CN217845418U - 一种半导体光学透镜红外检测装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种半导体光学透镜红外检测装置，包括传导管及固定连接于其第一端的红外激励源，还包括调节件，其中：调节件上设置有呈圆周阵列分布的平面透镜、凸透镜和凹透镜。该实用新型提供的半导体光学透镜红外检测装置，利用调节件上设置的平面透镜、凸透镜和凹透镜，不同的透镜能对红外线进行不同的折射，凸透镜能使红外激励源的红外线向外折射扩散以完全照射大于传导管管径的物体，避免其超过传导管的部分不能被红外线所照射加热升温，凹透镜能将红外激励源的红外线向内折射聚集以使红外线更多的照射于受照射面较小的物体上，加快受照射面较小物体的升温，平面透镜用于正常物体的照射升温。

Description

一种半导体光学透镜红外检测装置

技术领域

本实用新型涉及红外检测装置技术领域，具体来说涉及一种半导体光学透镜红外检测装置。

背景技术

对物体进行红外检测而检测其是否有缺陷时，需要使用红外激励源发射红外线并通过到传导管传递至物体表面，让物体升温，随后在使用红外热像仪检测出被测目标表面温度分布的变化，以检测物体是否有缺陷，但是由于传道管的管径固定，当被检测物体大于传导管的管径时，物体超过传导管的部分不能被红外线所照射加热升温，当被检测物体远小于传导管的管径时，由于物体接受红外线的照射面较小，物体难以被照射升温，影响后续对物体的缺陷判断。

发明内容

本实用新型的目的是提供一种半导体光学透镜红外检测装置，用于解决上述问题。

为了实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种半导体光学透镜红外检测装置，包括传导管及固定连接于其第一端的红外激励源，还包括调节件，其中：

所述调节件上设置有呈圆周阵列分布的平面透镜、凸透镜和凹透镜；

所述调节件受驱旋转以驱使平面透镜、凸透镜或凹透镜抵触传导管的第二端端面。

作为优选的，还包括架体，其上设置有锁紧机构，所述锁紧机构包括对称滑动设置于所述架体上的锁紧块，两个所述锁紧块受驱靠近以夹持物体。

作为优选的，还包括夹持机构，其包括一号夹持件和二号夹持件，所述二号夹持件的第一端铰接于所述一号夹持件的第一端，所述架体上开设有凹槽，所述凹槽位于两个所述锁紧块之间，所述一号夹持件和二号夹持件均活动设置于凹槽内，所述二号夹持件受驱旋转靠近一号夹持件以夹持物体。

作为优选的，所述锁紧块上设置有导滑部。

作为优选的，所述架体上设置有安装部，所述传导管固定连接于所述安装部上。

作为优选的，所述一号夹持件的第二端上设置有抵触部。

作为优选的，还包括红外热像仪，其固定连接于所述架体上，所述红外热像仪的测量端朝向所述凹槽。

在上述技术方案中，本实用新型提供的一种半导体光学透镜红外检测装置，具备以下有益效果：利用调节件上设置的平面透镜、凸透镜和凹透镜，不同的透镜能对红外线进行不同的折射，凸透镜能使红外激励源的红外线向外折射扩散以完全照射大于传导管管径的物体，避免其超过传导管的部分不能被红外线所照射加热升温，凹透镜能将红外激励源的红外线向内折射聚集以使红外线更多的照射于受照射面较小的物体上，加快受照射面较小物体的升温，平面透镜用于正常物体的照射升温。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型中记载的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本实用新型实施例提供的总体的结构示意图；

图2为本实用新型实施例提供的锁紧机构和夹持机构的结构示意图；

图3为本实用新型实施例提供的调节件的结构示意图。

附图标记说明：

1、架体；11、安装部；12、滑槽；13、凹槽；2、传导管；3、红外激励源；4、调节件；41、平面透镜；42、凸透镜；43、凹透镜；5、红外热像仪；6、锁紧机构；61、锁紧块；611、导滑部；62、弹簧；7、夹持机构；71、一号夹持件；711、抵触部；72、二号夹持件。

具体实施方式

为了使得本公开实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本公开实施例的附图，对本公开实施例的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例是本公开的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于所描述的本公开的实施例，本领域普通技术人员在无需创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本公开保护的范围。

如图1-3所示，一种半导体光学透镜红外检测装置，包括传导管2及固定连接于其第一端的红外激励源3，还包括调节件4，其中：调节件4上设置有呈圆周阵列分布的平面透镜41、凸透镜42和凹透镜43；调节件4受驱旋转以驱使平面透镜41、凸透镜42或凹透镜43抵触传导管2的第二端端面。

具体的，如图3所示，传导管2的上端为第一端，下端为第二端，调节件4转动设置于传导管2上，调节件4受驱旋转以且切换不同的光学透镜的平面一侧抵触传导管2的底部端端面，平面透镜41、凸透镜42和凹透镜43其三者所成的圆心角均为60度，即当平面透镜41抵触传导管2的底面端部并与传导管2同轴时，调节件4顺时针旋转60度，则此时凸透镜42抵触传导管2的底面端部并与传导管2同轴，当被检测的物体大小大于传导管2的管径时，旋转调节件4以使凸透镜42与传导管2同轴，此时红外激励源3启动，红外线通过传导管2并经过凸透镜42，凸透镜42能使红外线向外折射扩散以完全照射大于传导管2管径的物体，避免其超过传导管2的部分不能被红外线所照射加热升温，当被检测的物体大小远远小于传导管2的管径时，由于物体较小以使物体的受照射面较小，此时旋转调节件4以使凹透镜43与传导管2同轴，红外激励源3启动，红外线通过传导管2并经过凹透镜43，凹透镜43能使向内折射聚集以使红外线更多的照射于受照射面较小的物体上，加快受照射面较小物体的升温，平面透镜41用于正常物体的照射升温。

上述技术方案中，利用调节件4上设置的平面透镜41、凸透镜42和凹透镜43，不同的透镜能对红外线进行不同的折射，凸透镜42能使红外激励源3的红外线向外折射扩散以完全照射大于传导管2管径的物体，避免其超过传导管2的部分不能被红外线所照射加热升温，凹透镜43能将红外激励源3的红外线向内折射聚集以使红外线更多的照射于受照射面较小的物体上，加快受照射面较小物体的升温，平面透镜41用于正常物体照射升温。

作为本实用进一步提供的实施例，还包括架体1，其上设置有锁紧机构6，锁紧机构6包括对称滑动设置于架体1上的锁紧块61，两个锁紧块61受驱靠近以夹持物体，架体1上对称开设有滑槽12，且锁紧机构6还包括弹簧62，锁紧块61滑动设置于滑槽12内，弹簧62的一端固定连接于锁紧块61上，另一端固定连接于滑槽12内，弹簧62用于驱使两个锁紧块61滑动靠近以夹持物体，使物体位于传导管2的正下方接受红外线照射升温，以便于后续检测，利用锁紧块61以夹持物体接受红外线照射升温，避免物体在接受照射使移动而使其受热不均匀，影响后续检测结果。

作为本实用进一步提供的实施例，还包括夹持机构7，其包括一号夹持件71和二号夹持件72，二号夹持件72的第一端铰接于一号夹持件71的第一端，架体1上开设有凹槽13，凹槽13位于两个锁紧块61之间，一号夹持件71和二号夹持件72均活动设置于凹槽13内，二号夹持件72受驱旋转靠近一号夹持件71以夹持物体，如图2所示，一号夹持件71和二号夹持件72的铰接端均为其第一端，另一端为第二端，将二号夹持件72和一号夹持件71旋转呈同一水平面，并将二号夹持件72和一号夹持件71均放入凹槽13内，随后将物料放置于架体1的凹槽13上，两个锁紧块61受驱滑动靠近以夹持物体接受红外线照射升温，当物体升温完毕完成检测后，由于物体此时的温度较高，不能直接用手拿走物体，此时则可将二号夹持件72旋转远离凹槽13并靠近一号夹持件71以夹持物体，使用一号夹持件71和二号夹持件72夹持高温的物体以将其从架体1上拿出放置，不需要等待物体冷却，便于后续物体继续升温检测，增加检测效率。

作为本实用进一步提供的实施例，锁紧块61上设置有导滑部611，可使物体抵触锁紧块61的导滑部611进入两个锁紧块61之间以便于锁紧物体，简化装置结构，便于实际操作。

作为本实用进一步提供的实施例，架体1上设置有安装部11，传导管2固定连接于安装部11上，以使传导管2对准锁紧块61夹持的物体进行照射升温，增加装置的稳定性。

作为本实用进一步提供的实施例，一号夹持件71的第二端上设置有抵触部711，当二号夹持件72旋转远离凹槽13并靠近一号夹持件71以夹持物体时，抵触部711抵触物体，以避免物体在被一号夹持件71和二号夹持件72夹持时掉落，增加夹持稳定性。

作为本实用进一步提供的实施例，还包括红外热像仪5，其固定连接于架体1上，红外热像仪5的测量端朝向凹槽13，由于物体固定于凹槽13的上方，传导管2的下方，红外激励源3启动以使红外线经过传导管2对物体进行照射升温，随后红外热像仪5可以检测出物体表面温度分布的变化，将这种变化以红外热图序列的形式表现出来，通过对红外热图序列的处理来探测缺陷的信息，以检测物体是否有缺陷。

工作原理：首先将二号夹持件72和一号夹持件71旋转呈同一水平面，并将二号夹持件72和一号夹持件71均放入凹槽13内，随后使物体沿锁紧块61的导滑部611滑动进入两个锁紧块61之间，此时物体位于架体1的凹槽13上方，传导管2的下方，弹簧62驱使两个锁紧块61沿滑槽12滑动靠近以夹持物体，随后根据被测物体的大小以选用不同的光学透镜，当被检测的物体大小大于传导管2的管径时，旋转调节件4以使凸透镜42与传导管2同轴，此时红外激励源3启动，红外线通过传导管2并经过凸透镜42，凸透镜42能使红外线向外折射扩散以完全照射大于传导管2管径的物体，避免其超过传导管2的部分不能被红外线所照射加热升温，当被检测的物体大小远远小于传导管2的管径时，由于物体较小以使物体的受照射面较小，此时旋转调节件4以使凹透镜43与传导管2同轴，红外激励源3启动，红外线通过传导管2并经过凹透镜43，凹透镜43能使向内折射聚集以使红外线更多的照射于受照射面较小的物体上，加快受照射面较小物体的升温，平面透镜41用于正常物体的照射升温，在物体完成升温的过程中，红外热像仪5可以检测出物体表面温度分布的变化，将这种变化以红外热图序列的形式表现出来，通过对红外热图序列的处理来探测缺陷的信息，以检测物体是否有缺陷，随后使用二号夹持件72旋转远离凹槽13并靠近一号夹持件71以夹持物体，一号夹持件71的抵触部711抵触物体避免其掉落，使用一号夹持件71和二号夹持件72夹持高温的物体以将其从架体1上拿出放置，随后进行下一个物体的检测。

需要说明的是，该装置与市电220V直接相连为红外激励源3和红外热像仪5供电，且其二者与电源之间的电线连接及程序为本领域技术人员公知技术常识，不作过多阐述。

以上只通过说明的方式描述了本实用新型的某些示范性实施例，毋庸置疑，对于本领域的普通技术人员，在不偏离本实用新型的精神和范围的情况下，可以用各种不同的方式对所描述的实施例进行修正。因此，上述附图和描述在本质上是说明性的，不应理解为对本实用新型权利要求保护范围的限制。

Claims (7)

1.一种半导体光学透镜红外检测装置，包括传导管（2）及固定连接于其第一端的红外激励源（3），其特征在于，还包括调节件（4），其中：

所述调节件（4）上设置有呈圆周阵列分布的平面透镜（41）、凸透镜（42）和凹透镜（43）；

所述调节件（4）受驱旋转以驱使平面透镜（41）、凸透镜（42）或凹透镜（43）抵触传导管（2）的第二端端面。

2.根据权利要求1所述的一种半导体光学透镜红外检测装置，其特征在于，还包括架体（1），其上设置有锁紧机构（6），所述锁紧机构（6）包括对称滑动设置于所述架体（1）上的锁紧块（61），两个所述锁紧块（61）受驱靠近以夹持物体。

3.根据权利要求2所述的一种半导体光学透镜红外检测装置，其特征在于，还包括夹持机构（7），其包括一号夹持件（71）和二号夹持件（72），所述二号夹持件（72）的第一端铰接于所述一号夹持件（71）的第一端，所述架体（1）上开设有凹槽（13），所述凹槽（13）位于两个所述锁紧块（61）之间，所述一号夹持件（71）和二号夹持件（72）均活动设置于凹槽（13）内，所述二号夹持件（72）受驱旋转靠近一号夹持件（71）以夹持物体。

4.根据权利要求2所述的一种半导体光学透镜红外检测装置，其特征在于，所述锁紧块（61）上设置有导滑部（611）。

5.根据权利要求2所述的一种半导体光学透镜红外检测装置，其特征在于，所述架体（1）上设置有安装部（11），所述传导管（2）固定连接于所述安装部（11）上。

6.根据权利要求3所述的一种半导体光学透镜红外检测装置，其特征在于，所述一号夹持件（71）的第二端上设置有抵触部（711）。

7.根据权利要求3所述的一种半导体光学透镜红外检测装置，其特征在于，还包括红外热像仪（5），其固定连接于所述架体（1）上，所述红外热像仪（5）的测量端朝向所述凹槽（13）。

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