CN218848216U - 一种具有保护功能的集成电路漏电测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种具有保护功能的集成电路漏电测试装置，包括测试架体，在所述测试架体下部设置有安装空间，安装空间中设置有给电插头、调压器、漏电保护机构，所述给电插头通过导线依次连接调压器、漏电保护机构，在安装空间顶部设置检测槽，检测槽中设有给电搭针，给电搭针则连接漏电保护机构，在所述测试架体上部设置测试装置。本实用新型结构简单，成本低，能适用于不同型号规格的集成电路测试，适用范围广，具有漏电保护功能，能大大提升集成电路的测试安全性能，避免集成电路在测试中损坏；相较于传统的测试方法，对集成电路的损伤更小，能一次性进行多点位、多电子元器件的漏电测试，且进行快速精准定位，大大提升漏电测试效率。

Description

一种具有保护功能的集成电路漏电测试装置

技术领域

本实用新型属于集成电路生产设备技术领域，尤其涉及一种具有保护功能的集成电路漏电测试装置。

背景技术

集成电路成品在出厂前, 需要进行多个功能测试，避免在后期安装使用过程中出现漏电导致集成电路或设备损坏的问题，以保证集成电路的性能，其中就有漏电测试。在对集成电路进行漏电测试时，为保证测试探针能感应检测到电流，需要把测试探针接触到集成电路表面或其上的电子元器件的表面，才能更精准的检测。现有的设备的测试探针在接触集成电路过程中，会出现因受力过大导致集成电路表面、电子元器件或测试探针损坏；其次，现有设备结构复杂，成本高，通常只能适用于规定型号测试，适用范围小，而且没有漏电保护功能，使用操作不方便。

因此，研制一种适用范围广，具有漏电保护功能的漏电测试装置是解决问题的关键。

实用新型内容

本实用新型在于提供一种具有保护功能的集成电路漏电测试装置。

本实用新型通过以下技术方案实现：包括测试架体，在所述测试架体下部设置有安装空间，安装空间中设置有给电插头、调压器、漏电保护机构，所述给电插头通过导线依次连接调压器、漏电保护机构，在安装空间顶部设置检测槽，检测槽中设有给电搭针，给电搭针则连接漏电保护机构，在所述测试架体上部设置测试装置，所述测试装置包括升降机构、安装板、测试探针组、信号线、测试控制装置，所述安装板通过升降机构设置于测试架体上，在安装板上均设测试探针组，所述测试探针组的下部向下穿出安装板，二者动配合，测试探针组的顶部设置信号线连接测试控制装置，所述测试控制装置可拆卸地设置于测试架体上。

进一步的，各所述的测试探针组包括至少一根测试探针，所述测试探针包括针体、缓冲部、下挡环、上挡环、弹簧、滑板，所述针体同轴设置于缓冲部底端，在所述缓冲部下部设置下挡环，中部设置上挡环，且上挡环与缓冲部动配合，在缓冲部的上部设置滑板，所述弹簧设置于下挡环与上挡环之间的缓冲部上，所述缓冲部则通过上挡环、滑板配合设置在调节槽中，且所述滑板处于调节槽顶部，上挡环处于调节槽底部，三者滑动配合。

进一步的，所述的漏电保护机构包括插槽、插块、熔断线、熔断触片、导电触片，所述插槽设置于测试架体的安装空间中，所述插块设置于插槽中，二者拔插式配合，在插块的内端竖向设有贯穿凹槽，在贯穿凹槽的上下两端分别设置熔断触片，在贯穿凹槽中设置熔断线，熔断线的两端分别连接熔断触片，且熔断触片上设有与熔断线配适的接线孔，在插槽中对应插块上的熔断触片设置有导电触片。

本实用新型的有益效果是：1、本实用新型结构简单，使用操作方便，成本低，能适用于不同型号规格的集成电路测试，适用范围广，具有漏电保护功能，能大大提升集成电路的测试安全性能，避免集成电路在测试中损坏；

2、测试探针在接触集成电路过程中，通过弹簧柔性接触，避免出现因受力过大导致集成电路表面、电子元器件或测试探针损坏的情况，进一步保护集成电路、测试探针的完好性；

3、相较于传统的测试方法，对集成电路的损伤更小，能一次性进行多点位、多电子元器件的漏电测试，且进行快速精准定位，大大提升漏电测试效率。

附图说明

图1为本实用新型的结构示意图；

图2为实用新型中漏电保护机构的结构示意图；

图3为本实用新型中安装板的俯视结构示意图；

图4为本实用新型中测试探针的结构示意图；

图5为本实用新型中升降机构的俯视结构示意图；

图6为本实用新型中检测槽的俯视结构示意图；

图中标号：1~测试架体，2~给电插头，3~调压器，4~漏电保护机构，4a~插槽，4b~插块，4c~熔断线，4d~熔断触片，4e~导电触片，5~检测槽，6~给电搭针，7~升降机构，7a~滑座，7b~滑轨，7c~悬臂，7d~升降控制杆，8~安装板，9~调节槽，10~测试探针组，11~测试探针，11a~针体，11b~缓冲部，11c~下挡环，11d~上挡环，11e~弹簧，11f~滑板，12~信号线，13~测试控制装置，14~承托部，15~螺孔，16~蓄电池。

具体实施方式

为了使本技术领域的技术人员能更好地理解本实用新型的技术方案，下面结合附图对其具体实施方式进行详细的说明。

如图1~6所示的具有保护功能的集成电路漏电测试装置，包括测试架体1，在所述测试架体1下部设置有安装空间，安装空间中设置有给电插头2、调压器3、漏电保护机构4，所述给电插头2通过导线依次连接调压器3、漏电保护机构4，在安装空间顶部设置检测槽5，检测槽5中设有给电搭针6，给电搭针6则连接漏电保护机构4，在所述测试架体1上部设置测试装置，所述测试装置包括升降机构7、安装板8、测试探针组10、信号线12、测试控制装置13，所述安装板8通过升降机构7设置于测试架体1上，在安装板8上均设测试探针组10，所述测试探针组10的下部向下穿出安装板8，二者动配合，测试探针组10的下部在安装板8中上下移动，测试探针组10的顶部设置信号线12连接测试控制装置13，所述测试控制装置13可拆卸地设置于测试架体1上。

所述的升降机构7包括滑座7a、滑轨7b、悬臂7c、升降控制杆7d，所述滑轨7b竖立设置在测试架体1上，滑座7a设置于滑轨7b上，在滑座7a上设置垂直于滑轨7b的安装板8，升降平稳，所述悬臂7c设置于测试架体1上部或顶部，且平行于安装板8，在悬臂7c末端设置与之螺纹配合连接的升降控制杆7d，升降控制杆7d的下端通过旋转关节连接安装板8，方便旋转。

所述的安装板8上横向均设若干调节槽9，各调节槽9中设置至少两个测试探针组10，测试探针组10与调节槽9滑动配合，手动拨动测试探针组10沿调节槽9滑动，满足不同位置的测试需求。

各所述的测试探针组10包括至少一根测试探针11，所述测试探针11包括针体11a、缓冲部11b、下挡环11c、上挡环11d、弹簧11e、滑板11f，所述针体11a同轴设置于缓冲部11b底端，在所述缓冲部11b下部设置下挡环11c，中部设置上挡环11d，且上挡环11d与缓冲部11b动配合，在缓冲部11b的上部设置滑板11f，所述弹簧11e设置于下挡环11c与上挡环11d之间的缓冲部11b上，所述缓冲部11b则通过上挡环11d、滑板11f配合设置在调节槽9中，且所述滑板11f处于调节槽9顶部，上挡环11d处于调节槽9底部，三者滑动配合，滑板11f和上挡环11d的结构设置能保证测试探针11在调节槽9中顺利滑动，防止测试探针11受到干扰或滑动不方便。

所述的测试探针11与信号线12拔插式连接。

所述的针体11a与缓冲部11b采用螺纹配合连接，缓冲部11b与下挡环11c、滑板11f均采用螺纹配合连接，利于定位、调整测试探针11在安装板8上的位置高度。

所述的漏电保护机构4包括插槽4a、插块4b、熔断线4c、熔断触片4d、导电触片4e，所述插槽4a设置于测试架体1的安装空间中，所述插块4b设置于插槽4a中，二者拔插式配合，能快速取出更换熔断线4c，在插块4b的内端竖向设有贯穿凹槽，在贯穿凹槽的上下两端分别设置熔断触片4d，在贯穿凹槽中设置熔断线4c，熔断线4c的两端分别连接熔断触片4d，且熔断触片4d上设有与熔断线4c配适的接线孔，方便更换熔断线4c，在插槽4a中对应插块4b上的熔断触片4d设置有导电触片4e。

所述的给电插头2为手机充电器插头。

所述的安装空间还设有蓄电池16，蓄电池16连接给电插头2，在无外接电源的情况下，可以利用蓄电池16供电，提升使用便捷性。

所述的给电搭针6设置呈弧形结构，其一端通过螺钉固定在检测槽5的外端顶部，且在检测槽5的外端顶部均设螺孔15，给电搭针6能通过螺钉安装在不同位置的螺孔15中，满足集成电路不同位置的电源出入口供电需求，该端由导线连接漏电保护机构4，另一端为输出电流的自由端，给电搭针6的材质为弹性金属片，利用弹性金属片的弹性使给电搭针6不借助外力即可搭接在集成电路的电源出入口上，能适用不同类型规格的集成电路的电源出入口，检测槽5中则能安装不同类型规格的集成电路。

所述的测试控制装置13与测试架体1活动铰接设置，测试控制装置13为具有显示屏的单片机或PLC可编程逻辑控制器，在其上设有与各测试探针11一一对应的指示灯。

所述的检测槽5的底部设有网格状结构的承托部14，承托部14对集成电路进行向上顶起，进而避免引脚直接与检测槽5底面进行接触，保障在测试探针11对集成电路下压时，引脚不会被破坏，还避免集成电路滑动。

本实用新型的工作方式：1、把需要测试的集成电路放置到检测槽5中，并拨动给电搭针6，把给电搭针6搭接在集成电路的电源出入口上；

2、旋转升降机构7的升降控制杆7d，驱动安装板8沿滑轨7b下降，使各测试探针组10下降接近集成电路，观察集成电路上电子元器件、以及触点的位置，调整各测试探针组10，使测试探针组10对应其中某几个电子元器件、或集成电路的点位；

3、再次旋转升降机构7的升降控制杆7d，驱动安装板8沿滑轨7b下降，使各测试探针组10下降接近集成电路，最终使测试探针11接触电子元器件或触点，此时，测试探针11在弹簧11e的缓冲作用下，柔性接触到电子元器件、集成电路，避免测试探针11触碰损坏集成电路表面的线路以及电子元器件、触点；

4、启动测试控制装置13，电源通过给电插头2、调压器3、漏电保护机构4和给电搭针6向集成电路供电，各测试探针11则检测感应集成电路、电子元器件是否存在漏电，并把检测到的电流信号通过测试探针11、信号线12传输给测试控制装置13，最终在测试控制装置13的显示屏、指示灯上显示出来，漏电则指示灯亮灯，不漏则不亮灯，测试人员根据指示灯亮灯情况快速定位漏电位置；在检查过程中，若电流较小或较大时可通过调压器3进行调整，当电流大于荷载，即存在漏电情况时，漏电保护机构4中的熔断线4c则自动快速的熔断，实现漏电过载保护；

5、测试完成后，逆向操作步骤1~4，最后从检测槽5中取下集成电路，标注是否为合格品即可。

Claims (10)

1.一种具有保护功能的集成电路漏电测试装置，其特征在于：包括测试架体（1），在所述测试架体（1）下部设置有安装空间，安装空间中设置有给电插头（2）、调压器（3）、漏电保护机构（4），所述给电插头（2）通过导线依次连接调压器（3）、漏电保护机构（4），在安装空间顶部设置检测槽（5），检测槽（5）中设有给电搭针（6），给电搭针（6）则连接漏电保护机构（4），在所述测试架体（1）上部设置测试装置，所述测试装置包括升降机构（7）、安装板（8）、测试探针组（10）、信号线（12）、测试控制装置（13），所述安装板（8）通过升降机构（7）设置于测试架体（1）上，在安装板（8）上均设测试探针组（10），所述测试探针组（10）的下部向下穿出安装板（8），二者动配合，测试探针组（10）的顶部设置信号线（12）连接测试控制装置（13），所述测试控制装置（13）可拆卸地设置于测试架体（1）上。

2.根据权利要求1所述的具有保护功能的集成电路漏电测试装置，其特征在于：所述的升降机构（7）包括滑座（7a）、滑轨（7b）、悬臂（7c）、升降控制杆（7d），所述滑轨（7b）竖立设置在测试架体（1）上，滑座（7a）设置于滑轨（7b）上，在滑座（7a）上设置垂直于滑轨（7b）的安装板（8），所述悬臂（7c）设置于测试架体（1）上部或顶部，且平行于安装板（8），在悬臂（7c）末端设置与之螺纹配合连接的升降控制杆（7d），升降控制杆（7d）的下端通过旋转关节连接安装板（8）。

3.根据权利要求1所述的具有保护功能的集成电路漏电测试装置，其特征在于：所述的安装板（8）上横向均设若干调节槽（9），各调节槽（9）中设置至少两个测试探针组（10），测试探针组（10）与调节槽（9）滑动配合。

4.根据权利要求1所述的具有保护功能的集成电路漏电测试装置，其特征在于：各所述的测试探针组（10）包括至少一根测试探针（11），所述测试探针（11）包括针体（11a）、缓冲部（11b）、下挡环（11c）、上挡环（11d）、弹簧（11e）、滑板（11f），所述针体（11a）同轴设置于缓冲部（11b）底端，在所述缓冲部（11b）下部设置下挡环（11c），中部设置上挡环（11d），且上挡环（11d）与缓冲部（11b）动配合，在缓冲部（11b）的上部设置滑板（11f），所述弹簧（11e）设置于下挡环（11c）与上挡环（11d）之间的缓冲部（11b）上，所述缓冲部（11b）则通过上挡环（11d）、滑板（11f）配合设置在调节槽（9）中，且所述滑板（11f）处于调节槽（9）顶部，上挡环（11d）处于调节槽（9）底部，三者滑动配合。

5.根据权利要求4所述的具有保护功能的集成电路漏电测试装置，其特征在于：所述的针体（11a）与缓冲部（11b）采用螺纹配合连接，缓冲部（11b）与下挡环（11c）、滑板（11f）均采用螺纹配合连接。

6.根据权利要求1所述的具有保护功能的集成电路漏电测试装置，其特征在于：所述的漏电保护机构（4）包括插槽（4a）、插块（4b）、熔断线（4c）、熔断触片（4d）、导电触片（4e），所述插槽（4a）设置于测试架体（1）的安装空间中，所述插块（4b）设置于插槽（4a）中，二者拔插式配合，在插块（4b）的内端竖向设有贯穿凹槽，在贯穿凹槽的上下两端分别设置熔断触片（4d），在贯穿凹槽中设置熔断线（4c），熔断线（4c）的两端分别连接熔断触片（4d），且熔断触片（4d）上设有与熔断线（4c）配适的接线孔，在插槽（4a）中对应插块（4b）上的熔断触片（4d）设置有导电触片（4e）。

7.根据权利要求1所述的具有保护功能的集成电路漏电测试装置，其特征在于：所述的给电插头（2）为手机充电器插头。

8.根据权利要求1所述的具有保护功能的集成电路漏电测试装置，其特征在于：所述的安装空间还设有蓄电池（16），蓄电池（16）连接给电插头（2）。

9.根据权利要求1所述的具有保护功能的集成电路漏电测试装置，其特征在于：所述的给电搭针（6）设置呈弧形结构，其一端固定在检测槽（5）的外端顶部，且该端由导线连接漏电保护机构（4），另一端为输出电流的自由端，给电搭针（6）的材质为弹性金属片。

10.根据权利要求1所述的具有保护功能的集成电路漏电测试装置，其特征在于：所述的检测槽（5）的底部设有网格状结构的承托部（14）。

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