易出故障的问题，同时解决现有技术中不能采用长比色池进行多参数测量的问题。
本实用新型是通过下述方案来实现的：
一种用于多参数测量的比色装置，包括耦合器、壳体部和检测部；所述壳体部中设置有供比色池放置的比色腔，所述耦合器和检测部分别设置于壳体部长度方向的两端面上，所述耦合器中设置有调节组件和透镜组件。
基于上述一种用于多参数测量的比色装置的结构，所述耦合器上远离壳体部的端部上设置有供光纤容置的入口腔和供透镜组件容置的调节腔。
基于上述一种用于多参数测量的比色装置的结构，所述光纤为多合一光纤。
基于上述一种用于多参数测量的比色装置的结构，所述调节组件包括俯仰调节件和左右调节件；所述俯仰调节件设置在耦合器的竖向位置，所述左右调节件设置在耦合器的横向位置。
基于上述一种用于多参数测量的比色装置的结构，所述俯仰调节件为第一螺栓组和第二螺栓组，所述第一螺栓组和第二螺栓组设置在耦合器长度方向上，所述第一螺栓组与第二螺栓组间隔设置。
基于上述一种用于多参数测量的比色装置的结构，所述第一螺栓组包括分别设置在耦合器上下端面的第一螺栓和第二螺栓，所述第一螺栓和第二螺栓的位置相对应设置，耦合器上设置有与之相匹配的螺栓孔。
基于上述一种用于多参数测量的比色装置的结构，所述第二螺栓组包括分别设置在耦合器上下端面的第三螺栓和第四螺栓，所述第三螺栓和第四螺栓的位置相对应设置，耦合器上设置有与之相匹配的螺栓孔。
基于上述一种用于多参数测量的比色装置的结构，所述左右调节件包括第五螺栓和第六螺栓，所述第五螺栓和第六螺栓分别设置在耦合器宽度方向上的两侧位置，耦合器上设置有与之相匹配的螺栓孔，所述第五螺栓和第六螺栓的位置相对应设置。
基于上述一种用于多参数测量的比色装置的结构，所述比色腔不小于100mm。
基于上述一种用于多参数测量的比色装置的结构，所述检测部包括检测外壳、光阑、聚光透镜和检测器；所述检测外壳中设置有供卡接光阑、聚光透镜和检测器容置的腔体，光阑、聚光透镜和检测器的中心共线。
综上所述，由于采用了上述技术方案，本实用新型的有益效果是：
1、本方案在使用时将比色池放置于比色腔中，光纤与耦合器中的透镜组件连接，通过调节组件对透镜组件的位置进行调节，当光束在比色池中出现偏离的时候修正其光路位置，使光路始终与检测部连接，解决了现有技术无法使用长比色池进行测量的问题。
2、本方案结构简单，成本低廉，可以进行两个以上的波长的测量，实现多个参数测量，用了长比色池后，可以进行极低浓度的参数测量。
附图说明
图1为本实用新型整体的立体结构示意图；
图2为本实用新型中整体横向剖面结构示意图；
图3为本实用新型中耦合器的剖面结构图；
图4为本实用新型中耦合器的立体结构示意图图；
图5为本实用新型中检测部的剖面结构示意图；
附图说明：1、耦合器；2、壳体部；3、检测部；4、比色腔；5、透镜组件；6、入口腔；7、调节腔；8、光纤；91、第一螺栓；92、第二螺栓；93、第三螺栓；94、第四螺栓；95、第五螺栓；96、第六螺栓；10、检测外壳；101、光阑；102、聚光透镜；103、检测器。
具体实施方式
本说明书中公开的所有特征，或公开的所有方法或过程中的步骤，除了互相排斥的特征和/或步骤以外，均可以以任何方式组合。
本说明书(包括任何附加权利要求、摘要)中公开的任一特征，除非特别叙述，均可被其他等效或具有类似目的的替代特征加以替换。即，除非特别叙述，每个特征只是一系列等效或类似特征中的一个例子而已。
在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”、“左”、“右”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的设备或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。
此外，术语“第一”、“第二”等仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”等的特征可以明示或隐含地包括一个或多个该特征。
实施例1
如图1～图5所示，本实用新型提供一种技术方案：
一种用于多参数测量的比色装置，其至少包括但不限于耦合器1、壳体部2和检测部3；壳体部2中设置有供比色池放置的比色腔4，耦合器1和检测部3分别设置于壳体部2长度方向的两端面上，耦合器1中设置有调节组件和透镜组件5。
耦合器1上远离壳体部2的端部上设置有供光纤8容置的入口腔6和供透镜组件5容置的调节腔7。
基于上述结构，在使用时将比色池放置于比色腔4中，光纤8与耦合器1中的透镜组件5连接，通过调节组件对透镜组件5的位置进行调节，当光束在比色池中出现偏离的时候修正其光路位置，使光路始终与检测部3连接。
作为示例的，光纤8可以为多合一光纤8，即将多个光纤8熔接后在于透镜组件5连接，多合一光纤8可以为二合一光纤8，三合一光纤8等。可以实现对于多参数的测量。
作为示例的，调节组件可以包括俯仰调节件和左右调节件；俯仰调节件设置在耦合器1的竖向位置，左右调节件设置在耦合器1的横向位置。
基于上述结构，通过俯仰调节件可以对透镜组件5的俯仰角度进行调节，通过左右调节件可以对透镜组件5的水平偏转角度进行调节，从而实现对于出射光纤8的水平角度和俯仰角度的调节。
作为示例的，俯仰调节件可以为第一螺栓组和第二螺栓组，第一螺栓组和第二螺栓组设置在耦合器1长度方向上，第一螺栓组与第二螺栓组间隔设置。
第一螺栓组包括分别设置在耦合器1上下端面的第一螺栓91和第二螺栓92，第一螺栓91和第二螺栓92的位置相对应设置，耦合器1上设置有与之相匹配的螺栓孔。
第二螺栓组包括分别设置在耦合器1上下端面的第三螺栓93和第四螺栓94，第三螺栓93和第四螺栓94的位置相对应设置，耦合器1上设置有与之相匹配的螺栓孔。
基于上述结构，当需要度透镜组件5进行调节时，通过旋入或旋处第一螺栓91和第二螺栓92实现透镜组件5的前端部角度调节，通过旋入或旋处第三螺栓93和第四螺栓94实现透镜组件5的后端部角度调节，最终实现对于透镜组件5俯仰度精准调节。
作为示例的，左右调节件可以包括第五螺栓95和第六螺栓96，第五螺栓95和第六螺栓96分别设置在耦合器1宽度方向上的两侧位置，耦合器1上设置有与之相匹配的螺栓孔，第五螺栓95和第六螺栓96的位置相对应设置。
基于上述结构，通过旋入和旋出第五螺栓95和第六螺栓96的的深度，可以实现对于透镜组件5的左右出射角度的调节。
作为示例的，比色腔4不小于100mm，使之能够放置100mm的长比色池。
作为示例的，检测部3包括检测外壳10、光阑101、聚光透镜102和检测器103；检测外壳10中设置有供卡接光阑101、聚光透镜102和检测器103容置的腔体，光阑101、聚光透镜102和检测器103的中心共线。
基于上述结构，当光纤8从长比色池中出射后，进入到光阑101，然后经过聚光透镜102进行聚光，最终射入到检测器103中，由检测器103进行检测。
本方案中两个发光二极管LED1和LED2发出的光通过光纤8二合一光纤8后进入光纤8耦合器1，发了一束准直光到长比色池，然后到达聚光透镜102，把光汇聚后进入检测器103进行检测。光纤8耦合器1中的光纤8要竖直安装，并且所用光纤8要用直径为400um以下的光纤8；LED发出的光通过长比色池后，灵敏度大大增强，可以很灵敏地检测颜色的微小变化，工作时，LED依次发光，检测器103依次检测，把测得的光信号转化成电压信号，最后转换成样品的浓度值。
当实验过程中出现光路不对准时，可以通过微调调节组件，将透镜组件5进行调节，保证出射光纤8的精准程度，最终实现通过长比色池测量多光路的多参数。
以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。
Claims (10)
1.一种用于多参数测量的比色装置，其特征在于：包括耦合器、壳体部和检测部；所述壳体部中设置有供比色池放置的比色腔，所述耦合器和检测部分别设置于壳体部长度方向的两端面上，所述耦合器中设置有调节组件和透镜组件。
2.如权利要求1所述的一种用于多参数测量的比色装置，其特征在于：所述耦合器上远离壳体部的端部上设置有供光纤容置的入口腔和供透镜组件容置的调节腔。
3.如权利要求2所述的一种用于多参数测量的比色装置，其特征在于：所述光纤为多合一光纤。
4.如权利要求3所述的一种用于多参数测量的比色装置，其特征在于：所述调节组件包括俯仰调节件和左右调节件；所述俯仰调节件设置在耦合器的竖向位置，所述左右调节件设置在耦合器的横向位置。
5.如权利要求4所述的一种用于多参数测量的比色装置，其特征在于：所述俯仰调节件为第一螺栓组和第二螺栓组，所述第一螺栓组和第二螺栓组设置在耦合器长度方向上，所述第一螺栓组与第二螺栓组间隔设置。
6.如权利要求5所述的一种用于多参数测量的比色装置，其特征在于：所述第一螺栓组包括分别设置在耦合器上下端面的第一螺栓和第二螺栓，所述第一螺栓和第二螺栓的位置相对应设置，耦合器上设置有与之相匹配的螺栓孔。
7.如权利要求5所述的一种用于多参数测量的比色装置，其特征在于：所述第二螺栓组包括分别设置在耦合器上下端面的第三螺栓和第四螺栓，所述第三螺栓和第四螺栓的位置相对应设置，耦合器上设置有与之相匹配的螺栓孔。
8.如权利要求6所述的一种用于多参数测量的比色装置，其特征在于：所述左右调节件包括第五螺栓和第六螺栓，所述第五螺栓和第六螺栓分别设置在耦合器宽度方向上的两侧位置，耦合器上设置有与之相匹配的螺栓孔，所述第五螺栓和第六螺栓的位置相对应设置。
9.如权利要求1～8任一所述的一种用于多参数测量的比色装置，其特征在于：所述比色腔不小于100mm。
10.如权利要求1～8任一所述的一种用于多参数测量的比色装置，其特征在于：所述检测部包括检测外壳、光阑、聚光透镜和检测器；所述检测外壳中设置有供卡接光阑、聚光透镜和检测器容置的腔体，光阑、聚光透镜和检测器的中心共线。
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2023
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