CN218648988U - 一种恒温测试装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型提供了一种恒温测试装置，包括本体，所述本体上设有高温测试台和低温测试台；所述高温测试台设有陶瓷加热组件，所述低温测试台设有半导体制冷组件。本实施例通过本体上设置高温测试台和低温测试台，通过陶瓷加热组件的作用，能够使得高温测试台保持恒定的温度，而通过半导体制冷组件能够使得低温测试台保持恒定的温度，从而便于用户对产品在不同温度下的性能进行测试，简单便捷；本恒温测试装置体积小，便于移动携带，更便于使用。
Description
技术领域
本实用新型实施例涉及恒温测试技术领域，尤其涉及一种恒温测试装置。
背景技术
现有的一些材料在生产完成后，对需要对材料本身在不同温度的情况下的性能进行测试，例如硬度、韧性等，但现有的测试装置都比较大，在使用时存在不便，不利于使用。
实用新型内容
本实用新型为解决上述背景技术中提出的技术问题，提供了一种恒温测试装置。
本实用新型提供了一种恒温测试装置，包括本体，所述本体上设有高温测试台和低温测试台；所述高温测试台设有陶瓷加热组件，所述低温测试台设有半导体制冷组件。
进一步地，所述本体上还设有与本体罩合连接的罩体；所述罩体的一端转动连接于本体。
进一步地，所述罩体设有用于容纳高温测试台和低温测试台的容纳腔。
进一步地，所述陶瓷加热组件包块装设于高温测试台上的陶瓷加热片。
进一步地，所述半导体制冷组件包括半导体制冷片及装设于半导体制冷片热端的散热组件；所述半导体制冷片的冷端与低温测试台连接。
进一步地，所述散热组件包括与半导体制冷片热端连接的导热部及设有循环水路的散热部；所述导热部远离与半导体制冷片热端连接的一侧设有多根导热柱；所述散热部设有散热腔，所述多根导热柱容设于所述散热腔内。
进一步地，所述罩体侧面设有透明窗口。
进一步地，所述高温测试台及低温测试台均设有温度传感器。
本实施例通过本体上设置高温测试台和低温测试台，通过陶瓷加热组件的作用，能够使得高温测试台保持恒定的温度，而通过半导体制冷组件能够使得低温测试台保持恒定的温度，从而便于用户对产品在不同温度下的性能进行测试，简单便捷；本恒温测试装置体积小，便于移动携带，更便于使用。
附图说明
图1为本实用新型恒温测试装置一个实施例的立体图。
图2为本实用新型恒温测试装置另一个实施例的立体图。
图3为本实用新型恒温测试装置一个实施例的半导体制冷组件的立体图。
图4为本实用新型恒温测试装置一个实施例的半导体制冷组件的的剖视图。
图5为本实用新型恒温测试装置一个实施例的散热部的立体图。
图6为本实用新型恒温测试装置一个实施例的导热部的立体图。
图7为本实用新型恒温测试装置另一个实施例的导热部的立体图。
具体实施方式
下面通过具体实施方式结合附图对本实用新型作进一步详细说明。应当理解下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本实用新型，而不能理解为对本实用新型的限制，而且，在不冲突的情况下，本实用新型中的实施例中的特征是可以相互结合的。
如图1-图7所示，本实用新型提供了一种恒温测试装置，包括本体1，所述本体1上设有高温测试台22和低温测试台21；所述高温测试台22设有陶瓷加热组件，所述低温测试台21设有半导体制冷组件。
本实施例通过本体1上设置高温测试台22和低温测试台21，通过陶瓷加热组件的作用，能够使得高温测试台22保持恒定的温度，而通过半导体制冷组件能够使得低温测试台21保持恒定的温度，从而便于用户对产品在不同温度下的性能进行测试，简单便捷；本恒温测试装置体积小，便于移动携带，更便于使用。
具体地，所述高温测试台22能够提供80~165℃的高温，而低温测试台21能够提供-30~-80℃的低温；两者错开使用，不同时进行开启使用。
在一个可选实施例中，所述高温测试台22及低温测试台21均设有温度传感器3；通过温度传感器3，能够测试台的温度进行感应，从而便于用户实时监控及调节测试台的温度。
在一个可选实施例中，所述本体1上还设有与本体1罩合连接的罩体11；所述罩体11的一端转动连接于本体1。所述罩体11设有用于容纳高温测试台22和低温测试台21的容纳腔。所述罩体11侧面设有透明窗口12。
本实施例中，通过设置罩体11，能够对高温测试台22和低温测试台21进行密封，从而能够进一步的保障高温测试台22和低温测试台21的温度恒定；而设置透明窗口12，便于通过透明窗口12对产品进行观察。具体地，所述罩体11顶部还设有通孔，便于用户通过通孔进行走线或对产品进行检测等操作。
在一个可选实施例中，所述陶瓷加热组件包块装设于高温测试台22上的陶瓷加热片。通过陶瓷加热片，能够对高温测试台22进行加热，同时，陶瓷加热片能够保持恒温，便于高温检测台也保持恒温。
在一个可选实施例中，所述半导体制冷组件包括半导体制冷片23及装设于半导体制冷片23热端的散热组件；所述半导体制冷片23的冷端与低温测试台21连接。所述散热组件包括与半导体制冷片23热端连接的导热部24及设有循环水路的散热部25；所述导热部24远离与半导体制冷片23热端连接的一侧设有多根导热柱26；所述散热部25设有散热腔27，所述多根导热柱26容设于所述散热腔27内。
本实施例中，通过半导体制冷片23的冷端对低温测试台21进行制冷，从而使得低温测试台21能够保持低温，便于对产品进行检测；而通过循环水路在散热腔27内进行流动，能够带动导热柱26上温度，使得导热部24快速的将半导体制冷片23的热端产生的热量进行散热，简单便捷。设置导热柱26，能够增加导热部24与冷却液的接触面积，从而提高散热效率。
尽管已经显示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实例进行多种变化、修改、替换和变形，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同范围限定。
Claims (7)
1.一种恒温测试装置，其特征在于：包括本体，所述本体上设有高温测试台和低温测试台；所述高温测试台设有陶瓷加热组件，所述低温测试台设有半导体制冷组件；所述半导体制冷组件包括半导体制冷片及装设于半导体制冷片热端的散热组件；所述半导体制冷片的冷端与低温测试台连接。
2.如权利要求1所述的恒温测试装置，其特征在于：所述本体上还设有与本体罩合连接的罩体；所述罩体的一端转动连接于本体。
3.如权利要求2所述的恒温测试装置，其特征在于：所述罩体设有用于容纳高温测试台和低温测试台的容纳腔。
4.如权利要求1所述的恒温测试装置，其特征在于：所述陶瓷加热组件包块装设于高温测试台上的陶瓷加热片。
5.如权利要求1所述的恒温测试装置，其特征在于：所述散热组件包括与半导体制冷片热端连接的导热部及设有循环水路的散热部；所述导热部远离与半导体制冷片热端连接的一侧设有多根导热柱；所述散热部设有散热腔，所述多根导热柱容设于所述散热腔内。
6.如权利要求2所述的恒温测试装置，其特征在于：所述罩体侧面设有透明窗口。
7.如权利要求1所述的恒温测试装置，其特征在于：所述高温测试台及低温测试台均设有温度传感器。
Priority Applications (1)
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|---|---|---|---|
| CN202222066837.9U CN218648988U (zh) | 2022-08-05 | 2022-08-05 | 一种恒温测试装置 |
Applications Claiming Priority (1)
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Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
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| CN218648988U true CN218648988U (zh) | 2023-03-17 |
Family
ID=85491012
Family Applications (1)
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| CN202222066837.9U Active CN218648988U (zh) | 2022-08-05 | 2022-08-05 | 一种恒温测试装置 |
Country Status (1)
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|---|---|
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2022
- 2022-08-05 CN CN202222066837.9U patent/CN218648988U/zh active Active
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