CN218886069U - 一种具有屏蔽结构的集成电路板探针测试设备 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种具有屏蔽结构的集成电路板探针测试设备,涉及集成电路板探针测试设备技术领域,包括底板、集成电路板探针检测单元和集成电路板表面清理单元;底板为矩形;集成电路板探针检测单元包含电磁屏蔽箱、滑柱一、电动伸缩杆、绝缘支撑板、检测探针、放置槽、电路板支撑板、滑动块、螺杆一、固定块一、螺杆二、矩形密封板、支撑耳、活动块、转轴一、连接板一、滑柱二、固定块二、螺纹孔、螺杆三和电机一。在对集成电路板进行测试之前,可以方便的对集成电路板表面的灰尘等杂质进行清理,避免对测试的准确性产生影响,还可以方便的在测试时对集成电路板进行屏蔽,避免外界的电磁对集成电路板的测试造成干扰。
Description
技术领域
本实用新型涉及集成电路板探针测试设备技术领域,具体为一种具有屏蔽结构的集成电路板探针测试设备。
背景技术
随着各个地区经济的飞速发展和科技的进步,在集成电路产业链中,集成电路测试是惟一一个贯穿集成电路生产和应用全过程的产业,在集成电路板生产中,需要探针测试设备对其进行检测,如果集成电路设计没有通过原型的验证测试,就不可能投入量产。
现有的技术在对集成电路板进行测试之前,不便于对集成电路板表面的灰尘等杂质进行清理,从而容易对测试的准确性产生影响,还不便于在测试时对集成电路板进行屏蔽,容易使得外界的电磁对集成电路板的测试造成干扰,为此,我们提出一种具有屏蔽结构的集成电路板探针测试设备。
实用新型内容
本实用新型要解决的技术问题是克服现有的缺陷,提供一种具有屏蔽结构的集成电路板探针测试设备,在对集成电路板进行测试之前,可以方便的对集成电路板表面的灰尘等杂质进行清理,避免对测试的准确性产生影响,还可以方便的在测试时对集成电路板进行屏蔽,避免外界的电磁对集成电路板的测试造成干扰,可以有效解决背景技术中的问题。
为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:一种具有屏蔽结构的集成电路板探针测试设备,包括底板、集成电路板探针检测单元和集成电路板表面清理单元;
底板:为矩形;
集成电路板探针检测单元:包含电磁屏蔽箱、滑柱一、电动伸缩杆、绝缘支撑板、检测探针、放置槽、电路板支撑板、滑动块、螺杆一、固定块一、螺杆二、矩形密封板、支撑耳、活动块、转轴一、连接板一、滑柱二、固定块二、螺纹孔、螺杆三和电机一,所述底板的一端上表面与电磁屏蔽箱的下端固定连接,所述电磁屏蔽箱的上表面一端的中部与两个对应配合的支撑耳的下端固定连接,两个支撑耳的侧面中部通过转轴一与活动块的下端侧面活动连接,所述活动块的上端侧面与矩形密封板的一端侧面中部固定连接,所述矩形密封板的一侧中部与固定块一的侧面固定连接,所述固定块一的上表面中部与螺杆二的中部侧面螺纹连接,所述电磁屏蔽箱的一端侧面中部与固定块二的侧面固定连接,所述固定块二的侧面中部开设有与螺杆二对应配合的螺纹孔,所述电磁屏蔽箱的内部侧面上端的两端分别与两个对应配合的滑柱一的两端侧面固定连接,两个滑柱一的中部侧面与滑动块的侧面两端滑动连接,所述电磁屏蔽箱的内部侧面上端的中部与螺杆一的两端侧面转动连接,所述螺杆一的中部侧面与滑动块的侧面中部螺纹连接,所述滑动块的下表面中部与电动伸缩杆的上端固定连接,所述电动伸缩杆的下端与绝缘支撑板的上表面中部固定连接,所述绝缘支撑板的下表面中部与检测探针的上端固定连接,所述电磁屏蔽箱的一侧下端的两端分别与两个对应配合的滑柱二的中部侧面滑动连接,两个滑柱二的一端侧面与电路板支撑板的侧面两端固定连接,所述电路板支撑板的上表面中部开设有放置槽,两个滑柱二的另一端侧面分别与连接板一的侧面两端固定连接,所述电磁屏蔽箱的一侧下端的中部与电机一的侧面固定连接,所述电机一的输出轴与螺杆三的一端侧面固定连接,所述螺杆三的中部侧面与连接板一的侧面中部固定连接,所述电动伸缩杆与电机一的输入端均与外部控制开关组的输出端电连接;
集成电路板表面清理单元:安装在底板的另一端上表面中部。
底板起到支撑固定的作用,将集成电路板放置在电路板支撑板上的放置槽中,打开控制电机一的外部控制开关组,电机一工作,电机一的输出轴带动螺杆三转动,螺杆三带动连接板一移动,连接板一带动滑柱二移动,滑柱二带动电路板支撑板移动,电路板支撑板带动集成电路板移动,从而使得集成电路板从外部进入到电磁屏蔽箱内部,转动矩形密封板,带动活动块绕着转轴一转动,当矩形密封板转动到一定程度后,矩形密封板的与电磁屏蔽箱接触,从而使得固定块一与固定块二接触,转动螺杆二,使得螺杆二移动,并使得螺杆二进入到螺纹孔中,从而使得电磁屏蔽箱被密封,从而对电磁干扰进行屏蔽,转动螺杆一,带动滑动块沿着滑柱一滑动,滑动块带动电动伸缩杆移动,电动伸缩杆带动绝缘支撑板移动,绝缘支撑板带动检测探针移动,检测探针的与外部的检测主机连接,打开控制电动伸缩杆的外部控制开关组,电动伸缩杆进行伸长,带动绝缘支撑板向下移动,绝缘支撑板带动检测探针向下移动,使得检测探针与集成电路板接触,从而使得外部的检测主机通过检测探针对集成电路板进行检测,支撑耳用于支撑转轴一,集成电路板表面清理单元使得可以方便快速的将集成电路板表面的灰尘等杂质进行清理,避免灰尘和杂质影响检测的准确性。
进一步的,所述集成电路板探针检测单元还包含转盘,所述螺杆一的一端侧面与转盘的侧面中心位置固定连接。转动转盘带动螺杆一转动,转盘增大了螺杆一的转动半径,使得转动时更加轻松。
进一步的,所述集成电路板探针检测单元还包含防滑槽,所述转盘的一周侧面等角度均匀开设有五个防滑槽。防滑槽可以防止转动转盘时手滑。
进一步的,所述集成电路板探针检测单元还包含透明观察板和矩形通槽,所述电磁屏蔽箱的上表面中部开设有矩形通槽,所述矩形通槽的侧面中部与透明观察板的一周侧面固定连接。透明观察板使得人们可以从外部观察到电磁屏蔽箱内部的情况,矩形通槽用于方便设置透明观察板。
进一步的,所述集成电路板表面清理单元包含竖直支撑板一、横向支撑板、竖直支撑板二、活动支撑板、清理辊、电机支撑板、电机二、滑柱三、连接板二和支撑架,所述底板的另一端上表面中部与竖直支撑板一的下端固定连接,所述竖直支撑板一的上端与横向支撑板的下端中部固定连接,所述横向支撑板的侧面两端分别与两个对应配合的滑柱三的中部侧面滑动连接,两个滑柱三的一端侧面与连接板二的侧面两端固定连接,两个滑柱三的另一端侧面与活动支撑板的侧面两端固定连接,所述活动支撑板的下表面中部与竖直支撑板二的上端固定连接,所述竖直支撑板二的下端与支撑架的上表面中部固定连接,所述支撑架的下端侧面通过转轴二与清理辊的侧面中心位置活动连接,所述支撑架的一端侧面与电机支撑板的一端侧面固定连接,所述电机支撑板的下表面中部与电机二的上端固定连接,所述电机二的输出轴与转轴二的一端侧面固定连接,所述电机二的输出轴与外部控制开关组的输出端电连接。当集成电路板在外部时,打开控制电机二的外部控制开关组,电机二工作,电机二的输出轴带动转轴二转动,电机二带动清理辊转动,使得清理辊对集成电路板表面进行清理,推动连接板二,带动滑柱三沿着横向支撑板滑动,滑柱三带动活动支撑板移动,活动支撑板带动竖直支撑板二移动,竖直支撑板二带动支撑架移动,支撑架带动转轴二移动,转轴二带动清理辊移动,从而使得清理辊对集成电路板的不同位置进行清理,竖直支撑板一用于支撑横向支撑板,电机支撑板用于支撑电机二。
进一步的,所述集成电路板表面清理单元还包含支撑杆和握持球,所述连接板二的侧面中部与支撑杆的一端侧面固定连接,所述支撑杆的另一端侧面与握持球的中部侧面固定连接。握住握持球推动带动支撑杆移动,支撑杆带动连接板二移动,支撑杆和握持球使得可以更加方便的推动连接板二。
与现有技术相比,本实用新型的有益效果是:本具有屏蔽结构的集成电路板探针测试设备,具有以下好处:
1、本具有屏蔽结构的集成电路板探针测试设备设置的集成电路板探针检测单元使得可以方便的对集成电路板进行探针检测,还可以在检测时对集成电路板进行屏蔽。
2、本具有屏蔽结构的集成电路板探针测试设备设置的集成电路板表面清理单元使得可以方便快速的将集成电路板表面的灰尘等杂质进行清理,避免灰尘和杂质影响检测的准确性。
3、本具有屏蔽结构的集成电路板探针测试设备在对集成电路板进行测试之前,可以方便的对集成电路板表面的灰尘等杂质进行清理,避免对测试的准确性产生影响,还可以方便的在测试时对集成电路板进行屏蔽,避免外界的电磁对集成电路板的测试造成干扰。
附图说明
图1为本实用新型结构示意图。
图2为本实用新型右侧结构示意图。
图3为本实用新型后侧结构示意图。
图中:1底板、2集成电路板探针检测单元、21电磁屏蔽箱、22滑柱一、23电动伸缩杆、24绝缘支撑板、25检测探针、26放置槽、27电路板支撑板、28滑动块、29螺杆一、210固定块一、211螺杆二、212矩形密封板、213支撑耳、214活动块、215转轴一、216透明观察板、217矩形通槽、218防滑槽、219转盘、220连接板一、221滑柱二、222固定块二、223螺纹孔、224螺杆三、225电机一、3集成电路板表面清理单元、31竖直支撑板一、32横向支撑板、33竖直支撑板二、34活动支撑板、35清理辊、36电机支撑板、37电机二、38滑柱三、39连接板二、310支撑架、311支撑杆、312握持球。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
请参阅图1-3,本实施例提供一种技术方案:一种具有屏蔽结构的集成电路板探针测试设备,包括底板1、集成电路板探针检测单元2和集成电路板表面清理单元3;
底板1:为矩形;
集成电路板探针检测单元2:包含电磁屏蔽箱21、滑柱一22、电动伸缩杆23、绝缘支撑板24、检测探针25、放置槽26、电路板支撑板27、滑动块28、螺杆一29、固定块一210、螺杆二211、矩形密封板212、支撑耳213、活动块214、转轴一215、连接板一220、滑柱二221、固定块二222、螺纹孔223、螺杆三224和电机一225,底板1的一端上表面与电磁屏蔽箱21的下端固定连接,电磁屏蔽箱21的上表面一端的中部与两个对应配合的支撑耳213的下端固定连接,两个支撑耳213的侧面中部通过转轴一215与活动块214的下端侧面活动连接,活动块214的上端侧面与矩形密封板212的一端侧面中部固定连接,矩形密封板212的一侧中部与固定块一210的侧面固定连接,固定块一210的上表面中部与螺杆二211的中部侧面螺纹连接,电磁屏蔽箱21的一端侧面中部与固定块二222的侧面固定连接,固定块二222的侧面中部开设有与螺杆二211对应配合的螺纹孔223,电磁屏蔽箱21的内部侧面上端的两端分别与两个对应配合的滑柱一22的两端侧面固定连接,两个滑柱一22的中部侧面与滑动块28的侧面两端滑动连接,电磁屏蔽箱21的内部侧面上端的中部与螺杆一29的两端侧面转动连接,螺杆一29的中部侧面与滑动块28的侧面中部螺纹连接,滑动块28的下表面中部与电动伸缩杆23的上端固定连接,电动伸缩杆23的下端与绝缘支撑板24的上表面中部固定连接,绝缘支撑板24的下表面中部与检测探针25的上端固定连接,电磁屏蔽箱21的一侧下端的两端分别与两个对应配合的滑柱二221的中部侧面滑动连接,两个滑柱二221的一端侧面与电路板支撑板27的侧面两端固定连接,电路板支撑板27的上表面中部开设有放置槽26,两个滑柱二221的另一端侧面分别与连接板一220的侧面两端固定连接,电磁屏蔽箱21的一侧下端的中部与电机一225的侧面固定连接,电机一225的输出轴与螺杆三224的一端侧面固定连接,螺杆三224的中部侧面与连接板一220的侧面中部固定连接,电动伸缩杆23与电机一225的输入端均与外部控制开关组的输出端电连接;
集成电路板探针检测单元2还包含转盘219,螺杆一29的一端侧面与转盘219的侧面中心位置固定连接。转动转盘219带动螺杆一29转动,转盘219增大了螺杆一29的转动半径,使得转动时更加轻松。
集成电路板探针检测单元2还包含防滑槽218,转盘219的一周侧面等角度均匀开设有五个防滑槽218。防滑槽218可以防止转动转盘219时手滑。
集成电路板探针检测单元2还包含透明观察板216和矩形通槽217,电磁屏蔽箱21的上表面中部开设有矩形通槽217,矩形通槽217的侧面中部与透明观察板216的一周侧面固定连接。透明观察板216使得人们可以从外部观察到电磁屏蔽箱21内部的情况,矩形通槽217用于方便设置透明观察板216。
集成电路板表面清理单元3:安装在底板1的另一端上表面中部。
集成电路板表面清理单元3包含竖直支撑板一31、横向支撑板32、竖直支撑板二33、活动支撑板34、清理辊35、电机支撑板36、电机二37、滑柱三38、连接板二39和支撑架310,底板1的另一端上表面中部与竖直支撑板一31的下端固定连接,竖直支撑板一31的上端与横向支撑板32的下端中部固定连接,横向支撑板32的侧面两端分别与两个对应配合的滑柱三38的中部侧面滑动连接,两个滑柱三38的一端侧面与连接板二39的侧面两端固定连接,两个滑柱三38的另一端侧面与活动支撑板34的侧面两端固定连接,活动支撑板34的下表面中部与竖直支撑板二33的上端固定连接,竖直支撑板二33的下端与支撑架310的上表面中部固定连接,支撑架310的下端侧面通过转轴二与清理辊35的侧面中心位置活动连接,支撑架310的一端侧面与电机支撑板36的一端侧面固定连接,电机支撑板36的下表面中部与电机二37的上端固定连接,电机二37的输出轴与转轴二的一端侧面固定连接,电机二37的输出轴与外部控制开关组的输出端电连接。当集成电路板在外部时,打开控制电机二37的外部控制开关组,电机二37工作,电机二37的输出轴带动转轴二转动,电机二37带动清理辊35转动,使得清理辊35对集成电路板表面进行清理,推动连接板二39,带动滑柱三38沿着横向支撑板32滑动,滑柱三38带动活动支撑板34移动,活动支撑板34带动竖直支撑板二33移动,竖直支撑板二33带动支撑架310移动,支撑架310带动转轴二移动,转轴二带动清理辊35移动,从而使得清理辊35对集成电路板的不同位置进行清理,竖直支撑板一31用于支撑横向支撑板32,电机支撑板36用于支撑电机二37。
集成电路板表面清理单元3还包含支撑杆311和握持球312,连接板二39的侧面中部与支撑杆311的一端侧面固定连接,支撑杆311的另一端侧面与握持球312的中部侧面固定连接。握住握持球312推动带动支撑杆311移动,支撑杆311带动连接板二39移动,支撑杆311和握持球312使得可以更加方便的推动连接板二39。
底板1起到支撑固定的作用,将集成电路板放置在电路板支撑板27上的放置槽26中,打开控制电机一225的外部控制开关组,电机一225工作,电机一225的输出轴带动螺杆三224转动,螺杆三224带动连接板一220移动,连接板一220带动滑柱二221移动,滑柱二221带动电路板支撑板27移动,电路板支撑板27带动集成电路板移动,从而使得集成电路板从外部进入到电磁屏蔽箱21内部,转动矩形密封板212,带动活动块214绕着转轴一215转动,当矩形密封板212转动到一定程度后,矩形密封板212的与电磁屏蔽箱21接触,从而使得固定块一210与固定块二222接触,转动螺杆二211,使得螺杆二211移动,并使得螺杆二211进入到螺纹孔223中,从而使得电磁屏蔽箱21被密封,从而对电磁干扰进行屏蔽,转动螺杆一29,带动滑动块28沿着滑柱一22滑动,滑动块28带动电动伸缩杆23移动,电动伸缩杆23带动绝缘支撑板24移动,绝缘支撑板24带动检测探针25移动,检测探针25的与外部的检测主机连接,打开控制电动伸缩杆23的外部控制开关组,电动伸缩杆23进行伸长,带动绝缘支撑板24向下移动,绝缘支撑板24带动检测探针25向下移动,使得检测探针25与集成电路板接触,从而使得外部的检测主机通过检测探针25对集成电路板进行检测,支撑耳213用于支撑转轴一215,集成电路板表面清理单元3使得可以方便快速的将集成电路板表面的灰尘等杂质进行清理,避免灰尘和杂质影响检测的准确性。
本实用新型提供的一种具有屏蔽结构的集成电路板探针测试设备的工作原理如下:
将集成电路板放置在电路板支撑板27上的放置槽26中,当集成电路板在外部时,打开控制电机二37的外部控制开关组,电机二37工作,电机二37的输出轴带动转轴二转动,电机二37带动清理辊35转动,使得清理辊35对集成电路板表面进行清理,握住握持球312推动带动支撑杆311移动,支撑杆311带动连接板二39移动,连接板二39带动滑柱三38沿着横向支撑板32滑动,滑柱三38带动活动支撑板34移动,活动支撑板34带动竖直支撑板二33移动,竖直支撑板二33带动支撑架310移动,支撑架310带动转轴二移动,转轴二带动清理辊35移动,从而使得清理辊35对集成电路板的不同位置进行清理,打开控制电机一225的外部控制开关组,电机一225工作,电机一225的输出轴带动螺杆三224转动,螺杆三224带动连接板一220移动,连接板一220带动滑柱二221移动,滑柱二221带动电路板支撑板27移动,电路板支撑板27带动集成电路板移动,从而使得集成电路板从外部进入到电磁屏蔽箱21内部,转动矩形密封板212,带动活动块214绕着转轴一215转动,当矩形密封板212转动到一定程度后,矩形密封板212的与电磁屏蔽箱21接触,从而使得固定块一210与固定块二222接触,转动螺杆二211,使得螺杆二211移动,并使得螺杆二211进入到螺纹孔223中,从而使得电磁屏蔽箱21被密封,从而对电磁干扰进行屏蔽,转动转盘219带动螺杆一29转动,螺杆一29带动滑动块28沿着滑柱一22滑动,滑动块28带动电动伸缩杆23移动,电动伸缩杆23带动绝缘支撑板24移动,绝缘支撑板24带动检测探针25移动,检测探针25的与外部的检测主机连接,打开控制电动伸缩杆23的外部控制开关组,电动伸缩杆23进行伸长,带动绝缘支撑板24向下移动,绝缘支撑板24带动检测探针25向下移动,使得检测探针25与集成电路板接触,从而使得外部的检测主机通过检测探针25对集成电路板进行检测,透明观察板216使得人们可以从外部观察到电磁屏蔽箱21内部的情况。
值得注意的是,以上实施例中所公开的外部控制开关组核心芯片选用的是PLC单片机,电动伸缩杆23、电机一225和电机二37则可根据实际应用场景自由配置,建议电动伸缩杆23选用电动液压推杆,电机一225可选用步进电机,电机二37可选用无刷电机。外部控制开关组控制电动伸缩杆23、电机一225和电机二37工作采用现有技术中常用的方法。
以上所述仅为本实用新型的实施例,并非因此限制本实用新型的专利范围,凡是利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换,或直接或间接运用在其它相关的技术领域,均同理包括在本实用新型的专利保护范围内。
Claims (6)
1.一种具有屏蔽结构的集成电路板探针测试设备,其特征在于:包括底板(1)、集成电路板探针检测单元(2)和集成电路板表面清理单元(3);
底板(1):为矩形;
集成电路板探针检测单元(2):包含电磁屏蔽箱(21)、滑柱一(22)、电动伸缩杆(23)、绝缘支撑板(24)、检测探针(25)、放置槽(26)、电路板支撑板(27)、滑动块(28)、螺杆一(29)、固定块一(210)、螺杆二(211)、矩形密封板(212)、支撑耳(213)、活动块(214)、转轴一(215)、连接板一(220)、滑柱二(221)、固定块二(222)、螺纹孔(223)、螺杆三(224)和电机一(225),所述底板(1)的一端上表面与电磁屏蔽箱(21)的下端固定连接,所述电磁屏蔽箱(21)的上表面一端的中部与两个对应配合的支撑耳(213)的下端固定连接,两个支撑耳(213)的侧面中部通过转轴一(215)与活动块(214)的下端侧面活动连接,所述活动块(214)的上端侧面与矩形密封板(212)的一端侧面中部固定连接,所述矩形密封板(212)的一侧中部与固定块一(210)的侧面固定连接,所述固定块一(210)的上表面中部与螺杆二(211)的中部侧面螺纹连接,所述电磁屏蔽箱(21)的一端侧面中部与固定块二(222)的侧面固定连接,所述固定块二(222)的侧面中部开设有与螺杆二(211)对应配合的螺纹孔(223),所述电磁屏蔽箱(21)的内部侧面上端的两端分别与两个对应配合的滑柱一(22)的两端侧面固定连接,两个滑柱一(22)的中部侧面与滑动块(28)的侧面两端滑动连接,所述电磁屏蔽箱(21)的内部侧面上端的中部与螺杆一(29)的两端侧面转动连接,所述螺杆一(29)的中部侧面与滑动块(28)的侧面中部螺纹连接,所述滑动块(28)的下表面中部与电动伸缩杆(23)的上端固定连接,所述电动伸缩杆(23)的下端与绝缘支撑板(24)的上表面中部固定连接,所述绝缘支撑板(24)的下表面中部与检测探针(25)的上端固定连接,所述电磁屏蔽箱(21)的一侧下端的两端分别与两个对应配合的滑柱二(221)的中部侧面滑动连接,两个滑柱二(221)的一端侧面与电路板支撑板(27)的侧面两端固定连接,所述电路板支撑板(27)的上表面中部开设有放置槽(26),两个滑柱二(221)的另一端侧面分别与连接板一(220)的侧面两端固定连接,所述电磁屏蔽箱(21)的一侧下端的中部与电机一(225)的侧面固定连接,所述电机一(225)的输出轴与螺杆三(224)的一端侧面固定连接,所述螺杆三(224)的中部侧面与连接板一(220)的侧面中部固定连接,所述电动伸缩杆(23)与电机一(225)的输入端均与外部控制开关组的输出端电连接;
集成电路板表面清理单元(3):安装在底板(1)的另一端上表面中部。
2.根据权利要求1所述的一种具有屏蔽结构的集成电路板探针测试设备,其特征在于:所述集成电路板探针检测单元(2)还包含转盘(219),所述螺杆一(29)的一端侧面与转盘(219)的侧面中心位置固定连接。
3.根据权利要求2所述的一种具有屏蔽结构的集成电路板探针测试设备,其特征在于:所述集成电路板探针检测单元(2)还包含防滑槽(218),所述转盘(219)的一周侧面等角度均匀开设有五个防滑槽(218)。
4.根据权利要求3所述的一种具有屏蔽结构的集成电路板探针测试设备,其特征在于:所述集成电路板探针检测单元(2)还包含透明观察板(216)和矩形通槽(217),所述电磁屏蔽箱(21)的上表面中部开设有矩形通槽(217),所述矩形通槽(217)的侧面中部与透明观察板(216)的一周侧面固定连接。
5.根据权利要求1所述的一种具有屏蔽结构的集成电路板探针测试设备,其特征在于:所述集成电路板表面清理单元(3)包含竖直支撑板一(31)、横向支撑板(32)、竖直支撑板二(33)、活动支撑板(34)、清理辊(35)、电机支撑板(36)、电机二(37)、滑柱三(38)、连接板二(39)和支撑架(310),所述底板(1)的另一端上表面中部与竖直支撑板一(31)的下端固定连接,所述竖直支撑板一(31)的上端与横向支撑板(32)的下端中部固定连接,所述横向支撑板(32)的侧面两端分别与两个对应配合的滑柱三(38)的中部侧面滑动连接,两个滑柱三(38)的一端侧面与连接板二(39)的侧面两端固定连接,两个滑柱三(38)的另一端侧面与活动支撑板(34)的侧面两端固定连接,所述活动支撑板(34)的下表面中部与竖直支撑板二(33)的上端固定连接,所述竖直支撑板二(33)的下端与支撑架(310)的上表面中部固定连接,所述支撑架(310)的下端侧面通过转轴二与清理辊(35)的侧面中心位置活动连接,所述支撑架(310)的一端侧面与电机支撑板(36)的一端侧面固定连接,所述电机支撑板(36)的下表面中部与电机二(37)的上端固定连接,所述电机二(37)的输出轴与转轴二的一端侧面固定连接,所述电机二(37)的输出轴与外部控制开关组的输出端电连接。
6.根据权利要求5所述的一种具有屏蔽结构的集成电路板探针测试设备,其特征在于:所述集成电路板表面清理单元(3)还包含支撑杆(311)和握持球(312),所述连接板二(39)的侧面中部与支撑杆(311)的一端侧面固定连接,所述支撑杆(311)的另一端侧面与握持球(312)的中部侧面固定连接。
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CN202222510087.XU CN218886069U (zh) | 2022-09-22 | 2022-09-22 | 一种具有屏蔽结构的集成电路板探针测试设备 |
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CN202222510087.XU CN218886069U (zh) | 2022-09-22 | 2022-09-22 | 一种具有屏蔽结构的集成电路板探针测试设备 |
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GR01 | Patent grant | ||
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