CN218697837U - 一种电子元件测试用夹紧装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型属于电子元件测试设备技术领域，提供了一种电子元件测试用夹紧装置，包括：万用表、电子元件定位测试盘；万用表的两侧卡接有对称的测试笔,万用表端内部下侧开设电子元件定位测试盘孔，电子元件定位测试盘孔内部滑动连接有一组电子元件定位测试盘，电子元件定位测试盘内部开设有定位测试槽，定位测试槽的一侧槽壁上开设有L型结构的摆动槽,多个摆动槽之间转动设置有一组转动杆，转动杆内端通过轴承转动连接在定位测试槽槽壁中，每组摆动槽处对应的转动杆朝向定位测试槽内部的侧壁上安装有伸缩件，伸缩件的端部安装有夹紧板。本装置在使用时转动式夹紧固定，使用便捷，携带方便，具有较高的实用性。

Description

一种电子元件测试用夹紧装置

技术领域

本实用新型属于电子元件测试设备技术领域，尤其涉及一种电子元件测试用夹紧装置。

背景技术

电子元件测试基本都是通过万用表进行测试，万用表是一种带有整流器的、可以测量交、直流电流、电压及电阻等多种电学参量的磁电式仪表。对于每一种电学量，一般都有几个量程。又称多用电表或简称多用表。万用表是由磁电系电流表(表头)，测量电路和选择开关等组成的。

但是万用表在对电子元件进行测试时，电子元件需要提前进行固定，然后在通过万用表中的测试笔等工具进行测试，电子元件的固定一般会通过特定的固定装置进行操作，然后与万用表结合测试，由于万用表本身具有携带便利等优点，但是一些对电子元件进行固定的装置，通常来说结构较为复杂，而且携带不便，因此便容易增加对电子元件测试的难度，对此需要设计一种可与万用表配合携带使用的夹紧固定装置。

实用新型内容

本实用新型实施例的目的在于提供一种电子元件测试用夹紧装置，旨在解决上述问题。

本实用新型是这样实现的，一种电子元件测试用夹紧装置的结构图，包括：万用表、电子元件定位测试盘；万用表的两侧卡接有对称的测试笔,万用表的前侧壁上部设置有显示屏，以及在显示屏下侧的万用表上设置有用于调节测试各项数值的测试调节按钮，靠近显示屏一侧的万用表端内部下侧开设电子元件定位测试盘孔，电子元件定位测试盘孔内部滑动连接有一组电子元件定位测试盘，电子元件定位测试盘内部开设有定位测试槽，定位测试槽上用于放置有待定位测试的电子元件，同时在定位测试槽的一侧槽壁上开设有L型结构的摆动槽,摆动槽对应的定位测试槽槽壁中设置为中空结构，多个摆动槽之间转动设置有一组转动杆，转动杆穿过电子元件定位测试盘外端部安装有转柄，转动杆内端通过轴承转动连接在定位测试槽槽壁中，即手动旋转转柄同步带动转动杆转动，每组摆动槽处对应的转动杆朝向定位测试槽内部的侧壁上安装有伸缩件，伸缩件的端部安装有夹紧板，通过控制转动杆的旋转，在伸缩件的连接下，控制夹紧板摆动，然后对置于定位测试槽内部夹紧板下侧的电子元件进行夹紧固定，转动杆靠近转柄一端的定位测试槽槽壁内部设置有防倒转组件，防倒转组件用于限制转动后停止后的转动杆的倒转，利用对转动杆的稳定，维持夹紧板对电子元件的定位稳定性。

本实用新型提供的一种电子元件测试用夹紧装置，通过在万用表的一端伸缩式安装有电子元件定位测试盘，然后通过将电子元件置于定位测试槽中，而后通过转动转柄控制转动杆转动的方式，控制夹紧板摆动对置于定位测试槽中的电子元件进行压紧定位固定，然后与万用表上的测试笔相互配合测试，实现万用表便于携带使用的同时，对电子元件的快速定位，且固定装置同样便于携带，利于快速对电子元件进行即时的测试使用。

附图说明

图1为一种电子元件测试用夹紧装置的立体结构示意图。

图2为一种电子元件测试用夹紧装置的主视外部结构示意图。

图3为一种电子元件测试用夹紧装置的主视内部的结构示意图。

图4为一种电子元件测试用夹紧装置的侧视结构示意图。

图5为一种电子元件测试用夹紧装置中夹紧板的结构示意图。

图6为一种电子元件测试用夹紧装置中防倒转组件的结构示意图；

附图中：万用表10，测试笔11，测试笔槽12，弹性导线13，显示屏14，测试调节按钮15，滑块17，滑槽18，定位测试槽19，电子元件定位测试盘20，夹紧板21，缓冲垫22，螺杆23，螺筒24，转动杆25，摆动槽26，转柄27，防倒转组件28，直齿轮29，限位杆30，转动轴一31，转动轴二32，升降杆33，缓冲弹簧34，拉环35，支撑杆36，底板37。

具体实施方式

为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。

以下结合具体实施例对本实用新型的具体实现进行详细描述。

如图1-4所示，为本实用新型实施例提供的一种电子元件测试用夹紧装置的结构图，包括：万用表10、电子元件定位测试盘20；万用表10的两侧卡接有对称的测试笔11,万用表10的前侧壁上部设置有显示屏14，以及在显示屏14 下侧的万用表10上设置有用于调节测试各项数值的测试调节按钮15，靠近显示屏14一侧的万用表10端内部下侧开设电子元件定位测试盘孔，电子元件定位测试盘孔内部滑动连接有一组电子元件定位测试盘20，电子元件定位测试盘20 内部开设有定位测试槽19，定位测试槽19上用于放置有待定位测试的电子元件，同时在定位测试槽19的一侧槽壁上开设有L型结构的摆动槽26,摆动槽26对应的定位测试槽19槽壁中设置为中空结构，多个摆动槽26之间转动设置有一组转动杆25，转动杆25穿过电子元件定位测试盘20外端部安装有转柄27，转动杆25内端通过轴承转动连接在定位测试槽19槽壁中，即手动旋转转柄27同步带动转动杆25转动，每组摆动槽26处对应的转动杆25朝向定位测试槽19内部的侧壁上安装有伸缩件，伸缩件的端部安装有夹紧板21，通过控制转动杆25 的旋转，在伸缩件的连接下，控制夹紧板21摆动，然后对置于定位测试槽19 内部夹紧板21下侧的电子元件进行夹紧固定，转动杆25靠近转柄27一端的定位测试槽19槽壁内部设置有防倒转组件28，防倒转组件28用于限制转动后停止后的转动杆25的倒转，利用对转动杆25的稳定，维持夹紧板21对电子元件的定位稳定性。

在本实用新型实施例中，万用表10的两侧对称开设有测试笔槽12，测试笔 11卡接在测试笔槽12中，且测试笔11底端电性连接有弹性导线13，弹性导线 13与万用表10内部的控制单元电连，实现测试笔11在对定位测试槽19中的电子元件测试时的顺利检测，测试笔11、弹性导线13、显示屏14以及测试调节按钮15之间的连接结构、位置关系以及工作原理，均属于万用表10的现有技术，因此在本技术方案中未对其进行详细的描述。夹紧板21的底部铺设有一层缓冲垫22，缓冲垫22用于降低对电子元件的接触磨损。

在本实用新型的一个实例中，电子元件定位测试盘20底部两侧对称安装有两组滑块17，滑块17对应的电子元件定位测试盘槽内壁上开设有滑槽18，滑块17滑动连接在滑槽18内部，且滑槽18朝向电子元件定位测试盘孔开口的一端设置为闭合状，阻止滑块17从滑槽18上滑动脱落。

参阅图5，作为本实用新型的一种优选实施例，伸缩件包括有一个螺筒24, 螺筒24的两端螺纹连接有螺杆23,其中一个螺杆23的端部连接到转动杆25上，另一螺杆23端部连接到夹紧板21上，即通过转动螺筒24调整两端螺杆23的长度，从而调节夹紧板21距离转动杆25的长度，实现夹紧板21对置于定位测试槽19内的不同大小、或者位置的电子元件均可进行稳定的固定；

夹紧板21设置为圆形结构，且面积较小，夹紧板21压持在电子元件上时，主要压持在电子元件的顶中部，在保证对电子元件稳定按压的同时，不会对电子元件造成较大的压损。

参阅图6，作为本实用新型的一种优选实施例，防倒转组件28包括有固定安装在转动杆25上的直齿轮29，直齿轮29的一侧嵌入式卡接有限位杆30，限位杆30与直齿轮29接触的端部设置为倾斜结构，限位杆30远离直齿轮29的一端连接有转动轴一31，转动轴一31向下转动连接有安装在定位测试槽19槽壁内部的横向的底板37，同时在限位杆30靠近直齿轮29一侧的底板37上安装有支撑杆36，支撑杆36对限位杆30起到支撑作用，限制限位杆30围绕转动轴一31顺时针转动时，仅能转动至水平角度，同时利用限位杆30端部与直齿轮 29齿槽的嵌式连接，阻止直齿轮29逆时针倒转，使得手动转动转柄27带动转动杆25转动时，可单向控制夹紧板21朝向定位测试槽19中移动，在需要将直齿轮29回转时，通过在限位杆30顶部通过转动轴二32转动连接有一支竖直的升降杆33,升降杆33顶部伸缩式穿过定位测试槽19顶部，且安装有拉环35，同时升降杆33与定位测试槽19槽顶壁之间的升降杆33上套装有缓冲弹簧34，利用缓冲弹簧34的弹性作用，可保持升降杆33自动向下移动，需要将升降杆33升起时，可手动拉升拉环35便可，直至将限位杆30端部脱离直齿轮29齿槽，使其对直齿轮29的转动限制便可。

本实用新型上述实施例中提供了一种电子元件测试用夹紧装置，使用时，通过手动将电子元件定位测试盘20从电子元件定位测试盘孔抽出，然后将待测试的电子元件，按照夹紧板21对应的位置放置在定位测试槽19中，然后转动转柄27带动转动杆25，同时调整夹紧板21的横线长度，将夹紧板21底部对准电子元件的顶部，然后同步控制夹紧板21将电子元件压紧定位在定位测试槽19 中，然后通过将测试笔11对固定下的电子元件进行测试操作，在侧视结束后，拉伸拉环35将限位杆30靠近直齿轮29一端的向上升起，然后使其对直齿轮29 的限制，而后自动转柄27带动夹紧板21远离电子元件，而后将电子元件取下，然后再次将夹紧板21转动至定位测试槽19中，将电子元件定位测试盘20推入电子元件定位测试盘孔内便可。

以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (6)

1.一种电子元件测试用夹紧装置，其特征在于，所述电子元件测试用夹紧装置包括：万用表、电子元件定位测试盘；万用表的两侧卡接有对称的测试笔,万用表的前侧壁上部设置有显示屏，以及在显示屏下侧的万用表上设置有用于调节测试各项数值的测试调节按钮，靠近显示屏一侧的万用表端内部下侧开设电子元件定位测试盘孔，电子元件定位测试盘孔内部滑动连接有一组电子元件定位测试盘，电子元件定位测试盘内部开设有定位测试槽，定位测试槽上用于放置有待定位测试的电子元件，所述定位测试槽的一侧槽壁上开设有L型结构的摆动槽,摆动槽对应的定位测试槽槽壁中设置为中空结构，多个摆动槽之间转动设置有一组转动杆，转动杆穿过电子元件定位测试盘外端部安装有转柄，转动杆内端通过轴承转动连接在定位测试槽槽壁中，每组摆动槽处对应的转动杆朝向定位测试槽内部的侧壁上安装有伸缩件，伸缩件的端部安装有夹紧板，转动杆靠近转柄一端的定位测试槽槽壁内部设置有防倒转组件。

2.根据权利要求1所述的一种电子元件测试用夹紧装置，其特征在于，所述电子元件定位测试盘底部两侧对称安装有两组滑块，滑块对应的电子元件定位测试盘槽内壁上开设有滑槽，滑块滑动连接在滑槽内部。

3.根据权利要求2所述的一种电子元件测试用夹紧装置，其特征在于，所述滑槽朝向电子元件定位测试盘孔开口的一端设置为闭合状。

4.根据权利要求1所述的一种电子元件测试用夹紧装置，其特征在于，所述伸缩件包括有一个螺筒,螺筒的两端螺纹连接有螺杆,其中一个螺杆的端部连接到转动杆上，另一螺杆端部连接到夹紧板上。

5.根据权利要求4所述的一种电子元件测试用夹紧装置，其特征在于，所述夹紧板设置为圆形结构。

6.根据权利要求1所述的一种电子元件测试用夹紧装置，其特征在于，所述防倒转组件包括有固定安装在转动杆上的直齿轮，直齿轮的一侧嵌入式卡接有限位杆，限位杆与直齿轮接触的端部设置为倾斜结构，限位杆远离直齿轮的一端连接有转动轴一，转动轴一向下转动连接有安装在定位测试槽槽壁内部的横向的底板，限位杆靠近直齿轮一侧的底板上安装有支撑杆，所述限位杆顶部通过转动轴二转动连接有一支竖直的升降杆,升降杆顶部伸缩式穿过定位测试槽顶部，且安装有拉环，升降杆与定位测试槽槽顶壁之间的升降杆上套装有缓冲弹簧。

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