CN218822062U - 一种用于狭缝下拉制造微晶玻璃的玻璃液测厚装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种用于狭缝下拉制造微晶玻璃的玻璃液测厚装置，包括直线导轨、上下调整丝杠、上调整块压块、固定安装板、下调整块压块、厚度测量本体和测厚螺钉；所述直线导轨上安装有固定安装板，所述固定安装板上安装有下调整块压块，所述上调整块压块与下调整块压块固定连接，所述上调整块压块与下调整块压块之间夹持安装有上下调整丝杠，所述上下调整丝杠上套设有厚度测量本体，所述厚度测量本体的一端设置有若干测厚螺钉。解决了狭缝下拉压延法微晶玻璃生产中前后设备调整周期长，减少了前后工序设备调整时间，从而保障了微晶玻璃的顺利生产。

Description

一种用于狭缝下拉制造微晶玻璃的玻璃液测厚装置

技术领域

本实用新型属于微晶玻璃制造领域，尤其是一种用于狭缝下拉制造微晶玻璃的玻璃液测厚装置。

背景技术

狭缝下拉制造微晶玻璃的狭缝出口玻璃液厚度测量装置，是确定和判断狭缝下拉出口效应的重要测量装置，即测量狭缝下拉出口不同位置的玻璃液厚度，为后工序设备调整提供关键数据支撑，同时为前工序池炉通道工艺温度控制提供重要依据。

在微晶璃生产过程中，热端生产为持续不间断式生产，在生产过程中狭缝出口玻璃液的厚度分布及状态对前后工序都会造成严重影响，厚度测量不准确，容易导致后工序设备调整出错，并且反复，从而影响微晶玻璃生产良品率。

发明内容

本实用新型的目的在于解决现有技术中的问题，提供一种用于狭缝下拉制造微晶玻璃的玻璃液测厚装置，确定和判断狭缝下拉出口不同位置的玻璃液厚度，为后工序设备调整提供关键数据支撑，同时为前工序池炉通道工艺温度控制提供重要依据。

为达到上述目的，本实用新型采用以下技术方案予以实现：

一种用于狭缝下拉制造微晶玻璃的玻璃液测厚装置，包括直线导轨、上下调整丝杠、上调整块压块、固定安装板、下调整块压块、厚度测量本体和测厚螺钉；

所述直线导轨上安装有固定安装板，所述固定安装板上安装有下调整块压块，所述上调整块压块与下调整块压块固定连接，所述上调整块压块与下调整块压块之间夹持安装有上下调整丝杠，所述上下调整丝杠上套设有厚度测量本体，所述厚度测量本体的一端设置有若干测厚螺钉。

进一步的，所述直线导轨通过螺钉紧固在直线导轨固定板上，所述直线导轨固定板安装在移动支架的一侧。

进一步的，所述固定安装板通过滑块安装在直线导轨上。

进一步的，所述固定安装板上设置有锁紧螺钉。

进一步的，所述上下调整丝杠通过螺纹与厚度测量本体的一端连接。

进一步的，所述厚度测量本体的另一端设置有U型结构，所述厚度测量本体的U型结构的两侧壁上对应位置设置有若干测厚螺钉。

进一步的，所述直线导轨的端部安装有限位块。

进一步的，所述测厚螺钉的材料为陶瓷材料。

与现有技术相比，本实用新型具有以下有益效果：

本实用新型提供一种用于狭缝下拉制造微晶玻璃的玻璃液测厚装置，通过在厚度测量本体的“U”型结构两侧设置有测厚螺钉，利用直线导轨和上下调整丝杠调整狭缝下拉出口的玻璃液在厚度测量本体的“U”型结构内，调整测厚螺钉在玻璃液两侧的位置，使其无限接近玻璃液，然后测量测厚螺钉端部之间的距离，即测量狭缝下拉出口不同位置的玻璃液厚度。本实用新型是确定和判断狭缝下拉出口效应的重要测量装置，为后续工序设备调整提供关键数据支撑，同时为前工序池炉通道工艺温度控制提供重要依据。解决了狭缝下拉压延法微晶玻璃生产中前后设备调整周期长，减少了前后工序设备调整时间，从而保障了微晶玻璃的顺利生产。

附图说明

为了更清楚的说明本实用新型实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本实用新型的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。

图1为本实用新型的用于狭缝下拉制造微晶玻璃的玻璃液测厚装置结构示意图。

图2为本实用新型的用于狭缝下拉制造微晶玻璃的玻璃液测厚装置俯视图。

其中：1-移动支架，2-直线导轨，3-滑块，4-限位块，5-上下调整丝杠，6-上调整块压块，7-固定安装板，8-锁紧螺钉，9-下调整块压块，10-厚度测量本体，11-测厚螺钉，12-直线导轨固定板。

具体实施方式

为使本实用新型实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本实用新型实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。

因此，以下对在附图中提供的本实用新型的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本实用新型的范围，而是仅仅表示本实用新型的选定实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。

在本实用新型实施例的描述中，需要说明的是，若出现术语“上”、“下”、“水平”、“内”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，或者是该实用新型产品使用时惯常摆放的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。此外，术语“第一”、“第二”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。

此外，若出现术语“水平”，并不表示要求部件绝对水平，而是可以稍微倾斜。如“水平”仅仅是指其方向相对“竖直”而言更加水平，并不是表示该结构一定要完全水平，而是可以稍微倾斜。

在本实用新型实施例的描述中，还需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，若出现术语“设置”、“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

下面结合附图对本实用新型做进一步详细描述：

参见图1至图2，本实用新型提供一种用于狭缝下拉制造微晶玻璃的玻璃液测厚装置，包括移动支架1、直线导轨2、滑块3、限位块4、上下调整丝杠5、上调整块压块6、固定安装板7、锁紧螺钉8、下调整块压块9、厚度测量本体10、测厚螺钉11、直线导轨固定板12。

移动支架1用于将玻璃液测厚装置调整到与玻璃液侧面对正，直线导轨固定板12焊接在移动支架1侧面，焊接前是粗加工状态，焊接完成后精加工保证直线导轨固定板12的精度，直线导轨2用螺钉紧固在直线导轨固定板12上，直线导轨2上安装有滑块3，在直线导轨2的端部用螺钉固定安装有限位块4，固定安装板7通过螺钉固定在滑块3上，固定安装板7上安装的锁紧螺钉8可以顶紧直线导轨2，实现玻璃液测厚装置位置的锁定，保证测量玻璃液厚度位置的准确性。固定安装板7上通过螺钉固定有下调整块压块9，上调整块压块6与下调整块压块9配合，利用螺钉将上调整块压块6固定在下调整块压块9上，上调整块压块6与下调整块压块9之间夹持安装有上下调整丝杠5，上下调整丝杠5的夹持部位设计有台阶样式，可以防止上下调整丝杠5在上调整块压块6与下调整块压块9之间发生位置移动。上下调整丝杠5上通过螺纹套设有厚度测量本体10，厚度测量本体10的一端设置为“U”型结构，在厚度测量本体10的“U”型结构的两侧对应位置分布有若干测厚螺钉11，测厚螺钉11采用99陶瓷材料制成，耐高温达到2250℃。

本实用新型的用于狭缝下拉制造微晶玻璃的玻璃液测厚装置的工作过程：

利用激光水平仪调整移动支架1，对正厚度测量本体10与狭缝下拉出口玻璃液侧面，保证厚度测量本体10在水平推进时，测厚螺钉11两边距离玻璃液的距离基本相等。调整直线导轨2上的滑块3实现厚度测量本体10的水平方向移动，滑块3带动安装在固定安装板7上的厚度测量本体10沿直线导轨2水平移动至狭缝下拉出口玻璃液内外部，使玻璃液位于厚度测量本体10的“U”型结构内，测厚螺钉11均匀分布在狭缝出口玻璃液的两侧的对应位置，通过调整锁紧螺钉8顶紧直线导轨2锁定位置。

上下调整丝杠5直接与厚度测量本体10通过丝杠螺纹连接，通过调整上下调整丝杠5可以控制厚度测量本体10的上下调整移动，调整测厚螺钉11在狭缝出口玻璃液两侧的高度，保证完成厚度测量本体10在狭缝出口不同高度位置的玻璃液厚度的测量。

测厚装置调整到需要测量的位置后，调整厚度测量本体10的“U”型结构两侧的测厚螺钉11，观察测厚螺钉11的端部无限接近玻璃液，要求每个测量位置都达到无限接近玻璃液，然后滑动直线导轨2上的滑块3，将厚度测量本体10远离玻璃液，整体装置不要移动超过10000mm的距离，否则会导致测厚螺钉11冷却过快而发生炸裂，再用游标卡尺测量对应两个测厚螺钉11端部之间的距离，这样就能得出此位置的玻璃液厚度。

在微晶玻璃生产过程中，热端生产为持续不间断式生产，在生产过程狭缝出口玻璃液厚度快速测量极为重要，狭缝下拉出口玻璃液厚度测量装置，测量位置在狭缝下拉出口，测量厚度结果是前后工序设备工艺调整的重要参考依据，解决了狭缝下拉压延法微晶玻璃生产中前后设备调整周期长，减少了前后工序设备调整时间，从而保障了微晶玻璃稳定生产。

以上仅为本实用新型的优选实施例而已，并不用于限制本实用新型，对于本领域的技术人员来说，本实用新型可以有各种更改和变化。凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (8)

1.一种用于狭缝下拉制造微晶玻璃的玻璃液测厚装置，其特征在于，包括直线导轨(2)、上下调整丝杠(5)、上调整块压块(6)、固定安装板(7)、下调整块压块(9)、厚度测量本体(10)和测厚螺钉(11)；

所述直线导轨(2)上安装有固定安装板(7)，所述固定安装板(7)上安装有下调整块压块(9)，所述上调整块压块(6)与下调整块压块(9)固定连接，所述上调整块压块(6)与下调整块压块(9)之间夹持安装有上下调整丝杠(5)，所述上下调整丝杠(5)上套设有厚度测量本体(10)，所述厚度测量本体(10)的一端设置有若干测厚螺钉(11)。

2.根据权利要求1所述的一种用于狭缝下拉制造微晶玻璃的玻璃液测厚装置，其特征在于，所述直线导轨(2)通过螺钉紧固在直线导轨固定板(12)上，所述直线导轨固定板(12)安装在移动支架(1)的一侧。

3.根据权利要求1所述的一种用于狭缝下拉制造微晶玻璃的玻璃液测厚装置，其特征在于，所述固定安装板(7)通过滑块(3)安装在直线导轨(2)上。

4.根据权利要求1所述的一种用于狭缝下拉制造微晶玻璃的玻璃液测厚装置，其特征在于，所述固定安装板(7)上设置有锁紧螺钉(8)。

5.根据权利要求1所述的一种用于狭缝下拉制造微晶玻璃的玻璃液测厚装置，其特征在于，所述上下调整丝杠(5)通过螺纹与厚度测量本体(10)的一端连接。

6.根据权利要求1所述的一种用于狭缝下拉制造微晶玻璃的玻璃液测厚装置，其特征在于，所述厚度测量本体(10)的另一端设置有U型结构，所述厚度测量本体(10)的U型结构的两侧壁上对应位置设置有若干测厚螺钉(11)。

7.根据权利要求1所述的一种用于狭缝下拉制造微晶玻璃的玻璃液测厚装置，其特征在于，所述直线导轨(2)的端部安装有限位块(4)。

8.根据权利要求1所述的一种用于狭缝下拉制造微晶玻璃的玻璃液测厚装置，其特征在于，所述测厚螺钉(11)的材料为陶瓷材料。

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