CN218445833U - 一种处理器主板用测试装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种处理器主板用测试装置,涉及主板技术领域,一种处理器主板用测试装置,包括测试装置本体,所述测试装置本体的正面螺纹连接有控制开关,所述测试装置本体的一侧卡合安装有显示屏,所述测试装置本体的一侧固定安装有背板,所述背板的一侧安装有移动机构,所述移动机构包括滑槽、电动滑块和连接板,所述滑槽开设在背板的一侧。本实用新型处理器主板用测试装置,通过设置有移动机构,通过滑槽和电动滑块的相互配合使用,顺着滑槽的内壁滑动电动滑块,从而使得带动测试主体进行左右移动,不需要手动去调节处理器主板的位置,从而使其在进行测试时更加方便,更全面,提高测试效率,大大的满足了使用者的需求。
Description
技术领域
本实用新型涉及主板技术领域,具体涉及一种处理器主板用测试装置。
背景技术
主板,又叫主机板、系统板、或母板,是计算机最基本的同时也是最重要的部件之一。主板一般为矩形电路板,上面安装了组成计算机的主要电路系统,一般有BIOS芯片、I/O控制芯片、键盘和面板控制开关接口、指示灯插接件、扩充插槽、主板及插卡的直流电源供电接插件等元件。
如中国专利公开号为,CN211043587U,本实用新型涉及一种主板测试装置,包括底座,所述底座为中空设置,所述底座的后端上设置有支撑板,与底座相垂直设置,所述支撑板上设置有至少3个下压装置,所述下压装置的下端上设置有压板,所述压板上设置有若干压针,朝向下方设置,所述底座上设置有产品放置座,位于压板的正下方设置,所述产品放置座上开设有产品连通孔,中空的所述底座内设置有若干测试主板,位于产品放置座的下方并与其一一对应设置,所述测试主板上的测试柱穿过产品连通孔与产品相碰接连接,所述底座上设置测试按键,与测试主板相连,所述压板上还设置有霍尔磁铁按键,所述测试主板通过数据线与测试装置相连。本实用新型提高测试效率,并能提高测试准确性。
针对现有技术存在以下问题:
1、现有技术中的处理器主板用测试装置,大多数在使用过程中,需要手动将处理器主板进行移动测试,从而使其测试的更全面,使得测试结果更加精确,可在手动调节的过程中,可能会与处理器主板出现静电现象,从而造成处理器主板损坏,严重的可能致其直接无法使用,造成经济损失;
2、现有技术中的处理器主板用测试装置,大多数在使用时都是直接对处理器主板进行按压固定,无法调节对其固定的位置,可能会影响其正常测试效率,从而影响其使用效果。
实用新型内容
本实用新型提供一种处理器主板用测试装置,以解决上述背景技术中提出的问题。
为解决上述技术问题,本实用新型所采用的技术方案是:
一种处理器主板用测试装置,包括测试装置本体,所述测试装置本体的正面螺纹连接有控制开关,所述测试装置本体的一侧卡合安装有显示屏,所述测试装置本体的一侧固定安装有背板,所述背板的一侧安装有移动机构;
所述移动机构包括滑槽、电动滑块和连接板,所述滑槽开设在背板的一侧,所述滑槽的内部活动连接有电动滑块,所述电动滑块的一侧固定安装有连接板;
所述连接板的一侧固定安装有支撑板,所述支撑板的一侧螺纹连接有电动升降套杆,所述电动升降套杆的一端固定安装有测试主体,所述测试装置本体的一侧安装有夹持机构,所述测试装置本体的上方固定安装有测试台,所述测试装置本体的外壁一侧固定安装有合页,所述测试装置本体通过合页活动连接有防护盖。
本实用新型技术方案的进一步改进在于:所述电动滑块与滑槽构成滑动结构,且电动滑块的外径尺寸与滑槽的内径尺寸相匹配。
采用上述技术方案,该方案中通过滑槽和电动滑块的相互配合使用,顺着滑槽的内壁滑动电动滑块,从而使得带动测试主体进行左右移动,不需要手动去调节处理器主板的位置,从而使其在进行测试时更加方便。
本实用新型技术方案的进一步改进在于:所述测试主体通过电动升降套杆与支撑板构成升降结构,且电动升降套杆与支撑板为垂直分布。
采用上述技术方案,该方案中的电动升降套杆便于调节测试主体的位置,从而使得测试效果更佳。
本实用新型技术方案的进一步改进在于:所述电动升降套杆与支撑板之间通过螺钉构成可拆卸结构。
采用上述技术方案,该方案中通过螺钉便于对电动升降套杆进行安装拆卸。
本实用新型技术方案的进一步改进在于:所述夹持机构包括固定安装在测试装置本体一侧的固定板,所述固定板的一侧螺纹连接有伸缩套杆,所述伸缩套杆的一端固定安装有夹持板,所述夹持板的外壁表面一侧粘接有防静电垫。
采用上述技术方案,该方案中使其便于对夹持固定的位置进行调节,从而使得夹持固定效果更好,提高工作效率。
本实用新型技术方案的进一步改进在于:所述夹持板与伸缩套杆构成伸缩结构,且伸缩套杆以夹持板的中轴线对称设置。
采用上述技术方案,该方案中的伸缩套杆便于对夹持板的位置进行调节,从而可以根据处理器主板的规格尺寸进行调节,使其夹持固定的效果更好。
本实用新型技术方案的进一步改进在于:所述防静电垫与夹持板为平行分布,且防静电垫与夹持板通过胶水相粘接。
采用上述技术方案,该方案中的防静电垫可以避免静电发生对处理器主板造成损坏,造成资源浪费,这样设置可以保证处理器主板的正常使用,避免了资源浪费。
由于采用了上述技术方案,本实用新型相对现有技术来说,取得的技术进步是:
1、本实用新型提供一种处理器主板用测试装置,通过设置有移动机构,通过滑槽和电动滑块的相互配合使用,顺着滑槽的内壁滑动电动滑块,从而使得带动测试主体进行左右移动,不需要手动去调节处理器主板的位置,从而使其在进行测试时更加方便,更全面,提高测试效率,大大的满足了使用者的需求。
2、本实用新型提供一种处理器主板用测试装置,通过设置夹持机构,通过伸缩套杆便于对夹持板的位置进行调节,从而可以根据处理器主板的规格尺寸进行调节,使其夹持固定的效果更好,以便于对其进行测试工作,防静电垫可以避免静电发生对处理器主板造成损坏,造成资源浪费,这样设置可以保证处理器主板的正常使用,避免了资源浪费。
附图说明
图1为本实用新型正视外观结构示意图;
图2为本实用新型正视剖面结构示意图;
图3为本实用新型夹持机构结构示意图;
图4为本实用新型图2中A处放大结构示意图。
图中:1、测试装置本体;2、控制开关;3、显示屏;4、背板;5、移动机构;501、滑槽;502、电动滑块;503、连接板;6、支撑板;7、电动升降套杆;8、测试主体;9、夹持机构;901、固定板;902、伸缩套杆;903、夹持板;904、防静电垫;10、测试台;11、合页;12、防护盖。
具体实施方式
下面结合实施例对本实用新型做进一步详细说明:
实施例1
如图1-4所示,本实用新型提供了一种处理器主板用测试装置,包括测试装置本体1,测试装置本体1的正面螺纹连接有控制开关2,测试装置本体1的一侧卡合安装有显示屏3,测试装置本体1的一侧固定安装有背板4,背板4的一侧安装有移动机构5;
移动机构5包括滑槽501、电动滑块502和连接板503,滑槽501开设在背板4的一侧,滑槽501的内部活动连接有电动滑块502,电动滑块502的一侧固定安装有连接板503;
连接板503的一侧固定安装有支撑板6,支撑板6的一侧螺纹连接有电动升降套杆7,电动升降套杆7的一端固定安装有测试主体8,测试装置本体1的一侧安装有夹持机构9,测试装置本体1的上方固定安装有测试台10,测试装置本体1的外壁一侧固定安装有合页11,测试装置本体1通过合页11活动连接有防护盖12,通过设置有移动机构5,通过滑槽501和电动滑块502的相互配合使用,顺着滑槽501的内壁滑动电动滑块502,从而使得带动测试主体8进行左右移动,不需要手动去调节处理器主板的位置,从而使其在进行测试时更加方便,更全面,提高测试效率,大大的满足了使用者的需求。
在本实施例中,电动滑块502与滑槽501构成滑动结构,且电动滑块502的外径尺寸与滑槽501的内径尺寸相匹配,该方案中通过滑槽501和电动滑块502的相互配合使用,顺着滑槽501的内壁滑动电动滑块502,从而使得带动测试主体8进行左右移动,不需要手动去调节处理器主板的位置,从而使其在进行测试时更加方便。
实施例2
如图1-4所示,在实施例1的基础上,本实用新型提供一种技术方案:优选的,测试主体8通过电动升降套杆7与支撑板6构成升降结构,且电动升降套杆7与支撑板6为垂直分布,该方案中的电动升降套杆7便于调节测试主体8的位置,从而使得测试效果更佳。
在本实施例中,电动升降套杆7与支撑板6之间通过螺钉构成可拆卸结构,该方案中通过螺钉便于对电动升降套杆7进行安装拆卸。
实施例3
如图1-4所示,在实施例1的基础上,本实用新型提供一种技术方案:优选的,夹持机构9包括固定安装在测试装置本体1一侧的固定板901,固定板901的一侧螺纹连接有伸缩套杆902,伸缩套杆902的一端固定安装有夹持板903,夹持板903的外壁表面一侧粘接有防静电垫904,该方案中使其便于对夹持固定的位置进行调节,从而使得夹持固定效果更好,提高工作效率。
在本实施例中,夹持板903与伸缩套杆902构成伸缩结构,且伸缩套杆902以夹持板903的中轴线对称设置,该方案中的伸缩套杆902便于对夹持板903的位置进行调节,从而可以根据处理器主板的规格尺寸进行调节,使其夹持固定的效果更好,防静电垫904与夹持板903为平行分布,且防静电垫904与夹持板903通过胶水相粘接,该方案中的防静电垫904可以避免静电发生对处理器主板造成损坏,造成资源浪费,这样设置可以保证处理器主板的正常使用,避免了资源浪费。
下面具体说一下该处理器主板用测试装置的工作原理。
如图1-4所示,首先将需要测试的处理器主板摆放在测试台10上,然后调节根据其规格尺寸调节伸缩套杆902的长度,伸缩套杆902带动夹持板903运动,使得夹持板903将处理器主板夹紧固定,然后顺着滑槽501的内壁滑动电动滑块502,使得带动测试主体8左右运动,然后再通过调节电动升降套杆7的长度,将测试主体8调节到合适的位置,从而对处理器主板进行测试工作。
上文一般性的对本实用新型做了详尽的描述,但在本实用新型基础上,可以对之做一些修改或改进,这对于技术领域的一般技术人员是显而易见的。因此,在不脱离本实用新型思想精神的修改或改进,均在本实用新型的保护范围之内。
Claims (7)
1.一种处理器主板用测试装置,包括测试装置本体(1),其特征在于:所述测试装置本体(1)的正面螺纹连接有控制开关(2),所述测试装置本体(1)的一侧卡合安装有显示屏(3),所述测试装置本体(1)的一侧固定安装有背板(4),所述背板(4)的一侧安装有移动机构(5);
所述移动机构(5)包括滑槽(501)、电动滑块(502)和连接板(503),所述滑槽(501)开设在背板(4)的一侧,所述滑槽(501)的内部活动连接有电动滑块(502),所述电动滑块(502)的一侧固定安装有连接板(503);
所述连接板(503)的一侧固定安装有支撑板(6),所述支撑板(6)的一侧螺纹连接有电动升降套杆(7),所述电动升降套杆(7)的一端固定安装有测试主体(8),所述测试装置本体(1)的一侧安装有夹持机构(9),所述测试装置本体(1)的上方固定安装有测试台(10),所述测试装置本体(1)的外壁一侧固定安装有合页(11),所述测试装置本体(1)通过合页(11)活动连接有防护盖(12)。
2.根据权利要求1所述的一种处理器主板用测试装置,其特征在于:所述电动滑块(502)与滑槽(501)构成滑动结构,且电动滑块(502)的外径尺寸与滑槽(501)的内径尺寸相匹配。
3.根据权利要求1所述的一种处理器主板用测试装置,其特征在于:所述测试主体(8)通过电动升降套杆(7)与支撑板(6)构成升降结构,且电动升降套杆(7)与支撑板(6)为垂直分布。
4.根据权利要求1所述的一种处理器主板用测试装置,其特征在于:所述电动升降套杆(7)与支撑板(6)之间通过螺钉构成可拆卸结构。
5.根据权利要求1所述的一种处理器主板用测试装置,其特征在于:所述夹持机构(9)包括固定安装在测试装置本体(1)一侧的固定板(901),所述固定板(901)的一侧螺纹连接有伸缩套杆(902),所述伸缩套杆(902) 的一端固定安装有夹持板(903),所述夹持板(903)的外壁表面一侧粘接有防静电垫(904)。
6.根据权利要求5所述的一种处理器主板用测试装置,其特征在于:所述夹持板(903)与伸缩套杆(902)构成伸缩结构,且伸缩套杆(902)以夹持板(903)的中轴线对称设置。
7.根据权利要求5所述的一种处理器主板用测试装置,其特征在于:所述防静电垫(904)与夹持板(903)为平行分布,且防静电垫(904)与夹持板(903)通过胶水相粘接。
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