CN218100207U - 一种单线固件校验系统 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种单线固件校验系统，包括：校验按键、待测设备和校验装置，待测设备设置有第一IO口，第一IO口通过第一导线分别与校验装置、校验按键连接，校验按键通过第一导线改变第一IO口的状态，待测设备用于检测第一IO口的状态，当第一IO口的状态为低电平状态时，待测设备查询其的固件信息，当第一IO口的状态为上升沿状态时，待测设备通过第一导线发送固件信息，校验装置对固件信息进行校验。本申请只需通过一根导线即可查询待测设备的固件信息和传输固件信息，在校验过程中该固件校验系统不占用单片机的引脚资源，并且，待测设备与校验装置之间的通信方式可以选用串口通信方式或单线通信方式，本实用新型易于实现。

Description

一种单线固件校验系统

技术领域

本实用新型涉及通信技术领域，特别涉及一种单线固件校验系统。

背景技术

目前，固件的校验方法多种多样，大多数为二线的通信方式，控制器通过获取单片机的固体版本信息对固件进行校验，然而查询应答这类通信需要占用比较多的资源，通常需要占用单片机的两个引脚方可实现通信。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种单线固件校验系统，以解决现有技术中所存在的一个或多个技术问题，至少提供一种有益的选择或创造条件。

本实用新型解决其技术问题的解决方案是：提供一种单线固件校验系统，包括：校验按键、待测设备和校验装置，所述待测设备设置有第一IO口，所述第一IO口通过第一导线与所述校验装置连接，所述校验按键连接于所述第一导线，所述校验按键用于通过所述第一导线改变所述第一IO口的状态，所述第一IO口的状态包括：低电平状态和上升沿状态；

所述低电平状态为：所述第一IO口的电平为低电平；

所述上升沿状态为：所述第一IO口的电平从低电平变化为高电平；

所述待测设备用于检测所述第一IO口的状态，当所述第一IO口的状态为低电平状态时，则所述待测设备查询其的固件信息；

当所述第一IO口的状态为上升沿状态，则所述待测设备通过第一导线发送所述固件信息；

所述校验装置用于对所述固件信息进行校验。

进一步，所述待测设备被配置为上电则查询其的固件信息。

进一步，所述校验按键为轻触开关，所述轻触开关的一端与所述第一IO口连接，所述轻触开关的另一端对地连接。

进一步，所述待测设备通过单线通信方式或串口通信方式将所述固件信息传输至所述校验装置。

进一步，所述固件信息包括固件的产品编码、版本号、日期以及校验码。

进一步，还包括：上拉电阻，所述上拉电阻与所述第一导线连接，所述第一导线的初始电平为高电平。

进一步，所述校验装置还包括显示模块和显示屏，所述显示屏位于校验装置的表面，所述显示模块与所述显示屏连接，所述显示模块用于根据所接收到的固件信息控制显示屏的显示，所述显示屏用于实时显示所述固件信息。

进一步，所述校验装置为基于STM32F103ZE的控制系统。

本实用新型的有益效果是：提供一种单线固件校验系统，包括：校验按键、待测设备和校验装置，所述待测设备设置有第一IO口，第一IO口通过第一导线分别与校验装置、校验按键连接，校验按键通过第一导线改变第一IO口的状态，第一IO口的状态包括低电平状态和上升沿状态，待测设备用于检测第一IO口的状态，当第一IO口的状态为低电平状态时，待测设备查询其的固件信息，当第一IO口的状态为上升沿状态时，待测设备通过第一导线发送固件信息，校验装置对固件信息进行校验。本申请只需通过一根导线即可检测单片机的固件版本信息，待测设备根据第一IO口的状态实现查询其的固件信息和传输固件信息，校验装置获取固件信息并进行校验，本申请的固件校验系统不占用单片机的引脚资源，并且，待测设备与校验装置之间的通信方式可以选用串口通信方式或单线通信方式，所述固件校验系统易于操作。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单说明。显然，所描述的附图只是本实用新型的一部分实施例，而不是全部实施例，本领域的技术人员在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他设计方案和附图。

图1是一种单线固件校验系统的结构图。

具体实施方式

为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。

需要说明的是，虽然在系统示意图中进行了功能模块划分，在流程图中示出了逻辑顺序，但是在某些情况下，可以以不同于系统中的模块划分，或流程图中的顺序执行所示出或描述的步骤。说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。

本申请实施例公开一种单线固件校验系统,请参阅图1，一种单线固件校验系统，包括：校验按键100、待测设备200和校验装置300，待测设备200设置有第一IO口，第一IO口通过第一导线与校验装置300连接，校验按键100的一端与第一导线连接，校验按键100的另一端接地，校验按键100用于通过第一导线改变第一IO口的状态。

进一步的，第一IO口的状态包括低电平状态和上升沿状态，低电平状态为第一IO口的电平为低电平，上升沿状态为第一IO口的电平从低电平变化为高电平。当第一IO口的状态为低电平状态时，待测设备200查询其的固件信息；当第一IO口的状态为上升沿状态，待测设备200通过第一导线发送所述固件信息，校验装置300获取所述固件信息并对其进行校验。

在这个实施例中，校验装置300接收到来自待测设备200的固件信息后，将接收到的固件信息与正确的固件信息进行比较，并显示验证结果在其显示屏上。

在本申请的其他实施例中，校验装置300接收到来自待测设备200的固件信息后，直接将固件信息显示在其显示屏上，此时使用者通过人眼观察或自动判断所述固件信息是否与正确的固件信息一致，进而判断所述固件信息是否正确。

更进一步的，待测设备200被配置为上电则查询其的固件信息。

进一步的，校验按键100为轻触开关。

进一步的，所述单线固件校验系统还包括：上拉电阻400，上拉电阻400与第一导线连接，第一导线的初始电平为高电平。

本申请中，在完成待测设备200的固件烧录后，通过校验装置300来校验待测装置200中的固件信息是否有误，待测设备200存储有自身的固件信息并可对其的固件信息进行查询，待测设备200检测其第一IO口的状态，当第一IO口的状态为上升沿状态时，第一IO口将所述固件信息发出至校验装置300，校验装置300对固件信息进行校验或直接将固件信息显示在其显示屏上。

可以理解的是，本技术方案中的待测装置200的第一IO口执行两种功能，一种是初始设计时的功能，如通信功能，当第一IO口的状态不是低电平状态或上升沿状态时，第一IO口执行其初始设计时的功能；另一种是传输固件信息的功能，当第一IO口的状态为上升沿状态时，第一IO口执行传输固件信息的功能。本申请的第一IO口通过校验按键100接地，通过闭合或断开校验按键100来改变第一IO口的状态，当校验按键100被按下时，校验按键100将第一IO口的电平信号拉低，此时第一IO口的状态为低电平状态；当校验按键100被松开时，第一IO口的电平信号从低电平变化为高电平，此时第一IO口的状态为上升沿状态，待测设备200可根据第一IO口的电平信号来决定第一IO口执行两种功能中的哪一种。

进一步的，待测设备200通过单线通信方式将所述固件信息传输至校验装置300。

在本申请其他实施例中，待测设备200通过串口通信方式将所述固件信息传输至校验装置300。

进一步的，所述固件信息包括固件的产品编码、版本号、日期及校验码。

进一步的，所述校验装置300包括显示模块和显示屏，显示屏位于校验装置的表面，显示模块分别与信息存储器、显示屏连接，显示模块用于根据所接收到的固件信息控制显示屏的显示，显示屏用于实时显示所述固件信息。

优选的，所述校验装置300可以是基于STM32F103ZE的控制系统。

优选的，所述校验装置300还可以是基于MM32F003的控制系统。

本申请通过以下实施例对一种单线固件校验系统的工作原理进一步的说明和阐述。

在一实施例中，待测设备200发出固件信息的过程如下：

校验按键100闭合后待测设备200上电，待测设备200刚上电时第一IO口的状态为低电平状态,待测设备200进入固件查询模式并查询其自身的固件信息；随后,断开校验按键100，第一IO口的电平信号从低电平转换为高电平，待测设备200检测到第一IO口的状态为上升沿状态，待测设备200通过第一IO口将所述固件信息传输至校验装置300,校验装置300对所述固件信息进行校验。

若在校验按键100未闭合的情况下待测设备200上电，待测设备200刚上电时使第一IO口执行其初始设计时的功能，待测设备200正常运行应用程序。

在另一实施例中，待测设备200发出固件信息的过程如下：

待测设备200上电而不闭合校验按键100，由于校验按键100未闭合，待测设备200检测到第一IO口的状态不是低电平状态或上升沿状态，待测设备200使第一IO口执行初始设计时的功能，待测设备200正常运行应用程序；随后闭合校验按键100，第一IO口的电平信号为低电平,待测设备200检测到第一IO口的状态为低电平状态，待测设备200进入固件查询模式并查询其本身的固件信息；之后断开校验按键100，第一IO口的电平信号从低电平转换为高电平，待测设备200检测到第一IO口的状态为上升沿状态，待测设备200通过第一IO口将所述固件信息传输至校验装置300,校验装置300对所述固件信息进行校验；在发出所述固件信息后，待测设备200使第一IO口恢复初始设计时的功能。

在又一实施例中，待测设备200发出固件信息的过程如下：

待测设备200上电但未闭合校验按键100，待测设备200直接进入固件查询模式并查询自身的固件信息；闭合校验按键100，第一IO口的电平信号为低电平，待测设备200检测到第一IO口的状态为低电平状态，待测设备200保持固件查询模式；随后断开校验按键100，第一IO口的电平信号从低电平转换为高电平，待测设备200检测到第一IO口的状态为上升沿状态，待测设备200通过第一IO口将所述固件信息传输至校验装置300；在待测设备200发出所述固件信息后，待测设备200使第一IO口恢复初始设计时的功能。

特别地，在待测设备200刚上电时，若第一IO口的状态不是上升沿状态或低电平状态，待测设备200使第一IO口执行其初始设计时的功能，或直接进入固件查询模式以获取自身的固件信息。在本申请其他实施例中，在上述情况下第一IO口也可以正常用于其他的用途。

以上对本实用新型的较佳实施方式进行了具体说明，但本发明创造并不限于所述实施例，熟悉本领域的技术人员在不违背本实用新型精神的前提下还可做出种种的等同变型或替换，这些等同的变型或替换均包含在本申请权利要求所限定的范围内。

Claims (8)

1.一种单线固件校验系统，其特征在于，包括：校验按键、待测设备和校验装置，所述待测设备设置有第一IO口，所述第一IO口通过第一导线与所述校验装置连接，所述校验按键连接于所述第一导线，所述校验按键用于通过所述第一导线改变所述第一IO口的状态，所述第一IO口的状态包括：低电平状态和上升沿状态；

所述低电平状态为：所述第一IO口的电平为低电平；

所述上升沿状态为：所述第一IO口的电平从低电平变化为高电平；

所述待测设备用于检测所述第一IO口的状态，当所述第一IO口的状态为低电平状态时，则所述待测设备查询其的固件信息；

当所述第一IO口的状态为上升沿状态，则所述待测设备通过第一导线发送所述固件信息；

所述校验装置用于对所述固件信息进行校验。

2.根据权利要求1所述的一种单线固件校验系统，其特征在于，所述待测设备被配置为上电则查询其的固件信息。

3.根据权利要求1所述的一种单线固件校验系统，其特征在于，所述校验按键为轻触开关，所述轻触开关的一端与所述第一IO口连接，所述轻触开关的另一端对地连接。

4.根据权利要求1所述的一种单线固件校验系统，其特征在于，所述待测设备通过单线通信方式或串口通信方式将所述固件信息传输至所述校验装置。

5.根据权利要求1所述的一种单线固件校验系统，其特征在于，所述固件信息包括固件的产品编码、版本号、日期以及校验码。

6.根据权利要求1所述的一种单线固件校验系统，其特征在于，还包括：上拉电阻，所述上拉电阻与所述第一导线连接，所述第一导线的初始电平为高电平。

7.根据权利要求1所述的一种单线固件校验系统，其特征在于，所述校验装置还包括显示模块和显示屏，所述显示屏位于校验装置的表面，所述显示模块与所述显示屏连接，所述显示模块用于根据所接收到的固件信息控制显示屏的显示，所述显示屏用于实时显示所述固件信息。

8.根据权利要求7所述的一种单线固件校验系统，其特征在于，所述校验装置为基于STM32F103ZE的控制系统。

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