CN219245395U - 手机屏波浪纹双折射成像检测结构 - Google Patents
手机屏波浪纹双折射成像检测结构 Download PDFInfo
- Publication number
- CN219245395U CN219245395U CN202223265003.7U CN202223265003U CN219245395U CN 219245395 U CN219245395 U CN 219245395U CN 202223265003 U CN202223265003 U CN 202223265003U CN 219245395 U CN219245395 U CN 219245395U
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- light
- light source
- camera
- moire
- phone screen
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Abstract
本实用新型涉及一种手机屏波浪纹双折射成像检测结构，包括相机以及光源；所述的相机连接有镜头，所述的镜头下方设置有检偏器；所述的光源的发光面设置有起偏器；所述的光源的出光口的下方设置有光栅；所述的光源发出的光线经过起偏器成为偏正光后透过光栅照射在被测物上并反射，反射光线经过检偏器进入相机。本实用新型通过在光源内加装起偏器，在镜头前加装检偏器，在光源出光口加装物理光栅，不仅能有效成像出玻璃内部波浪纹/凹凸类缺陷；而且检测稳定，0漏检；配合两次定拍，整机CT可达到2.5s/Pcs；可以替代两条人工作业流水线，设备稳定，有效节约成本。
Description
技术领域
本实用新型涉及视觉检测技术领域，尤其是一种手机屏波浪纹双折射成像检测结构。
背景技术
现有技术中，手机显示屏的波浪纹缺陷大多是由人工目视检测，这种检测方式不仅人工成本高，而且人工资源不稳定，同时人工目检效率很低，人工目检需要转动很多角度才能看到缺陷，而人工目视检测存在疲惫、缺陷角度等因素从而容易造成缺陷漏检。
而随着机器视觉检测的发展，现有技术中有采用暗场成像的方式，即线扫相机+线扫条光；但是暗场成像缺陷对比度很低，容易造成轻微、中等缺陷的漏检和误检；也有采用线扫光栅同轴的方式，即线扫相机+线扫同轴+物理光栅；同样的，这种方式下只能检测严重的波浪纹缺陷，对中等和轻微的缺陷基本不可成像。
实用新型内容
本实用新型要解决的技术问题是：提供一种手机屏波浪纹双折射成像检测结构，解决玻璃产品内部波浪纹/凹凸类缺陷常规成像对比度低无法检测的问题。
本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是：一种手机屏波浪纹双折射成像检测结构，包括相机以及光源；所述的相机连接有镜头，所述的镜头下方设置有检偏器；所述的光源的发光面设置有起偏器；所述的光源的出光口的下方设置有光栅；所述的光源发出的光线经过起偏器成为偏正光后透过光栅照射在被测物上并反射，反射光线经过检偏器进入相机。
进一步的说，本实用新型所述的被测物上无波浪纹/凹凸类缺陷时，所述的反射光线无偏移量，反射光线与入射光线重合。
进一步的说，本实用新型所述的被测物上有波浪纹/凹凸类缺陷时，所述的反射光线与入射光线之间具有偏移量。
进一步的说，本实用新型所述的相机为面阵相机。
进一步的说，本实用新型所述的光源为同轴光源。
本实用新型的有益效果是，解决了背景技术中存在的缺陷，
通过对成像原理和几何光学和波动光学的分析，在光源内加装起偏器，在镜头前加装检偏器，在光源出光口加装物理光栅，不仅能有效成像出玻璃内部波浪纹/凹凸类缺陷；而且检测稳定，0漏检；配合两次定拍，整机CT可达到2.5s/Pcs；可以替代两条人工作业流水线，设备稳定，有效节约成本。
附图说明
图1是本实用新型成像结构示意图；
图2是本实用新型成像检测光路图；
图中：1、相机；2、光源；3、检偏器；4、起偏器；5、光栅；6、玻璃。
具体实施方式
现在结合附图和优选实施例对本实用新型作进一步详细的说明。这些附图均为简化的示意图，仅以示意方式说明本实用新型的基本结构，因此其仅显示与本实用新型有关的构成。
如图1-2所示的一种手机屏波浪纹双折射成像检测结构，包括相机1以及光源2；所述的相机1连接有镜头，相机为面阵相机，所述的镜头下方设置有检偏器3；所述的光源2为同轴光源，光源的发光面设置有起偏器4；所述的光源的出光口的下方设置有光栅5。
基于偏振光的应用原理：在偏光片正交时，偏光片可以滤除玻璃表面及其他干扰的非偏振光，从而成像出玻璃6内部的波浪纹、凹凸类缺陷特征。因此，偏振光经过光栅照射在玻璃上，无缺陷的位置光栅映射在玻璃上的像是均匀有规律、等间隔的黑白交替的条纹，而有缺陷的位置光栅的黑白条纹会发生弯折、变形。
光路原理如图2所示，图2中实线表示无缺陷位置的光路路线，虚线表示有缺陷位置的光路路线；
当无波浪纹/凹凸类缺陷时，光源发出的光线①经过起偏器成为偏正光后透过光栅照射在玻璃上进行折射，光线①折射后照射在玻璃底面进行反射，透过半透半反镜和检偏器进入相机；光线①的光路顺序为1-1、1-2、1-3、1-4、1-5。
而当有波浪纹/凹凸类缺陷时，光源发出的光线②经过起偏器成为偏振光，透过光栅照射在玻璃上，光线②遇到玻璃底部波浪纹/凹凸类缺陷进行反射，光线反射路线发生偏移，光线透过半透半反镜进入相机；光线②的光路顺序为2-1、2-2、2-3、2-4、2-5。
以上说明书中描述的只是本实用新型的具体实施方式，各种举例说明不对本实用新型的实质内容构成限制，所属技术领域的普通技术人员在阅读了说明书后可以对以前所述的具体实施方式做修改或变形，而不背离实用新型的实质和范围。
Claims (5)
1.一种手机屏波浪纹双折射成像检测结构，其特征在于：包括相机以及光源；所述的相机连接有镜头，所述的镜头下方设置有检偏器；所述的光源的发光面设置有起偏器；所述的光源的出光口的下方设置有光栅；所述的光源发出的光线经过起偏器成为偏正光后透过光栅照射在被测物上并反射，反射光线经过检偏器进入相机。
2.如权利要求1所述的手机屏波浪纹双折射成像检测结构，其特征在于：所述的被测物上无波浪纹/凹凸类缺陷时，所述的反射光线无偏移量，反射光线与入射光线重合。
3.如权利要求1所述的手机屏波浪纹双折射成像检测结构，其特征在于：所述的被测物上有波浪纹/凹凸类缺陷时，所述的反射光线与入射光线之间具有偏移量。
4.如权利要求1所述的手机屏波浪纹双折射成像检测结构，其特征在于：所述的相机为面阵相机。
5.如权利要求1所述的手机屏波浪纹双折射成像检测结构，其特征在于：所述的光源为同轴光源。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202223265003.7U CN219245395U (zh) | 2022-12-06 | 2022-12-06 | 手机屏波浪纹双折射成像检测结构 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202223265003.7U CN219245395U (zh) | 2022-12-06 | 2022-12-06 | 手机屏波浪纹双折射成像检测结构 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN219245395U true CN219245395U (zh) | 2023-06-23 |
Family
ID=86840177
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202223265003.7U Active CN219245395U (zh) | 2022-12-06 | 2022-12-06 | 手机屏波浪纹双折射成像检测结构 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN219245395U (zh) |
-
2022
- 2022-12-06 CN CN202223265003.7U patent/CN219245395U/zh active Active
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN201795992U (zh) | 用于检查具有第一表面和第二表面的透明玻璃板的装置 | |
| KR101150755B1 (ko) | 영상촬영장치 | |
| CN102147234B (zh) | 激光三角测距传感器 | |
| US20110317156A1 (en) | Inspection device for defect inspection | |
| US20110194101A1 (en) | Supersensitization of defect inspection method | |
| US6075591A (en) | Optical method and apparatus for detecting low frequency defects | |
| CN110044931B (zh) | 一种曲面玻璃表面和内部缺陷的检测装置 | |
| CN107764834A (zh) | 一种自动检测透明零件表面缺陷的装置及其检测方法 | |
| CN106405826A (zh) | 一种双光路成像的振镜扫描系统及扫描方法 | |
| KR101446061B1 (ko) | 투명 기판의 표면 패턴 불량 측정 장치 | |
| CN107942471A (zh) | 镜头、机器视觉镜头装置及机器视觉测量系统 | |
| CN219245395U (zh) | 手机屏波浪纹双折射成像检测结构 | |
| KR101006983B1 (ko) | 패널 검사장치 | |
| CN207662807U (zh) | 一种自动检测透明零件表面缺陷的装置 | |
| CN110044932B (zh) | 一种曲面玻璃表面和内部缺陷的检测方法 | |
| JP3406795B2 (ja) | 光学部材検査装置 | |
| KR101555542B1 (ko) | 평판패널 검사장치 | |
| JP2012042254A (ja) | レンズ欠陥の検査方法 | |
| KR101517097B1 (ko) | 평판패널 검사장치 | |
| CN111316090A (zh) | 透明或半透明材料微观缺陷检测系统及方法 | |
| CN219016120U (zh) | 一种检测装置 | |
| CN218995177U (zh) | 一种多面成像的视觉检测装置 | |
| RU69634U1 (ru) | Прибор для обнаружения и классификации дефектов оптических объектов (варианты) | |
| KR102517637B1 (ko) | 렌즈 품질 검사용 편광 분석 장치 및 그 방법, 이를 이용한 편광 분석 시스템 | |
| CN212567282U (zh) | 一种检测装置及检测设备 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| GR01 | Patent grant | ||
| GR01 | Patent grant |