CN219456234U - 一种集成芯片测试座 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及集成芯片测试技术领域，尤其涉及一种集成芯片测试座。其技术方案包括：包括检测座主体和盖板，检测座主体上端中心位置开设有用于集成芯片检测的检测槽，检测座主体上方设置有回形板，盖板铰接在回形板上端中心位置开口处，盖板底部设置有橡胶吸盘，橡胶吸盘位置与检测槽中心位置对齐，盖板内设置有带动橡胶吸盘升降的伸缩机构。本实用新型利用伸缩机构的螺纹杆转动，可以在集成芯片位于检测槽内装配完成后，使橡胶吸盘下压对集成芯片进行限位，从而保证检测过程芯片的稳定，同时在取出芯片时，可以利用吸盘对芯片进行吸附，然后再提升取出，避免芯片在检测槽内难以徒手取出的情况。

Description

一种集成芯片测试座

技术领域

本实用新型涉及集成芯片测试技术领域，尤其涉及一种集成芯片测试座。

背景技术

集成芯片是现代数字集成芯片主要使用CMOS工艺制造的芯片，内部设置有多组集成电路，在集成芯片的生产或者研发过程中，对于集成芯片的检测是必不可少的步骤之一。

在针对集成芯片的检测时，常用的检测器件为芯片测试座，起到连接集成芯片与检测电路板之间的作用，将集成芯片置于检测座内的检测槽内，使集成芯片端子插入指定的孔槽内，即可实现检测的目的，在没有测试座的情况下，则需要将芯片端子与检测电路板上的触点锡焊固定，才能进行检测任务，因此芯片测试座可以降低检测难度，提高检测效率，然而测试座主体上均会设置有一个检测槽，将芯片放置到检测槽内，同时检测槽的大小与芯片尺寸相差不大，因此在检测结束后很难徒手直接将芯片取出，且在检测过程中，检测员往往还需要佩戴手套，防止手上汗液对芯片的腐蚀损坏，因此更加难以将芯片从检测槽内取出。

实用新型内容

本实用新型的目的是针对背景技术中存在的问题，提出一种便于芯片取出的集成芯片测试座。

本实用新型的技术方案：一种集成芯片测试座，包括检测座主体和盖板，所述检测座主体上端中心位置开设有用于集成芯片检测的检测槽，所述检测座主体上方设置有回形板，所述盖板铰接在回形板上端中心位置开口处，所述盖板底部设置有橡胶吸盘，所述橡胶吸盘位置与检测槽中心位置对齐，所述盖板内设置有带动橡胶吸盘升降的伸缩机构。

优选的，所述伸缩机构包括转动套和伸缩槽，所述盖板上端中心位置为凸起结构，其凸起部分外围转动连接有转动套，所述盖板中心位置开设有伸缩槽，所述伸缩槽内滑动连接有螺纹套，所述螺纹套底部与橡胶吸盘上端固定连接。

优选的，所述伸缩槽内转动连接有螺纹杆，所述螺纹杆底部螺纹连接在螺纹套内，所述螺纹杆上端固定连接在转动套内壁中心位置。

优选的，所述螺纹套外侧固定连接有一对限位块，所述伸缩槽侧壁且与限位块相对应位置开设有限位槽，所述限位块滑动连接在限位槽内，可以对螺纹套进行垂直方向限位，保证其垂直伸缩，同时可以对伸缩幅度进行限位，避免对芯片造成大力挤压。

优选的，所述盖板远离铰链一侧上端固定连接有拉板，所述盖板远离铰链一端底部且回形板上端连接处均安装有磁吸块。

优选的，所述回形板与检测座主体之间通过四角的连接柱固定连接，且两者连接处间隙外围设置有防尘网。

与现有技术相比，本实用新型具有如下有益的技术效果：利用伸缩机构的螺纹杆转动，可以在集成芯片位于检测槽内装配完成后，使橡胶吸盘下压对集成芯片进行限位，从而保证检测过程芯片的稳定，同时在取出芯片时，可以利用吸盘对芯片进行吸附，然后再提升取出，避免芯片在检测槽内难以徒手取出的情况。

附图说明

图1为本实用新型正面剖切结构示意图；

图2为本实用新型检测座主体外观结构示意图；

图3为本实用新型回形板上端结构示意图；

图4为本实用新型图1中A处放大结构示意图。

附图标记：1、检测座主体；11、检测槽；2、回形板；21、连接柱；22、防尘网；3、盖板；31、拉板；32、磁吸块；4、橡胶吸盘；5、伸缩机构；51、转动套；52、伸缩槽；53、螺纹套；54、螺纹杆；55、限位块；56、限位槽。

具体实施方式

下文结合附图和具体实施例对本实用新型的技术方案做进一步说明。

实施例一

如图1-4所示，本实用新型提出的一种集成芯片测试座，包括检测座主体1和盖板3，检测座主体1上端中心位置开设有用于集成芯片检测的检测槽11，检测座主体1上方设置有回形板2，盖板3铰接在回形板2上端中心位置开口处，盖板3底部设置有橡胶吸盘4，橡胶吸盘4位置与检测槽11中心位置对齐，盖板3内设置有带动橡胶吸盘4升降的伸缩机构5，盖板3远离铰链一侧上端固定连接有拉板31，盖板3远离铰链一端底部且回形板2上端连接处均安装有磁吸块32。

伸缩机构5包括转动套51和伸缩槽52，盖板3上端中心位置为凸起结构，其凸起部分外围转动连接有转动套51，盖板3中心位置开设有伸缩槽52，伸缩槽52内滑动连接有螺纹套53，螺纹套53底部与橡胶吸盘4上端固定连接，伸缩槽52内转动连接有螺纹杆54，螺纹杆54底部螺纹连接在螺纹套53内，螺纹杆54上端固定连接在转动套51内壁中心位置，螺纹套53外侧固定连接有一对限位块55，伸缩槽52侧壁且与限位块55相对应位置开设有限位槽56，限位块55滑动连接在限位槽56内，利用转动套51的反向转动，可以使螺纹套53向上运动，由于橡胶吸盘4在与集成芯片上表面挤压后，会对集成芯片进行吸附，因此会带动橡胶吸盘4以及集成芯片同步向上运动，直至运动到检测槽11外部。

本实施例中，首先拉动拉板31将盖板3打开，然后将集成芯片放置到检测槽11内，并且将集成芯片的端子与检测槽11内的触点相抵，在闭合盖板3后，利用转动套51的转动，可以带动螺纹杆54进行转动，从而使螺纹套53向下运动，带动橡胶吸盘4向下运动，最终使橡胶吸盘4下端与集成芯片上端相抵，因此在检测过程中，可以保证集成芯片的稳定，同时在检测结束后，利用转动套51的反向转动，可以使螺纹套53向上运动，由于橡胶吸盘4在与集成芯片上表面挤压后，会对集成芯片进行吸附，因此会带动橡胶吸盘4以及集成芯片同步向上运动，在运动到检测槽11外部后，可以翻转盖板3，实现将芯片从检测槽11内取出的目的，操作简单方便。

实施例二

如图1-2所示，基于实施例一的基础上作进一步改进，回形板2与检测座主体1之间通过四角的连接柱21固定连接，且两者连接处间隙外围设置有防尘网22。

本实施例中，由于检测座主体1和回形板2之间通过一组连接柱21进行支撑，因此检测座主体1和回形板2之间将存在一定的间隙，可以使检测槽11外空气流通，避免在集成芯片检测运行过程中，难以散热的问题，再利用防尘网22可以对检测槽11内进行防尘保护，避免外部灰尘大量进入检测槽11内。

上述具体实施例仅仅是本实用新型的几种优选的实施例，基于本实用新型的技术方案和上述实施例的相关启示，本领域技术人员可以对上述具体实施例做出多种替代性的改进和组合。

Claims (6)

1.一种集成芯片测试座，包括检测座主体(1)和盖板(3)，所述检测座主体(1)上端中心位置开设有用于集成芯片检测的检测槽(11)，其特征在于：所述检测座主体(1)上方设置有回形板(2)，所述盖板(3)铰接在回形板(2)上端中心位置开口处，所述盖板(3)底部设置有橡胶吸盘(4)，所述橡胶吸盘(4)位置与检测槽(11)中心位置对齐，所述盖板(3)内设置有带动橡胶吸盘(4)升降的伸缩机构(5)。

2.根据权利要求1所述的一种集成芯片测试座，其特征在于，所述伸缩机构(5)包括转动套(51)和伸缩槽(52)，所述盖板(3)上端中心位置为凸起结构，其凸起部分外围转动连接有转动套(51)，所述盖板(3)中心位置开设有伸缩槽(52)，所述伸缩槽(52)内滑动连接有螺纹套(53)，所述螺纹套(53)底部与橡胶吸盘(4)上端固定连接。

3.根据权利要求2所述的一种集成芯片测试座，其特征在于，所述伸缩槽(52)内转动连接有螺纹杆(54)，所述螺纹杆(54)底部螺纹连接在螺纹套(53)内，所述螺纹杆(54)上端固定连接在转动套(51)内壁中心位置。

4.根据权利要求2所述的一种集成芯片测试座，其特征在于，所述螺纹套(53)外侧固定连接有一对限位块(55)，所述伸缩槽(52)侧壁且与限位块(55)相对应位置开设有限位槽(56)，所述限位块(55)滑动连接在限位槽(56)内。

5.根据权利要求1所述的一种集成芯片测试座，其特征在于，所述盖板(3)远离铰链一侧上端固定连接有拉板(31)，所述盖板(3)远离铰链一端底部且回形板(2)上端连接处均安装有磁吸块(32)。

6.根据权利要求1所述的一种集成芯片测试座，其特征在于，所述回形板(2)与检测座主体(1)之间通过四角的连接柱(21)固定连接，且两者连接处间隙外围设置有防尘网(22)。