CN218122172U - 一种方便散热的集成电路测试仪 - Google Patents
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Abstract
一种方便散热的集成电路测试仪,包括:测试仪;所述安装腔设置于所述测试仪的内部,所述安装腔内腔顶部的一侧设置有安装盒,所述安装盒的顶部设置有设置槽,所述设置槽的内部设置有风机,所述安装盒的底部设置有连通槽;所述冷却板设置于所述安装腔的内部,所述冷却板内部的顶部设置有散热装置。本实用新型提供一种方便散热的集成电路测试仪,通过在冷却板的内部注入冷凝水,配合风机对冷凝水进行降温,使得冷凝水循环在安装腔内部进行降温,吸收内部元件释放的热量,本装置结构简单,实用性强,可以降低测试仪内部工作时热量的堆积,延长电子元件的使用寿命。
Description
技术领域
本实用新型涉及集成电路测试仪领域,尤其涉及一种方便散热的集成电路测试仪。
背景技术
集成电路测试仪是对集成电路进行测试的专用仪器设备。集成电路测试是保证集成电路性能、质量的关键手段之一。
集成电路测试技术是发展集成电路产业的三大支撑技术之一,因此,集成电路测试仪作为一个测试门类受到很多国家的高度重视。40年来,随着集成电路发展到第四代,集成电路测试仪也从最初测试小规模集成电路发展到测试中规模、大规模和超大规模集成电路,到了八十年代,超大规模集成电路测试仪进入全盛时期。
原有的集成电路测试仪在工作过程中会产生热量,长时间的热量堆积可能会影响测试仪的正常测试进度,可能会出现测试数据不稳定、测试仪运行过慢、部分电子元件失灵的问题,严重的话会导致测试仪主板短路。
因此,有必要提供一种方便散热的集成电路测试仪解决上述技术问题。
实用新型内容
本实用新型提供一种方便散热的集成电路测试仪,解决了长时间的热量堆积可能会影响测试仪的正常测试进度,可能会出现测试数据不稳定、测试仪运行过慢、部分电子元件失灵的问题,严重的话会导致测试仪主板短路的问题。
为解决上述技术问题,本实用新型提供的一种方便散热的集成电路测试仪,包括:测试仪;
安装腔,所述安装腔设置于所述测试仪的内部,所述安装腔内腔顶部的一侧设置有安装盒,所述安装盒的顶部设置有设置槽,所述设置槽的内部设置有风机,所述安装盒的底部设置有连通槽;
冷却板,所述冷却板设置于所述安装腔的内部,所述冷却板内部的顶部设置有散热装置。
优选的,所述散热装置包括散热柱,所述散热柱的外表面固定连接有散热环块。
优选的,所述冷却板的一侧设置有进水口。
优选的,所述测试仪顶部的一侧设置有啮合装置,所述啮合装置的内部螺纹啮合有调节装置,所述调节装置的一侧设置有遮挡装置。
优选的,所述遮挡装置包括遮挡板,所述遮挡板的顶部设置有透气槽,所述遮挡板一侧的中间设置有凹槽,所述凹槽内部的中间设置有限位槽。
优选的,所述调节装置包括螺纹杆,所述螺纹杆外表面的两侧均固定安装有限位块。
优选的,所述啮合装置包括固定板,所述固定板一侧的中间设置有螺纹槽。
与相关技术相比较,本实用新型提供的一种方便散热的集成电路测试仪具有如下有益效果:
本实用新型提供一种方便散热的集成电路测试仪,通过在冷却板的内部注入冷凝水,配合风机对冷凝水进行降温,使得冷凝水循环在安装腔内部进行降温,吸收内部元件释放的热量,本装置结构简单,实用性强,可以降低测试仪内部工作时热量的堆积,延长电子元件的使用寿命。
附图说明
图1为本实用新型提供的一种方便散热的集成电路测试仪第一实施例的结构示意图;
图2为图1所示的A部放大示意图;
图3为图2所示的散热装置结构示意图;
图4为本实用新型提供的一种方便散热的集成电路测试仪第二实施例的结构示意图;
图5为图4所示的B部放大示意图;
图6为图5所示的调节装置结构示意图;
图7为图4所示的啮合装置结构示意图。
图中标号:1、测试仪,2、安装腔,3、冷却板,4、通气槽,5、安装盒,6、进水口,7、风机,8、连通槽,9、散热装置,91、散热柱,92、散热环块,10、设置槽,11、遮挡装置,111、遮挡板,112、透气槽,12、啮合装置,121、固定板,122、螺纹槽,13、调节装置,131、螺纹杆,132、限位块,14、凹槽,15、限位槽。
具体实施方式
下面结合附图和实施方式对本实用新型作进一步说明。
请结合参阅图1、图2和图3,其中,图1为本实用新型提供的一种方便散热的集成电路测试仪第一实施例的结构示意图;图2为图1所示的A部放大示意图;图3为图2所示的散热装置结构示意图。一种方便散热的集成电路测试仪,包括:测试仪1;
安装腔2,所述安装腔2设置于所述测试仪1的内部,所述安装腔2内腔顶部的一侧设置有安装盒5,所述安装盒5的顶部设置有设置槽10,所述设置槽10的内部设置有风机7,所述安装盒5的底部设置有连通槽8;
冷却板3,所述冷却板3设置于所述安装腔2的内部,所述冷却板3内部的顶部设置有散热装置9。
安装盒5安装在安装腔2内部的顶部,连通槽8使得风机7吹出的风可以吹到冷却板3。
冷却板3的内部设置有水槽,水可以从进水口6进入水槽内循环流动,对安装腔2内部的四周进行降温。
所述散热装置9包括散热柱91,所述散热柱91的外表面固定连接有散热环块92。
散热柱91设置在冷却板3的内部,且设置在水槽内部的顶部,将顶部风机7吹出的冷风传递给水槽内和冷凝水接触,冷凝水再水槽内流动,吸收了部分热量,被风机7吹出的冷风再次降温。
散热环块92增加了散热柱91的面积,增强散热效果。
所述冷却板3的一侧设置有进水口6。
本实用新型提供的一种方便散热的集成电路测试仪的工作原理如下:
在工作时,首先通过进水口6给冷却板3的内部注入冷凝水,冷凝水在冷却板3内部循环,散发的冷气对内部元件进行降温。
同时通过外部电源控制风机7的启动,风机7工作通过通气槽4将风吹入,并对冷却板3内部的冷凝水进行降温,冷却板3内部额散热柱91将外界冷空气传导进冷却板3的内部和冷凝水接触,冷凝水持续保持低温状态。
与相关技术相比较,本实用新型提供的一种方便散热的集成电路测试仪具有如下有益效果:
本实用新型提供一种方便散热的集成电路测试仪,通过在冷却板3的内部注入冷凝水,配合风机7对冷凝水进行降温,使得冷凝水循环在安装腔2内部进行降温,吸收内部元件释放的热量,本装置结构简单,实用性强,可以降低测试仪1内部工作时热量的堆积,延长电子元件的使用寿命。
第二实施例
请结合参阅图4、图5、图6和图7,基于本申请的第一实施例提供的一种方便散热的集成电路测试仪,本申请的第二实施例提出另一种方便散热的集成电路测试仪。第二实施例仅仅是第一实施例优选的方式,第二实施例的实施对第一实施例的单独实施不会造成影响。
具体的,本申请的第二实施例提供的一种方便散热的集成电路测试仪的不同之处在于,一种方便散热的集成电路测试仪,所述测试仪1顶部的一侧设置有啮合装置12,所述啮合装置12的内部螺纹啮合有调节装置13,所述调节装置13的一侧设置有遮挡装置11。
所述遮挡装置11包括遮挡板111,所述遮挡板111的顶部设置有透气槽112,所述遮挡板111一侧的中间设置有凹槽14,所述凹槽14内部的中间设置有限位槽15。
遮挡板111在测试仪1顶部的侧边上,在通气槽4的顶部,凹槽14设置在遮挡板111的右侧中间,且限位槽15呈环状设置在凹槽14内部的中间。
所述调节装置13包括螺纹杆131,所述螺纹杆131外表面的两侧均固定安装有限位块132。
螺纹杆131的左端延伸进凹槽14内部,两块限位块132在限位槽15的内部。
所述啮合装置12包括固定板121,所述固定板121一侧的中间设置有螺纹槽122。
固定板121固定在测试仪1顶部右侧的后侧,螺纹槽122和螺纹杆131螺纹啮合。
本实用新型提供的一种方便散热的集成电路测试仪的工作原理如下:
在工作时,首先使用者转动螺纹杆131,螺纹杆131转动螺纹啮合螺纹槽122并向左侧移动,限位块132推动遮挡板111向左侧移动没事的通气槽4和透气槽112重叠。
当存放时,使用者反向转动螺纹杆131,螺纹杆131螺纹啮合啮合装置12向右侧移动,通气槽4和透气槽112不重叠,遮挡板111盖住通气槽4,避免灰尘落入。
与相关技术相比较,本实用新型提供的一种方便散热的集成电路测试仪具有如下有益效果:
本实用新型提供一种方便散热的集成电路测试仪,通过转动调节装置13带动遮挡装置11在测试仪1的顶部左右移动,在存放测试仪1的时候调节遮挡装置11遮住通气槽4,避免灰尘落入测试仪1的内部,本装置结构简单,实用性强,可以调节遮挡装置11的位置,使得遮挡装置11不影响抽取外界空气,同时还能在不需要使用时挡住通气槽4,避免存放时内部落灰,保持测试仪1内部清洁。
以上所述仅为本实用新型的实施例,并非因此限制本实用新型的专利范围,凡是利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换,或直接或间接运用在其它相关的技术领域,均同理包括在本实用新型的专利保护范围内。
Claims (7)
1.一种方便散热的集成电路测试仪,其特征在于,包括:测试仪;
安装腔,所述安装腔设置于所述测试仪的内部,所述安装腔内腔顶部的一侧设置有安装盒,所述安装盒的顶部设置有设置槽,所述设置槽的内部设置有风机,所述安装盒的底部设置有连通槽;
冷却板,所述冷却板设置于所述安装腔的内部,所述冷却板内部的顶部设置有散热装置。
2.根据权利要求1所述的一种方便散热的集成电路测试仪,其特征在于,所述散热装置包括散热柱,所述散热柱的外表面固定连接有散热环块。
3.根据权利要求1所述的一种方便散热的集成电路测试仪,其特征在于,所述冷却板的一侧设置有进水口。
4.根据权利要求1所述的一种方便散热的集成电路测试仪,其特征在于,所述测试仪顶部的一侧设置有啮合装置,所述啮合装置的内部螺纹啮合有调节装置,所述调节装置的一侧设置有遮挡装置。
5.根据权利要求4所述的一种方便散热的集成电路测试仪,其特征在于,所述遮挡装置包括遮挡板,所述遮挡板的顶部设置有透气槽,所述遮挡板一侧的中间设置有凹槽,所述凹槽内部的中间设置有限位槽。
6.根据权利要求4所述的一种方便散热的集成电路测试仪,其特征在于,所述调节装置包括螺纹杆,所述螺纹杆外表面的两侧均固定安装有限位块。
7.根据权利要求4所述的一种方便散热的集成电路测试仪,其特征在于,所述啮合装置包括固定板,所述固定板一侧的中间设置有螺纹槽。
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CN202221894994.2U CN218122172U (zh) | 2022-07-21 | 2022-07-21 | 一种方便散热的集成电路测试仪 |
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Publications (1)
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CN202221894994.2U Active CN218122172U (zh) | 2022-07-21 | 2022-07-21 | 一种方便散热的集成电路测试仪 |
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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CN116559631A (zh) * | 2023-07-05 | 2023-08-08 | 深圳诺信微科技有限公司 | 一种集成电路芯片的测试系统 |
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2022
- 2022-07-21 CN CN202221894994.2U patent/CN218122172U/zh active Active
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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CN116559631A (zh) * | 2023-07-05 | 2023-08-08 | 深圳诺信微科技有限公司 | 一种集成电路芯片的测试系统 |
CN116559631B (zh) * | 2023-07-05 | 2023-08-29 | 深圳诺信微科技有限公司 | 一种集成电路芯片的测试系统 |
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