CN219016405U - 双头单动测试探针 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及双头单动测试探针，测试探针技术领域，解决了目前测试探针导电性能不佳的技术问题。该双头单动测试探针包括针管，针管内设空腔，针管的一端开设有与空腔相连通的开口；针尾，安装在针管远离开口的一端；冠环，安装在空腔内，冠环位于空腔远离开口的一端，冠环与针管同轴安装，冠环中部的直径小于冠环两端的直径；弹簧，安装在空腔内，并位于冠环上方，弹簧与针管同轴安装；针头，一端安装穿过弹簧与冠环靠近开口的一端抵接，另一端伸出于针管，针头的上部抵接于弹簧靠近开口的一端。因此，该双头单动测试探针在使用的导线性能更佳，使用效果更好。

Description

双头单动测试探针

技术领域

本实用新型属于测试探针技术领域，特别涉及双头单动测试探针。

背景技术

随着科技的不断发展，社会的进步，市场上芯片也越来越精密，用于连接各种芯片与主板之间的测试连接器也朝着更好的性能，更科学的工艺在进步。传统的探针主要是通过针头上的滚珠进行导电，滚珠与针管的内壁接触面积小，从而容易导致针头的针尾之间的导电性降低。

实用新型内容

本实用新型提供双头单动测试探针，用于解决目前测试探针导电性能不佳的技术问题。

本实用新型通过下述技术方案实现：双头单动测试探针，包括：

针管，所述针管内设空腔，所述针管的一端开设有与所述空腔相连通的开口；

针尾，安装在所述针管远离所述开口的一端；

冠环，安装在所述空腔内，所述冠环位于所述空腔远离所述开口的一端，所述冠环与所述针管同轴安装，所述冠环中部的直径小于所述冠环两端的直径；

弹簧，安装在所述空腔内，并位于所述冠环上方，所述弹簧与所述针管同轴安装；

针头，一端安装穿过所述弹簧与所述冠环靠近开口的一端抵接，另一端伸出于所述针管，所述针头的上部抵接于所述弹簧靠近所述开口的一端。

可选地，所述冠环包括：

两个挡圈，同轴设置，两个所述挡圈的外壁抵接于所述空腔的腔壁；

多个弹性片，两端分别安装两个挡圈上，多个所述弹性片沿所述挡圈的周向均匀分布。

可选地，所述弹性片包括：

两个第一片体，一端分别安装在两个所述挡圈上，另一端向所述针管的轴心倾斜设置，两个所述第一片体均位于两个所述挡圈之间，所述针头未下压时，所述针头伸入至所述针管内的一端抵接于所述第一片体；

第二片体，两端分别安装在两个所述第一片体的另一端，所述第二片体与所述针管的轴向平行，针头下压时，针头伸入至所述针管内的一端的周向外壁抵接于所述第二片体。

可选地，所述挡圈的一侧开设有切口。

可选地，还包括：

放置台，安装在所述空腔的腔壁上，所述放置台呈环形，所述弹簧远离所述开口的一端抵接于所述放置台，所述针头伸入至所述空腔的一端穿过所述放置台的中部伸入至所述冠环内。

可选地，还包括：

限位台阶，安装在所述针管设有开口的一端，所述限位台阶的直径从靠近所述针管设有开口的一端向另一端逐渐减小；

限位块，套设在所述针头的上部，所述限位块的直径大于所述针头的直径，所述限位块远离所述开口的一端抵接于所述弹簧，针头未下压时，所述限位块靠近所述开口的一端抵接于所述限位台阶。

可选地，所述针头的两端、所述针尾远离所述针管的一端呈锥形。

本实用新型相较于现有技术具有以下有益效果：

本实用新型提供的双头单动测试探针包括针管、针尾、冠环以及针头，针管内设有空腔，针管的一端开设有与空腔相连通的开口，针尾安装在针管远离开口的一端，冠环安装在空腔内，冠环位于空腔远离开口的一端，冠环与针管同轴安装冠环中部的直径小于冠环两端的直径，针头未下压时，针头抵接于冠环靠近开口的一端，针头下压时，针头伸入至冠环中部，弹簧安装在空腔内，弹簧位于冠环上方，弹簧于针管同轴安装，针头的一端穿过弹簧于冠环靠近开口的一端抵接，另一端伸出于针管，针头的上部抵接在弹簧靠近开口的一端。

通过上述结构，本实用新型提供的双头单动测试探针在使用时，冠环安装在空腔远离开口的一端，针头未下压时，针头伸入至空腔的一端抵接在冠环靠近开口的一端，冠环中部的直径小于冠环两端的直径，针头下压时，针头伸入至冠环内，针头夹紧在冠环中，针头的外侧面与冠环的内侧面相抵接，使得针头与冠环的的接触面积更大，电流在针头和针尾间流动时导电性能更好。因此，该双头单动测试探针在使用的导线性能更佳，使用效果更好。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本实用新型提供的单动双头探针未下压时的结构示意图；

图2是本实用新型提供的单动双头探针下压时的结构示意图；

图3是本实用新型实施例中针头的结构示意图；

图4是本实用新型实施例中针管的结构示意图；

图5是本实用新型实施例中冠环的结构示意图；

图6是图2中A区域的放大结构示意图。

图中：

1-针管；11-空腔；2-针尾；3-冠环；31-挡圈；32-弹性片；321-第一片体；322-第二片体；33-切口；4-弹簧；5-针头；6-放置台；7-限位台阶；8-限位块。

具体实施方式

为使本实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将对本实用新型的技术方案进行详细的描述。显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所得到的所有其它实施方式，都属于本实用新型所保护的范围。

实施例

本实用新型提供双头单动测试探针，用于解决目前测试探针导电性能不佳的技术问题。该双头单动测试探针包括针管1、针尾2、冠环3以及针头5，其中：

针管1呈柱体状，针管1内设空腔11，空腔11沿针管1的轴向开设，针管1的一端开设有开口，开口与空腔11相连通。

针尾2一体成型在针管1远离开口的一端，这样减少了针尾2的组装，降低了生产和组装的成本。

冠环3安装在空腔11远离开口的一端，冠环3与空腔11同轴安装，冠环3的下端与空腔11的底壁接触，冠环3的侧壁与空腔11的腔壁抵接，这样不仅能够使冠环3固定更加稳定，同时能够增大冠环3与针管1内壁的接触面积，冠环3中部的直径小于冠环3两端的直径。

弹簧4安装在空腔11内，弹簧4位于冠环3的上方，弹簧4与针管1同轴安装。

针头5的一端穿过弹簧4的中部抵接在冠环3靠近开口的一端，针头5的另一端伸出于针管1，针头5的上部抵接在弹簧4靠近开口的一端，针头5未下压时，针头5抵接于冠环3靠近开口的一端，针头5下压时，针头5压缩弹簧4伸入至冠环3中部，弹簧4给予针头5反方向的力，使针头5和针尾2抵接在两个接触点之间。

通过上述结构，本实用新型提供的双头单动测试探针在使用时，冠环3安装在空腔11远离开口的一端，针头5未下压时，针头5伸入至空腔11的一端抵接在冠环3靠近开口的一端，冠环3中部的直径小于冠环3两端的直径，针头5下压时，针头5伸入至冠环3内，针头5夹紧在冠环3中，针头5的外侧面与冠环3的内侧面相抵接，使得针头5与冠环3的的接触面积更大，电流在针头5和针尾2间流动时导电性能更好。因此，该双头单动测试探针在使用的导线性能更佳，使用效果更好。

本实施例的一种可选实施方式如下：冠环3包括挡圈31和弹性片32，其中：

挡圈31共设有两个，两个挡圈31同轴设置，两个挡圈31的外壁抵接在针管1的内壁上，远离针管1的开口的挡圈31抵接在空腔11的腔底。

弹性片32共设有多个，弹性片32的两端分别固定安装在两个挡圈31上，多个弹性片32平行设置，并且多个弹性片32沿挡圈31的周向均匀分布，弹性片32将针头5夹紧在多个弹性片32之间以增加针头5与冠环3的接触面积，从而获得更加良好的导电性。

本实施例的一种可选实施方式如下：上述弹性片32包括第一片体321和第二片体322，其中：

第一片体321共设有两个，两个第一片体321的一端分别固定安装在两个挡圈31上，另一端向针管1的轴心倾斜设置，两个第一片体321均位于两个挡圈31之间，针头5未下压时，针头5深入至针管1内的一端的抵接在第一片体321上，每个弹性片32的第一片体321均与针头5抵接。

第二片体322的两端分别安装在两个第一片体321的另一端，第二片体322与针管1的轴向平行，针头5下压时，针头5伸入至针管1内的一端的周向外壁抵接在第二片体322上，这样，针头5与多个弹性片32的第二片体322相抵接的面积更大，导电性能更加优异，更优地，第二片体322与针头5相抵接的面为与针头5相适配的弧面，使针头5与第二片体322由线接触变为面接触，以提高针头5与第二片体322的接触面积，从而提高导电性。

本实施例的一种可选实施方式如下：挡圈31的一侧开设有切口33，这样以便于将冠环3放置在针管1内，这样使得挡圈31具有收缩性，使用更加方便。

本实施例的一种可选实施方式如下：还包括放置台6，放置台6安装在空腔11的腔壁上，放置台6呈环形，冠环3位于放置台6的下方，弹簧4远离开口的一端抵接在放置台6上，针头5伸入至空腔11的一端穿过放置台6的众怒伸入至冠环3内与冠环3抵接，放置台6用于使弹簧4的两端分别作用在针头5和放置台6上，减少弹簧4对冠环3损坏的可能性。

本实施例的一种可选实施方式如下：还包括限位台阶7和限位块8，限位台阶7安装在针管1设有开口的一端，限位台阶7的直径从针管1设有开口的一端逐渐向另一端逐渐减小。

限位块8一体成型在针头5上，限位块8位于针头5的上部，限位块8的直径大于针头5的直径，限位块8与空腔11内壁相抵接，限位块8远离开口的一端抵接在弹簧4上，针头5未下压时，限位块8靠近开口的一端抵接在限位台阶7上，限位台阶7用于防止针头5滑出针管1外。

本实施例的一种可选实施方式如下：针头5的两端和针尾2远离针管1的一端均呈锥形，这样以便于针头5和同时，针头5伸入至冠环3的一端在针头5未下压时，针头5与第一片体321的接触面积更大，针头5下压时，锥形面能够对针头5导向，使针头5更加便捷伸入至第二片体322内。

综上所述，该双头单动测试探针在使用时，冠环3安装在空腔11远离开口的一端，针头5未下压时，针头5未下压时，针头5深入至针管1内的一端的抵接在第一片体321上，每个弹性片32的第一片体321均与针头5抵接，冠环3中部的直径小于冠环3两端的直径，针头5下压时，针头5下压时，弹簧4压缩，弹簧4给予针头5反方向的力，使针头5和针尾2抵接在两个接触点之间，针头5伸入至针管1内的一端的周向外壁抵接在第二片体322上，针头5夹紧在多个第二片体322之间，使得针头5与冠环3的的接触面积更大，电流在针头5和针尾2间流动时导电性能更好，限位台阶7阻挡限位块8移动出针管1外，从而防止针头5滑出针管1外。因此，该双头单动测试探针在使用的导线性能更佳，使用效果更好。

以上所述，仅为本实用新型的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型记载的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。因此，本实用新型的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。

Claims (7)

1.双头单动测试探针，其特征在于，包括：

针管，所述针管内设空腔，所述针管的一端开设有与所述空腔相连通的开口；

针尾，安装在所述针管远离所述开口的一端；

冠环，安装在所述空腔内，所述冠环位于所述空腔远离所述开口的一端，所述冠环与所述针管同轴安装，所述冠环中部的直径小于所述冠环两端的直径；

弹簧，安装在所述空腔内，并位于所述冠环上方，所述弹簧与所述针管同轴安装；

针头，一端安装穿过所述弹簧与所述冠环靠近开口的一端抵接，另一端伸出于所述针管，所述针头的上部抵接于所述弹簧靠近所述开口的一端。

2.根据权利要求1所述的双头单动测试探针，其特征在于，所述冠环包括：

两个挡圈，同轴设置，两个所述挡圈的外壁抵接于所述空腔的腔壁；

多个弹性片，两端分别安装两个挡圈上，多个所述弹性片沿所述挡圈的周向均匀分布。

3.根据权利要求2所述的双头单动测试探针，其特征在于，所述弹性片包括：

两个第一片体，一端分别安装在两个所述挡圈上，另一端向所述针管的轴心倾斜设置，两个所述第一片体均位于两个所述挡圈之间，所述针头未下压时，所述针头伸入至所述针管内的一端抵接于所述第一片体；

第二片体，两端分别安装在两个所述第一片体的另一端，所述第二片体与所述针管的轴向平行，针头下压时，针头伸入至所述针管内的一端的周向外壁抵接于所述第二片体。

4.根据权利要求2所述的双头单动测试探针，其特征在于，所述挡圈的一侧开设有切口。

5.根据权利要求1所述的双头单动测试探针，其特征在于，还包括：

放置台，安装在所述空腔的腔壁上，所述放置台呈环形，所述弹簧远离所述开口的一端抵接于所述放置台，所述针头伸入至所述空腔的一端穿过所述放置台的中部伸入至所述冠环内。

6.根据权利要求1所述的双头单动测试探针，其特征在于，还包括：

限位台阶，安装在所述针管设有开口的一端，所述限位台阶的直径从靠近所述针管设有开口的一端向另一端逐渐减小；

限位块，套设在所述针头的上部，所述限位块的直径大于所述针头的直径，所述限位块远离所述开口的一端抵接于所述弹簧，针头未下压时，所述限位块靠近所述开口的一端抵接于所述限位台阶。

7.根据权利要求1所述的双头单动测试探针，其特征在于，所述针头的两端、所述针尾远离所述针管的一端呈锥形。

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