CN218481693U - 一种超广角光收集系统 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种超广角光收集系统,包括光电检测器、非球面透镜、平凸聚光透镜、凹面发射镜。通过大数值孔径非球面透镜折射汇聚收集。同时位于发光点发出的光经过后侧被凹面反射镜反射收集,再次通过非球面透镜及平凸透镜收集系统收集。经非球面透镜直接收集及经凹面发射镜反射收集的光,均经过平凸聚光透镜进一步聚焦照射到光电检测器上。本实用新型收集系统结构简单,透镜数量少,工艺实现难度低。本实用新型光收集角度范围广,实现了全角度161°超广角光收集范围。除了适用流式细胞分析仪,微生物检测分析仪外,还可适用于其他需要超大角度收集范围的弱光探测或收集领域。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种超广角光收集系统。
背景技术
现有的广角光收集系统主要有两种结构的技术方案。第一种结构的技术方案是,利用抛物面反射镜实现光的收集作用,收光角度范围约仅为全角113度,且需要对抛物面反射镜进行打孔操作,制造工艺复杂,同时相比于球面反射镜,抛物面反射镜的制造成本极高,不利于产业推广。113度的光接收范围,对于在荧光发光量极低的情况下,难以测到,且信噪比很低。
另一种结构的广角光接收系统,收光角度范围约为±66.6度,全角范围133.2度。但这种技术方案的透镜数目使用过多,特别是使用了胶合透镜,其制造工艺复杂,造价成本高。虽然这种结构的收光角度范围相比于上述结构有所提高,但对于荧光发光量极低的情况,角度接收范围可能仍然不足以探测得到。
现有广角光收集系统的技术方案,不外乎上述两种方案之一或其变更,存在光收集角度范围不够广,结构复杂,工艺难度高,制造成本高的问题,导致对于发光量极低,特别针对于弱荧光领域,利用现有技术进行探测时风险极大,信噪比很低,甚至无法探测到有效信号。
发明内容
本实用新型为解决现有的广角光收集系统在使用中存在的问题,提供一种结构简单,透镜数目使用少、全角角度大的超广角光收集系统。
本实用新型解决现有问题的技术方案是:一种超广角光收集系统,包括:
光电检测器;
非球面透镜,用于将光线汇聚,其平面为光入射面,凸面为光出射面;
平凸聚光透镜,用于将非球面透镜汇聚的光线聚焦到光电检测器上,其凸面为光入射面,平面为光出射面,所述的平凸聚光透镜与非球面透镜共光轴; 凹面发射镜,收集发光点光源并反射、从非球面透镜光射入面至非球面透镜,所述的非球面透镜与凹面发射镜共光轴。
作为进一步改进,所述的凹面发射镜的收集角度为全角60°。
作为进一步改进,所述的非球面透镜收集角度为全角101°。
作为进一步改进,还包括滤光片,所述的滤光片设置于平凸聚光透镜的平面光射出侧。
作为进一步改进,所述的非球面透镜数值孔径NA为0.77。
作为进一步改进,所述的光电检测器为光电二极管APD或光电倍增管PMT。
作为进一步改进,所述的光电二极管APD为雪崩光电二极管APD。
作为进一步改进,所述的凹面发射镜为镀铝、镀银、镀金凹面发射镜。
本实用新型与现有技术相比较,其有益效果是:通过设置光电检测器、用于将光线汇聚的非球面透镜、用于将非球面透镜汇聚的光线聚焦到光电检测器上的平凸聚光透镜、收集发光点光源并反射、从非球面透镜光射入面至非球面透镜的凹面发射镜。通过大数值孔径非球面透镜折射汇聚收集。同时位于发光点发出的光经过后侧被凹面反射镜反射收集,再次通过非球面透镜及平凸透镜收集系统收集。经非球面透镜直接收集及经凹面发射镜反射收集的光,均经过平凸聚光透镜进一步聚焦照射到光电检测器上。
本实用新型收集系统结构简单,透镜数量少,工艺实现难度低,只需一个大数值孔径NA非球面透镜、一个普通平凸球面聚光镜、及凹面发射镜即可。
本实用新型光收集角度范围广,实现了全角度161°超广角光收集范围。
本实用新型除了适用流式细胞分析仪,微生物检测分析仪外,还可适用于其他需要超大角度收集范围的弱光探测或收集领域。
附图说明
图1是本实用新型的结构示意图。
图2是本实用新型另一种实施案例的结构示意图。
具体实施方式
参见图1-2,本实施案例一种超广角光收集系统,包括:光电检测器6、非球面透镜2、平凸聚光透镜3、凹面发射镜5。
非球面透镜2,用于将光线汇聚,其平面为光入射面,凸面为光出射面。
平凸聚光透镜3,用于将非球面透镜2汇聚的光线聚焦到光电检测器6上,其凸面为光入射面,平面为光出射面,所述的平凸聚光透镜3与非球面透镜2共光轴。 凹面发射镜5,收集发光点1光源并反射、从非球面透镜的光射入面至非球面透镜2,所述的非球面透镜2与凹面发射镜5共光轴。发光点1可优选设置于凹面发射镜5的焦点处。
作为进一步的优选,所述的凹面发射镜5的收集角度为全角60°。非球面透镜2收集角度为全角101°。这样凹面发射镜5结合非球面透镜2的收集角度光收集角度实现了全角度60°+101°=161°的收集范围。
作为另一种实施案例,参见图2,还包括滤光片4,所述的滤光片4设置于平凸聚光透镜3的平面光射出侧,对平凸聚光透镜3射出的聚焦光进行滤光。
上述的非球面透镜2数值孔径NA为0.77。
上述的光电检测器6为光电二极管APD或光电倍增管PMT。作为进一步优选,上述的光电二极管APD为雪崩光电二极管APD。
所述的凹面发射镜5为镀铝、镀银、镀金凹面发射镜5。
本实用新型透镜参数如下:
其中,非球面透镜:数值孔径NA=0.77。
本实用新型结构工作原理如下:将待检测样本置于收集发光点1处,待检测样本发出的荧光或其他较弱的光通过大数值孔径非球面透镜2折射汇聚收集。非球面透镜2对发光点1处检测样本的收集角度约为全角101°。同时位于发光点1处的检测样本发出的光经过后侧被凹面反射镜5反射收集,凹面发射镜5反射收集发光点1处的光,再次通过非球面透镜2及平凸透镜收集系统收集,收集角度约为全角60°。经非球面透镜2直接收集及经凹面发射镜5反射收集的光,均经过平凸聚光透镜3进一步聚焦照射到光电检测器6上。如果对于滤光有要求,可在平凸聚光透镜3的光射出侧后增加一个滤光片,具体可视实际需要情况而定。再经过平凸聚光透镜3进一步聚焦于光电检测器6处。
Claims (8)
1.一种超广角光收集系统,其特征在于:包括 光电检测器; 非球面透镜,用于将光线汇聚,其平面为光入射面,凸面为光出射面; 平凸聚光透镜,用于将非球面透镜汇聚的光线聚焦到光电检测器上,其凸面为光入射面,平面为光出射面,所述的平凸聚光透镜与非球面透镜共光轴; 凹面发射镜,收集发光点光源并反射、从非球面透镜光射入面至非球面透镜,所述的非球面透镜与凹面发射镜共光轴。
2.如权利要求1所述的超广角光收集系统,其特征在于:所述的凹面发射镜的收集角度为全角60°。
3.如权利要求1所述的超广角光收集系统,其特征在于:所述的非球面透镜收集角度为全角101°。
4.如权利要求1所述的超广角光收集系统,其特征在于:还包括滤光片,所述的滤光片设置于平凸聚光透镜的平面光射出侧。
5.如权利要求1所述的超广角光收集系统,其特征在于:所述的非球面透镜数值孔径NA为0.77。
6.如权利要求1所述的超广角光收集系统,其特征在于:所述的光电检测器为光电二极管APD或光电倍增管PMT。
7.如权利要求6所述的超广角光收集系统,其特征在于:所述的光电二极管APD为雪崩光电二极管APD。
8.如权利要求1所述的超广角光收集系统,其特征在于:所述的凹面发射镜为镀铝、镀银、镀金凹面发射镜。
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