CN219434311U - 一种光学薄膜轴角度快速测量装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供一种光学薄膜轴角度快速测量装置，包括底座、承载平台和测量模块，其特征在于，所述承载平台固定的设置在底座上，承载平台内部为中空腔体结构，腔体内设置光源和第一偏振组件，承载平台上方活动的设置有转动平台，转动平台可在承载平台上转动，转动平台上设置有透光窗口，测量模块通过支撑架架设在承载平台上方，包括第二偏振组件和测量感应器，光源、第一偏振组件、透光窗口、第二偏振组件、测量感应器的测量头的中轴线重合位于同一竖直方向上光源发射的光线经过转动平台射入测量感应器中。该装置可以适用于多种光学薄膜轴角度的快速测量，操作简单，上手性强，可以方便快速的得到光学薄膜的轴角度。

Description

一种光学薄膜轴角度快速测量装置

技术领域

本实用新型属于光学检测装置，尤其涉及一种光学薄膜轴角度快速测量装置。

背景技术

光学薄膜轴角度特性在偏振光场中的运用具有重要作用，轴角度在偏振光场中有着改变偏振状态的功能，所以使用时为稳定获取设定偏振状态的光，首先就要明确知道使用的光学薄膜的轴角度，现有的轴角度测量装置普遍只能测量偏振膜的轴角度，而对于反射膜、增透膜、滤光膜、光学保护膜、分光膜和位相膜等其他光学薄膜在偏振广场中的使用则没办法进行轴角度的有效测量，而且现有轴角度测量装置结构复杂，操作复杂。

实用新型内容

鉴于以上，本实用新型提供一种光学薄膜轴角度快速测量装置，可以适用于多种光学薄膜轴角度的快速测量，具体技术方案如下。

一种光学薄膜轴角度快速测量装置，包括底座、承载平台和测量模块，其特征在于，所述承载平台固定的设置在底座上，承载平台内部为中空腔体结构，腔体内设置光源和第一偏振组件，承载平台上方活动的设置有转动平台，转动平台可在承载平台上转动，转动平台上设置有透光窗口，测量模块通过支撑架架设在承载平台上方，包括第二偏振组件和测量感应器，光源、第一偏振组件、透光窗口、第二偏振组件、测量感应器的测量头的中轴线重合位于同一竖直方向上光源发射的光线经过转动平台射入测量感应器中。

进一步，所述转动平台包括转动底座和透光模块，透光模块设置在转动底座的上表面，透光模块划分为透光区域和遮光区域，透光区域位于遮光区域的中心，透光区域即对应所述的透光窗口，遮光区域上设置有一条水平基准线。

进一步，所述转动底座为圆台结构，在承载平台上与转动底座底面连接处刻画有角度刻度线，角度刻度线沿转动底座的底面均匀分布，转动底座的侧面刻画有指向角度刻度线的指示线。

进一步，所述第二偏振组件位于测量感应器下方，所述测量感应器为光照度计。

进一步，所述光源和第一偏振组件之间还设置有准直透镜。

进一步，所述底座上安装有电源控制开关，连接光源，控制其开启、关闭。

本实用新型的光学薄膜轴角度快速测量装置，通过结构的优化设计，沿光路依次设置有光源、准直透镜、第一偏振组件、转动平台、第二偏振组件和光照度计，待测光学薄膜样品放置在转动平台上，第一偏振组件将射入待检测样品的光筛选呈特定偏振态的光，光经样品射出再进入第二偏振组件，手动调节转动平台的旋转角度，观测记录光照度计上的亮度变化结果，由于第一偏振组件和第二偏振组件的轴角度已知，则根据旋转角度就可直接快速的得出光学薄膜的轴角度，操作简单，上手性强，可以方便快速的得到光学薄膜的轴角度，而且该结构的测量装置不仅可以测量偏光膜的轴角度，还适用于其他光学薄膜的轴角度测量，如非全反射、相位膜—1/4波片等，适用性更强。

本实用新型附加的方面和优点将在下面的描述中进一步给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本实用新型的实践了解到。

附图说明

图1为本实用新型装置的整体结构示意图；

图2为本实用新型装置的剖面结构示意图；

图3为本实用新型装置的正面结构示意图；

图4为本实用新型的光路结构示意图；

其中，1-底座，2-承载平台，3-转动平台，4-样品，5-电源控制开关，6-支撑架，10-光源，11-准直透镜，12-第一偏振组件，13-第二偏振组件，14-测量感应器，31-转动底座，32-透光模块，33-角度刻度线，34-指示线。

具体实施方式

在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。

参照图1-图3，本实施例的光学薄膜轴角度快速测量装置，包括底座1、承载平台2和测量模块，承载平台2固定的设置在底座1上，承载平台2内部为中空腔体结构，腔体内从下至上依次设置光源10、准直透镜11和第一偏振组件12，光线从下向上射出，准直透镜11用于汇聚LED光源光线，提高光的利用率，第一偏振组件12为已知轴角度的标准偏振片作为起偏器，形成偏振光场。底座1上还安装有电源控制开关5，连接光源10，控制其开启、关闭。

在本实施例中承载平台2上方活动的设置有转动平台3，转动平台3可在承载平台2上转动，转动平台3上设置有透光窗口。转动平台3包括转动底座31和透光模块32，透光模块32设置在转动底座31的上表面，透光模块32划分为透光区域和遮光区域，透光区域位于遮光区域的中心，透光区域即对应透光窗口，遮光区域上设置有一条水平基准线，水平基准线作为放置待测光学薄膜样本的边缘对准基准。在其他实施例中，透光区域的大小可以根据检测样品的透光率具体选择，检测透过率低相比透过率高的光学薄膜，其透光区域的面积要更大，薄膜透过率高，透光区域变小，防止光饱和掉，具体根据实际需要设计选择，方便快捷，透光区域的大小选择可以直接更换投光模块32实现。

承载平台上方活动的设置有转动平台，转动平台可在承载平台上转动，

另外，转动底座31为圆台结构，在承载平台2上与转动底座31底面连接处刻画有角度刻度线33，角度刻度线33沿转动底座31的底面均匀分布，转动底座31的侧面刻画有指向角度刻度线的指示线34，这样在转动平台3旋转的时候可以准确的知道转动的角度。

优选的，测量模块通过支撑架6架设在承载平台2上方，包括第二偏振组件13和测量感应器14，第二偏振组件13位于测量感应器14下方，测量感应器14为光照度计，可直接显示出转动样品时光照度的变化，第二偏振组件13为已知轴角度的标准偏振片作为检偏器，用来检测光学薄膜样品4把第一偏振组件12的偏振光的偏振态改变的量。

如图4，在本实施例中沿光路方向依次经过光源10、准直透镜11、第一偏振组件12、样品4、第二偏振组件13、测量感应器14，这些结构的中轴线都重合位于同一竖直方向上，以确保光源10发射的光线经过转动平台3射入测量感应器14中。测量时，将待检测的光学薄膜裁剪成合适大小的样品4，样品4成矩形，其中一边对齐转动平台3上的水平基准线323，样品4的其余部位覆盖在透光区域上，正向旋转转动底座31一定角度，根据指示线34指到角度刻度线33的位置记录下旋转的角度θ₁，同时读出此时测量感应器14显示的光照数值a，再反向旋转转动底座31，观察测量感应器14上的数值变化，至再次出现光照数值a停止，记录下此时指示线34指到角度刻度线33的位置角度θ₂，那么θ₁+θ₂所形成的总角度的1/2就是该光学薄膜样品的轴角度。

尽管参照本实用新型的多个示意性实施例对本实用新型的具体实施方式进行了详细的描述，但是必须理解，本领域技术人员可以设计出多种其他的改进和实施例，这些改进和实施例将落在本实用新型原理的精神和范围之内。具体而言，在前述公开、附图以及权利要求的范围之内，可以在零部件和/或者从属组合布局的布置方面作出合理的变型和改进，而不会脱离本实用新型的精神。除了零部件和/或布局方面的变型和改进，其范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (6)

1.一种光学薄膜轴角度快速测量装置，包括底座、承载平台和测量模块，其特征在于，所述承载平台固定的设置在底座上，承载平台内部为中空腔体结构，腔体内设置光源和第一偏振组件，承载平台上方活动的设置有转动平台，转动平台可在承载平台上转动，转动平台上设置有透光窗口，测量模块通过支撑架架设在承载平台上方，包括第二偏振组件和测量感应器，光源、第一偏振组件、透光窗口、第二偏振组件、测量感应器的测量头的中轴线重合位于同一竖直方向上，光源发射的光线经过转动平台射入测量感应器中。

2.根据权利要求1所述的光学薄膜轴角度快速测量装置，其特征在于，所述转动平台包括转动底座和透光模块，透光模块设置在转动底座的上表面，透光模块划分为透光区域和遮光区域，透光区域位于遮光区域的中心，透光区域即对应所述的透光窗口，遮光区域上设置有一条水平基准线。

3.根据权利要求2所述的光学薄膜轴角度快速测量装置，其特征在于，所述转动底座为圆台结构，在承载平台上与转动底座底面连接处刻画有角度刻度线，角度刻度线沿转动底座的底面均匀分布，转动底座的侧面刻画有指向角度刻度线的指示线。

4.根据权利要求1所述的光学薄膜轴角度快速测量装置，其特征在于，所述第二偏振组件位于测量感应器下方，所述测量感应器为光照度计。

5.根据权利要求1所述的光学薄膜轴角度快速测量装置，其特征在于，所述光源和第一偏振组件之间还设置有准直透镜。

6.根据权利要求1所述的光学薄膜轴角度快速测量装置，其特征在于，所述底座上安装有电源控制开关，连接光源，控制其开启、关闭。