CN219417626U - 触摸屏感应量测试装置和触控测试系统 - Google Patents
触摸屏感应量测试装置和触控测试系统 Download PDFInfo
- Publication number
- CN219417626U CN219417626U CN202320362370.4U CN202320362370U CN219417626U CN 219417626 U CN219417626 U CN 219417626U CN 202320362370 U CN202320362370 U CN 202320362370U CN 219417626 U CN219417626 U CN 219417626U
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- tested
- test
- upper computer
- touch
- module
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 205
- 230000006698 induction Effects 0.000 claims abstract description 39
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 22
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 claims description 22
- 239000010949 copper Substances 0.000 claims description 22
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 10
- 238000004891 communication Methods 0.000 claims description 8
- 238000009434 installation Methods 0.000 claims description 4
- 230000001960 triggered effect Effects 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 238000000034 method Methods 0.000 description 6
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 2
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 1
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 1
- 230000009191 jumping Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 238000010998 test method Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02D—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN INFORMATION AND COMMUNICATION TECHNOLOGIES [ICT], I.E. INFORMATION AND COMMUNICATION TECHNOLOGIES AIMING AT THE REDUCTION OF THEIR OWN ENERGY USE
- Y02D10/00—Energy efficient computing, e.g. low power processors, power management or thermal management
Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
Abstract
本实用新型提供了一种触摸屏感应量测试装置和触控测试系统,包括:相互连接的测试设备和上位机;其中,测试设备与外接待测模组相连;外接待测模组中包括至少一个待测节点;测试设备根据上位机发送的测试命令触发待测节点,获取待测节点被触发后的感应量,并将感应量发送至上位机;上位机根据感应量生成抖动量;当感应量大于感应量阈值且抖动量小于抖动量阈值时,确定外接待测模组能够对正常触摸报点。该方式中,通过获取被测试设备触控后的待测试节点的感应量和抖动量,并通过上位机将感应量与预设感应量阈值进行比较,将抖动量与预设抖动量阈值进行比较的方法,从而提高对待测模组的正常触摸报点测试的准确性,进而减小误杀和漏杀的概率。
Description
技术领域
本实用新型涉及液晶显示触控模组技术领域,尤其是涉及一种触摸屏感应量测试装置和触摸屏感应量测试系统。
背景技术
在移动设备液晶显示触控模组领域,在模组量产阶段,需要使用一定的测试方法来实现对模组触控性能的测试。现有进行感应量测试的方法,是仅对感应量的大小进行卡控,只要出现感应量超出阈值范围的,就判定为测试失败。然而,这种方式容易造成过杀,比如某一个样品,每一帧的感应量都水平大于感应量阈值,并且噪声值符合要求,那么这样的样品在实际使用中是不会出现异常的。另外,这样的测试方法还有可能造成漏杀:假如另一个样品,感应量值处在阈值范围内,但感应量抖动很强烈,那么就有可能造成触控位置抖动或者跳点、消点等异常。
实用新型内容
有鉴于此,本实用新型的目的在于提供一种触摸屏感应量测试装置和触摸屏感应量测试系统,从而提高对待测模组的正常触摸报点测试的准确性,进而减小误杀和漏杀的概率。
第一方面,本实用新型实施例提供了一种触摸屏感应量测试装置,包括:相互连接的测试设备和上位机;其中,测试设备与外接待测模组相连;外接待测模组中包括至少一个待测节点;上位机,用于发送测试命令至测试设备;测试设备,用于根据测试命令触控待测节点,获取待测节点被触控后的感应量,并将感应量发送至上位机;上位机,还用于根据感应量生成抖动量,并将感应量与预设的感应量阈值进行比较,将抖动量与预设的抖动量阈值进行比较;当感应量大于感应量阈值且抖动量小于抖动量阈值时,确定外接待测模组能够对正常触摸报点。
进一步的,测试设备包括测试夹具;测试夹具与上位机相连;测试夹具设置在外接待测模组上方;测试夹具,用于根据上位机发送的测试命令触摸待测节点。
进一步的,测试夹具包括至少一个接地铜柱;其中,接地铜柱的数量与待测节点的数量相同;接地铜柱设置在待测节点上方。
进一步的,测试夹具还包括驱动电机;其中,驱动电机分别与接地铜柱和上位机相连;测试命令中包括测试帧数和待测节点;驱动电机,用于根据测试命令中的测试帧数驱动接地铜柱触摸待测节点。
进一步的,测试设备还包括触控测试板;触控测试板分别与上位机和外接待测模组相连;触控测试板,用于将测试命令发送至外接待测模组,以获取待测节点被触摸后的测量电容值与原始电容值的电容差值,将电容差值转换为感应量,并将感应量发送至上位机。
进一步的,触控测试板包括烧录模块;烧录模块,用于在与外接待测模组相连时,根据上位机的安装命令,将驱动软件安装到外接待测模组上。
进一步的,触控测试板还包括命令下发模块;其中,触控测试板与上位机通过USB接口相连;触控测试板与外接待测模组通过信号线相连;命令下发模块,用于将上位机发送的测试命令转换为第二测试命令,并将第二测试命令发送至外接待测模组;其中,测试命令为串行通讯信号,第二测试命令为总线信号。
进一步的,触控测试板还包括数据回传模块;数据回传模块,用于获取电容差值,并将电容差值转换为感应量,并将感应量发送至上位机;其中,电容差值为总线信号,感应量为串行通讯信号。
进一步的,上位机还包括数据处理模块;数据处理模块,用于根据测试帧数、待测节点位置和待测节点数量生成测试命令,并将测试命令发送至触控测试板;数据处理模块,还用于根据外接待测模组的触摸抬起阈值和感应量生成抖动量,并将感应量与感应量阈值进行比较,将抖动量与抖动量阈值进行比较;其中,感应量阈值为待测模组的报点阈值加上预设上浮百分比的值;抖动量阈值为感应量阈值与触摸抬起阈值之间的差值。
第二方面,本实用新型实施例提供了一种触控测试系统,包括上述任一项的触摸屏感应量测试装置。
本实用新型实施例提供了一种触摸屏感应量测试装置和触控测试系统,包括:相互连接的测试设备和上位机;其中,测试设备与外接待测模组相连;外接待测模组中包括至少一个待测节点;上位机,用于发送测试命令至测试设备;测试设备,用于根据测试命令触控待测节点,获取待测节点被触控后的感应量,并将感应量发送至上位机;上位机,还用于根据感应量生成抖动量,并将感应量与预设的感应量阈值进行比较,将抖动量与预设的抖动量阈值进行比较;当感应量大于感应量阈值且抖动量小于抖动量阈值时,确定外接待测模组能够对正常触摸报点。该方式中,通过获取被测试设备触控后的待测试节点的感应量和抖动量,并通过上位机将感应量与预设感应量阈值进行比较,将抖动量与预设抖动量阈值进行比较的方法,从而提高对待测模组的正常触摸报点测试的准确性,进而减小误杀和漏杀的概率。
本实用新型的其他特征和优点将在随后的说明书中阐述,并且,部分地从说明书中变得显而易见,或者通过实施本实用新型而了解。本实用新型的目的和其他优点在说明书、权利要求书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。
为使本实用新型的上述目的、特征和优点能更明显易懂,下文特举较佳实施例,并配合所附附图,作详细说明如下。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型具体实施方式或现有技术中的技术方案,下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图是本实用新型的一些实施方式,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本实用新型实施例一提供的触摸屏感应量测试装置示意图;
图2为本实用新型实施例一提供的另一触摸屏感应量测试装置示意图;
图3为本实用新型实施例一提供的上位机测试命令设置页面示意图;
图4为本实用新型实施例二提供的触控测试系统示意图。
图标:1-测试设备;2-上位机;21-数据处理模块;3-外接待测模组;31-触控面板;32-驱动芯片;4-测试夹具;41-接地铜柱;42-驱动电机;5-触控测试板;51-烧录模块;52-命令下发模块;53-数据回传模块;6-触控测试系统;7-触摸屏感应量测试装置。
具体实施方式
为使本实用新型实施例的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合附图对本实用新型的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
为便于对本实施例进行理解,下面对本实用新型实施例进行详细介绍。
实施例一:
图1为本实用新型实施例一提供的触摸屏感应量测试装置示意图。
参照图1,触摸屏感应量测试装置,包括:相互连接的测试设备1和上位机2;其中,测试设备1与外接待测模组3相连;外接待测模组3中包括至少一个待测节点。
这里,外接待测模组3上包括触控面板31,触控面板上包括多个节点。节点中包括至少一个待测节点。
上位机2,用于发送测试命令至测试设备1。
测试设备1,用于根据测试命令触控待测节点,获取待测节点被触控后的感应量,并将感应量发送至上位机2。
图2为本实用新型实施例一提供的另一触摸屏感应量测试装置示意图。
在一实施例中,参照图2,测试设备1包括测试夹具4;测试夹具4与上位机2相连;测试夹具4设置在外接待测模组3上方。
测试夹具4,用于根据上位机2发送的测试命令触摸待测节点。
这里,测试夹具4与上位机2可以通信连接可以以直接相连。
在一实施例中,参照图1和图2,测试夹具4包括至少一个接地铜柱41;其中,接地铜柱41的数量与待测节点的数量相同;接地铜柱41设置在待测节点上方。
这里,接地铜柱一般为直径9mm,用于仿真手指触摸所述待测节点的情形。接地铜柱在测试夹具中的位置固定,并且能够接触到外接待测模组的触控面板。
在一实施例中,参照图1测试夹具4还包括驱动电机42;其中,驱动电机42分别与接地铜柱41和上位机2相连;测试命令中包括测试帧数和待测节点。
这里,测试命令中还可以包括按压铜柱前的等待时间和按压铜柱抬起后退出前的等待时间。测试帧数越高卡控越严格,等待时间越少,整个测试所需的最大总时间就越少,但对测试人员的数量程度要求会越高。
待测节点最少为一个节点,最多为外接待测模组触控面板上的全部节点。
驱动电机42,用于根据测试命令中的测试帧数驱动接地铜柱触摸待测节点。
在一实施例中,参照图1和图2,测试设备1还包括触控测试板5;触控测试板5分别与上位机2和外接待测模组3相连。
触控测试板5,用于将测试命令发送至外接待测模组3,以获取待测节点被触摸后的测量电容值与原始电容值的电容差值,将电容差值转换为感应量,并将感应量发送至上位机2。
这里,外接待测模组3还包括驱动芯片32;其中,驱动芯片分别与触控测试板5和触控面板31相连。
具体地,测试夹具和触控测试板获取上位机发送的测试命令,触控测试板将测试命令发送至外接待测模组。测试夹具根据测试命令中的测试帧数和待测节点,触摸外接待测模组触控面板上对应的待测节点,以使待测节点的电容发生变化,生成测量电容值。触控测试板获取待测节点的测量电容值与原始电容值之间的电容差值,并将电容差值转换为感应量后,发送至上位机。
例如,如果待测节点的原始电容值为1000,被测试夹具触摸后的测量电容值为1800,则电容差值为800。
上位机2,还用于根据感应量生成抖动量,并将感应量与预设的感应量阈值进行比较,将抖动量与预设的抖动量阈值进行比较;当感应量大于感应量阈值且抖动量小于抖动量阈值时,确定外接待测模组3能够对正常触摸报点。
图3为本实用新型实施例一提供的上位机测试命令设置页面示意图。
在一实施例中,参照图1,上位机2还包括数据处理模块21。
参照图3,数据处理模块21,用于根据测试帧数、待测节点位置和待测节点数量生成测试命令,并将测试命令发送至触控测试板。
数据处理模块21,还用于根据外接待测模组3的触摸抬起阈值和感应量生成抖动量,并将感应量与感应量阈值进行比较,将抖动量与抖动量阈值进行比较;其中,感应量阈值为待测模组的报点阈值加上预设上浮百分比的值;抖动量阈值为感应量阈值与触摸抬起阈值之间的差值。
这里,预设感应量阈值以固件中所设置的报点阈值为基准。其中,报点阈值包括Touch up阈值(触摸抬起阈值)和Touch down阈值(触摸阈值)。预设感应量阈值为在Touchdown阈值基础上加上根据测试实际情况设置的向上浮动百分比,向上浮动百分比越高,卡控越严格。例如,Touch up阈值可以设置为200,Touch down阈值可以设置为150,感应量阈值向上浮动百分比为50%,则预设感应量阈值为200×(1+50%)=300。
抖动值用于保证测试帧数范围内铜柱不能抬起。预设抖动量阈值可以以固件中所设置的报点阈值为基准,在Touch up阈值基础上加上根据测试实际情况设置的向上浮动百分比,向上浮动百分比越小,允许的抖动越小,卡控越严格。预设抖动量阈值也可以为预设感应量阈值与Touch up阈值之间的差值。例如,预设抖动量阈值为300-150=150。
在一实施例中,参照图1,触控测试板5包括烧录模块51。
烧录模块51,用于在与外接待测模组3相连时,根据上位机2的安装命令,将驱动软件安装到外接待测模组3上。
这里,在第一次对外接待测模组进行测试时,根据上位机的安装命令,烧录模块将驱动软件安装到外接待测模组的驱动芯片上,以使驱动芯片可以根据测试命令测试。
在一实施例中,参照图1,触控测试板5还包括命令下发模块52;其中,触控测试板5与上位机2通过USB接口相连;触控测试板5与外接待测模组3通过信号线相连。
这里,触控测试板与外接待测模组通过SPI(Serial Peripheral interface,串行外围设备接口)或IIC(Inter-Integrated Circuit,多主从的串行总线)通信。
命令下发模块52,用于将上位机2发送的测试命令转换为外接待测模组3可以读取的第二测试命令,并将第二测试命令发送至外接待测模组3;其中,测试命令为串行通讯信号,第二测试命令为总线信号。
在一实施例中,参照图1,触控测试板5还包括数据回传模块53。
数据回传模块53,用于获取电容差值,并将电容差值转换为感应量,并将感应量发送至上位机2;其中,电容差值为总线信号,感应量为串行通讯信号。
本实用新型实施例提供了一种触摸屏感应量测试装置,包括:相互连接的测试设备和上位机;其中,测试设备与外接待测模组相连;外接待测模组中包括至少一个待测节点;上位机,用于发送测试命令至测试设备;测试设备,用于根据测试命令触控待测节点,获取待测节点被触控后的感应量,并将感应量发送至上位机;上位机,还用于根据感应量生成抖动量,并将感应量与预设的感应量阈值进行比较,将抖动量与预设的抖动量阈值进行比较;当感应量大于感应量阈值且抖动量小于抖动量阈值时,确定外接待测模组能够对正常触摸报点。该方式中,通过获取被测试设备触控后的待测试节点的感应量和抖动量,并通过上位机将感应量与预设感应量阈值进行比较,将抖动量与预设抖动量阈值进行比较的方法,从而提高对待测模组的正常触摸报点测试的准确性,进而减小误杀和漏杀的概率。
实施例二:
图4为本实用新型实施例二提供的触控测试系统示意图。
参照图4,触控测试系统6包括上述触摸屏感应量测试装置7。
本实用新型实施例提供了一种触摸屏感应量测试系统,包括:相互连接的测试设备和上位机;其中,测试设备与外接待测模组相连;外接待测模组中包括至少一个待测节点;上位机,用于发送测试命令至测试设备;测试设备,用于根据测试命令触控待测节点,获取待测节点被触控后的感应量,并将感应量发送至上位机;上位机,还用于根据感应量生成抖动量,并将感应量与预设的感应量阈值进行比较,将抖动量与预设的抖动量阈值进行比较;当感应量大于感应量阈值且抖动量小于抖动量阈值时,确定外接待测模组能够对正常触摸报点。该方式中,通过获取被测试设备触控后的待测试节点的感应量和抖动量,并通过上位机将感应量与预设感应量阈值进行比较,将抖动量与预设抖动量阈值进行比较的方法,从而提高对待测模组的正常触摸报点测试的准确性,进而减小误杀和漏杀的概率。
所属领域的技术人员可以清楚地了解到,为描述的方便和简洁,上述描述的系统和装置的具体工作过程,可以参考前述方法实施例中的对应过程,在此不再赘述。
另外,在本实用新型实施例的描述中,除非另有明确的规定和限定,术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或一体地连接;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言,可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。
所述功能如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时,可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解,本实用新型的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的部分可以以软件产品的形式体现出来,该计算机软件产品存储在一个存储介质中,包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机,服务器,或者网络设备等)执行本实用新型各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括:U盘、移动硬盘、只读存储器(ROM,Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM,Random Access Memory)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
以下将参考附图详细说明本公开的各种示例性实施例、特征和方面。附图中相同的附图标记表示功能相同或相似的元件。尽管在附图中示出了实施例的各种方面,但是除非特别指出,不必按比例绘制附图。
在本公开的描述中,需要理解的是,术语“长度”、“宽度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本公开和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本公开的限制。
此外,术语“第一”、“第二”仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此,限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本公开的描述中,“多个”的含义是两个或两个以上,除非另有明确具体的限定。
在本公开中,除非另有明确的规定和限定,术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或成一体;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言,可以根据具体情况理解上述术语在本公开中的具体含义。
最后应说明的是:本领域普通技术人员可以理解:以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已,并不用于限制本实用新型,尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明,对于本领域的技术人员来说,其依然可以对前述各实施例记载的技术方案进行修改,或者对其中部分技术特征进行等同替换。凡在本实用新型的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本实用新型的保护范围之内。
Claims (10)
1.一种触摸屏感应量测试装置,其特征在于,包括:相互连接的测试设备和上位机;其中,所述测试设备与外接待测模组相连;所述外接待测模组中包括至少一个待测节点;
所述上位机,用于发送测试命令至所述测试设备;
所述测试设备,用于根据所述测试命令触控所述待测节点,获取所述待测节点被触控后的感应量,并将所述感应量发送至所述上位机;
所述上位机,还用于根据所述感应量生成抖动量,并将所述感应量与预设的感应量阈值进行比较,将所述抖动量与预设的抖动量阈值进行比较;当所述感应量大于所述感应量阈值且所述抖动量小于所述抖动量阈值时,确定所述外接待测模组能够对正常触摸报点。
2.根据权利要求1所述的触摸屏感应量测试装置,其特征在于,所述测试设备包括测试夹具;所述测试夹具与所述上位机相连;所述测试夹具设置在所述外接待测模组上方;
所述测试夹具,用于根据所述上位机发送的所述测试命令触摸所述待测节点。
3.根据权利要求2所述的触摸屏感应量测试装置,其特征在于,所述测试夹具包括至少一个接地铜柱;其中,所述接地铜柱的数量与所述待测节点的数量相同;所述接地铜柱设置在所述待测节点上方。
4.根据权利要求3所述的触摸屏感应量测试装置,其特征在于,所述测试夹具还包括驱动电机;其中,所述驱动电机分别与所述接地铜柱和所述上位机相连;所述测试命令中包括测试帧数和所述待测节点;
所述驱动电机,用于根据所述测试命令中的所述测试帧数驱动所述接地铜柱触摸所述待测节点。
5.根据权利要求1所述的触摸屏感应量测试装置,其特征在于,所述测试设备还包括触控测试板;所述触控测试板分别与所述上位机和所述外接待测模组相连;
所述触控测试板,用于将所述测试命令发送至所述外接待测模组,以获取所述待测节点被触摸后的测量电容值与原始电容值的电容差值,将所述电容差值转换为所述感应量,并将所述感应量发送至所述上位机。
6.根据权利要求5所述的触摸屏感应量测试装置,其特征在于,所述触控测试板包括烧录模块;
所述烧录模块,用于在与所述外接待测模组相连时,根据所述上位机的安装命令,将驱动软件安装到所述外接待测模组上。
7.根据权利要求6所述的触摸屏感应量测试装置,其特征在于,所述触控测试板还包括命令下发模块;其中,所述触控测试板与所述上位机通过USB接口相连;所述触控测试板与所述外接待测模组通过信号线相连;
所述命令下发模块,用于将所述上位机发送的所述测试命令转换为第二测试命令,并将所述第二测试命令发送至所述外接待测模组;其中,所述测试命令为串行通讯信号,所述第二测试命令为总线信号。
8.根据权利要求7所述的触摸屏感应量测试装置,其特征在于,所述触控测试板还包括数据回传模块;
所述数据回传模块,用于获取所述电容差值,并将所述电容差值转换为所述感应量,并将所述感应量发送至所述上位机;其中,所述电容差值为总线信号,所述感应量为串行通讯信号。
9.根据权利要求8所述的触摸屏感应量测试装置,其特征在于,所述上位机还包括数据处理模块;
所述数据处理模块,用于根据测试帧数、待测节点位置和待测节点数量生成所述测试命令,并将所述测试命令发送至所述触控测试板;
所述数据处理模块,还用于根据所述外接待测模组的触摸抬起阈值和所述感应量生成所述抖动量,并将所述感应量与所述感应量阈值进行比较,将所述抖动量与所述抖动量阈值进行比较;其中,所述感应量阈值为所述待测模组的报点阈值加上预设上浮百分比的值;所述抖动量阈值为所述感应量阈值与所述触摸抬起阈值之间的差值。
10.一种触控测试系统,其特征在于,包括权利要求1-9任一项所述的触摸屏感应量测试装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202320362370.4U CN219417626U (zh) | 2023-02-22 | 2023-02-22 | 触摸屏感应量测试装置和触控测试系统 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202320362370.4U CN219417626U (zh) | 2023-02-22 | 2023-02-22 | 触摸屏感应量测试装置和触控测试系统 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN219417626U true CN219417626U (zh) | 2023-07-25 |
Family
ID=87210518
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN202320362370.4U Active CN219417626U (zh) | 2023-02-22 | 2023-02-22 | 触摸屏感应量测试装置和触控测试系统 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN219417626U (zh) |
-
2023
- 2023-02-22 CN CN202320362370.4U patent/CN219417626U/zh active Active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5403640B2 (ja) | Lc共振周波数シフトを用いた静電容量方式タッチスクリーンパネルの検査装置および検査方法 | |
CN100338562C (zh) | 触摸模拟方法 | |
CN102866322B (zh) | 一种触摸装置检测方法 | |
CN101243385A (zh) | 具有降低对射频干扰的敏感性的触摸屏 | |
CN103198033A (zh) | 用于检测通用串列汇流排和移动高解析度链接设备的装置及其方法 | |
KR20050123108A (ko) | 원격 터치 시뮬레이션 시스템 및 방법 | |
CN104898013A (zh) | 一种利用声学测量诊断电路故障的方法及系统 | |
CN109918247A (zh) | 触摸屏异常跳点的检测方法、装置和电子设备 | |
CN107015137A (zh) | 一种电路板检测装置、系统及方法 | |
CN110659171A (zh) | 一种测试方法、电子设备和计算机可读存储介质 | |
KR20130050458A (ko) | Pll을 이용한 정전식 터치스크린 패널 검사 장치 및 방법 | |
CN105607317A (zh) | 显示器亮度调整方法、测试方法及装置、显示器测试设备 | |
CN108955951A (zh) | 一种温度传感器故障判断方法及装置 | |
CN102981686B (zh) | 一种电容触摸屏装置缺陷检测的方法 | |
CN219417626U (zh) | 触摸屏感应量测试装置和触控测试系统 | |
CN103885647A (zh) | 触摸屏装置的自适应修复方法及触摸屏装置 | |
WO2018028033A1 (zh) | 基于磁性开关的半成品触摸屏测试机 | |
CN106681875B (zh) | 触摸屏抗电源干扰能力的检测方法及系统 | |
US20110130989A1 (en) | System and method for identifying a peripheral component interconnect express signal | |
CN114760580B (zh) | 一种基于红外二极管的触控测试装置及方法 | |
CN114238005B (zh) | 一种gpio防抖功能测试方法、系统、装置及芯片 | |
CN213241134U (zh) | 一种固态硬盘的生产检测设备 | |
CN115824033A (zh) | 集成电路的表面平整度测试方法、设备和系统 | |
CN110769358B (zh) | 麦克风监控方法及装置 | |
CN106484579B (zh) | 一种用于转接器的测试方法及装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant |