CN219552229U - 一种检查色差的显微镜架台 - Google Patents

一种检查色差的显微镜架台 Download PDF

Info

Publication number
CN219552229U
CN219552229U CN202223600075.2U CN202223600075U CN219552229U CN 219552229 U CN219552229 U CN 219552229U CN 202223600075 U CN202223600075 U CN 202223600075U CN 219552229 U CN219552229 U CN 219552229U
Authority
CN
China
Prior art keywords
screw rod
support frame
chromatic aberration
checking
microscope stand
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN202223600075.2U
Other languages
English (en)
Inventor
李志涵
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nanjing Taixun Optical Instrument Co ltd
Original Assignee
Nanjing Taixun Optical Instrument Co ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nanjing Taixun Optical Instrument Co ltd filed Critical Nanjing Taixun Optical Instrument Co ltd
Priority to CN202223600075.2U priority Critical patent/CN219552229U/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN219552229U publication Critical patent/CN219552229U/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

本申请公开了一种检查色差的显微镜架台,属于显微镜技术领域,其包括支撑架,所述支撑架上滑动设置有支撑台,所述支撑架上滑动设置有用于检测所述支撑台位移的磁栅尺,所述磁栅尺与所述支撑台之间设置有连接杆,所述磁栅尺以及所述支撑台分别与所述连接杆两端固定连接,所述支撑架上设置有用于驱动所述支撑台移动的第一驱动组件。本申请具有可以通过星点法检测位置色差的效果。

Description

一种检查色差的显微镜架台
技术领域
本申请涉及显微镜技术的领域,尤其是涉及一种检查色差的显微镜架台。
背景技术
星点检验法是通过观察一个点光源经光学系统后在像面及像面前后不同截面上所成衍射像(通常称为星点像)的形状及光强分布来定性评价光学系统成像好坏的方法。它具有使用设备简单,现象直观,精确度较高的优点。
传统显微镜架台使用星点法只能检查倍率色差,无法检查位置色差。
实用新型内容
为了通过星点法检查位置色差,本申请提供一种检查色差的显微镜架台。
本申请提供的一种检查色差的显微镜架台采用如下的技术方案:
一种检查色差的显微镜架台,包括支撑架,所述支撑架上滑动设置有支撑台,所述支撑架上滑动设置有用于检测所述支撑台位移的磁栅尺,所述磁栅尺与所述支撑台之间设置有连接杆,所述磁栅尺以及所述支撑台分别与所述连接杆两端固定连接,所述支撑架上设置有用于驱动所述支撑台移动的第一驱动组件。
通过采用上述技术方案,在显微镜对支撑台上的试片进行位置色差检测时,第一驱动组件驱动支撑台移动,改变支撑台上试片位置,同时磁栅尺跟随支撑台移动,磁栅尺能够精确测量支撑台位移距离,通过磁栅尺以及色差检测结构共同计算出位置色差结果。
优选的,所述支撑架上设置有第一滑轨以及第二滑轨,所述支撑台与所述第一滑轨滑动连接,所述磁栅尺与所述第二滑轨滑动连接。
通过采用上述技术方案,第一滑轨以及第二滑轨能够提高支撑台以及磁栅尺移动时的稳定性。
优选的,所述第一驱动组件包括第一丝杆,所述第一丝杆转动安装于所述支撑台上,所述第一丝杆穿过所述支撑台,所述第一丝杆与所述支撑台螺纹配合,所述支撑台上设置有用于驱动所述第一丝杆转动的第二驱动组件。
通过采用上述技术方案,第二驱动组件驱动第一丝杆转动,第一丝杆转动从而使得支撑台沿第一滑轨移动。
优选的,所述第二驱动组件包括蜗轮以及蜗杆,所述蜗轮固定套设于所述第一丝杆上,所述蜗杆穿设于所述支撑架上,所述蜗杆与所述支撑架转动连接,所述蜗轮与所述蜗杆相互啮合。
通过采用上述技术方案,操作人员转动蜗杆,蜗杆转动使得蜗轮转动,蜗轮转动使得第一丝杆转动,第一丝杆转动从而使得支撑台沿第一滑轨移动。
优选的,所述支撑台上设置有复合照明组件,所述复合照明组件包括若干灯体以及导光棒,所述支撑架上设置有套管,所述灯体以及所述导光棒均设置于所述套管内,所述套管远离所述灯体的端部设置有匀光片。
通过采用上述技术方案,在对试片进行位置色差检测时,灯体通过导光棒聚集并穿过匀光片照射在试片上,采用导光棒能够提高光线聚集度,匀光片能够将光束投射为能量分布均匀的光斑,提高检测结果准确度。
优选的,所述支撑台上设置有用于夹持试片的夹持板,所述支撑台上开设有用于与所述夹持板滑移配合的第一滑槽,所述支撑台上设置有用于驱动所述夹持板移动的第三驱动组件。
通过采用上述技术方案,操作人员将试片放置在支撑台上后,第三驱动组件驱动夹持板在第一滑槽内滑动将试片夹持,防止操作人员在调整支撑台角度时,试片脱落。
优选的,所述第三驱动组件包括第二丝杆,所述第二丝杆穿设于所述支撑台上,所述第二丝杆与所述支撑台转动连接,所述第二丝杆穿过所述夹持板,所述夹持板与所述第二丝杆螺纹配合。
通过采用上述技术方案,操纵人员转动第二丝杆,第二丝杆转动使得夹持板移动,夹持板移动将试片夹持。
优选的,所述夹持板上设置有橡胶垫。
通过采用上述技术方案,橡胶垫可以提高夹持板与试片接触时的稳定性,防止滑落。
综上所述,本申请包括以下至少一种有益技术效果:
1.通过设置磁栅尺,在支撑台调整位置时,磁栅尺能够精确测量支撑台位移距离,从而达到测量位置色差的目的;
2.通过设置导光棒以及匀光片,在对试片进行位置色差检测时,灯体通过导光棒聚集并穿过匀光片照射在试片上,采用导光棒能够提高光线聚集度,匀光片能够将光束投射为能量分布均匀的光斑,提高检测结果准确度;
3.通过设置橡胶垫,橡胶垫可以提高夹持板与试片接触时的稳定性,防止滑落。
附图说明
图1是本申请实施例的一种检查色差的显微镜架台的结构示意图。
图2是本申请实施例的复合照明组件的结构示意图。
附图标记说明:
1、支撑架;11、支撑台;12、连接杆;13、第一滑轨;14、第一丝杆;15、蜗轮;16、蜗杆;17、夹持板;171、橡胶垫;172、第一滑槽;18、第二丝杆;2、磁栅尺;21、第二滑轨;3、复合照明组件;31、灯体;32、导光棒;33、匀光片;34、反光镜;35、套管。
具体实施方式
以下结合附图1-2对本申请作进一步详细说明。
本申请实施例公开一种检查色差的显微镜架台。参照图1,一种检查色差的显微镜架台包括支撑架1。
参照图1以及图2,支撑架1竖直设置,支撑架1顶部设置有复合照明组件3,复合照明组件3包括灯体31以及导光棒32。支撑架1顶部设置有套管35,若干灯体31设置于套管35顶部。导光棒32竖直穿设于套管35内,导光棒32位于灯体31底部。套管35底端设置有匀光片33,匀光片33位于导光棒32底部。
参照图2,灯体31设置有三个,灯体31由三个 635nm、525nm、和 465nm 三种 LED组成。套管35上设置有反光镜34,反光镜34与灯体31一一对应。
参照图1以及图2,在对试片进行位置色差检测时,灯体31通过导光棒32聚集并穿过匀光片33照射在试片上,采用导光棒32能够提高光线聚集度,匀光片33能够将光束投射为能量分布均匀的光斑,提高检测结果准确度。
参照图1,支撑架1一侧竖直设置有第一滑轨13,支撑架1另一侧设置有第二滑轨21。第一滑轨13上滑动连接有支撑台11,第二滑轨21上滑动连接有磁栅尺2。支撑台11与磁栅尺2之间设置有连接杆12,连接杆12一端与支撑台11固定连接,支连接杆12另一端与磁栅尺2固定连接。
参照图1,支撑台11顶面滑动设置有两个夹持板17,两个夹持板17沿支撑台11轴线对称设置。支撑台11上沿其长度方向开设有第一滑槽172,夹持板17与第一滑槽172内侧壁滑移配合。
参照图1,支撑台11上设置有第三驱动组件,第三驱动组件包括第二丝杆18。第二丝杆18水平穿设于支撑台11上,第二丝杆18与支撑台11转动连接。第二丝杆18依次穿过两个夹持板17,两个夹持板17均与第二丝杆18螺纹配合。两个夹持板17相互靠近的侧壁均设置有橡胶垫171。
参照图1,操作人员将试片放置在支撑台11上后,操纵人员转动第二丝杆18,第二丝杆18转动使得夹持板17移动,夹持板17移动将试片夹持,橡胶垫171可以提高夹持板17与试片接触时的稳定性。
参照图1,支撑架1上设置有第一驱动组件,第一驱动组件包括第一丝杆14。第一丝杆14竖直穿设于支撑架1上,第一丝杆14底端与支撑架1转动连接。第一丝杆14顶端穿过支撑台11,第一丝杆14与支撑台11螺纹配合。
参照图1,支撑架1上设置有第二驱动组件,第二驱动组件包括蜗轮15以及蜗杆16。蜗轮15固定套设于第一丝杆14底端,蜗杆16水平穿设于支撑架1底部,蜗杆16与支撑架1转动连接,蜗杆16与蜗轮15相互啮合。
参照图1,操作人员转动蜗杆16,蜗杆16转动使得蜗轮15转动,蜗轮15转动使得第一丝杆14转动,第一丝杆14转动从而使得支撑台11沿第一滑轨13移动,同时磁栅尺2跟随支撑台11移动,磁栅尺2能够精确测量支撑台11位移距离,通过磁栅尺2以及色差检测结构共同计算出位置色差结果。
本申请实施例一种检查色差的显微镜架台的实施原理为:在显微镜对支撑台11上的试片进行位置色差检测时,第一驱动组件驱动支撑台11移动,改变支撑台11上试片位置,同时磁栅尺2跟随支撑台11移动,磁栅尺2能够精确测量支撑台11位移距离,通过磁栅尺2以及色差检测结构共同计算出位置色差结果。
以上均为本申请的较佳实施例,并非依此限制本申请的保护范围,故:凡依本申请的结构、形状、原理所做的等效变化,均应涵盖于本申请的保护范围之内。

Claims (8)

1.一种检查色差的显微镜架台,包括支撑架(1),其特征在于:所述支撑架(1)上滑动设置有支撑台(11),所述支撑架(1)上滑动设置有用于检测所述支撑台(11)位移的磁栅尺(2),所述磁栅尺(2)与所述支撑台(11)之间设置有连接杆(12),所述磁栅尺(2)以及所述支撑台(11)分别与所述连接杆(12)两端固定连接,所述支撑架(1)上设置有用于驱动所述支撑台(11)移动的第一驱动组件。
2.根据权利要求1所述的一种检查色差的显微镜架台,其特征在于:所述支撑架(1)上设置有第一滑轨(13)以及第二滑轨(21),所述支撑台(11)与所述第一滑轨(13)滑动连接,所述磁栅尺(2)与所述第二滑轨(21)滑动连接。
3.根据权利要求1所述的一种检查色差的显微镜架台,其特征在于:所述第一驱动组件包括第一丝杆(14),所述第一丝杆(14)转动安装于所述支撑台(11)上,所述第一丝杆(14)穿过所述支撑台(11),所述第一丝杆(14)与所述支撑台(11)螺纹配合,所述支撑台(11)上设置有用于驱动所述第一丝杆(14)转动的第二驱动组件。
4.根据权利要求3所述的一种检查色差的显微镜架台,其特征在于:所述第二驱动组件包括蜗轮(15)以及蜗杆(16),所述蜗轮(15)固定套设于所述第一丝杆(14)上,所述蜗杆(16)穿设于所述支撑架(1)上,所述蜗杆(16)与所述支撑架(1)转动连接,所述蜗轮(15)与所述蜗杆(16)相互啮合。
5.根据权利要求1所述的一种检查色差的显微镜架台,其特征在于:所述支撑台(11)上设置有复合照明组件(3),所述复合照明组件(3)包括若干灯体(31)以及导光棒(32),所述支撑架(1)上设置有套管(35),所述灯体(31)以及所述导光棒(32)均设置于所述套管(35)内,所述套管(35)远离所述灯体(31)的端部设置有匀光片(33)。
6.根据权利要求1所述的一种检查色差的显微镜架台,其特征在于:所述支撑台(11)上设置有用于夹持试片的夹持板(17),所述支撑台(11)上开设有用于与所述夹持板(17)滑移配合的第一滑槽(172),所述支撑台(11)上设置有用于驱动所述夹持板(17)移动的第三驱动组件。
7.根据权利要求6所述的一种检查色差的显微镜架台,其特征在于:所述第三驱动组件包括第二丝杆(18),所述第二丝杆(18)穿设于所述支撑台(11)上,所述第二丝杆(18)与所述支撑台(11)转动连接,所述第二丝杆(18)穿过所述夹持板(17),所述夹持板(17)与所述第二丝杆(18)螺纹配合。
8.根据权利要求6所述的一种检查色差的显微镜架台,其特征在于:所述夹持板(17)上设置有橡胶垫(171)。
CN202223600075.2U 2022-12-30 2022-12-30 一种检查色差的显微镜架台 Active CN219552229U (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202223600075.2U CN219552229U (zh) 2022-12-30 2022-12-30 一种检查色差的显微镜架台

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202223600075.2U CN219552229U (zh) 2022-12-30 2022-12-30 一种检查色差的显微镜架台

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN219552229U true CN219552229U (zh) 2023-08-18

Family

ID=87705322

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202223600075.2U Active CN219552229U (zh) 2022-12-30 2022-12-30 一种检查色差的显微镜架台

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN219552229U (zh)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN109813256B (zh) 采用激光检测平面玻璃平整度的检测仪
CN106310955B (zh) 一种滤膜厚度的检测方法及其检测装置
CN219552229U (zh) 一种检查色差的显微镜架台
CN110823908A (zh) 一种柱面内壁检测设备
CN107537785A (zh) 一种多规格嵌件自动检测分选设备
CN220584089U (zh) 一种光学膜视觉缺陷检测设备
CN219977739U (zh) 一种焦距测量装置
CN209372045U (zh) 用于镀锡板表面粗糙度检测装置
CN107091625A (zh) 一种用于小型航空发动机曲轴综合检测装置
CN217505161U (zh) 一种自聚焦透镜数值孔径测试装置
CN210719636U (zh) 一种用于便携式内窥镜光学性能检测的调节机构
CN206832213U (zh) 一种用于小型航空发动机曲轴综合检测装置
CN112082577B (zh) 一种水准仪望远镜调焦运行误差检定装置
CN217237878U (zh) 一种钢板手持式超声波检测装置
CN212300281U (zh) 刀口形直尺工作棱边直线度自动测量装置
CN201058034Y (zh) X线球管焦点性能检测装置
CN110458899B (zh) 一种可用于tfds、tvds和teds系统轨边成像器件的标定装置
CN210981179U (zh) 一种非接触式轮廓仪管材样品快捷定位装置
WO2021103539A1 (zh) 一种非接触式轮廓仪管材样品快捷定位装置及操作方法
CN215493253U (zh) 玻璃表面瑕疵检测设备
CN2754078Y (zh) 一种用于色度、亮度、色温、对比度测试的操作台
CN215984271U (zh) 一种应用于螺纹检验的装置
CN220251321U (zh) 一种全反射直透镜生产检验平台
CN221325853U (zh) 一种用于透光率检测的镜头检测设备
CN211576989U (zh) 一种动力电池外观检测装置

Legal Events

Date Code Title Description
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant