CN218121533U - 一种制备热分析薄膜样品的装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及一种制备热分析薄膜样品的装置，包括：裁切器和助推器。裁切器包括：圆筒主体；上盖，所述上盖设置在所述圆筒主体的一端表面处；下开口，所述下开口与所述上盖相对地设置在所述圆筒主体的另一端表面处；立杆，所述立杆固定在所述上盖上，并且沿所述圆筒主体的轴向方向朝向所述下开口延伸；推拉杆，所述推拉杆穿过所述上盖进入所述圆筒主体的内部空间；助推器包括：圆柱主体，所述圆柱主体的外径小于所述圆筒主体的内径；通孔，所述通孔沿着所述圆柱主体的中心轴向设置，所述通孔的外径大于所述立杆的外径。通过本制备热分析薄膜样品的装置制出的样品大小、形状一致，便于计量样品量。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种实验室热性能测试领域，具体涉及一种制备热分析薄膜样品的装置。
背景技术
高分子材料因其质轻、高强度、耐温、耐腐蚀等优异的性能，而广泛应用于高端制造、电子信息、交通运输、建筑节能、航空航天、国防军工等诸多领域。高分子材料的性能表征也越来越重视和规范。使用热重分析(TGA)或差示扫描量热法(DSC)对薄膜样品进行测试时，一般使用刀具等器具将薄膜裁剪成碎片，放入坩埚中进行测试。这种传统的制样方式，存在以下缺点：一是碎片形状各异，样品量不易控制，致使测试结果重复性较差；二是样品大小不一，在TGA测试时较小的样品在测试过程中常常从坩埚中飞出，致使测试结果偏差，需重复测试，工作效率差；三是薄膜样品，静电严重，使用镊子将样品移至坩埚时，常有“飞走”的现象，导致加入样品困难。
发明内容
针对上述问题，本实用新型的目的是提供一种制备热分析薄膜样品的装置，可以更加有效制备形状和大小一致的样品，并且易于将样品加入到测试容器内。
为实现上述目的，本实用新型采取以下技术方案：
一种制备热分析薄膜样品的装置，包括：
裁切器，裁切器包括：
圆筒主体；
上盖，上盖设置在圆筒主体的一端表面处；
下开口，下开口与上盖相对地设置在圆筒主体的另一端表面处；
立杆，立杆固定在上盖上，并且沿圆筒主体的轴向方向朝向下开口延伸；
推拉杆，推拉杆穿过上盖进入圆筒主体的内部空间；和
助推器，助推器包括：
圆柱主体，圆柱主体的外径小于圆筒主体的内径；
通孔，通孔沿着圆柱主体的中心轴向设置，通孔的外径大于立杆的外径。
制备热分析薄膜样品的装置还包括：
推盘，推盘设置在圆筒主体的内部空间，并且固定到推拉杆上；
中心孔，中心孔位于在推盘的中心处，立杆穿过中心孔。
在上盖上设置有圆孔，推拉杆穿过圆孔进入圆筒主体的内部空间。
在下开口的边缘处设置有切刀。
推拉杆包括手柄，手柄设置在位于圆筒主体外部的推拉杆上。
助推器包括助推面，助推面为在圆柱主体的端面处的平坦表面。
圆筒主体的外壁连接静电消除器。
制备热分析薄膜样品的装置还包括：
固定台，固定台包括：
台面，薄膜样品固定在台面上，在台面的四周设置有凹槽；
压杆，压杆将薄膜样品的周边压入凹槽；
固定夹，固定夹将压杆夹在台面上。
本实用新型由于采取以上技术方案，其具有以下优点：
1、每次制出的样品大小，形状一致，便于计量样品量。
2、连接静电消除设施，可以使薄膜样品静电消除，易于样品的加入。
3、测试结果重复好，工作效率高。
附图说明
通过阅读下文优选实施方式的详细描述，各种其他的优点和益处对于本领域普通技术人员将变得清楚明了。附图仅用于示出优选实施方式的目的，而并不认为是对本实用新型的限制。在整个附图中，用相同的附图标记表示相同的部件。在附图中：
图1为根据本实用新型实施例的裁切器的示意图；
图2为根据本实用新型实施例的助推器的示意图；和
图3为根据本实用新型实施例的固定台的示意图。
附图中各标记表示如下：
1 裁切器
2 助推器
3 固定台
10 立杆
11 圆筒主体
12 上盖
13 下开口
14 推拉杆
15 推盘
21 通孔
22 助推面
23 圆柱主体
31 台面
32 凹槽
33 压杆
34 固定夹
35 固定螺栓
121 圆孔
131 切刀
141 手柄
151 中心孔
具体实施方式
下面将参照附图更详细地描述本实用新型的示例性实施方式。虽然附图中显示了本实用新型的示例性实施方式，然而应当理解，可以以各种形式实现本实用新型而不应被这里阐述的实施方式所限制。相反，提供这些实施方式是为了能够更透彻地理解本实用新型，并且能够将本实用新型的范围完整的传达给本领域的技术人员。
热分析一般包括热重分析和差示扫描量热法。
热重分析(Thermogravimetric Analysis，TG或TGA)是指在程序控制温度下测量待测样品的质量与温度变化关系的一种热分析技术，用来研究材料的热稳定性和组分。
差示扫描量热法(differential scanning calorimetry,DSC)也是一种热分析法。在程序控制温度下，测量输入到试样和参比物的功率差(如以热的形式)与温度的关系。
需要提供一种制备热分析薄膜样品的装置，该装置可以更加有效制备形状和大小一致的样品，并且易于将样品加入到测试容器内。
为了达到上述目的，本实用新型通过以下技术方案予以实现：一种制备热分析薄膜样品的装置，包括固定台、制样器和助推器。
所述固定台，固定台面有一圈凹槽，四根压杆与凹槽匹配，通过固定夹可以将压杆和固定台固定在一起。
所述裁切器，主体是一个圆筒，内部中央有一根细长立杆，立杆上端固定在圆筒上盖，下端为尖头状。圆筒上盖开两个圆孔，便于推拉杆的推拉。推拉杆有手柄、两根拉杆及带有中孔的推盘组成。圆筒外壁通过导线连接静电消除设施。圆筒下边缘为刀锋状设计。
所述助推器是一个直径略小于裁切器圆筒内径的圆柱体，中间为通孔。
如图所示的一种制备热分析薄膜样品的装置，包括固定台、裁切器和助推器。
将样品薄膜平铺在固定台面上，用4根压杆，将薄膜压在固定台上，再用8个固定夹将固定台和压杆固定，薄膜能平整的固定在台面上。
手持裁切器的圆筒外侧，将推拉杆拉到一定位置，然后将裁切器按压到薄膜样品上，利用圆筒下端刀锋刻出圆形薄膜测试样品，且钉在裁切器内部的立杆上。另一只手拿助推器将样品顶入圆筒内部，完成第一次操作。根据实际情况进行重复裁样，即可裁出一定数量的测试样品。缓慢推出推拉杆，将样品可以整齐的移至坩埚内。
固定台的固定台面有一圈凹槽，四根压杆与凹槽匹配，通过固定夹可以将压杆和固定台固定在一起。
裁切器的主体是一个圆筒，内部中央有一根细长立杆，立杆上端固定在圆筒上盖，下端为尖头状。圆筒上盖开两个圆孔，便于推拉杆的推拉。推拉杆有手柄、两根拉杆及带有中孔的推盘组成。圆筒外壁通过导线连接静电消除设施。圆筒为刀锋状设计。
助推器是一个直径略小于裁切器的圆筒内径的圆柱体，助推器的中间为通孔。
根据本实用新型实施例的一种制备热分析薄膜样品的装置，包括：裁切器1和助推器2。
所述裁切器1包括：圆筒主体11；上盖12，所述上盖设置在所述圆筒主体的一端表面处；下开口，所述下开口与所述上盖相对地设置在所述圆筒主体的另一端表面处；立杆10，所述立杆固定在所述上盖上，并且沿所述圆筒主体的轴向方向朝向所述下开口延伸；推拉杆14，所述推拉杆穿过所述上盖进入所述圆筒主体的内部空间。
助推器2包括：圆柱主体23，所述圆柱主体的外径小于所述圆筒主体的内径；通孔21，所述通孔沿着所述圆柱主体的中心轴向设置，所述通孔的外径大于所述立杆的外径。
根据本实用新型实施例的一种制备热分析薄膜样品的装置，还包括：
推盘15，所述推盘设置在圆筒主体的内部空间，并且固定到所述推拉杆上；
中心孔151，所述中心孔位于在所述推盘的中心处，所述立杆穿过所述中心孔。
在上盖12上设置有圆孔121，所述推拉杆穿过所述圆孔进入所述圆筒主体的内部空间。
在所述下开口13的边缘处设置有切刀131。
所述推拉杆14包括手柄141，所述手柄在所述圆筒主体的外部设置在所述推拉杆上。
所述助推器2包括助推面22，所述助推面为在所述圆柱主体的端面处的平坦表面。
圆筒主体11的外壁连接静电消除器。
根据本实用新型实施例的一种制备热分析薄膜样品的装置，还包括：固定台3。所述固定台3包括：台面31，所述薄膜样品固定在所述台面上，在所述台面的四周设置有凹槽；压杆33，所述压杆将所述薄膜样品的周边压入所述凹槽；固定夹34，所述固定夹将所述压杆夹在所述台面上。固定夹34通过固定螺栓35固定。
最后应说明的是：以上实施例仅用以说明本实用新型的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本实用新型各实施例技术方案的精神和范围。
Claims (8)
1.一种制备热分析薄膜样品的装置，其特征在于，包括：
裁切器，所述裁切器包括：
圆筒主体；
上盖，所述上盖设置在所述圆筒主体的一端表面处；
下开口，所述下开口与所述上盖相对地设置在所述圆筒主体的另一端表面处；
立杆，所述立杆固定在所述上盖上，并且沿所述圆筒主体的轴向方向朝向所述下开口延伸；
推拉杆，所述推拉杆穿过所述上盖进入所述圆筒主体的内部空间；和
助推器，所述助推器包括：
圆柱主体，所述圆柱主体的外径小于所述圆筒主体的内径；
通孔，所述通孔沿着所述圆柱主体的中心轴向设置，所述通孔的外径大于所述立杆的外径。
2.根据权利要求1所述的制备热分析薄膜样品的装置，其特征在于，还包括：
推盘，所述推盘设置在圆筒主体的内部空间，并且固定到所述推拉杆上；
中心孔，所述中心孔位于在所述推盘的中心处，所述立杆穿过所述中心孔。
3.根据权利要求1所述的制备热分析薄膜样品的装置，其特征在于：
在所述上盖上设置有圆孔，所述推拉杆穿过所述圆孔进入所述圆筒主体的内部空间。
4.根据权利要求1所述的制备热分析薄膜样品的装置，其特征在于：
在所述下开口的边缘处设置有切刀。
5.根据权利要求1所述的制备热分析薄膜样品的装置，其特征在于：
所述推拉杆包括手柄，所述手柄设置在位于所述圆筒主体外部的所述推拉杆上。
6.根据权利要求1所述的制备热分析薄膜样品的装置，其特征在于：
所述助推器包括助推面，所述助推面为在所述圆柱主体的端面处的平坦表面。
7.根据权利要求1所述的制备热分析薄膜样品的装置，其特征在于，所述圆筒主体的外壁连接静电消除器。
8.根据权利要求1所述的制备热分析薄膜样品的装置，其特征在于，还包括：
固定台，所述固定台包括：
台面，所述薄膜样品固定在所述台面上，在所述台面的四周设置有凹槽；
压杆，所述压杆将所述薄膜样品的周边压入所述凹槽；
固定夹，所述固定夹将所述压杆夹在所述台面上。
Priority Applications (1)
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| CN202221318222.4U CN218121533U (zh) | 2022-05-30 | 2022-05-30 | 一种制备热分析薄膜样品的装置 |
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Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN117705540A (zh) * | 2024-02-04 | 2024-03-15 | 包头市科锐微磁新材料有限责任公司 | 一种各向同性钕铁硼快淬磁粉制样装置 |
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2022
- 2022-05-30 CN CN202221318222.4U patent/CN218121533U/zh active Active
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| CN117705540A (zh) * | 2024-02-04 | 2024-03-15 | 包头市科锐微磁新材料有限责任公司 | 一种各向同性钕铁硼快淬磁粉制样装置 |
| CN117705540B (zh) * | 2024-02-04 | 2024-05-03 | 包头市科锐微磁新材料有限责任公司 | 一种各向同性钕铁硼快淬磁粉制样装置 |
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