CN217879476U - 电子设备测试系统 - Google Patents

Abstract

本实用新型实施例公开了一种电子设备测试系统，所述电子设备测试系统包括机架、第一测试流水线、第二测试流水线、第一测试装置和第二测试装置，第一测试流水线和第二测试流水线沿水平方向并排设置于机架，第一测试流水线和第二测试流水线中的每一者沿第一预设方向延伸，第一测试装置和第二测试装置中的每一者设置于机架，第一测试装置与第一测试流水线配合，第二测试装置与第二测试流水线配合。本实用新型实施例的电子设备测试系统具有测试效率高以及空间利用率高的优点。

Description

电子设备测试系统

技术领域

本实用新型涉及测试设备技术领域，具体涉及一种电子设备测试系统。

背景技术

相关技术中，电子设备测试系统是在机架上设置一条测试流水线以对电子设备进行测试，存在测试效率低的问题；同时，机架上仅设置一条测试流水线使机架上具有闲置空间，导致电子设备测试系统存在空间利用率低的问题。

实用新型内容

本实用新型旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。

为此，本实用新型实施例提出一种电子设备测试系统，该电子设备测试系统具有测试效率高以及空间利用率高的优点。

本实用新型实施例的电子设备测试系统包括：

机架；

第一测试流水线和第二测试流水线，所述第一测试流水线和所述第二测试流水线沿水平方向并排设置于所述机架，所述第一测试流水线和所述第二测试流水线中的每一者沿第一预设方向延伸；以及

第一测试装置和第二测试装置，所述第一测试装置和所述第二测试装置中的每一者设置于所述机架，所述第一测试装置与所述第一测试流水线配合，所述第二测试装置与所述第二测试流水线配合。

本实用新型实施例的电子设备测试系统在机架上同时设有第一测试流水线和第二测试流水线，第一测试流水线和第二测试流水线用于分别传送电子设备以进行测试，从而提升了测试效率，同时，第一测试流水线和第二测试流水线并排设置在机架上使机架不再具有闲置空间，进而使电子设备测试系统具有较高的空间利用率。

在一些实施例中，所述电子设备测试系统进一步包括回流流水线，所述回流流水线设置于所述机架，所述回流流水线位于所述第一测试流水线和所述第二测试流水线中的每一者的下方。

在一些实施例中，所述第一测试装置包括多个第一测试模块，多个所述第一测试模块沿所述第一预设方向依次设置于所述机架上，所述第二测试装置包括多个第二测试模块，多个所述第二测试模块沿所述第一预设方向依次设置于所述机架上。

在一些实施例中，所述第一测试装置和所述第二测试装置中的每一者包括沿所述第一预设方向依次设置的第一指纹头模组、光源升降组件和第二指纹头模组。

在一些实施例中，所述第一指纹头模组包括：

第一本体，所述第一本体设置于所述机架，所述第一本体具有第一直线导轨，所述第一直线导轨沿第二预设方向延伸，所述第二预设方向垂直于所述第一预设方向；

第一安装架，所述第一安装架沿所述第二预设方向可移动地设置于所述第一直线导轨；

第一升降架，所述第一升降架沿上下方向可移动地设置于所述第一安装架；

第一指纹头，所述第一指纹头设置于所述第一升降架；和

第一压力传感器，所述第一压力传感器设置于所述第一升降架，所述第一压力传感器与所述第一指纹头配合。

在一些实施例中，所述第一指纹头为两个，两个所述第一指纹头沿所述第一预设方向间隔设置，所述第一压力传感器为两个，两个所述第一压力传感器一一对应地与两个所述第一指纹头配合。

在一些实施例中，所述第二指纹头模组包括：

第二本体，所述第二本体设置于所述机架，所述第二本体具有第二直线导轨，所述第二直线导轨沿第二预设方向延伸，所述第二预设方向垂直于所述第一预设方向；

第二安装架，所述第二安装架沿所述第二预设方向可移动地设置于所述第二直线导轨；

第二升降架，所述第二升降架沿上下方向可移动地设置于所述第二安装架；

第二指纹头，所述第二指纹头设置于所述第二升降架；和

第二压力传感器，所述第二压力传感器设置于所述第二升降架，所述第二压力传感器与所述第二指纹头配合。

在一些实施例中，所述第二指纹头的规格不同于所述第一指纹头的规格，所述第二指纹头为两个，两个所述第二指纹头沿所述第一预设方向间隔设置，所述第二压力传感器为两个，两个所述第二压力传感器一一对应地与两个所述第二指纹头配合。

在一些实施例中，所述光源升降组件包括：

第三本体，所述第三本体设置于所述机架，所述第三本体设有沿竖直方向排列的多个刻度线；

屏幕扫码相机组件，所述屏幕扫码相机组件设置于所述第三本体；和

光源组件，所述光源组件沿上下方向可移动地设置于所述第三本体，其中所述第一测试装置的所述光源组件和所述第二测试装置的所述光源组件为同一光源组件。

在一些实施例中，所述电子设备测试系统进一步包括：

第三测试流水线，所述第一测试流水线、所述第二测试流水线和所述第三测试流水线沿水平方向并排设置于所述机架，所述第三测试流水线沿所述第一预设方向延伸；和

第三测试装置，所述第三测试装置设置于所述机架，所述第三测试装置与所述第三测试流水线配合。

附图说明

图1是本实用新型实施例的电子设备测试系统的结构示意图；

图2是图1中第一测试流水线和第二测试流水线的结构示意图；

图3是图1中回流流水线的结构示意图；

图4是图1中第一指纹头模组的结构示意图；

图5是图1中第二指纹头模组的结构示意图；

图6是图1中光源升降组件的结构示意图。

10.第一测试流水线；11.动力侧；12.遮光钣金；13.从动侧；14.顶升压块机构；20.第二测试流水线；30.第一指纹头模组；31.第一直线导轨；32.第一指纹头；33.第一压力传感器；34.第一升降架；40.光源升降组件；41.光源组件；42.屏幕扫码相机组件；43.刻度线；50.第二指纹头模组；51.第二直线导轨；52.第二指纹头；53.第二压力传感器；54.第二升降架；60.回流流水线；61.皮带传送机构；62.驱动件。

具体实施方式

下面详细描述本实用新型的实施例，所述实施例的示例在附图中示出。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本实用新型，而不能理解为对本实用新型的限制。

下面参考图1至图6描述根据本实用新型实施例的电子设备测试系统。

如图1-图6所示，本实用新型实施例的电子设备测试系统包括机架、第一测试流水线10、第二测试流水线20、第一测试装置和第二测试装置。

第一测试流水线10和第二测试流水线20沿水平方向并排设置于机架，第一测试流水线10和第二测试流水线20中的每一者沿第一预设方向(如图1所示的前后方向)延伸。具体地，如图1所示，机架具有平台，第一测试流水线10和第二测试流水线20沿左右方向并排设置在机架的平台上，且第一测试流水线10和第二测试流水线20均沿前后方向延伸。第一测试流水线10和第二测试流水线20用于分别传送不同的放置有电子设备的载具。

如图2所示，第一测试流水线10和第二测试流水线20的结构相同，其包括沿前后方向延伸的支架，支架包括沿左右方向间隔排布的动力侧11和从动侧13，支架的动力侧11设有沿前后方向间隔排布的多组主动轮，每组的两个主动轮上套设有传送带，支架的从动侧13设有沿前后方向间隔排布的多个从动轮，电子设备及载具位于动力侧11和从动侧13之间并同时位于套设在主动轮的传送带和从动轮上，在传送带的摩擦力作用下，电子设备及载具沿前后方向移动，同时，支架的动力侧11和从动侧13还具有限位作用，电子设备及载具在动力侧11和从动侧13的限位作用下能够避免脱离支架。可以理解的是，在另一些实施例中，第一测试流水线10和第二测试流水线20也可以为传动带机构或者为设置在导轨上的滑动承托件。

第一测试装置和第二测试装置中的每一者设置于机架，第一测试装置与第一测试流水线10配合，第二测试装置与第二测试流水线20配合。具体地，如图1所示，机架的平台上设有第一测试装置和第二测试装置，第一测试装置与第一测试流水线10相对并位于第一测试流水线10的上方，以使第一测试装置对第一测试流水线10上的电子设备进行测试，第二测试装置与第二测试流水线20相对并位于第二测试流水线20的上方，以使第二测试装置对第二测试流水线20上的电子设备进行测试。

本实用新型实施例的电子设备测试系统在机架上同时设有第一测试流水线10和第二测试流水线20，第一测试流水线10和第二测试流水线20用于分别传送电子设备以进行测试，从而提升了测试效率，同时，第一测试流水线10和第二测试流水线20并排设置在机架上使机架不再具有闲置空间，进而使电子设备测试系统具有较高的空间利用率。

在一些实施例中，本实用新型实施例的电子设备测试系统进一步包括回流流水线60，回流流水线60设置于机架，回流流水线60位于第一测试流水线10和第二测试流水线20中的每一者的下方。

如图1所示，回流流水线60设置在机架的平台上并位于第一测试流水线10的左侧，回流流水线60沿前后方向延伸且回流流水线60的传送方向为第一测试流水线10的传送方向和第二测试流水线20的传送方向的反向，第一测试流水线10和第二测试流水线20在上下方向上的高度相同，回流流水线60在上下方向上的高度低于第一测试流水线10和第二测试流水线20，换言之，回流流水线60位于第一测试流水线10和第二测试流水线20中的每一者的下方。

如图3所示，回流流水线60包括沿左右方向间隔排布的两个皮带传送机构61以及驱动皮带传送机构61的驱动件62，皮带传送机构61沿前后方向延伸，且两个皮带传送机构61的传送方向相同、传送速度相同，从而使同时放置在两个皮带传送机构61上的载具能够平稳移动，驱动件62可以通过例如齿轮的传动组件同时驱动两个皮带传送机构61进行传送工作，也可以设置两个驱动件62与两个皮带传送机构61一一对应相连，在两个皮带传送机构61的外侧还设有沿前后方向延伸的挡板以避免载具在传送过程中从皮带传送机构61上脱离。

第一测试流水线10上受到第一测试装置测试后认为不合格的电子设备，以及第二测试流水线20上受到第二测试装置测试后认为不合格的电子设备通过回流流水线60传送至第一测试流水线10和第二测试流水线20的起始端，从而将该电子设备及承托该电子设备的载具放置在第一测试流水线10或第二测试流水线20进行重复测试，在图3所示实施例中，电子设备连续三次测试不合格才会被认定为不良品，在第一次测试不合格和第二次测试不合格时均使用回流流水线60将其回流以重复测试。同时，回流流水线60还用于回流在第一测试流水线10和第二测试流水线20上承托电子设备的载具。

可以理解的是，在另一些实施例中，回流流水线60也可以设置在第一测试流水线10和第二测试流水线20的正下方，或者在第一测试流水线10的正下方设置一个回流流水线60，在第二测试流水线20的正下方设置另一个回流流水线60。

在一些实施例中，第一测试装置包括多个第一测试模块，多个第一测试模块沿第一预设方向依次设置于机架上，第二测试装置包括多个第二测试模块，多个第二测试模块沿第一预设方向依次设置于机架上。

第一测试模块用于对第一测试流水线10上的一个电子设备进行测试，第二测试模块用于对第二测试流水线20上的一个电子设备进行测试，第一测试装置包括沿前后方向依次设置的多个第一测试模块使第一测试装置能够同时对第一测试流水线10上的多个电子设备进行测试，第二测试装置包括沿前后方向依次设置的多个第二测试模块使第二测试装置能够同时对第二测试流水线20上的多个电子设备进行测试，以使第一测试流水线10和第二测试流水线20分别能够进行一拖二测试，进而使单位时间内电子设备的测试数量得到提升。

可以理解的是，在另一些实施例中，第一测试装置仅包括一个第一测试模块，第二测试装置仅包括一个第二测试模块。

在一些实施例中，第一测试装置和第二测试装置中的每一者包括沿第一预设方向依次设置的第一指纹头模组30、光源升降组件40和第二指纹头模组50。

如图1所示，位于第一测试流水线10和第二测试流水线20上的电子设备由前至后移动，第一测试装置和第二测试装置中的每一者包括由前向后依次排布的第一指纹头模组30、光源升降组件40和第二指纹头模组50，其中光源升降组件40位于第一指纹头模组30和第二指纹头模组50的上方，换言之，电子设备在第一测试流水线10和第二测试流水线20上的移动过程中顺序经过第一指纹头模组30、光源升降组件40和第二指纹头模组50，在图1所示实施例中，电子设备为手机或平板，第一指纹头模组30用于进行屏内指纹测试，光源升降组件40用于进行光感测试，例如前置屏下光感测试、前置窄缝光感测试和色温传感器测试，第二指纹头模组50用于进行屏内指纹校准。

第一测试装置和第二测试装置中的每一者包括第一指纹头模组30、光源升降组件40和第二指纹头模组50，一方面，使第一测试流水线10和第二测试流水线20实现分别对电子设备进行多项不同的测试，另一实用新型，第一测试流水线10和第二测试流水线20一共具有六个测试位，有效提升测试效率。

可以理解的是，第一测试装置和第二测试装置不限于包括第一指纹头模组30、光源升降组件40和第二指纹头模组50，在另一些实施例中，第一测试装置和第二测试装置也可以具有其他相关技术中的测试模组。

在一些实施例中，第一指纹头模组30包括第一本体、第一安装架、第一升降架34、第一指纹头32和第一压力传感器33，第一本体设置于机架，第一本体具有第一直线导轨31，第一直线导轨31沿第二预设方向(如图1所示的左右方向)延伸，第二预设方向垂直于第一预设方向，第一安装架沿第二预设方向可移动地设置于第一直线导轨31，第一升降架34沿上下方向可移动地设置于第一安装架，第一指纹头32设置于第一升降架34，第一压力传感器33设置于第一升降架34，第一压力传感器33与第一指纹头32配合。

如图1和图4所示，第一本体设置在机架上，且第一本体具有沿左右方向延伸的第一直线导轨31和可沿左右方向伸缩的第一伸缩缸，第一安装架设在第一直线导轨31上并与第一伸缩缸相连，在第一伸缩缸的驱动下，第一安装架可沿第一直线导轨31的延伸方向移动，第一安装架设有相较于第一安装架可沿上下方向移动的第一升降架34，第一升降架34的底部设有第一压力传感器33，第一压力传感器33的底部设有第一指纹头32。

与第一测试流水线10配合的第一指纹头模组30和与第二测试流水线20配合的第一指纹头模组30可以位于对应的测试流水线的同侧，也可以为两个第一指纹头模组30沿左右方向相对设置，换言之，第一测试流水线10和第二测试流水线20位于两个第一指纹头模组30之间，还可以为两个第一指纹头模组30位于第一测试流水线10和第二测试流水线20之间。

在第一指纹头模组30进行测试时，第一伸缩缸驱动第一安装架沿左右方向移动，以使第一安装架上的第一压力传感器33和第一指纹头32移动到位于与该第一指纹头模组30对应的第一测试流水线10或第二测试流水线20上的电子设备的正上方，然后第一升降架34向下移动，并在第一压力传感器33的压力限定作用下使第一指纹头32与电子设备接触，从而进行屏内指纹测试，测试结束后第一升降架34和第一安装架复位。

在一些实施例中，第一指纹头32为两个，两个第一指纹头32沿第一预设方向间隔设置，第一压力传感器33为两个，两个第一压力传感器33一一对应地与两个第一指纹头32配合。

如图4所示，第一升降架34的底部设有沿前后方向间隔排布的两个第一压力传感器33，每个第一压力传感器33的下方分别设有一个第一指纹头32。从而实现对电子设备的两处位置同时进行屏内指纹测试。第一指纹头32优选为14毫米指纹头。

在一些实施例中，第二指纹头模组50包括第二本体、第二安装架、第二升降架54、第二指纹头52和第二压力传感器53，第二本体设置于机架，第二本体具有第二直线导轨51，第二直线导轨51沿第二预设方向延伸，第二预设方向垂直于第一预设方向，第二安装架沿第二预设方向可移动地设置于第二直线导轨51，第二升降架54沿上下方向可移动地设置于第二安装架，第二指纹头52设置于第二升降架54，第二压力传感器53设置于第二升降架54，第二压力传感器53与第二指纹头52配合。

如图1和图5所示，第二本体设置在机架上，且第二本体具有沿左右方向延伸的第二直线导轨51和可沿左右方向伸缩的第二伸缩缸，第二安装架设在第二直线导轨51上并与第二伸缩缸相连，在第二伸缩缸的驱动下，第二安装架可沿第二直线导轨51的延伸方向移动，第二安装架设有相较于第二安装架可沿上下方向移动的第二升降架54，第二升降架54的底部设有第二压力传感器53，第二压力传感器53的底部设有第二指纹头52。

在第二指纹头模组50进行测试时，第二伸缩缸驱动第二安装架沿左右方向移动，以使第二安装架上的第二压力传感器53和第二指纹头52移动到位于与该第二指纹头模组50对应的第一测试流水线10或第二测试流水线20上的电子设备的正上方，然后第二升降架54向下移动，并在第二压力传感器53的压力限定作用下使第二指纹头52与电子设备接触，从而进行屏内指纹校准，校准结束后第二升降架54和第二安装架复位。

与第一测试流水线10配合的第二指纹头模组50和与第二测试流水线20配合的第二指纹头模组50可以位于对应的测试流水线的同侧，也可以为两个第二指纹头模组50沿左右方向相对设置，换言之，第一测试流水线10和第二测试流水线20位于两个第二指纹头模组50之间，还可以为两个第二指纹头模组50位于第一测试流水线10和第二测试流水线20之间。

在一些实施例中，第二指纹头52的规格不同于第一指纹头32的规格，第二指纹头52为两个，两个第二指纹头52沿第一预设方向间隔设置，第二压力传感器53为两个，两个第二压力传感器53一一对应地与两个第二指纹头52配合。

如图4所示，第二升降架54的底部设有沿前后方向间隔排布的两个第二压力传感器53，每个第二压力传感器53的下方分别设有一个第二指纹头52。从而实现对电子设备的两处位置同时进行屏内指纹校准。第二指纹头52优选为30毫米指纹头，

在一些实施例中，光源升降组件40包括第三本体、屏幕扫码相机组件42和光源组件41，第三本体设置于机架，第三本体设有沿竖直方向排列的多个刻度线43，屏幕扫码相机组件42设置于第三本体，光源组件41沿上下方向可移动地设置于第三本体，其中第一测试装置的光源组件41和第二测试装置的光源组件41为同一光源组件41。

如图1和图6所示，第三本体设在机架上，且第三本体包括沿上下方向延伸的竖直段和由竖直段向前延伸的水平段，光源组件41设在水平段的下方并与竖直段滑动连接，以使光源组件41相较于水平段可沿上下方向移动，且第三本体的高度高于第一本体和第二本体，以使光源升降组件40高于第一指纹头模组30和第二指纹头模组50，从而使电子设备测试系统的结构更紧凑，竖直段设有有沿竖直方向排列的多个刻度线43，以用于获取光源组件41的高度，第一测试装置的光源组件41和第二测试装置的光源组件41为同一光源组件41，换言之，设在第三本体上的光源组件41同时位于第一测试流水线10和第二测试流水线20的上方，第三本体还设有沿左右方向间隔排布的两个屏幕扫码相机组件42，其中一个屏幕扫码相机组件42朝向第一测试流水线10以获取位于第一测试流水线10上的电子设备的SN码，另一个屏幕扫码相机组件42朝向第二测试流水线20以获取位于第二测试流水线20上的电子设备的SN码。

如图2所示，第一测试流水线10和第二测试流水线20的支架上还分别设有两个沿前后方向间隔且相对排布的遮光钣金12，且遮光钣金12位于光源组件41的下方，以使遮光钣金12与光源组件41配合从而实现前置屏下光感测试、前置窄缝光感测试和色温传感器测试，同时支架上还设有顶升压块机构14，顶升压块机构14用于将移动到顶升压块机构14上方的电子设备抬高，从而对该电子设备进行前置屏下光感测试、前置窄缝光感测试和色温传感器测试。

可以理解的是，在另一些实施例中，光源升降组件40可以设为两个，其中一个配合第一测试流水线10，另一个配合第二测试流水线20。

在一些实施例中，本实用新型实施例的电子设备测试系统进一步包括第三测试流水线和第三测试装置，第一测试流水线10、第二测试流水线20和第三测试流水线沿水平方向并排设置于机架，第三测试流水线沿第一预设方向延伸，第三测试装置设置于机架，第三测试装置与第三测试流水线配合。

第一测试流水线10、第二测试流水线20和第三测试流水线均沿前后方向延伸并沿左右方向并排排布，第三测试装置与第三测试流水线配合以对第三测试流水线上的电子设备进行测试，第三测试装置的结构可以与第一测试装置、第二测试装置相同以进一步提升电子设备测试系统的测试效率，第三测试装置的结构也可以与第一测试装置、第二测试装置不同，以通过第三测试流水线和第三测试装置对电子设备进行区别于第一测试装置和第二测试装置的测试。

在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。

此外，术语“第一”、“第二”仅用于部件区分，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本实用新型的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。

在本实用新型中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接或彼此可通讯；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系，除非另有明确的限定。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

在本实用新型中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征“上”或“下”可以是第一和第二特征直接接触，或第一和第二特征通过中间媒介间接接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”可是第一特征在第二特征正上方或斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”可以是第一特征在第二特征正下方或斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。

在本实用新型中，术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本实用新型的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不必须针对的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。此外，在不相互矛盾的情况下，本领域的技术人员可以将本说明书中描述的不同实施例或示例以及不同实施例或示例的特征进行结合和组合。

尽管上面已经示出和描述了本实用新型的实施例，可以理解的是，上述实施例是示例性的，不能理解为对本实用新型的限制，本领域的普通技术人员在本实用新型的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型。

Claims (10)

1.一种电子设备测试系统，其特征在于，包括：

机架；

第一测试流水线(10)和第二测试流水线(20)，所述第一测试流水线(10)和所述第二测试流水线(20)沿水平方向并排设置于所述机架，所述第一测试流水线(10)和所述第二测试流水线(20)中的每一者沿第一预设方向延伸；以及

第一测试装置和第二测试装置，所述第一测试装置和所述第二测试装置中的每一者设置于所述机架，所述第一测试装置与所述第一测试流水线(10)配合，所述第二测试装置与所述第二测试流水线(20)配合。

2.根据权利要求1所述的电子设备测试系统，其特征在于，进一步包括回流流水线(60)，所述回流流水线(60)设置于所述机架，所述回流流水线(60)位于所述第一测试流水线(10)和所述第二测试流水线(20)中的每一者的下方。

3.根据权利要求1或2所述的电子设备测试系统，其特征在于，

所述第一测试装置包括多个第一测试模块，多个所述第一测试模块沿所述第一预设方向依次设置于所述机架上，所述第二测试装置包括多个第二测试模块，多个所述第二测试模块沿所述第一预设方向依次设置于所述机架上。

4.根据权利要求3所述的电子设备测试系统，其特征在于，所述第一测试装置和所述第二测试装置中的每一者包括沿所述第一预设方向依次设置的第一指纹头模组(30)、光源升降组件(40)和第二指纹头模组(50)。

5.根据权利要求4所述的电子设备测试系统，其特征在于，所述第一指纹头模组(30)包括：

第一本体，所述第一本体设置于所述机架，所述第一本体具有第一直线导轨(31)，所述第一直线导轨(31)沿第二预设方向延伸，所述第二预设方向垂直于所述第一预设方向；

第一安装架，所述第一安装架沿所述第二预设方向可移动地设置于所述第一直线导轨(31)；

第一升降架(34)，所述第一升降架(34)沿上下方向可移动地设置于所述第一安装架；

第一指纹头(32)，所述第一指纹头(32)设置于所述第一升降架(34)；和

第一压力传感器(33)，所述第一压力传感器(33)设置于所述第一升降架(34)，所述第一压力传感器(33)与所述第一指纹头(32)配合。

6.根据权利要求5所述的电子设备测试系统，其特征在于，所述第一指纹头(32)为两个，两个所述第一指纹头(32)沿所述第一预设方向间隔设置，所述第一压力传感器(33)为两个，两个所述第一压力传感器(33)一一对应地与两个所述第一指纹头(32)配合。

7.根据权利要求5所述的电子设备测试系统，其特征在于，所述第二指纹头模组(50)包括：

第二本体，所述第二本体设置于所述机架，所述第二本体具有第二直线导轨(51)，所述第二直线导轨(51)沿第二预设方向延伸，所述第二预设方向垂直于所述第一预设方向；

第二安装架，所述第二安装架沿所述第二预设方向可移动地设置于所述第二直线导轨(51)；

第二升降架(54)，所述第二升降架(54)沿上下方向可移动地设置于所述第二安装架；

第二指纹头(52)，所述第二指纹头(52)设置于所述第二升降架(54)；和

第二压力传感器(53)，所述第二压力传感器(53)设置于所述第二升降架(54)，所述第二压力传感器(53)与所述第二指纹头(52)配合。

8.根据权利要求7所述的电子设备测试系统，其特征在于，所述第二指纹头(52)的规格不同于所述第一指纹头(32)的规格，所述第二指纹头(52)为两个，两个所述第二指纹头(52)沿所述第一预设方向间隔设置，所述第二压力传感器(53)为两个，两个所述第二压力传感器(53)一一对应地与两个所述第二指纹头(52)配合。

9.根据权利要求4所述的电子设备测试系统，其特征在于，所述光源升降组件(40)包括：

第三本体，所述第三本体设置于所述机架，所述第三本体设有沿竖直方向排列的多个刻度线(43)；

屏幕扫码相机组件(42)，所述屏幕扫码相机组件(42)设置于所述第三本体；和

光源组件(41)，所述光源组件(41)沿上下方向可移动地设置于所述第三本体，其中所述第一测试装置的所述光源组件(41)和所述第二测试装置的所述光源组件(41)为同一光源组件(41)。

10.根据权利要求1或2所述的电子设备测试系统，其特征在于，进一步包括：

第三测试流水线，所述第一测试流水线(10)、所述第二测试流水线(20)和所述第三测试流水线沿水平方向并排设置于所述机架，所述第三测试流水线沿所述第一预设方向延伸；和

第三测试装置，所述第三测试装置设置于所述机架，所述第三测试装置与所述第三测试流水线配合。

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