CN219321787U - 短接测试装置及自动测试设备 - Google Patents

Abstract

本申请公开了一种短接测试装置及自动测试设备。其中，短接测试装置包括导电主体以及外壳。导电主体包括主体部以及两个连接端，两个连接端并排设置，且分别与主体部连接，主体部用于与外部电极电连接，两个连接端用于与待测试设备的插座插接，以对待测试设备进行短接测试。壳体包裹导电主体的至少部分结构。本申请提供的技术方案相比于现有技术中通过人工接线来实现待测试设备短接的方案，有利于提高工作效率。

Description

短接测试装置及自动测试设备

技术领域

本申请涉及产品测试的技术领域，具体涉及一种短接测试装置及自动测试设备。

背景技术

在对电视等电子设备进行短接测试时，通常需要将待测试设备上的交流电源插座的L、N极短接。相关技术中，主要是通过人工接线来实现待测试设备的L、N极短接，工作效率较低。

实用新型内容

本申请提供一种短接测试装置及自动测试设备，以提高工作效率。

本申请一方面提供一种短接测试装置。短接测试装置包括导电主体以及外壳。导电主体包括主体部以及两个连接端，两个连接端并排设置，且分别与主体部连接，主体部用于与外部电极电连接，两个连接端用于与待测试设备的插座插接，以对待测试设备进行短接测试。壳体包裹导电主体的至少部分结构。

进一步地，每一连接端包括第一连接柱、第一弹性件以及顶针，第一连接柱为空心柱状结构，一端与主体部连接，顶针设置于第一连接柱的远离主体部的一端，第一弹性件设置于第一连接柱内部，一端与主体部抵接，另一端与顶针抵接。

进一步地，顶针包括彼此连接的第一部分和第二部分，第一弹性件套设于第一部分，并与第二部分的靠近第一部分的端面抵接。

进一步地，连接端还包括第一紧固件，第一紧固件设置于第一连接柱的远离主体部的一端，用于将顶针和第一弹性件封堵于第一连接柱内部；第一紧固件上设置有贯穿的连接孔，连接端插接于插座时，插座上的极片插设于连接孔，并与顶针连接。

进一步地，连接孔包括一渐缩孔段，渐缩孔段自第一紧固件的远离顶针的一侧向顶针所在的方向延伸，渐缩孔段在靠近顶针的方向上渐缩。

进一步地，第二部分与第一连接柱的远离主体部的一端连接，并可相对于第一连接柱滑动。

进一步地，第二部分的靠近第一部分的端面上设置有环形槽，环形槽环绕第一部分设置，第一弹性件与环形槽的内壁抵接。

进一步地，每一连接端包括第一连接柱、第一弹性件以及顶针，第一连接柱一端与主体部连接，顶针与第一连接柱的远离主体部的一端连接，并可相对于第一连接柱滑动，第一弹性件套设于第一连接柱，一端与主体部抵接，另一端与顶针抵接；或导电主体进一步包括第二连接柱及套设于第二连接柱的第二弹性件，第二连接柱自主体部向远离两个连接端的方向延伸，第二弹性件一端与主体部抵接，另一端与壳体抵接。

进一步地，短接测试装置进一步包括第二紧固件以及设置于壳体上的连接筒，连接筒的中轴线垂直于两个连接端的中轴线，第二紧固件能够穿设于连接筒，用于固定外部电极，并电连接外部电极与主体部。

本申请一方面提供一种自动测试设备。该自动测试设备包括驱动装置以及以上所描述的短接测试装置，驱动装置用于驱动短接测试装置进行平移。

本申请所提供的短接测试装置中，导电主体包括主体部以及两个连接端，主体部可以与外部电极电连接，两个连接端可以与待测试设备上的插座插接，当两个连接端插接于待测试设备上的插座中时，由于两个连接端均与主体部连接，使得待测试设备短接，从而能够实现对待测试设备的短接测试，相比于现有技术中通过人工接线来实现待测试设备短接的方案，有利于提高工作效率。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图，其中：

图1是本申请短接测试装置一实施例的立体结构示意图；

图2是图1所示的短接测试装置的分解结构示意图；

图3是图2中所示的顶针一实施例的结构示意图；

图4是图2中所示的第一紧固件一实施例的剖面结构示意图；

图5是图2中所示的第一紧固件另一实施例的剖面结构示意图；

图6是图2中所示的导电主体另一实施例的结构示意图。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅用于解释本申请，而非对本申请的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本申请相关的部分而非全部结构。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

本申请一方面提供一种短接测试装置100。请一并参阅图1及图2，图1是本申请短接测试装置100一实施例的立体结构示意图，图2是图1所示的短接测试装置100的分解结构示意图。该短接测试装置100包括导电主体10和壳体20。其中，导电主体10包括主体部11以及两个连接端12，两个连接端12并排设置，且分别与主体部11连接，主体部11用于与外部电极电连接，两个连接端12用于与待测试设备的插座插接，以对待测试设备进行短接测试。壳体20包裹导电主体10的至少部分结构。

本申请所提供的短接测试装置100中，导电主体10包括主体部11以及两个连接端12，主体部11可以与外部电极电连接，两个连接端12可以与待测试设备上的插座插接，当两个连接端12插接于待测试设备上的插座中时，由于两个连接端12均与主体部11连接，使得待测试设备短接，从而能够实现对待测试设备的短接测试，相比于现有技术中通过人工接线来实现待测试设备短接的方案，有利于提高工作效率。

在本实施例中，待测试设备可以是电视，当主体部11与外部电极，比如高压电极电连接，两个连接端12插接于电视上的220V交流电源插座中，其中一个连接端12与电视的L极短接，另一个连接端12与电视的N极连接时，由于两个连接端12均与主体部11连接，使得电视的L极和N极短接，从而实现对电视的高压短接测试。当然，本申请中所描述的待测试设备并不限于电视，也可以是其它的电子设备。

接下来，将详细描述导电主体10的结构。两个连接端12分别与主体部11连接。如图2所示，在本实施例中，每个连接端12可以包括第一连接柱121、第一弹性件122、顶针123以及第一紧固件124。第一连接柱121为空心柱状结构，一端与主体部11连接，顶针123设置于第一连接柱121的远离主体部11的一端，第一弹性件122设置于第一连接柱121内部，一端与主体部11抵接，另一端与顶针123抵接。第一紧固件124设置于第一连接柱121的远离主体部11的一端，用于将顶针123和第一弹性件122封堵于第一连接柱121内部。

其中，第一连接柱121可以是一个空心的圆柱，或者说，第一连接柱121呈圆筒状设置，内部设置有容纳腔。在一些实施例中，第一连接柱121也可以是空心的棱柱，本申请对此不作限制，本领域技术人员可以根据实际需求进行选择。

在本实施例中，两个第一连接柱121与主体部11可以一体成型设置，并且，两个第一连接柱121与主体部11可以由导电性能良好的金属材质制成。在一些实施例中，两个第一连接柱121可以固定在一起，并与主体部11可拆卸连接，举例而言，两个第一连接柱121与主体部11之间可以通过卡扣连接，或者通过螺纹结构连接，本申请对此不作限制，本领域技术人员可以根据实际需求进行选择。

在一些实施例中，两个第一连接柱121可以固定在一起，并且与主体部11之间以不可拆卸的方式连接。在一些实施例中，两个第一连接柱121之间也可以分别固定在主体部11上，也就是说，两个第一连接柱121是彼此相对独立的两个部件，本申请对此不作限制，本领域技术人员可以根据实际需求进行选择。

第一弹性件122具体可以是由金属材料制成的弹簧，弹簧以及顶针123均设置于第一连接柱121的容纳腔内。顶针123可以由导电性能良好的金属材料制成，用于实现与待测试设备的电连接。如图2及图3所示，图3是图2中所示的顶针123一实施例的结构示意图，顶针123包括彼此连接的第一部分1231和第二部分1232，第一弹性件122套设于第一部分1231，并与第二部分1232的靠近第一部分1231的端面抵接。

具体地，第一部分1231和第二部分1232可以均呈圆柱状，且第二部分1232的外径大于第一部分1231的外径，使得第一部分1231和第二部分1232的连接处形成一台阶状结构，顶针123的第一部分1231插设于弹簧内，使得弹簧与第二部分1232的靠近第一部分1231的端面抵接。当然，在一些实施例中，第一部分1231和第二部分1232也可以均呈棱柱状，或者其中一个呈圆柱状，另一个呈棱柱状，本申请对此不作限制。

如图3所示，第二部分1232的靠近第一部分1231的端面上设置有环形槽1233，环形槽1233环绕第一部分1231设置，第一弹性件122与环形槽1233的内壁抵接。如此，使得第一弹性件122的端部限位于环形槽1233内，有利于实现第一弹性件122与顶针123之间可靠抵接，避免第一弹性件122移位。

第一紧固件124可以由金属材料制成，举例而言，第一紧固件124可以是螺帽，第一连接柱121的远离主体部11的一端可以设置有内螺纹，第一紧固件124与第一连接柱121的远离主体部11的一端通过螺纹结构可拆卸连接。如图4所示，图4是图2中所示的第一紧固件124一实施例的剖面结构示意图，第一紧固件124上可以设置有贯穿的连接孔1241，连接端12插接于插座时，插座上的极片插设于连接孔1241，并与顶针123连接。

在一些实施例中，连接孔1241包括一渐缩孔段，渐缩孔段自第一紧固件124的远离顶针123的一侧向顶针123所在的方向延伸，渐缩孔段在靠近顶针123的方向上渐缩，以在连接端12与待测试设备插接的过程中，引导待测试设备的极片经由连接孔1241与顶针123电连接。

如图5所示，图5是图2中所示的第一紧固件124另一实施例的剖面结构示意图，连接孔1241可以仅包括一个渐缩孔段，也就是说，在靠近顶针123的方向上，连接孔1241的直径逐渐缩小，使得连接孔1241整体上为一渐缩孔。在一些实施例中，连接孔1241可以包括彼此连接的渐缩孔段和均一孔段，其中，渐缩孔段自第一紧固件124的远离顶针123的一侧向顶针123所在的方向延伸，渐缩孔段在靠近顶针123的方向上渐缩，本申请对此不作限制，本领域技术人员可以根据实际需求进行选择。

在一些实施例中，第一紧固件124与第一连接柱121之间也可以通过卡扣结构可拆卸连接。在一些实施例中，第一紧固件124与第一连接柱121之间也可以是不可拆卸的。在一些实施例中，第一紧固件124与第一连接柱121之间甚至可以是一体成型的，比如，第一连接柱121可以是一个一端封闭，另一端开口的筒状结构，封闭端相当于设置有第一紧固件124，在装配时，弹簧及顶针123可以通过开口端装入第一连接柱121的容纳腔内，然后再将开口端与主体部11连接。

总的来说，本实施例通过设置第一弹性件122对顶针123形成弹性支撑，一方面能够给予顶针123一定的压力，有利于顶针123与待测试设备之间的可靠连接，另一方面，即使出现待测试设备的L极和N极高低不同的情况，由于第一弹性件122的弹性支撑作用，两个顶针123也均能够与待测试设备的插座上的极片可靠连接。

在一些实施例中，连接端12也可以不包括第一紧固件124，第二部分1232与第一连接柱121的远离主体部11的一端连接，并可相对于第一连接柱121滑动。

在一些实施例中，第一连接柱121也可以是实心的柱体，第一弹性件122套设于第一连接柱121，顶针123与第一连接柱121的远离主体部11的一端连接，并可相对于第一连接柱121滑动，第一弹性件122一端与主体部11抵接，另一端与顶针123抵接。

如图6所示，图6是图2中所示的导电主体10另一实施例的结构示意图，在一些实施例中，连接端12也可以不包括第一弹性件122，也就是说，每个连接端12仅包括第一连接柱121和顶针123，第一连接柱121一端与主体部11连接，顶针123设置于第一连接柱121远离主体部11的一端，第一连接柱121可以是实心的柱体。在这样的实施例中，导电主体10进一步包括第二连接柱13及套设于第二连接柱13的第二弹性件14，第二连接柱13自主体部11向远离两个连接端12的方向延伸，也就是说，导电主体10整体上呈Y型设置，第二弹性件14一端与主体部11抵接，另一端与壳体20抵接。其中，第二弹性件14具体可以是弹簧，也就是说，可以仅通过一个弹簧给予顶针123一定的压力，实现顶针123与待测试设备之间的可靠连接。

请一并参阅图1及图2，壳体20可以由绝缘材料制成。壳体20可以包裹主体部11以及两个连接端12靠近主体部11的一部分，使得连接端12远离主体的一部分裸露在壳体20之外，用于与待测试设备的插座插接。

短接测试装置100还可以进一步包括第二紧固件30以及设置于壳体20上的连接筒40，连接筒40的中轴线X垂直于两个连接端12的中轴线Y，第二紧固件30能够穿设于连接筒40，用于固定外部电极，并电连接外部电极与主体部11。

其中，连接筒40可以由绝缘材料制成，可以与壳体20一体成型设置，也可以与壳体20两件式装配在一起，本申请对此不作限制。第二紧固件30可以由金属材料制成，具体可以是一个螺钉，连接筒40的内表面设置有内螺纹，第二紧固件30与连接筒40可以通过螺纹连接，以固定外部电极。在一些实施例中，第二紧固件30与连接筒40之间也可以通过卡扣结构可拆卸连接，本申请对此不作限制，本领域技术人员可以根据实际需求进行选择。

本申请另一方面还提供了一种自动测试设备。该自动测试设备包括驱动装置以及以上所描述的任一短接测试装置100，驱动装置用于驱动短接测试装置100进行平移，从而自动对待测试设备进行短接测试。

举例而言，驱动装置可以是伸缩气缸，短接测试装置100的外壳上可以设置有固定孔，用于与伸缩气缸固定连接，外壳上还可以设置有定位标识(比如颜色标识或者文字标识)，以辅助安装。伸缩气缸驱动短接测试装置100与待测试设备的插座插接，从而自动对待测试设备进行短接测试。

在本说明书的上述描述中，除非另有明确的规定和限定，术语“固定”、“安装”、“相连”或“连接”等术语应该做广义的理解。例如，就术语“连接”来说，其可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，或者可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。因此，除非本说明书另有明确的限定，本领域技术人员可以根据具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。

根据本说明书的上述描述，本领域技术人员还可以理解如下使用的术语，例如“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”、“轴向”、“径向”、“周向”、“中心”、“纵向”、“横向”、“顺时针”或“逆时针”等指示方位或位置关系的术语是基于本说明书的附图所示的方位或位置关系的，其仅是为了便于阐述本申请的方案和简化描述的目的，而不是明示或暗示所涉及的装置或元件必须要具有特定的方位、以特定的方位来构造和进行操作，因此上述的方位或位置关系术语不能被理解或解释为对本申请方案的限制。

另外，本说明书中所使用的术语“第一”或“第二”等用于指代编号或序数的术语仅用于描述目的，而不能理解为明示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”或“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本说明书的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个或更多个等，除非另有明确具体的限定。

以上仅为本申请的实施方式，并非因此限制本申请的专利范围，凡是利用本申请说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本申请的专利保护范围内。

Claims (10)

1.一种短接测试装置，其特征在于，包括：

导电主体，包括主体部以及两个连接端，所述两个连接端并排设置，且分别与所述主体部连接，所述主体部用于与外部电极电连接，所述两个连接端用于与待测试设备的插座插接，以对所述待测试设备进行短接测试；以及

壳体，包裹所述导电主体的至少部分结构。

2.根据权利要求1所述的短接测试装置，其特征在于，

每一所述连接端包括第一连接柱、第一弹性件以及顶针，所述第一连接柱为空心柱状结构，一端与所述主体部连接，所述顶针设置于所述第一连接柱的远离所述主体部的一端，所述第一弹性件设置于所述第一连接柱内部，一端与所述主体部抵接，另一端与所述顶针抵接。

3.根据权利要求2所述的短接测试装置，其特征在于，

所述顶针包括彼此连接的第一部分和第二部分，所述第一弹性件套设于所述第一部分，并与所述第二部分的靠近所述第一部分的端面抵接。

4.根据权利要求3所述的短接测试装置，其特征在于，

所述连接端还包括第一紧固件，所述第一紧固件设置于所述第一连接柱的远离所述主体部的一端，用于将所述顶针和所述第一弹性件封堵于所述第一连接柱内部；

所述第一紧固件上设置有贯穿的连接孔，所述连接端插接于所述插座时，所述插座上的极片插设于所述连接孔，并与所述顶针连接。

5.根据权利要求4所述的短接测试装置，其特征在于，

所述连接孔包括一渐缩孔段，所述渐缩孔段自所述第一紧固件的远离所述顶针的一侧向所述顶针所在的方向延伸，所述渐缩孔段在靠近所述顶针的方向上渐缩。

6.根据权利要求3所述的短接测试装置，其特征在于，

所述第二部分与所述第一连接柱的远离所述主体部的一端连接，并可相对于所述第一连接柱滑动。

7.根据权利要求3所述的短接测试装置，其特征在于，

所述第二部分的靠近所述第一部分的端面上设置有环形槽，所述环形槽环绕所述第一部分设置，所述第一弹性件与所述环形槽的内壁抵接。

8.根据权利要求1所述的短接测试装置，其特征在于，

每一所述连接端包括第一连接柱、第一弹性件以及顶针，所述第一连接柱一端与所述主体部连接，所述顶针与所述第一连接柱的远离所述主体部的一端连接，并可相对于所述第一连接柱滑动，所述第一弹性件套设于所述第一连接柱，一端与所述主体部抵接，另一端与所述顶针抵接；或

所述导电主体进一步包括第二连接柱及套设于所述第二连接柱的第二弹性件，所述第二连接柱自所述主体部向远离所述两个连接端的方向延伸，所述第二弹性件一端与所述主体部抵接，另一端与所述壳体抵接。

9.根据权利要求1所述的短接测试装置，其特征在于，

所述短接测试装置进一步包括第二紧固件以及设置于所述壳体上的连接筒，所述连接筒的中轴线垂直于所述两个连接端的中轴线，所述第二紧固件能够穿设于所述连接筒，用于固定所述外部电极，并电连接所述外部电极与所述主体部。

10.一种自动测试设备，其特征在于，包括驱动装置以及权利要求1-9中任一项所述的短接测试装置，所述驱动装置用于驱动所述短接测试装置进行平移。

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