CN218036513U - 电子元件耐久度测试装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了电子元件耐久度测试装置,包括装置箱,装置箱内一体成形有承载箱,装置箱和承载箱之间为加热腔,装置箱内壁间固定安装有若干加热机构,承载箱内滑动设置有测试箱,测试箱内壁堆成固定安装有若干定位块,定位块上滑动设置有测试板,加热腔内设置有风扇机构。本实用新型通过设置测试平台机构,可以将待测试装置放置在支撑凸起上,同时可以利用固定螺栓将支撑柱拆卸,通过滑动设置测试板,可以在外侧将测试元件放置好后放置在定位块上,通过电加热管和风扇机构,可以在电加热管将加热腔内的空气加热时,通过驱动电机开启转动风扇,可以使得加热腔内的气体受热更加均匀,提高测试的准确性。
Description
技术领域
本实用新型涉及电子元件测试领域,尤其涉及电子元件耐久度测试装置。
背景技术
目前,随着电子技术的不断发展,电子元件的应用也越来越多。在电子元件的生产后出厂前,一般需要对电子元件进行检测,以便保证电子元件的质量。目前的电子元件检测一般是人工手持检测探头来完成,这种检测方式效率较低,而且,难以对电子元件的表面质量以及尺寸进行有效检测,同时还需要检测电子元件的使用寿命,即需要测试电子元件的耐久度测试,通常情况下电子元件的耐久度测试需要在高温下运行,目前的一些高温测试装置常通过电加热管直接给予升温,但是这样的升温不够均匀,同时难以人为控制。
实用新型内容
本实用新型的目的是为了解决现有技术中存在的缺点,而提出的电子元件耐久度测试装置。
为了实现上述目的,本实用新型采用了如下技术方案:
电子元件耐久度测试装置,包括装置箱,所述装置箱内一体成形有承载箱,所述装置箱和承载箱之间为加热腔,所述装置箱内壁间固定安装有若干加热机构,所述承载箱内滑动设置有测试箱,所述测试箱内壁堆成固定安装有若干定位块,所述定位块上滑动设置有测试板,所述测试板上设置有测试平台机构,所述装置箱顶端设置有驱动机构,所述加热腔内设置有风扇机构。
优选地,所述测试平台机构包括支撑柱、支撑平台、支撑凸起和固定螺栓,若干所述支撑柱通过固定螺栓固固定安装在所述测试板上端,所述支撑平台固定安装在支撑柱顶端,若干所述支撑凸起固定安装在支撑平台顶端。
优选地,所述加热机构包括固定块和电加热管,所述固定块对称固定安装在所述装置箱内壁,所述电加热管固定安装在对称的固定块之间。
优选地,所述驱动机构包括电机箱和驱动电机,所述电机箱固定安装在装置箱顶端,所述驱动电机固定安装在电机箱内。
优选地,所述风扇机构包括转动轴和转动风扇,所述转动轴转动连接在装置箱顶端和承载箱顶端之间,且所述转动轴与驱动电机的输出轴同轴固定连接,若干所述转动风扇固定安装在转动轴上。
优选地,所述装置箱侧壁底端连通有抽气机,所述抽气机通过安装座固定安装在抽气机外侧,所述装置箱侧壁通过合页转动连接有密封箱门,且所述密封箱门上设置有玻璃窗口。
本实用新型具有以下有益效果:
1、通过设置电加热管和风扇机构,可以在电加热管将加热腔内的空气加热时,通过驱动电机开启转动风扇,可以使得加热腔内的气体受热更加均匀,避免温升实验时加热时不够均匀,提高测试的准确性。
2、通过设置测试平台机构,可以将待测试装置放置在支撑凸起上,同时可以利用固定螺栓将支撑柱拆卸,通过滑动设置测试板,可以在外侧将测试元件放置好后放置在定位块上。
附图说明
图1为本实用新型提出的电子元件耐久度测试装置的示意图;
图2为本实用新型提出的电子元件耐久度测试装置的结构示意图;
图3为本实用新型测试箱的结构示意图。
图中:1、装置箱;2、承载箱;3、加热腔;4、测试箱;5、定位块;6、测试板;7、支撑柱;8、支撑平台;9、支撑凸起;10、固定螺栓;11、电机箱;12、驱动电机;13、转动轴;14、转动风扇;15、安装座;16、抽气机;17、固定块;18、电加热管;19、密封箱门;20、玻璃窗口。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。
在本实用新型的描述中,需要理解的是,术语“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本实用新型和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本实用新型的限制。
参照图1-3,电子元件耐久度测试装置,包括装置箱1,装置箱1内一体成形有承载箱2,装置箱1和承载箱2之间为加热腔3,装置箱1内壁间固定安装有若干加热机构,承载箱2内滑动设置有测试箱4,测试箱4内壁堆成固定安装有若干定位块5,定位块5上滑动设置有测试板6,测试板6上设置有测试平台机构,装置箱1顶端设置有驱动机构,加热腔3内设置有风扇机构。
测试平台机构包括支撑柱7、支撑平台8、支撑凸起9和固定螺栓10,若干支撑柱7通过固定螺栓固10固定安装在测试板6上端,支撑平台8固定安装在支撑柱7顶端,若干支撑凸起9固定安装在支撑平台8顶端。
加热机构包括固定块17和电加热管18,固定块17对称固定安装在装置箱1内壁,电加热管18固定安装在对称的固定块17之间。
驱动机构包括电机箱11和驱动电机12,电机箱11固定安装在装置箱1顶端,驱动电机12固定安装在电机箱11内。
风扇机构包括转动轴13和转动风扇14,转动轴13转动连接在装置箱1顶端和承载箱2顶端之间,且转动轴13与驱动电机12的输出轴同轴固定连接,若干转动风扇14固定安装在转动轴13上。
装置箱1侧壁底端连通有抽气机16,抽气机16通过安装座15固定安装在抽气机16外侧,装置箱1侧壁通过合页转动连接有密封箱门19,且密封箱门19上设置有玻璃窗口20。
驱动电机12、抽气机16和电加热管18均与安装在装置箱1侧壁的控制面板均电性连接,测试箱4内设置有可以与电子元件连接的测试机构。
需要说明的是,需要说明的是,测试机构的结构和控制面板的电控技术均为成熟的现有技术,且非本实用新型技术点所在,在此不多做赘述。
本实用新型中,工作人员将测试板6取出,将待测试的电子元件设置在支撑凸起9上,再将测试板6推回至定位块5上,再通过控制中心开启电加热管18,同时开启驱动电机12,驱动电机12通过转动轴13驱动转动风扇14,使得加热腔3内的空气加热的更加均匀,避免温升实验时加热不够均匀,提高测试的准确性,关闭密封箱门19,从玻璃窗口20可以观察内部的电子元件,同时可以保护工作人员。
以上所述,仅为本实用新型较佳的具体实施方式,但本实用新型的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内,根据本实用新型的技术方案及其实用新型构思加以等同替换或改变,都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。
Claims (6)
1.电子元件耐久度测试装置,包括装置箱(1),其特征在于,所述装置箱(1)内一体成形有承载箱(2),所述装置箱(1)和承载箱(2)之间为加热腔(3),所述装置箱(1)内壁间固定安装有若干加热机构,所述承载箱(2)内滑动设置有测试箱(4),所述测试箱(4)内壁固定安装有若干定位块(5),所述定位块(5)上滑动设置有测试板(6),所述测试板(6)上设置有测试平台机构,所述装置箱(1)顶端设置有驱动机构,所述加热腔(3)内设置有风扇机构。
2.根据权利要求1所述的电子元件耐久度测试装置,其特征在于,所述测试平台机构包括支撑柱(7)、支撑平台(8)、支撑凸起(9)和固定螺栓(10),若干所述支撑柱(7)通过固定螺栓(10)固定安装在所述测试板(6)上端,所述支撑平台(8)固定安装在支撑柱(7)顶端,若干所述支撑凸起(9)固定安装在支撑平台(8)顶端。
3.根据权利要求1所述的电子元件耐久度测试装置,其特征在于,所述加热机构包括固定块(17)和电加热管(18),所述固定块(17)对称固定安装在所述装置箱(1)内壁,所述电加热管(18)固定安装在对称的固定块(17)之间。
4.根据权利要求1所述的电子元件耐久度测试装置,其特征在于,所述驱动机构包括电机箱(11)和驱动电机(12),所述电机箱(11)固定安装在装置箱(1)顶端,所述驱动电机(12)固定安装在电机箱(11)内。
5.根据权利要求1所述的电子元件耐久度测试装置,其特征在于,所述风扇机构包括转动轴(13)和转动风扇(14),所述转动轴(13)转动连接在装置箱(1)顶端和承载箱(2)顶端之间,且所述转动轴(13)与驱动电机(12)的输出轴同轴固定连接,若干所述转动风扇(14)固定安装在转动轴(13)上。
6.根据权利要求1所述的电子元件耐久度测试装置,其特征在于,所述装置箱(1)侧壁底端连通有抽气机(16),所述抽气机(16)通过安装座(15)固定安装在抽气机(16)外侧,所述装置箱(1)侧壁通过合页转动连接有密封箱门(19),且所述密封箱门(19)上设置有玻璃窗口(20)。
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CN202221001432.0U Active CN218036513U (zh) | 2022-04-27 | 2022-04-27 | 电子元件耐久度测试装置 |
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