CN218412813U - 一种集成电路板芯片测试治具 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种集成电路板芯片测试治具，涉及电路板芯片测试技术领域，本实用新型包括测试平台和托板，测试平台上端安装有托板，测试平台表面设置有凹槽，凹槽内部连接有伸缩支杆，伸缩支杆顶端与托板连接，托板表面设置有放置槽，放置槽两相对内侧表面均连接有微型推杆，微型推杆的输出端连接有夹持板，测试平台一侧安装有连接架，连接架一端连接有安装板，安装板下端安装有纵推杆，纵推杆一端连接有吸盘，吸盘下方与放置槽位置相适应，安装板表面连接有热风机。本实用新型测试时将集成电路板芯片放置于托板表面的放置槽，利用微型推杆经夹持板进行辅助的夹持固定，或利用纵推杆经吸盘进行吸附悬置，满足不同的测试需求。

Description

一种集成电路板芯片测试治具

技术领域

本实用新型涉及电路板芯片测试技术领域，特别涉及一种集成电路板芯片测试治具。

背景技术

集成电路芯片是包括一硅基板、至少一电路、一固定封环、一接地环及至少一防护环的电子元件，集成电路芯片在生产过程中，需要进行性能测试；

目前的集成电路板芯片测试设备操作适应性不足，对于芯片的放置稳定性不足，缺乏夹持构件，并且通常采取单一的放置方式，难以满足不同测试需求，此外对测试时的芯片缺乏维护结构，芯片含尘和含潮时影响使用；为此，我们提出一种集成电路板芯片测试治具。

实用新型内容

本实用新型的主要目的在于提供一种集成电路板芯片测试治具，以解决背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本实用新型采取的技术方案为：一种集成电路板芯片测试治具，包括测试平台和托板，所述测试平台上端安装有托板，所述测试平台表面设置有凹槽，所述凹槽内部连接有伸缩支杆，所述伸缩支杆顶端与托板连接，所述托板表面设置有放置槽，所述放置槽两相对内侧表面均连接有微型推杆，所述微型推杆的输出端连接有夹持板，所述测试平台一侧安装有连接架，所述连接架一端连接有安装板，所述安装板下端安装有纵推杆，所述纵推杆一端连接有吸盘，所述吸盘下方与放置槽位置相适应，所述安装板表面连接有热风机，所述热风机的输出端连接有导风管，所述导风管的输出端与放置槽位置相适应，所述连接架另一端连接有滑块，所述测试平台外侧表面设置有滑槽，所述滑块与滑槽位置相适应，且所述滑块与滑槽滑动配合。

所述放置槽底面连接有滤板，对芯片表面灰尘进行滤除。

所述测试平台一侧连接有电动支杆，所述电动支杆一端与连接架连接，对安装板及吸盘等进行辅助横移。

所述纵推杆一端连接有卡件，所述卡件一端与安装板连接，对纵推杆进行安装连接。

所述测试平台侧表面连接有控制面板，所述控制面板分别与微型推杆、热风机、电动支杆和纵推杆电性连接，操作控制自适应力强。

所述测试平台底端连接有排尘管，所述排尘管一端与凹槽贯通，对吹除的灰尘进行排出。

所述测试平台底端固定连接有支脚，对测试平台进行支撑固定。

本实用新型具有如下有益效果：

本实用新型集成电路板芯片测试治具，测试时将集成电路板芯片放置于托板表面的放置槽，利用微型推杆经夹持板进行辅助的夹持固定，或利用纵推杆经吸盘进行吸附悬置，满足不同的测试需求。

本实用新型集成电路板芯片测试治具，安装板表面连接热风机，热风机的输出端连接导风管，其与放置槽位置相适应，对集成电路板芯片进行除尘干燥处理，保持集成电路板芯片的测试精度。

附图说明

图1为本实用新型集成电路板芯片测试治具的整体结构示意图；

图2为本实用新型集成电路板芯片测试治具的侧视结构示意图；

图3为本实用新型集成电路板芯片测试治具的图2中A-A面的剖视图；

图4为本实用新型集成电路板芯片测试治具的滑块位置结构示意图；

图5为本实用新型集成电路板芯片测试治具的底面结构示意图。

图中：1、测试平台；2、托板；3、放置槽；4、微型推杆；5、夹持板；6、安装板；7、热风机；8、导风管；9、滤板；10、伸缩支杆；11、凹槽；12、电动支杆；13、连接架；14、滑块；15、滑槽；16、纵推杆；17、卡件；18、吸盘；19、控制面板；20、支脚；21、排尘管。

具体实施方式

为使本实用新型实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，下面结合具体实施方式，进一步阐述本实用新型。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，术语“上”、“下”、“内”、“外”“前端”、“后端”、“两端”、“一端”、“另一端”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“设置有”、“连接”等，应做广义理解，例如“连接”，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

请参照图1-图5所示，本实用新型为一种集成电路板芯片测试治具，包括测试平台1和托板2，测试平台1上端安装有托板2，测试平台1表面设置有凹槽11，凹槽11内部连接有伸缩支杆10，伸缩支杆10顶端与托板2连接，托板2表面设置有放置槽3，放置槽3两相对内侧表面均连接有微型推杆4，微型推杆4的输出端连接有夹持板5，测试平台1一侧安装有连接架13，连接架13一端连接有安装板6，安装板6下端安装有纵推杆16，纵推杆16一端连接有吸盘18，吸盘18下方与放置槽3位置相适应，安装板6表面连接有热风机7，热风机7的输出端连接有导风管8，导风管8的输出端与放置槽3位置相适应，连接架13另一端连接有滑块14，测试平台1外侧表面设置有滑槽15，滑块14与滑槽15位置相适应，且滑块14与滑槽15滑动配合，连接架13形成横向移动。

放置槽3底面连接有滤板9，对吹除的灰尘进行滤除；测试平台1一侧连接有电动支杆12，电动支杆12一端与连接架13连接，对连接架13进行辅助移动；纵推杆16一端连接有卡件17，卡件17一端与安装板6连接，对纵推杆16进行连接；测试平台1侧表面连接有控制面板19，控制面板19分别与微型推杆4、热风机7、电动支杆12和纵推杆16电性连接，操作控制自动化程度高；测试平台1底端连接有排尘管21，排尘管21一端与凹槽11贯通，便于进行灰尘排出；测试平台1底端固定连接有支脚20，对测试平台1进行支撑固定。

需要说明的是，本实用新型为集成电路板芯片测试治具，测试时将集成电路板芯片放置于托板2表面的放置槽3，开启微型推杆4利用夹持板5进行辅助的夹持固定，或利用纵推杆16经吸盘18进行吸附悬置，满足不同的测试需求，安装板6作为吸盘18机构的连接结构，利用一端滑动结构进行横移，以对测试位置进行调节，操作可控性强；

安装板6表面还连接热风机7，热风机7的输出端连接导风管8，其与放置槽3位置相适应，对集成电路板芯片进行除尘干燥处理，保持集成电路板芯片的测试精度及测试效果，同时对集成电路板芯片形成相应的生产防护，操作适应性强，其中，方案中微型推杆4的使用额定输出功率为0.35KW、热风机7的使用额定输出功率为1.55KW、电动支杆12的使用额定输出功率为0.8KW、纵推杆16的使用额定输出功率为0.5KW。

以上显示和描述了本实用新型的基本原理和主要特征和本实用新型的优点。本行业的技术人员应该了解，本实用新型不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的只是说明本实用新型的原理，在不脱离本实用新型精神和范围的前提下，本实用新型还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本实用新型范围内。本实用新型要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。

Claims (7)

1.一种集成电路板芯片测试治具，包括测试平台(1)和托板(2)，所述测试平台(1)上端安装有托板(2)，其特征在于：所述测试平台(1)表面设置有凹槽(11)，所述凹槽(11)内部连接有伸缩支杆(10)，所述伸缩支杆(10)顶端与托板(2)连接，所述托板(2)表面设置有放置槽(3)，所述放置槽(3)两相对内侧表面均连接有微型推杆(4)，所述微型推杆(4)的输出端连接有夹持板(5)，所述测试平台(1)一侧安装有连接架(13)，所述连接架(13)一端连接有安装板(6)，所述安装板(6)下端安装有纵推杆(16)，所述纵推杆(16)一端连接有吸盘(18)，所述吸盘(18)下方与放置槽(3)位置相适应，所述安装板(6)表面连接有热风机(7)，所述热风机(7)的输出端连接有导风管(8)，所述导风管(8)的输出端与放置槽(3)位置相适应，所述连接架(13)另一端连接有滑块(14)，所述测试平台(1)外侧表面设置有滑槽(15)，所述滑块(14)与滑槽(15)位置相适应，且所述滑块(14)与滑槽(15)滑动配合。

2.根据权利要求1所述的一种集成电路板芯片测试治具，其特征在于：所述放置槽(3)底面连接有滤板(9)。

3.根据权利要求1所述的一种集成电路板芯片测试治具，其特征在于：所述测试平台(1)一侧连接有电动支杆(12)，所述电动支杆(12)一端与连接架(13)连接。

4.根据权利要求1所述的一种集成电路板芯片测试治具，其特征在于：所述纵推杆(16)一端连接有卡件(17)，所述卡件(17)一端与安装板(6)连接。

5.根据权利要求1所述的一种集成电路板芯片测试治具，其特征在于：所述测试平台(1)侧表面连接有控制面板(19)，所述控制面板(19)分别与微型推杆(4)、热风机(7)、电动支杆(12)和纵推杆(16)电性连接。

6.根据权利要求1所述的一种集成电路板芯片测试治具，其特征在于：所述测试平台(1)底端连接有排尘管(21)，所述排尘管(21)一端与凹槽(11)贯通。

7.根据权利要求1所述的一种集成电路板芯片测试治具，其特征在于：所述测试平台(1)底端固定连接有支脚(20)。

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