CN219455350U - 一种光学玻璃测量装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种光学玻璃测量装置，包括机体，机体上固定连接有固定套筒，固定套筒顶部设置有支柱，支柱顶部固定连接有支撑座，支撑座侧壁转动连接有转轴，转轴远离支撑座一端固定连接有检偏器，固定套筒外壁转动连接有转动座，转动座上固定连接有支撑轴，支撑轴远离转动座一端固定连接有支撑柱，支撑柱顶部固定连接有收集盘，收集盘内侧底部转动连接有转杆，转杆顶端固定连接有清洁刷。通过转动转动座，使收集盘位于检偏器正下方，收缩支柱，使检偏器向下接触清洁刷，转动手轮，带动转杆和清洁刷转动，通过清洁刷对检偏器表面灰尘进行清理，清理下的灰尘落入收集盘内。
Description
技术领域
本实用新型属于光学玻璃测量技术领域，尤其涉及一种光学玻璃测量装置。
背景技术
在对光学玻璃进行检测时，需要对光学玻璃的应力进行测量，一般采用应力仪，对透明及弱色材料的双折射率进行检测，并通过Senarmont补偿法精确计算出光程误差不超过10nm的双折射率的值。并通过偏振光对双折射率的分布进行检测分析。折射率的分布和大小直接反应出材料应力的分布与大小。
现有的应力仪在对光学玻璃进行应力测量时，由于检偏器上设置有观察玻璃，当应力仪长期暴露在空气中时，会使灰尘沾附在观察玻璃上，且由于观察玻璃是凹陷设置，因此难以将观察玻璃上的灰尘进行清洁，较多的灰尘积累，会影响检偏器的透光。
实用新型内容
针对上述问题，本实用新型提供一种光学玻璃测量装置。
为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：一种光学玻璃测量装置，包括机体，所述机体上固定连接有固定套筒，所述固定套筒顶部设置有支柱，所述支柱顶部固定连接有支撑座，所述支撑座侧壁转动连接有转轴，所述转轴远离支撑座一端固定连接有检偏器，所述固定套筒外壁转动连接有转动座，所述转动座上固定连接有支撑轴，所述支撑轴远离转动座一端固定连接有支撑柱，所述支撑柱顶部固定连接有收集盘，所述收集盘内侧底部转动连接有转杆，所述转杆顶端固定连接有清洁刷。
优选的，所述机体上设置有与检偏器相适配的起偏器。
优选的，所述固定套筒套设在支柱外，所述固定套筒外侧壁贯穿设置有紧固螺柱，所述紧固螺柱贯穿固定套筒侧壁一端与支柱相抵触。
优选的，所述转动座套设在固定套筒外，所述固定套筒外壁固定连接有固定环，所述转动座内侧开设有与固定环相适配的环形槽。
优选的，所述转杆底端贯穿收集盘内侧底壁和支撑柱并固定连接有手轮。
优选的，所述支撑座开设有内腔，所述转轴一端延伸至内腔内侧并固定连接有铁块，所述支撑座位于内腔底部固定设置有用于吸附铁块的第一电磁铁和第二电磁铁，所述第一电磁铁和第二电磁铁分别与铁块吸附时，所述检偏器均处于水平状态。
优选的，所述检偏器的外周设置有读数盘。
与现有技术相比，本实用新型的有益效果为：
1、通过使第一电磁铁和第二电磁铁分别通电和断电，使第一电磁铁和第二电磁铁分别与铁块吸附，方便转动检偏器，使检偏器的两个面进行翻转，并保证检偏器处于水平状态；
2、通过转动转动座，使收集盘位于检偏器正下方，收缩支柱，使检偏器向下接触清洁刷，转动手轮，带动转杆和清洁刷转动，通过清洁刷对检偏器表面灰尘进行清理，清理下的灰尘落入收集盘内。
附图说明
图1为本实用新型提出的一种光学玻璃测量装置整体的结构示意图；
图2为本实用新型提出的一种光学玻璃测量装置收集盘的结构示意图；
图3为本实用新型提出的一种光学玻璃测量装置固定环和环形槽的结构示意图；
图4为本实用新型提出的一种光学玻璃测量装置铁块、第一电磁铁和第二电磁铁的结构示意图。
图中：1、机体；2、固定套筒；3、支柱；4、支撑座；5、转轴；6、检偏器；7、起偏器；8、紧固螺柱；9、转动座；10、固定环；11、环形槽；12、支撑轴；13、支撑柱；14、收集盘；15、转杆；16、清洁刷；17、手轮；18、铁块；19、第一电磁铁；20、第二电磁铁。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。
参照图1-4，一种光学玻璃测量装置，包括机体1，机体1上固定连接有固定套筒2，固定套筒2顶部设置有支柱3，固定套筒2套设在支柱3外，固定套筒2外侧壁贯穿设置有紧固螺柱8，紧固螺柱8贯穿固定套筒2侧壁一端与支柱3相抵触，通过上下移动支柱3，调节支柱3的高度，通过拧紧紧固螺柱8对支柱3进行固定。支柱3顶部固定连接有支撑座4，支撑座4侧壁转动连接有转轴5，转轴5远离支撑座4一端固定连接有检偏器6，检偏器6的外周设置有读数盘，机体1上设置有与检偏器6相适配的起偏器7，将光学玻璃置于起偏器7上，机体1内部发生光束，经起偏器7、光学玻璃和检偏器6，通过读数盘进行读数观察。
支撑座4开设有内腔，转轴5一端延伸至内腔内侧并固定连接有铁块18，支撑座4位于内腔底部固定设置有用于吸附铁块18的第一电磁铁19和第二电磁铁20，第一电磁铁19和第二电磁铁20分别与铁块18吸附时，检偏器6均处于水平状态，通过使第一电磁铁19和第二电磁铁20分别通电和断电，使第一电磁铁19和第二电磁铁20分别与铁块18吸附，方便转动检偏器6，使检偏器6的两个面进行翻转，并保证检偏器6处于水平状态。
固定套筒2外壁转动连接有转动座9，转动座9上固定连接有支撑轴12，支撑轴12远离转动座9一端固定连接有支撑柱13，支撑柱13顶部固定连接有收集盘14，收集盘14内侧底部转动连接有转杆15，转杆15顶端固定连接有清洁刷16，转杆15底端贯穿收集盘14内侧底壁和支撑柱13并固定连接有手轮17，转动转动座9，使收集盘14位于检偏器6正下方，使检偏器6向下接触清洁刷16，转动手轮17，带动转杆15和清洁刷16转动，通过清洁刷16对检偏器6表面灰尘进行清理，清理下的灰尘落入收集盘14内。
转动座9套设在固定套筒2外，固定套筒2外壁固定连接有固定环10，转动座9内侧开设有与固定环10相适配的环形槽11。
现对本实用新型的操作原理做如下描述：将光学玻璃置于起偏器7上，机体1内部发生光束，经起偏器7、光学玻璃和检偏器6，通过读数盘进行读数观察。通过使第一电磁铁19和第二电磁铁20分别通电和断电，使第一电磁铁19和第二电磁铁20分别与铁块18吸附，方便转动检偏器6，使检偏器6的两个面进行翻转，并保证检偏器6处于水平状态。转动转动座9，使收集盘14位于检偏器6正下方，收缩支柱3，使检偏器6向下接触清洁刷16，转动手轮17，带动转杆15和清洁刷16转动，通过清洁刷16对检偏器6表面灰尘进行清理，清理下的灰尘落入收集盘14内。
以上所述，仅为本实用新型较佳的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，根据本实用新型的技术方案及其实用新型构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。
Claims (7)
1.一种光学玻璃测量装置，包括机体(1)，其特征在于，所述机体(1)上固定连接有固定套筒(2)，所述固定套筒(2)顶部设置有支柱(3)，所述支柱(3)顶部固定连接有支撑座(4)，所述支撑座(4)侧壁转动连接有转轴(5)，所述转轴(5)远离支撑座(4)一端固定连接有检偏器(6)，所述固定套筒(2)外壁转动连接有转动座(9)，所述转动座(9)上固定连接有支撑轴(12)，所述支撑轴(12)远离转动座(9)一端固定连接有支撑柱(13)，所述支撑柱(13)顶部固定连接有收集盘(14)，所述收集盘(14)内侧底部转动连接有转杆(15)，所述转杆(15)顶端固定连接有清洁刷(16)。
2.根据权利要求1所述的一种光学玻璃测量装置，其特征在于，所述机体(1)上设置有与检偏器(6)相适配的起偏器(7)。
3.根据权利要求1所述的一种光学玻璃测量装置，其特征在于，所述固定套筒(2)套设在支柱(3)外，所述固定套筒(2)外侧壁贯穿设置有紧固螺柱(8)，所述紧固螺柱(8)贯穿固定套筒(2)侧壁一端与支柱(3)相抵触。
4.根据权利要求1所述的一种光学玻璃测量装置，其特征在于，所述转动座(9)套设在固定套筒(2)外，所述固定套筒(2)外壁固定连接有固定环(10)，所述转动座(9)内侧开设有与固定环(10)相适配的环形槽(11)。
5.根据权利要求1所述的一种光学玻璃测量装置，其特征在于，所述转杆(15)底端贯穿收集盘(14)内侧底壁和支撑柱(13)并固定连接有手轮(17)。
6.根据权利要求1所述的一种光学玻璃测量装置，其特征在于，所述支撑座(4)开设有内腔，所述转轴(5)一端延伸至内腔内侧并固定连接有铁块(18)，所述支撑座(4)位于内腔底部固定设置有用于吸附铁块(18)的第一电磁铁(19)和第二电磁铁(20)，所述第一电磁铁(19)和第二电磁铁(20)分别与铁块(18)吸附时，所述检偏器(6)均处于水平状态。
7.根据权利要求1所述的一种光学玻璃测量装置，其特征在于，所述检偏器(6)的外周设置有读数盘。
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