CN218567869U - 一种试验台用的自动检测电路 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及电子工程技术领域，且公开了一种试验台用的自动检测电路，包括电源，电源连接有CPU电路，CPU电路连接有驱动电路，驱动电路连接有检测电路，检测电路连接有通讯电路，本实用新型通过设有检测电路，有利于在74HC165通过SPI口把检测的高电平信号输入到单片机处理，提高了检验人员的检测速度，同时也能降低了产品的不良率防止，防止检测出的信息无法对产品的制造过程进行校验，使产品不良率增高，保证不了产品质量形成过程的稳定性及产品的一致性，增加相关数据的准确性，本实用新型通过设有驱动电路，有利于驱动外部的功率元件，同时利用74HC595扩展了驱动的输出端口可以进行多个进行驱动，减少单一的驱动，在驱动时多个驱动提高工作效率。

Description

一种试验台用的自动检测电路

技术领域

本实用新型涉及电子工程技术领域，更具体地涉及一种试验台用的自动检测电路。

背景技术

试验台用的自动检测电路是一种尽量减少所需人工的检测技术，也是依赖仪器仪表、电子电路学科的综合性技术。

传统的检测主要依赖人，并且主要靠手工的方式来完成传统的检验，同时需人工检测技术不断提高，增加工作人员的工作压力以及在数据生成的后期减少人们对检测结果有意或无意的干扰，在手动的检测无法达到对系统性能的测试和故障诊断的目的，同时在直接测得的被检测对象信息时，无法纳入考虑范围，制定相关决策，在检测和检验活动提供产品及制造过程的质量时，按照这些信息无法对产品的制造过程进行校验，使产品不良率增高，保证不了产品质量形成过程的稳定性及产品的一致性。

实用新型内容

为了克服现有技术的上述缺陷，本实用新型提供了一种试验台用的自动检测电路，以解决上述背景技术中存在的问题。

本实用新型提供如下技术方案：一种试验台用的自动检测电路，包括电源，所述电源连接有CPU电路，所述CPU电路连接有驱动电路，所述驱动电路连接有检测电路，所述检测电路连接有通讯电路。

进一步的，所述电源内部连接电源电路， D、D、D为瞬态二极管，Z、Z为双向保护TVSV,C、C、C、C、C、C、C、C、C、C为滤波电容，FUSE为A保险管，L、L为电感，LM为电源芯片。

进一步的，所述CPU电路内部连接MCU电路采用飞思卡尔位机MCSDZ，该芯片抗干扰能力强，适应温度范围在-度至度能正常工作，X是M晶振，C、C是PF 电容，R是M电阻，R是K电阻，C是.UF电容，C、C、C、C是.UF滤波电容，MCU驱动继电器发出的信号，同时也能够检测外部输入信号。

进一步的，所述驱动电路内部连接驱动电路HC串口转并口芯片，提供V的电源，通过D-O、D-O、D-O、D-O，分别连接到BTS的IN、IN、IN、IN，BTS输出口OUT、OUT、OUT、OUT，OUT连接到D，OUT连接到D，OUT连接到D，OUT连接到D。

进一步的，所述检测电路的内部连接内部对信号检测J为输入接口，C、C是滤波电容，R、R、R、R是分压电阻，D为组合二极管，当J输入信号时，经过电阻分压，输入到HC输入引脚A、B、C、D、E、F、G、H；当输入信号为悬空时，HC通过SPI口把检测的低电平信号输入到单片机处理，当输入信号为接通时，HC通过SPI口把检测的高电平信号输入到单片机处理，整体提高了检验人员的检测速度，同时也能降低了产品的不良率。

进一步的，所述通讯电路内部线路连接SPR通讯电平转换芯片，提供V的电源，R、R分别是上拉电阻和下拉电阻，R是总线的匹配电阻，C、C分别是滤波电容，L和L是滤除总线带来的共模干扰信号，V、V、V分别是TVS管。

本实用新型的技术效果和优点：

1．本实用新型通过设有检测电路，有利于在74HC165通过SPI口把检测的高电平信号输入到单片机处理，提高了检验人员的检测速度，同时也能降低了产品的不良率防止，防止检测出的信息无法对产品的制造过程进行校验，使产品不良率增高，保证不了产品质量形成过程的稳定性及产品的一致性，增加相关数据的准确性。

2．本实用新型通过设有通讯电路，有利于通讯电路通过RS485口把接收到的消息发送到显示器上可以直接反馈于工作人员，防止在数据生成的后期人们对检测结果有意或无意的干扰，保证数据的准确性。

3．本实用新型通过设有驱动电路，有利于驱动外部的功率元件，同时利用74HC595扩展了驱动的输出端口可以进行多个进行驱动，减少单一的驱动，在驱动时多个驱动提高工作效率。

附图说明

图1为本实用新型的整体结构示意图。

图2为本实用新型的信号检测电路原理图。

图3为本实用新型的电源电路原理图示意图。

图4为本实用新型的CPU内部MCU电路原理图。

图5为本实用新型的驱动电路原理图。

图6为本实用新型的通讯电路原理图。

附图标记为：1、电源；2、CPU电路；3、驱动电路；4、检测电路；5、通讯电路。

具体实施方式

下面将结合本实用新型中的附图，对本实用新型中的技术方案进行清楚、完整地描述，另外，在以下的实施方式中记载的各结构的形态只不过是例示，本实用新型所涉及的试验台用的自动检测电路并不限定于在以下的实施方式中记载的各结构，在本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施方式都属于本实用新型保护的范围。

参照图1-6，本实用新型提供了一种试验台用的自动检测电路，包括电源1，电源1连接有CPU电路2，CPU电路2连接有驱动电路3，驱动电路3连接有检测电路4，检测电路4连接有通讯电路5。

参照图2，电源1内部连接电源电路， D1、D2、D3为瞬态二极管，Z1、Z2为双向保护TVS36V,C1、C2、C3、C4、C5、C6、C7、C8、C9、C10为滤波电容，FUSE为5A保险管，L1、L2为电感，LM2576为电源芯片。

参照图3，CPU电路2内部连接MCU电路采用飞思卡尔8位机MC9S08DZ60，该芯片抗干扰能力强，适应温度范围在-40度至125度能正常工作，X1是4M晶振，C104、C105是20PF 电容，R101是10M电阻，R105是10K电阻，C108是0.1UF电容，C101、C102、C103、C104是0.1UF滤波电容。

参照图4，驱动电路3内部连接驱动电路74HC595串口转并口芯片，提供5V的电源，通过D3-O0、D3-O1、D3-O2、D3-O3，分别连接到BTS724的IN1、IN2、IN3、IN4，BTS724输出口OUT1、OUT2、OUT3、OUT4，OUT1连接到D51，OUT2连接到D52，OUT3连接到D53，OUT4连接到D54。

参照图5，检测电路4的内部连接内部对信号检测J1为输入接口，C201、C202是滤波电容，R201、R202、R203、R204是分压电阻，D101为组合二极管，当J1输入信号时，经过电阻分压，输入到74HC165输入引脚A、B、C、D、E、F、G、H；当输入信号为悬空时，74HC165通过SPI口把检测的低电平信号输入到单片机处理，当输入信号为接通时，74HC165通过SPI口把检测的高电平信号输入到单片机处理。

参照图6，通讯电路5内部线路连接SP485R通讯电平转换芯片，提供5V的电源，R7、R8分别是上拉电阻和下拉电阻，R9是总线的匹配电阻，C1、C2分别是滤波电容，L1和L2是滤除总线带来的共模干扰信号，V4、V5、V6分别是TVS管。

本实用新型的工作原理：

在使用该试验台用的自动检测电路时，首先电源1内部输入电压BAT+和BAT-，D1、D2为了防止BAT+和BAT-接反起到保护作用，经过滤波送给LM2576的输入端，通过LM2576与L2、D3、C7、C8、C9组成BUCK型降压电路，工作频率52HZ，转换效率高，能保证输出电压5V，最大误差不大于4%，最大负载电流为3A，供其内部芯片使用，使CPU电路2内部的MCU上电后，实时检测RS485总线上的信息，检测到输入信号后，经过MCU分析，去执行相应的继电器动作，当驱动电路3的内部74HC595接收到单片机信号后，去控制BTS724的控制端，BTS724内部集成4组MOS管，每个MOS管都能驱动外部继电器动作，再将动作后的元件对应有反馈信号的输入，把反馈的信号输入到CPU电路2的内部把动作功能的反馈信息定时向总线上发送，使响应的动作信息反馈到显示器中，能够实时反应继电器的动作状态，从而实现控制电路的检测，再通过检测电路4检测到执行元件的数据后按下启动信号，单片机接收到信号后，控制BTS724驱动外部继电器动作，外部继电器通过常开、常闭点把信号反馈到输入端，通过J1输入口，把输入信号反馈到74HC165输入端，然后通过74HC165把信号送给单片机，通过单片机进行数据处理，判断继电器触点是否动作，通过MCU检测到输入信号后，按照通讯协议把信息传输到通讯电路5内部RS485总线传输到显示器中。

最后应说明的几点是：首先，在本申请的描述中，需要说明的是，除非另有规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，可以是机械连接或电连接，也可以是两个元件内部的连通，可以是直接相连，“上”、“下”、“左”、“右”等仅用于表示相对位置关系，当被描述对象的绝对位置改变，则相对位置关系可能发生改变；

其次：本实用新型公开实施例附图中，只涉及到与本公开实施例涉及到的结构，其他结构可参考通常设计，在不冲突情况下，本实用新型同一实施例及不同实施例可以相互组合；

最后：以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已，并不用于限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (5)

1.一种试验台用的自动检测电路，包括电源（1），其特征在于：所述电源（1）连接有CPU电路（2），所述CPU电路（2）连接有驱动电路（3），所述驱动电路（3）连接有检测电路（4），所述检测电路（4）连接有通讯电路（5），所述电源（1）内部连接电源电路， D1、D2、D3为瞬态二极管，Z1、Z2为双向保护TVS36V,C1、C2、C3、C4、C5、C6、C7、C8、C9、C10为滤波电容，FUSE为5A保险管，L1、L2为电感，LM2576为电源芯片，所述CPU电路（2）内部连接MCU电路采用飞思卡尔8位机MC9S08DZ60，X1是4M晶振，C104、C105是20PF 电容，R101是10M电阻，R105是10K电阻，C108是0.1UF电容，C101、C102、C103、C104是0.1UF滤波电容。

2.根据权利要求1所述的一种试验台用的自动检测电路，其特征在于：所述CPU电路（2）内部连接MCU电路采用飞思卡尔8位机MC9S08DZ60，X1是4M晶振，C104、C105是20PF 电容，R101是10M电阻，R105是10K电阻，C108是0.1UF电容，C101、C102、C103、C104是0.1UF滤波电容。

3.根据权利要求1所述的一种试验台用的自动检测电路，其特征在于：所述驱动电路（3）内部连接驱动电路74HC595串口转并口芯片，提供5V的电源，通过D3-O0、D3-O1、D3-O2、D3-O3，分别连接到BTS724的IN1、IN2、IN3、IN4，BTS724输出口OUT1、OUT2、OUT3、OUT4，OUT1连接到D51，OUT2连接到D52，OUT3连接到D53，OUT4连接到D54。

4.根据权利要求1所述的一种试验台用的自动检测电路，其特征在于：所述检测电路（4）的内部连接内部对信号检测J1为输入接口，C201、C202是滤波电容，R201、R202、R203、R204是分压电阻，D101为组合二极管，当J1输入信号时，经过电阻分压，输入到74HC165输入引脚A、B、C、D、E、F、G、H；当输入信号为悬空时，74HC165通过SPI口把检测的低电平信号输入到单片机处理，当输入信号为接通时，74HC165通过SPI口把检测的高电平信号输入到单片机处理。

5.根据权利要求1所述的一种试验台用的自动检测电路，其特征在于：所述通讯电路（5）内部线路连接SP485R通讯电平转换芯片，提供5V的电源，R7、R8分别是上拉电阻和下拉电阻，R9是总线的匹配电阻，C1、C2分别是滤波电容，L1和L2是滤除总线带来的共模干扰信号，V4、V5、V6分别是TVS管。

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