CN217845238U - 一种用于传感器老化测试的工装 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种用于传感器老化测试的工装，涉及传感器测试技术领域，包括：集成于测试主板依次电性连接的传感器模组、数据转换传输模组和供电模组，传感器模组，用于装配多组用于待测试传感器，并通过传感器采集数据传输至数据转换传输模组；数据转换传输模组，用于接收传感器模组采集的数据并进行数据转换处理并传输至上位机；供电模组，用于进行对传感器模组和数据转换传输模组供电。有益效果：实现对传感器老化进行测试，操作简单快捷，测试精准度高，同时传感器转接座可适配多种同类型传感器测试，适配性广。

Description

一种用于传感器老化测试的工装

技术领域

本实用新型涉及传感器测试技术领域，具体来说，涉及一种用于传感器老化测试的工装。

背景技术

传感器是一种检测装置，能感受到被测量的信息，并能将感受到的信息，按一定规律变换成为电信号或其他所需形式的信息输出，以满足信息的传输、处理、存储、显示、记录和控制等要求。

随着传感器的广泛应用，使得在使用时经常会因传感器的使用状态而感到担忧，随着时间的推移一些零部件的老化是正常的，所以在生产时需要对传感器进行老化测试，而目前传感器老化测试，存在以下缺点：

1.现有传感器产品探头没有统一老化测试过程，只是在组装完成后再进行老化测试，如果传感器出现问题，拆装麻烦，耗时耗力。

2.现有传感器探头都是在组装过程中进行标定，无法在一致环境下统一测量标定，过程操作重复工作太多。

3.现有传感器都是在组装过程中分别测试传感器探头，批量探头无法进行统一有效的对比测试。

4.现有传感器无法实时查看传感器探头测量数据，无法知道传感器的工作状态和工作情况。

针对相关技术中的问题，目前尚未提出有效的解决方案。

实用新型内容

针对相关技术中的问题，本实用新型的目的是提出一种用于传感器老化测试的工装，通过ADC采样芯片获取待测试传感器的探头采集数据信息，并通过单片机进行数据处理，而通过通信接口以及无线信号传输器实时读取传感器数据，以克服现有相关技术所存在的上述技术问题。

本实用新型的技术方案是这样实现的：

一种用于传感器老化测试的工装，包括：集成于测试主板依次电性连接的传感器模组、数据转换传输模组和供电模组，其中；

所述传感器模组，用于装配多组用于待测试传感器，并通过传感器采集数据传输至所述数据转换传输模组；

所述数据转换传输模组，用于接收所述传感器模组采集的数据并进行数据转换处理并传输至上位机；

所述供电模组，用于进行对所述传感器模组和所述数据转换传输模组供电。

进一步的，所述传感器模组，包括传感器转接座，所述传感器转接座与所述数据转换传输模组电性连接，其中；

所述传感器转接座，用于将待测试传感器装备于所述传感器转接座内，并通过待测试传感器的探头采集数据信息。

进一步的，所述数据转换传输模组，包括：ADC采样芯片、单片机、通信接口和无线信号传输器，所述ADC采样芯片、所述通信接口和所述无线信号传输器分别与所述单片机电性连接，所述ADC采样芯片、所述通信接口和所述无线信号传输器分别与所述ADC采样电性连接。

进一步的，所述ADC采样芯片与所述传感器转接座电性连接。

进一步的，所述ADC采样芯片的型号为HLW3070芯片。

进一步的，所述单片机的型号为AT80C51通用型单片机、DATA-7311 通用控制器或SC200通用控制器。

进一步的，所述通信接口为RS232通信接口或RS485通信接口。

本实用新型的有益效果：

本实用新型通过将待测试传感器装备于传感器转接座内，通过ADC采样芯片获取待测试传感器的探头采集数据信息，并通过单片机进行数据处理，而通过通信接口以及无线信号传输器实时读取传感器数据，实现对传感器老化进行测试，操作简单快捷，测试精准度高，同时传感器转接座可适配多种同类型传感器测试，适配性广。

本实用新型的其他特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本实用新型而了解。本实用新型的目的和其他优点在说明书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。

为使本实用新型的上述目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合所附附图，作详细说明如下。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是根据本实用新型实施例的用于传感器老化测试的工装的原理示意图；

图2是根据本实用新型实施例的用于传感器老化测试的工装的场景示意图。

图中：

1、测试主板；2、传感器模组；3、数据转换传输模组；4、供电模组；

21、传感器转接座；

31、ADC采样芯片；32、单片机；33、通信接口；34、无线信号传输器。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

根据本实用新型的实施例，提供了一种用于传感器老化测试的工装。

如图1-2所示，一种用于传感器老化测试的工装，包括：集成于测试主板1依次电性连接的传感器模组2、数据转换传输模组3和供电模组4，其中；

传感器模组2，用于装配多组用于待测试传感器，并通过传感器采集数据传输至数据转换传输模组3；

数据转换传输模组3，用于接收传感器模组2采集的数据并进行数据转换处理并传输至上位机；

供电模组4，用于进行对传感器模组2和数据转换传输模组3供电。

本技术方案，测试主板1通过螺丝与测试箱体底板连接，而供电模组4通过接线座与24伏开关电源连接进行供电。

另外，传感器模组2，包括传感器转接座21，传感器转接座21与数据转换传输模组3电性连接，其中；传感器转接座21，用于将待测试传感器装备于传感器转接座21内，并通过待测试传感器的探头采集数据信息。

本技术方案，传感器转接座21设置时远离供电模组4，使其读取到的数据精准不受供电干扰。

另外，数据转换传输模组3，包括：ADC采样芯片31、单片机32、通信接口33和无线信号传输器34，ADC采样芯片31、通信接口33和无线信号传输器34分别与单片机32电性连接，ADC采样芯片31、通信接口 33和无线信号传输器34分别与ADC采样电性连接。

其中，ADC采样芯片31与传感器转接座21电性连接。ADC采样芯片 31的型号为HLW3070芯片。单片机32的型号为AT80C51通用型单片机 32、DATA-7311通用控制器或SC200通用控制器。通信接口33为RS232 通信接口33或RS485通信接口33。

综上，借助于本实用新型的上述技术方案，可实现如下效果：

通过将待测试传感器装备于传感器转接座21内，通过ADC采样芯片 31获取待测试传感器的探头采集数据信息，并通过单片机32进行数据处理，而通过通信接口33以及无线信号传输器34实时读取传感器数据，实现对传感器老化进行测试，操作简单快捷，测试精准度高，同时传感器转接座21可适配多种同类型传感器测试，适配性广。

以上仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (7)

1.一种用于传感器老化测试的工装，其特征在于，包括：集成于测试主板(1)依次电性连接的传感器模组(2)、数据转换传输模组(3)和供电模组(4)，其中；

所述传感器模组(2)，用于装配多组用于待测试传感器，并通过传感器采集数据传输至所述数据转换传输模组(3)；

所述数据转换传输模组(3)，用于接收所述传感器模组(2)采集的数据并进行数据转换处理并传输至上位机；

所述供电模组(4)，用于进行对所述传感器模组(2)和所述数据转换传输模组(3)供电。

2.根据权利要求1所述的一种用于传感器老化测试的工装，其特征在于，所述传感器模组(2)，包括传感器转接座(21)，所述传感器转接座(21)与所述数据转换传输模组(3)电性连接，其中；

所述传感器转接座(21)，用于将待测试传感器装备于所述传感器转接座(21)内，并通过待测试传感器的探头采集数据信息。

3.根据权利要求2所述的一种用于传感器老化测试的工装，其特征在于，所述数据转换传输模组(3)，包括：ADC采样芯片(31)、单片机(32)、通信接口(33)和无线信号传输器(34)，所述ADC采样芯片(31)、所述通信接口(33)和所述无线信号传输器(34)分别与所述单片机(32)电性连接，所述ADC采样芯片(31)、所述通信接口(33)和所述无线信号传输器(34)分别与所述ADC采样电性连接。

4.根据权利要求3所述的一种用于传感器老化测试的工装，其特征在于，所述ADC采样芯片(31)与所述传感器转接座(21)电性连接。

5.根据权利要求4所述的一种用于传感器老化测试的工装，其特征在于，所述ADC采样芯片(31)的型号为HLW3070芯片。

6.根据权利要求4所述的一种用于传感器老化测试的工装，其特征在于，所述单片机(32)的型号为AT80C51通用型单片机(32)、DATA-7311通用控制器或SC200通用控制器。

7.根据权利要求6所述的一种用于传感器老化测试的工装，其特征在于，所述通信接口(33)为RS232通信接口(33)或RS485通信接口(33)。

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