CN212364467U - 一种阵列式元器件的测试装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种阵列式元器件的测试装置，包括移动机构，及设于移动机构动力输出端的检测机构；所述移动机构用于驱动检测机构运动，以使对阵列式设置的待测工件进行检测。本实用新型待测工件为阵列式设置，检测机构设置在移动机构上，以使检测机构能对待测工件逐一进行检测。本实用新型无需将待测工件进行剥离，直接在固定盘上进行测试，节省工序，减少设备，降低成本，提高效率。
Description
技术领域
本实用新型涉及测试设备技术领域，更具体地说是一种阵列式元器件的测试装置。
背景技术
现有的电子元器件测试时，基本是将电子元器件在剥离设备剥离成单个的元器件，然后将单个的元器件放置至振动盘、经过取料机构放置到转盘上，转盘旋转工位带动元器件至测试机构进行测试。整个过程比较繁琐，测试效率低，需要额外购买剥离设备，生产成本高。
实用新型内容
本实用新型的目的在于克服现有技术的不足，提供一种阵列式元器件的测试装置。
为实现上述目的，本实用新型采用以下技术方案：
一种阵列式元器件的测试装置，包括移动机构，及设于移动机构动力输出端的检测机构；所述移动机构用于驱动检测机构运动，以使对阵列式设置的待测工件进行检测。
其进一步技术方案为：还包括固定机构；所述固定机构用于固定阵列式设置的待检测工件。
其进一步技术方案为：所述移动机构包括Y向移动组件，及固定于Y向移动组件动力输出端的X向移动组件；所述检测机构固定于X向移动组件的动力输出端。
其进一步技术方案为：所述Y向移动组件包括Y向电机，设于Y向电机动力输出端的Y向丝杆；所述X向移动组件设于Y向丝杆的传动螺母。
其进一步技术方案为：所述X向移动组件包括X向电机，及设于X向电机动力输出端的X向丝杆；所述检测机构设于X向电机的动力输出端。
其进一步技术方案为：所述检测机构包括探针；所述探针用于与阵列式的待测工件进行通电检测。
其进一步技术方案为：所述检测机构还包括光探头；所述光探头用于对阵列式待测工件进行定位；所述光探头位于待测工件上侧，所述探针位于待测工件的下侧。
其进一步技术方案为：所述固定机构包括固定架；所述固定架用于固定阵列式的待测工件。
其进一步技术方案为：还包括控制中心；所述控制中心与检测机构电性连接，以记录阵列式的待测工件检测情况。
一种阵列式元器件的检测方法，待测工件阵列式固定在固定盘，将固定盘固定，并且探针、光探头分别位于固定盘的下侧与上侧；X向移动组件、Y向移动组件驱动探针、光探头沿着X、Y向运动，以使光探头对待测工件进行定位，探针对待测工件进行检测，然后对检测数据进行保存
本实用新型与现有技术相比的有益效果是：本实用新型待测工件为阵列式设置，检测机构设置在移动机构上，以使检测机构能对待测工件逐一进行检测。本实用新型无需将待测工件进行剥离，直接在固定盘上进行测试，节省工序，减少设备，降低成本，提高效率。
上述说明仅是本实用新型技术方案的概述，为了能够更清楚了解本实用新型技术手段，可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本实用新型的上述和其它目的、特征及优点能够更明显易懂，以下特举较佳实施例，详细说明如下。
附图说明
图1为本实用新型的一种阵列式元器件的测试装置的立体结构图；
图2为本实用新型的一种阵列式元器件的测试装置的另一视角立体结构图；
图3为本实用新型的一种阵列式元器件的测试装置的前视图；
图4为本实用新型的一种阵列式元器件的测试装置的侧视图。
具体实施方式
为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，下面结合附图和具体实施方式对本实用新型作进一步详细说明。
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。
此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本实用新型的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。
在本实用新型中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。
在本实用新型中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征之“上”或之“下”可以包括第一和第二特征直接接触，也可以包括第一和第二特征不是直接接触而是通过它们之间的另外的特征接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”包括第一特征在第二特征正上方和斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”包括第一特征在第二特征正下方和斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。
在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本实用新型的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不应理解为必须针对的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。此外，本领域的技术人员可以将本说明书中描述的不同实施例或示例进行结合和组合。
请参阅图1至4，本实施提供了一种阵列式元器件的测试装置，包括移动机构10，及设于移动机构10动力输出端的检测机构20。移动机构10用于驱动检测机构20运动，以使对阵列式设置的待测工件40进行检测。待检测工件为设定距离的阵列式排列设置，检测机构20在移动机构10的作用下运动，移动的距离根据阵列式的间距进行，检测机构20逐一对待测工件40进行检测。
其中，还包括固定机构30。固定机构30用于固定阵列式设置的待检测工件。固定机构30用于阵列式待测工件40进行固定和初步定位，保证检测机构20移动位置的准确性。
所述移动机构10包括Y向移动组件11，及固定于Y向移动组件11动力输出端的X向移动组件12。检测机构20固定于X向移动组件12的动力输出端。Y向移动组件11和X向移动组件12可以驱动检测机构20在XY的方向上运动，阵列式待测工件40与XY方向平行，这样能使得检测机构20能直线到达阵列式待测工件40任何一个位置，方便检测。
所述Y向移动组件11包括Y向电机111，设于Y向电机111动力输出端的Y向丝杆112。X向移动组件12设于Y向丝杆112的传动螺母。所述Y向移动组件11设有与其运动方向(即Y方向)平行的Y向滑轨113，所述X向移动组件12与所述Y向滑轨113滑动连接，这样使得X向移动组件12能平稳运动，移动位置更加准确。
所述X向移动组件12包括X向电机121，及设于X向电机121动力输出端的X向丝杆122。检测机构20设于X向电机121的动力输出端。所述X向组件设有与其运动方向(即是X方向)平行的X向滑轨123，所述检测机构20与X向滑轨123滑动连接，这样使得检测机构20能平稳运动，移动位置更加准确。
检测机构20通过Y向移动组件11、X向移动组件12的作用，使得检测机构20平稳准确的到达阵列式设置的待测工件40上，检测机构20能逐一对待测工件40进行检测。
其中，所述检测机构20包括探针21、光探头22。探针21用于与阵列式的待测工件40进行通电检测，并且将检测信息发送。光探头22用于对阵列式待测工件40进行定位。一般的，电子元器件都是体积较小的，所以需要光探头22对元器件进行位置的识别，然后探针21就会对元器件进行测试。
所述光探头22位于待测工件40上侧，所述探针21位于待测工件40的下侧。
优选的，探针21、光探头22均通过固定板23固定在X向丝杆122的传动螺母上。
所述固定机构30包括固定架31。固定架31用于固定阵列式的待测工件40。固定架31位于探针21、光探头22正下方。
所述待测工件40阵列式的固定于设有的固定盘32。固定架31设有用于固定固定盘32的固定槽33。固定槽33的设置，方便对待测工件40进行定位，探针21、光探头22能很快的对工件进行检测。
其中，还包括控制中心。控制中心与检测机构20电性连接，以记录阵列式的待测工件40检测情况。探针21将检测的待测工件40的情况发送至控制中心，并且描制与待测工件40的阵列式相类似的电子网格，并且对测量的情况记录在电子网格中，以便记录某个工件的测试情况。
在其他实施例中，Y向移动组件11固定座在设有的Z向移动组件上，这样使得检测机构20具有XYZ三个方向的移动，更方便对待测工件40进行检测。
在其他实施例中，X向移动组件12、Y向移动组件11的动力件可以为气缸。
一种阵列式工件检测方法，待测工件40阵列式固定在固定盘32上，然后将固定盘32固定在固定槽33上，探针21、光探头22分别位于固定盘32的下侧与上侧，X向移动组件12、Y向移动组件11驱动探针21、光探头22沿着X、Y向运动，以使光探头22对待测工件40进行定位，然后探针21对待测工件进行检测，然后对检测数据进行保存。
与现有技术相比，本实用新型待测工件40为阵列式设置，检测机构20设置在移动机构10上，以使检测机构20能对待测工件逐一进行检测。本实用新型无需将待测工件40进行剥离，直接在固定盘上进行测试，节省工序，减少设备，降低成本，提高效率。
上述仅以实施例来进一步说明本实用新型的技术内容，以便于读者更容易理解，但不代表本实用新型的实施方式仅限于此，任何依本实用新型所做的技术延伸或再创造，均受本实用新型的保护。本实用新型的保护范围以权利要求书为准。
Claims (10)
1.一种阵列式元器件的测试装置，其特征在于，包括移动机构，及设于移动机构动力输出端的检测机构；所述移动机构用于驱动检测机构运动，以使对阵列式设置的待测工件进行检测。
2.根据权利要求1所述的一种阵列式元器件的测试装置，其特征在于，还包括固定机构；所述固定机构用于固定阵列式设置的待检测工件。
3.根据权利要求1所述的一种阵列式元器件的测试装置，其特征在于，所述移动机构包括Y向移动组件，及固定于Y向移动组件动力输出端的X向移动组件；所述检测机构固定于X向移动组件的动力输出端。
4.根据权利要求3所述的一种阵列式元器件的测试装置，其特征在于，所述Y向移动组件包括Y向电机，设于Y向电机动力输出端的Y向丝杆；所述X向移动组件设于Y向丝杆的传动螺母。
5.根据权利要求3所述的一种阵列式元器件的测试装置，其特征在于，所述X向移动组件包括X向电机，及设于X向电机动力输出端的X向丝杆；所述检测机构设于X向电机的动力输出端。
6.根据权利要求1至5任意一项所述的一种阵列式元器件的测试装置，其特征在于，所述检测机构包括探针；所述探针用于与阵列式的待测工件进行通电检测。
7.根据权利要求6所述的一种阵列式元器件的测试装置，其特征在于，所述检测机构还包括光探头；所述光探头用于对阵列式待测工件进行定位；所述光探头位于待测工件上侧，所述探针位于待测工件的下侧。
8.根据权利要求2所述的一种阵列式元器件的测试装置，其特征在于，所述固定机构包括固定架；所述固定架用于固定阵列式的待测工件。
9.根据权利要求8所述的一种阵列式元器件的测试装置，其特征在于，所述待测工件阵列式的固定于设有的固定盘；所述固定架设有用于固定固定盘的固定槽。
10.根据权利要求6所述的一种阵列式元器件的测试装置，其特征在于，还包括控制中心；所述控制中心与检测机构电性连接，以记录阵列式的待测工件检测情况。
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| CN111812447A (zh) * | 2020-08-10 | 2020-10-23 | 深圳市华腾半导体设备有限公司 | 一种阵列式元器件的测试装置和阵列式元器件的检测方法 |
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- 2020-08-10 CN CN202021653411.8U patent/CN212364467U/zh active Active
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