CN217787166U - 一种半导体分立器件可调节测试夹具 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种半导体分立器件可调节测试夹具，属于半导体分立器件生产技术领域，包括固定座，所述固定座的顶部开设有固定组件，所述固定座的上方设置有两个夹块，所述夹块的内部均设置有限位组件，本实用新型通过设置固定组件，使螺杆转动，在螺杆与滑块之间的啮合连接下可使两个滑块于通槽内限位滑动，因螺杆两端表面的螺纹方向相反，进而可使两个滑块相向移动使半导体分立器件固定在固定座的顶部中心位置；本实用新型通过设置限位组件，向外侧拉动拉环使连接杆带动夹板向移动，将半导体分立器件的一端插入夹块的槽口内，松开拉环后在弹簧的弹性作用力下可使两个夹板从两侧对半导体分立器件实施夹持限位。
Description
技术领域
本实用新型属于半导体分立器件生产技术领域，具体涉及一种半导体分立器件可调节测试夹具。
背景技术
半导体分立器件具有开关频率高、损耗低、导通电阻低、通态电流大、体积小等优点，在太阳能逆变器、高压DC/DC转换器、电动机、电源等方面的应用日益广泛，需求量越来越大。
中国专利申请号为202122216792.4公开的一种半导体分立器件可调节测试夹具中，一侧夹块位置固定导致半导体分立器件位置偏向于固定座顶部一侧,在顶部检测机构对半导体分立器件施压检测时，固定板失衡导致其底部的弹簧缓冲机构失去作用,且夹块内部槽口大小固定,导致与半导体分立器件的适配性不高,无法对其实施有效限位。
实用新型内容
为解决上述背景技术中提出的问题。本实用新型提供了一种半导体分立器件可调节测试夹具，具有夹持牢固，使用效果好的特点。
为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种半导体分立器件可调节测试夹具，包括固定座，所述固定座的上方设置有两个夹块，所述固定座的顶部开设有固定组件；
所述固定组件包括有滑块、螺杆和通槽，所述固定座的顶部开设有通槽，所述通槽的内部安装有螺杆，所述螺杆的表面套有两个滑块。
优选的，所述螺杆的一端连接有转块，所述螺杆与固定座之间为转动连接，所述螺杆的另一端呈“Z”字形结构。
优选的，所述螺杆表面两端的螺纹方向相反，所述螺杆与滑块之间均为螺纹啮合连接，所述滑块与通槽之间为滑动连接。
优选的，所述夹块的内部均设置有限位组件，所述限位组件包括有内槽、连接杆、弹簧、夹板和固定块，所述夹块的两侧均开设有内槽，所述内槽的内部均安装有连接杆，所述连接杆的内端均连接有夹板，所述连接杆的表面均套有弹簧，所述弹簧的内侧均设置有固定块。
优选的，所述连接杆与夹块之间均为滑动连接，所述夹板均呈半弧形结构，所述连接杆的外端均连接有拉环。
优选的，所述固定块呈方形结构，所述固定块的表面与内槽的内壁紧密贴合，所述固定块与内槽之间为滑动连接。
与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：
1、本实用新型通过设置固定组件，使螺杆转动，在螺杆与滑块之间的啮合连接下可使两个滑块于通槽内限位滑动，因螺杆两端表面的螺纹方向相反，进而可使两个滑块相向移动使半导体分立器件固定在固定座的顶部中心位置，解决了之前半导体分立器件位置偏移导致弹性缓冲机构无法对其实施有效保护的问题。
2、本实用新型通过设置限位组件，向外侧拉动拉环使连接杆带动夹板向移动，将半导体分立器件的一端插入夹块的槽口内，松开拉环后在弹簧的弹性作用力下可使两个夹板从两侧对半导体分立器件实施夹持限位，解决了之前夹块内部槽口大小固定无法对半导体分立器件实施有效限位的问题。
附图说明
图1为本实用新型的主视图；
图2为本实用新型的固定座剖视图；
图3为本实用新型的夹块侧剖图。
图中：1、固定座；2、固定组件；21、转块；22、滑块；23、螺杆；24、通槽；3、限位组件；31、内槽；32、连接杆；33、弹簧；34、夹板；35、固定块；36、拉环；4、夹块。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
实施例1
请参阅图1-3，本实用新型提供以下技术方案：一种半导体分立器件可调节测试夹具，包括固定座1，固定座1的上方设置有两个夹块4，固定座1的顶部开设有固定组件2；
固定组件2包括有滑块22、螺杆23和通槽24，固定座1的顶部开设有通槽24，通槽24的内部安装有螺杆23，螺杆23的表面套有两个滑块22。
具体的，螺杆23的一端连接有转块21，螺杆23与固定座1之间为转动连接，螺杆23的另一端呈“Z”字形结构。
通过采用上述技术方案，螺杆23一端的“Z”字形结构便于操作，使用起来更加省力。
具体的，螺杆23表面两端的螺纹方向相反，螺杆23与滑块22之间均为螺纹啮合连接，滑块22与通槽24之间为滑动连接。
通过采用上述技术方案，转动螺杆23可使两个滑块22相向移动使半导体分立器件固定在固定座1的顶部中心位置。
本实施例使用时，使螺杆23转动，在螺杆23与滑块22之间的啮合连接下可使两个滑块22于通槽24内限位滑动，因螺杆23两端表面的螺纹方向相反，进而可使两个滑块22相向移动使半导体分立器件固定在固定座1的顶部中心位置，解决了之前半导体分立器件位置偏移导致弹性缓冲机构无法对其实施有效保护的问题；
实施例2
本实施例与实施例1不同之处在于：夹块4的内部均设置有限位组件3，限位组件3包括有内槽31、连接杆32、弹簧33、夹板34和固定块35，夹块4的两侧均开设有内槽31，内槽31的内部均安装有连接杆32，连接杆32的内端均连接有夹板34，连接杆32的表面均套有弹簧33，弹簧33的内侧均设置有固定块35。
具体的，连接杆32与夹块4之间均为滑动连接，夹板34均呈半弧形结构，连接杆32的外端均连接有拉环36。
通过采用上述技术方案，拉环36可控制夹板34的移动，使用起来更加方便。
具体的，固定块35呈方形结构，固定块35的表面与内槽31的内壁紧密贴合，固定块35与内槽31之间为滑动连接。
通过采用上述技术方案，内槽31对固定块35形成限位，使夹板34限位移动夹持效果更好。
本实施例使用时，向外侧拉动拉环36使连接杆32带动夹板34向移动，将半导体分立器件的一端插入夹块4的槽口内，松开拉环36后在弹簧33的弹性作用力下可使两个夹板34从两侧对半导体分立器件实施夹持限位，解决了之前夹块4内部槽口大小固定无法对半导体分立器件实施有效限位的问题。
本实用新型中的固定座1和夹块4的结构和使用原理在中国专利申请号为202122216792.4公开的一种半导体分立器件可调节测试夹具中已经公开。
本实用新型的工作原理及使用流程：本实用新型使用时，向外侧拉动拉环36使连接杆32带动夹板34向移动，将半导体分立器件的一端插入夹块4的槽口内，松开拉环36后在弹簧33的弹性作用力下可使两个夹板34从两侧对半导体分立器件实施夹持限位，解决了之前夹块4内部槽口大小固定无法对半导体分立器件实施有效限位的问题，再使螺杆23转动，在螺杆23与滑块22之间的啮合连接下可使两个滑块22于通槽24内限位滑动，因螺杆23两端表面的螺纹方向相反，进而可使两个滑块22相向移动使半导体分立器件固定在固定座1的顶部中心位置，解决了之前半导体分立器件位置偏移导致弹性缓冲机构无法对其实施有效保护的问题。
尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。
Claims (6)
1.一种半导体分立器件可调节测试夹具，包括固定座(1)，其特征在于：所述固定座(1)的上方设置有两个夹块(4)，所述固定座(1)的顶部开设有固定组件(2)；
所述固定组件(2)包括有滑块(22)、螺杆(23)和通槽(24)，所述固定座(1)的顶部开设有通槽(24)，所述通槽(24)的内部安装有螺杆(23)，所述螺杆(23)的表面套有两个滑块(22)。
2.根据权利要求1所述的一种半导体分立器件可调节测试夹具，其特征在于：所述螺杆(23)的一端连接有转块(21)，所述螺杆(23)与固定座(1)之间为转动连接，所述螺杆(23)的另一端呈“Z”字形结构。
3.根据权利要求1所述的一种半导体分立器件可调节测试夹具，其特征在于：所述螺杆(23)表面两端的螺纹方向相反，所述螺杆(23)与滑块(22)之间均为螺纹啮合连接，所述滑块(22)与通槽(24)之间为滑动连接。
4.根据权利要求1所述的一种半导体分立器件可调节测试夹具，其特征在于：所述夹块(4)的内部均设置有限位组件(3)，所述限位组件(3)包括有内槽(31)、连接杆(32)、弹簧(33)、夹板(34)和固定块(35)，所述夹块(4)的两侧均开设有内槽(31)，所述内槽(31)的内部均安装有连接杆(32)，所述连接杆(32)的内端均连接有夹板(34)，所述连接杆(32)的表面均套有弹簧(33)，所述弹簧(33)的内侧均设置有固定块(35)。
5.根据权利要求4所述的一种半导体分立器件可调节测试夹具，其特征在于：所述连接杆(32)与夹块(4)之间均为滑动连接，所述夹板(34)均呈半弧形结构，所述连接杆(32)的外端均连接有拉环(36)。
6.根据权利要求4所述的一种半导体分立器件可调节测试夹具，其特征在于：所述固定块(35)呈方形结构，所述固定块(35)的表面与内槽(31)的内壁紧密贴合，所述固定块(35)与内槽(31)之间为滑动连接。
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN116559618A (zh) * | 2023-05-17 | 2023-08-08 | 北京京瀚禹电子工程技术有限公司 | 一种避免位移的半导体分立器件测试装置 |
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2022
- 2022-06-01 CN CN202221357529.5U patent/CN217787166U/zh active Active
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| CN116559618A (zh) * | 2023-05-17 | 2023-08-08 | 北京京瀚禹电子工程技术有限公司 | 一种避免位移的半导体分立器件测试装置 |
| CN116559618B (zh) * | 2023-05-17 | 2024-02-06 | 北京京瀚禹电子工程技术有限公司 | 一种避免位移的半导体分立器件测试装置 |
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