CN218158217U - 一种拆卸方便的存储芯片简易测试装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种拆卸方便的存储芯片简易测试装置,属于芯片测试技术领域,其中,包括壳体,所述壳体内部开设有放置腔和测试腔,所述放置腔内壁的底部开设有第一凹槽,所述第一凹槽内固定连接有双轴电机,所述双轴电机的两个输出轴上分别固定连接有第一丝杆和第二丝杆,通过驱动电机工作,能够带动主动齿轮与从动齿轮啮合转动,进而能够通过第二转轴带动支撑板转动,实现带动芯片本体转动的目的,达到均匀受热或受冷的目的,保障测试准确性,通过加热管和制冷器工作,能够分别根据测试需要,借助第二吸风泵和第一吸风泵,将热气或低温气体经输气管输送至测试腔内,实现对芯片本体进行高温或低温测试的目的。
Description
技术领域
本实用新型涉及芯片测试技术领域,更具体地说,它涉及一种拆卸方便的存储芯片简易测试装置。
背景技术
存储芯片,是嵌入式系统芯片的概念在存储行业的具体应用,目前,在存储芯片使用前,需要对其进行测试,但是现有的测试大多存在不便拆卸的弊端,因此需要对其进行改进。
如中国专利公开了一种存储芯片简易测试装置,公开号:CN211016549U,公开日:2020.07.14,通过设置夹板,伸缩杆、弹簧和主机,工作人员控制电动推杆工作,使得电动推杆带动底座向下运动,使得底座通过主机和接口带动存储芯片向下运动,使得存储芯片从通孔内移出,工作人员向右拉动夹板,使得伸缩杆和弹簧收缩,工作人员向上拉动主机,使得主机带动定位块从定位槽内移出,操作简单,使得工作人员可以较为轻松的对检测设备进行拆卸并维护。
但是其在使用过程中仍存在弊端,其仅能针对高温进行测试,无法实现低温下对芯片的测试,进而导致使用灵活度低,且不利于对芯片进行转动测试,不利于保障对各个位置的芯片进行均匀测试,进而不利于保障测试的准确性,且装置不便移动携带,给使用带来极大的不便。
实用新型内容
(1)要解决的技术问题
针对现有技术存在的不足,本实用新型的目的在于提供一种拆卸方便的存储芯片简易测试装置,其具有功能单一和使用灵活度低的特点。
(2)技术方案
为实现上述目的,本实用新型提供了一种拆卸方便的存储芯片简易测试装置,包括壳体,所述壳体内部开设有放置腔和测试腔,所述放置腔内壁的底部开设有第一凹槽,所述第一凹槽内固定连接有双轴电机,所述双轴电机的两个输出轴上分别固定连接有第一丝杆和第二丝杆,所述第一丝杆和第二丝杆的表面均螺纹连接有螺纹套,所述螺纹套的顶部固定连接有连接板,所述连接板的表面通过销轴活动连接有活动杆,所述活动杆的顶端通过另一销轴活动连接有另一个连接板,另一个所述连接板的顶部固定连接有升降板,所述升降板的顶部固定连接有第二轴承,所述第二轴承内穿设有第二转轴,所述第二转轴的表面固定连接有驱动组件,所述驱动组件固定连接在升降板的顶部,所述第二转轴的顶端固定连接有支撑板,所述支撑板的顶部开设有定位槽,所述定位槽内滑动连接有定位块,所述定位块的顶部固定连接有测试主机,所述测试主机的顶部固定连接有密封板,所述密封板的顶部固定连接有若干个安装座,所述安装座的内部卡接有芯片本体,所述放置腔与测试腔之间开设有通孔。
所述壳体的侧面固定连接有加热箱和制冷箱,所述加热箱和制冷箱内部分别固定安装有加热管和制冷器,所述加热箱和制冷箱的顶部分别固定连接有第二吸风泵和第一吸风泵,所述第二吸风泵和第一吸风泵的顶端分别固定连接有第二风管和第一风管,所述第二风管和第一风管的一端固定连接有输气管,所述第一风管和第二风管内分别设置有第一电磁阀和第二电磁阀。
使用本技术方案的一种拆卸方便的存储芯片简易测试装置时,通过双轴电机工作,能够带动第一丝杆和第二丝杆转动,进而能够使螺纹套带动连接板左右移动,借助销轴和活动杆的活动作用,带动升降板上下移动,实现对测试芯片进行位置空间调整的目的。
进一步地,所述驱动组件包括驱动电机,所述驱动电机固定连接在升降板的顶部,所述驱动电机的输出轴上固定连接有主动齿轮,所述主动齿轮的表面啮合有从动齿轮,所述从动齿轮固定连接在第二转轴的表面。
进一步地,所述第一丝杆和第二丝杆的两端均固定连接有第一转轴,所述第一转轴的表面套接有第一轴承,所述第一轴承固定连接在第一凹槽内壁的侧面,所述第一丝杆和第二丝杆的表面螺纹方向相反。
进一步地,所述第一凹槽的下方开设有第一滑槽,所述第一滑槽内滑动连接有第一滑块,所述第一滑块与螺纹套固定连接,所述放置腔内壁的侧面开设有第三滑槽,所述升降板滑动连接在第三滑槽内。
进一步地,所述支撑板的顶部开设有第二滑槽,所述第二滑槽内滑动连接有夹板,所述夹板的侧面固定连接有弹簧,所述弹簧的另一端固定连接在第二滑槽内壁的侧面,所述支撑板的底部固定连接有滑轮,所述滑轮转动连接在升降板的顶部。
进一步地,所述测试腔内壁固定安装有温度传感器,所述壳体的表面设置有操控面板,所述壳体的顶部固定连接有把手,所述把手的表面套接有防滑套,所述壳体底部靠近四角的位置均固定连接有滚轮,所述壳体的前侧通过合页活动连接有箱门。
(3)有益效果
综上所述,本实用新型具有以下有益效果:
1、通过驱动电机工作,能够带动主动齿轮与从动齿轮啮合转动,进而能够通过第二转轴带动支撑板转动,实现带动芯片本体转动的目的,达到均匀受热或受冷的目的,保障测试准确性,通过加热管和制冷器工作,能够分别根据测试需要,借助第二吸风泵和第一吸风泵,将热气或低温气体经输气管输送至测试腔内,实现对芯片本体进行高温或低温测试的目的;
2、通过双轴电机工作,能够带动第一丝杆和第二丝杆转动,进而能够使螺纹套带动连接板左右移动,借助销轴和活动杆的活动作用,带动升降板上下移动,实现对测试芯片进行位置空间调整的目的,通过夹板在第二滑槽内的滑动作用,借助弹簧的弹性,能够实现对测试主机表面进行挤压固定的目的;
3、借助定位块与定位槽滑动卡接与分离,能够实现对测试主机进行便捷拆装的目的,通过设置密封板和安装座,方便在测试时,对通孔进行密封,借助第一滑块在第一滑槽内的滑动作用,能够配合螺纹套移动更加稳定,通过开设第三滑槽,能够配合升降板移动更加稳定,通过设置温度传感器,能够实现对测试腔内温度进行检测的目的,借助滚轮作用,能够带动装置进行位置移动。
附图说明
为了更清楚的说明本实用新型具体实施方式或现有技术中的技术方案,下面将对具体实施方式或现有技术中描述所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一种实施方式,对于本领域普通技术人员来说,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本实用新型正视剖面的结构示意图;
图2为图1中A处放大的结构示意图;
图3为本实用新型正视的结构示意图。
附图中的标记为:
1、壳体;2、双轴电机;3、第一凹槽;4、第一丝杆;5、第一滑槽;6、滚轮;7、第一滑块;8、螺纹套;9、第一转轴;10、第一轴承;11、连接板;12、活动杆;13、销轴;14、制冷箱;15、制冷器;16、第一吸风泵;17、第一风管;18、第一电磁阀;19、测试腔;20、输气管;21、把手;22、防滑套;23、芯片本体;24、第二电磁阀;25、第二风管;26、第二吸风泵;27、通孔;28、安装座;29、密封板;30、测试主机;31、加热箱;32、加热管;33、弹簧;34、夹板;35、第二滑槽;36、第三滑槽;37、第二丝杆;38、滑轮;39、支撑板;40、箱门;41、操控面板;42、定位块;43、驱动组件;431、主动齿轮;432、从动齿轮;433、驱动电机;44、第二轴承;45、第二转轴;46、定位槽;47、升降板;48、温度传感器;49、放置腔。
具体实施方式
为使本实用新型实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解,下面对本实用新型具体实施方式中的技术方案进行清楚、完整的描述,以进一步阐述本实用新型,显然,所描述的具体实施方式仅仅是本实用新型的一部分实施方式,而不是全部的样式。
实施例:
以下结合附图1-3对本实用新型作进一步详细说明。
请参阅图1-3,本实用新型提供一种技术方案:一种拆卸方便的存储芯片简易测试装置,包括壳体1,壳体1内部开设有放置腔49和测试腔19,放置腔49内壁的底部开设有第一凹槽3,第一凹槽3内固定连接有双轴电机2,通过双轴电机2工作,能够带动第一丝杆4和第二丝杆37转动,进而能够使螺纹套8带动连接板11左右移动,借助销轴13和活动杆12的活动作用,带动升降板47上下移动,实现对测试芯片进行位置空间调整的目的,双轴电机2的两个输出轴上分别固定连接有第一丝杆4和第二丝杆37,第一丝杆4和第二丝杆37的表面均螺纹连接有螺纹套8,螺纹套8的顶部固定连接有连接板11,连接板11的表面通过销轴13活动连接有活动杆12,活动杆12的顶端通过另一销轴13活动连接有另一个连接板11,另一个连接板11的顶部固定连接有升降板47,升降板47的顶部固定连接有第二轴承44,第二轴承44内穿设有第二转轴45,第二转轴45的表面固定连接有驱动组件43,驱动组件43固定连接在升降板47的顶部,驱动组件43包括驱动电机433,通过驱动电机433工作,能够带动主动齿轮431与从动齿轮432啮合转动,进而能够通过第二转轴45带动支撑板39转动,实现带动芯片本体23转动的目的,达到均匀受热或受冷的目的,保障测试准确性,驱动电机433固定连接在升降板47的顶部,驱动电机433的输出轴上固定连接有主动齿轮431,主动齿轮431的表面啮合有从动齿轮432,从动齿轮432固定连接在第二转轴45的表面。
第二转轴45的顶端固定连接有支撑板39,支撑板39的顶部开设有定位槽46,定位槽46内滑动连接有定位块42,借助定位块42与定位槽46滑动卡接与分离,能够实现对测试主机30进行便捷拆装的目的,通过设置密封板29和安装座28,方便在测试时,对通孔27进行密封,定位块42的顶部固定连接有测试主机30,测试主机30的顶部固定连接有密封板29,密封板29的顶部固定连接有若干个安装座28,安装座28的内部卡接有芯片本体23,放置腔49与测试腔19之间开设有通孔27。
壳体1的侧面固定连接有加热箱31和制冷箱14,加热箱31和制冷箱14内部分别固定安装有加热管32和制冷器15,通过加热管32和制冷器15工作,能够分别根据测试需要,借助第二吸风泵26和第一吸风泵16,将热气或低温气体经输气管20输送至测试腔19内,实现对芯片本体23进行高温或低温测试的目的,加热箱31和制冷箱14的顶部分别固定连接有第二吸风泵26和第一吸风泵16,第二吸风泵26和第一吸风泵16的顶端分别固定连接有第二风管25和第一风管17,第二风管25和第一风管17的一端固定连接有输气管20,第一风管17和第二风管25内分别设置有第一电磁阀18和第二电磁阀24。
具体的,第一丝杆4和第二丝杆37的两端均固定连接有第一转轴9,第一转轴9的表面套接有第一轴承10,第一轴承10固定连接在第一凹槽3内壁的侧面,第一丝杆4和第二丝杆37的表面螺纹方向相反,第一凹槽3的下方开设有第一滑槽5,第一滑槽5内滑动连接有第一滑块7,第一滑块7与螺纹套8固定连接,放置腔49内壁的侧面开设有第三滑槽36,升降板47滑动连接在第三滑槽36内。
通过采用上述技术方案,借助第一滑块7在第一滑槽5内的滑动作用,能够配合螺纹套8移动更加稳定,通过开设第三滑槽36,能够配合升降板47移动更加稳定。
具体的,支撑板39的顶部开设有第二滑槽35,第二滑槽35内滑动连接有夹板34,夹板34的侧面固定连接有弹簧33,弹簧33的另一端固定连接在第二滑槽35内壁的侧面,支撑板39的底部固定连接有滑轮38,滑轮38转动连接在升降板47的顶部。
通过采用上述技术方案,通过夹板34在第二滑槽35内的滑动作用,借助弹簧33的弹性,能够实现对测试主机30表面进行挤压固定的目的。
具体的,测试腔19内壁固定安装有温度传感器48,壳体1的表面设置有操控面板41,壳体1的顶部固定连接有把手21,把手21的表面套接有防滑套22,壳体1底部靠近四角的位置均固定连接有滚轮6,壳体1的前侧通过合页活动连接有箱门40。
通过采用上述技术方案,通过设置温度传感器48,能够实现对测试腔19内温度进行检测的目的,借助滚轮6作用,能够带动装置进行位置移动。
本实用新型的工作原理为:首先,推动装置,借助滚轮6的作用,带动装置移动至使用位置,然后通过开启箱门40,将待测试的芯片本体23插入安装座28内进行固定,然后通过关闭箱门40,通过操控面板41控制双轴电机2工作,带动第一丝杆4和第二丝杆37转动,使螺纹套8带动连接板11左右移动,借助销轴13和活动杆12的互动作用,带动升降板47上移,使测试芯片穿设在通孔27内并位于测试腔19内,同时密封板29对通孔27进行封闭,然后根据测试需要,首先设定测试温度,当需要高温测试时,通过操纵面板通知加热管32工作,借助第二吸风泵26工作,将气体经加热管32加热后输送至测试腔19,此时第二电磁阀24开启,第一电磁阀18关闭,然后通过输送管喷洒着测试腔19,对芯片本体23进行高温检测,测试结果通过测试主机30进行采集储存,当需要进行低温测试时,可通过操控面板41控制第一电磁阀18开启,第二电磁阀24关闭,使第一吸风泵16工作,将气体经制冷器15制冷后输送至测试腔19进行低温测试即可;
在测试过程中,可通过操控面板41控制驱动电机433工作,带动主动齿轮431与从动齿轮432啮合转动,使第二转轴45带动支撑板39转动,使支撑板39带动测试主机30和芯片本体23转动,进行均匀受热或受冷,保障测试精确度即可,测试完毕后,可使升降板47下移,使夹板34与测试主机30分离,向前拉动测试主机30,借助定位块42与定位槽46的滑动作用,拆下测试主机30和芯片本体23即可。
本具体实施例仅仅是对本实用新型的解释,其并不是对本实用新型的限制,本领域技术人员在阅读完本说明书后可以根据需要对本实施例做出没有创造性贡献的修改,但只要在本实用新型的权利要求范围内都受到专利法的保护。
Claims (6)
1.一种拆卸方便的存储芯片简易测试装置,包括壳体(1),其特征在于:所述壳体(1)内部开设有放置腔(49)和测试腔(19),所述放置腔(49)内壁的底部开设有第一凹槽(3),所述第一凹槽(3)内固定连接有双轴电机(2),所述双轴电机(2)的两个输出轴上分别固定连接有第一丝杆(4)和第二丝杆(37),所述第一丝杆(4)和第二丝杆(37)的表面均螺纹连接有螺纹套(8),所述螺纹套(8)的顶部固定连接有连接板(11),所述连接板(11)的表面通过销轴(13)活动连接有活动杆(12),所述活动杆(12)的顶端通过另一销轴(13)活动连接有另一个连接板(11),另一个所述连接板(11)的顶部固定连接有升降板(47),所述升降板(47)的顶部固定连接有第二轴承(44),所述第二轴承(44)内穿设有第二转轴(45),所述第二转轴(45)的表面固定连接有驱动组件(43),所述驱动组件(43)固定连接在升降板(47)的顶部,所述第二转轴(45)的顶端固定连接有支撑板(39),所述支撑板(39)的顶部开设有定位槽(46),所述定位槽(46)内滑动连接有定位块(42),所述定位块(42)的顶部固定连接有测试主机(30),所述测试主机(30)的顶部固定连接有密封板(29),所述密封板(29)的顶部固定连接有若干个安装座(28),所述安装座(28)的内部卡接有芯片本体(23),所述放置腔(49)与测试腔(19)之间开设有通孔(27);
所述壳体(1)的侧面固定连接有加热箱(31)和制冷箱(14),所述加热箱(31)和制冷箱(14)内部分别固定安装有加热管(32)和制冷器(15),所述加热箱(31)和制冷箱(14)的顶部分别固定连接有第二吸风泵(26)和第一吸风泵(16),所述第二吸风泵(26)和第一吸风泵(16)的顶端分别固定连接有第二风管(25)和第一风管(17),所述第二风管(25)和第一风管(17)的一端固定连接有输气管(20),所述第一风管(17)和第二风管(25)内分别设置有第一电磁阀(18)和第二电磁阀(24)。
2.根据权利要求1所述的一种拆卸方便的存储芯片简易测试装置,其特征在于:所述驱动组件(43)包括驱动电机(433),所述驱动电机(433)固定连接在升降板(47)的顶部,所述驱动电机(433)的输出轴上固定连接有主动齿轮(431),所述主动齿轮(431)的表面啮合有从动齿轮(432),所述从动齿轮(432)固定连接在第二转轴(45)的表面。
3.根据权利要求1所述的一种拆卸方便的存储芯片简易测试装置,其特征在于:所述第一丝杆(4)和第二丝杆(37)的两端均固定连接有第一转轴(9),所述第一转轴(9)的表面套接有第一轴承(10),所述第一轴承(10)固定连接在第一凹槽(3)内壁的侧面,所述第一丝杆(4)和第二丝杆(37)的表面螺纹方向相反。
4.根据权利要求1所述的一种拆卸方便的存储芯片简易测试装置,其特征在于:所述第一凹槽(3)的下方开设有第一滑槽(5),所述第一滑槽(5)内滑动连接有第一滑块(7),所述第一滑块(7)与螺纹套(8)固定连接,所述放置腔(49)内壁的侧面开设有第三滑槽(36),所述升降板(47)滑动连接在第三滑槽(36)内。
5.根据权利要求1所述的一种拆卸方便的存储芯片简易测试装置,其特征在于:所述支撑板(39)的顶部开设有第二滑槽(35),所述第二滑槽(35)内滑动连接有夹板(34),所述夹板(34)的侧面固定连接有弹簧(33),所述弹簧(33)的另一端固定连接在第二滑槽(35)内壁的侧面,所述支撑板(39)的底部固定连接有滑轮(38),所述滑轮(38)转动连接在升降板(47)的顶部。
6.根据权利要求1所述的一种拆卸方便的存储芯片简易测试装置,其特征在于:所述测试腔(19)内壁固定安装有温度传感器(48),所述壳体(1)的表面设置有操控面板(41),所述壳体(1)的顶部固定连接有把手(21),所述把手(21)的表面套接有防滑套(22),所述壳体(1)底部靠近四角的位置均固定连接有滚轮(6),所述壳体(1)的前侧通过合页活动连接有箱门(40)。
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Cited By (1)
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CN116626475A (zh) * | 2023-07-20 | 2023-08-22 | 弘润半导体(苏州)有限公司 | 一种用于集成电路芯片的封装测试装置 |
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CN116626475B (zh) * | 2023-07-20 | 2023-10-17 | 弘润半导体(苏州)有限公司 | 一种用于集成电路芯片的封装测试装置 |
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