CN217639267U - 掉电电压阈值可调的掉电检测电路 - Google Patents
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Abstract
本实用新型掉电电压阈值可调的掉电检测电路，涉及掉电检测技术领域，包括第一电阻、第二电阻、第三电阻、第四电阻、第五电阻、第六电阻、第七电阻、第八电阻、第一电容、第二电容、第一二极管、第一三极管、第二三极管和第三三极管，通过MCU发出的PWM信号的调节掉电电压阈值，再将掉电信号发送到MCU的掉电检测接口，实现掉电电压阈值可调，解决了电检测电路的掉电电压阈值不可调的问题，本实用新型适用于MCU掉电检测。
Description
技术领域
本实用新型涉及掉电检测技术领域，特别涉及掉电电压阈值可调的掉电检测电路。
背景技术
随着生活水平的提高及经济的发展，适用于不同环境的电器层出不穷，同时产品的功能也越来越多，因此产品的保护功能也需要越来越完善。因此很多产品都增加了掉电检测电路，但是，现有的掉电检测电路的掉电电压阈值是由电路结构决定的一个固定值，不能满足家用电器在不同的使用环境下需要检测不同掉电电压的使用场景。
实用新型内容
本实用新型所解决的技术问题：提供一种掉电电压阈值可调的掉电检测电路，解决现有的掉电检测电路的掉电电压阈值不可调的问题。
本实用新型解决上述技术问题采用的技术方案：掉电电压阈值可调的掉电检测电路，用于MCU掉电检测，包括第一电阻、第二电阻、第三电阻、第四电阻、第五电阻、第六电阻、第七电阻、第八电阻、第一电容、第二电容、第一二极管、第一三极管、第二三极管和第三三极管，所述第一电阻的一端与供电电源相连，第一电阻的另一端分别与第二电阻的一端、第一二极管的正极、第二电容的一端、第八电阻的一端相连，第二电阻的另一端与第一电容的一端相连并接地，第一电容的另一端分别与第一二极管的负极和第一三极管的发射极相连，第一三极管的基极与第三电阻的一端相连，第三电阻的另一端与供电电源相连，第一三极管的集电极与第四电阻的一端相连，第四电阻的另一端分别与第五电阻的一端和第二三极管的基极相连，第五电阻的另一端与第二三极管的发射极相连并接地，第二三极管的集电极分别与MCU的掉电检测接口和高电平相连，第二电容的另一端接地，第八电阻的另一端与第三三极管的集电极相连，第三三极管的发射极分别与供电电源和第七电阻的一端相连，第七电阻的另一端分别与第三三极管的基极和第六电阻的一端相连，第六电阻的另一端与MCU的PWM信号接口相连。
本实用新型的有益效果：本实用新型掉电电压阈值可调的掉电检测电路，通过MCU发出的PWM信号的调节掉电电压阈值，再将掉电信号发送到MCU的掉电检测接口，实现掉电电压阈值可调，解决了电检测电路的掉电电压阈值不可调的问题。
附图说明
附图1是本实用新型掉电电压阈值可调的掉电检测电路的电路图，其中VCC表示供电电源，PWM_I/O表示MCU的PWM信号接口，R1表示第一电阻，R2表示第二电阻，R3表示第三电阻，R4表示第四电阻，R5表示第五电阻，R6表示第六电阻，R7表示第七电阻，R8表示第八电阻，D1表示第一二极管，C1表示第一电容，C2表示第二电容，Q1表示第一三极管，Q2表示第二三极管，Q3表示第三三极管，VCC_1表示高电平，O_I/O表示MCU的掉电检测接口。
具体实施方式
本实用新型掉电电压阈值可调的掉电检测电路，用于MCU掉电检测，如附图1所示，包括第一电阻R1、第二电阻R2、第三电阻R3、第四电阻R4、第五电阻R5、第六电阻R6、第七电阻R7、第八电阻R8、第一电容C1、第二电容C2、第一二极管D1、第一三极管Q1、第二三极管Q2和第三三极管Q3，所述第一电阻R1的一端与供电电源VCC相连，第一电阻R1的另一端分别与第二电阻R2的一端、第一二极管D1的正极、第二电容C2的一端、第八电阻R8的一端相连，第二电阻R2的另一端与第一电容C1的一端相连并接地，第一电容C1的另一端分别与第一二极管D1的负极和第一三极管Q1的发射极相连，第一三极管Q1的基极与第三电阻R3的一端相连，第三电阻R3的另一端与供电电源VCC相连，第一三极管Q1的集电极与第四电阻R4的一端相连，第四电阻R4的另一端分别与第五电阻R5的一端和第二三极管Q2的基极相连，第五电阻R5的另一端与第二三极管Q2的发射极相连并接地，第二三极管Q2的集电极分别与MCU的掉电检测接口O_I/O和高电平VCC_1相连，第二电容C2的另一端接地，第八电阻R8的另一端与第三三极管Q3的集电极相连，第三三极管Q3的发射极分别与供电电源VCC和第七电阻R7的一端相连，第七电阻R7的另一端分别与第三三极管Q3的基极和第六电阻R6的一端相连，第六电阻R6的另一端与MCU的PWM信号接口PWM_I/O相连。
工作原理：如附图1所示，标记两个点分别为A点和B点，由于A点和B点之间是第一二极管D1,因此，A点的电压比B点的电压高0.7V，对于第一三极管Q1，当VCC电压低于B点电压减去0.7V时，第一三极管Q1导通，第二三极管Q2的基极电压为B点电压，第二三极管Q2导通，此时MCU的掉电检测接口电压为低电平，当VCC电压高于B点电压减去0.7V时，第一三极管Q1截止，第二三极管Q2的基极电压为0，第二三极管Q2截止，此时MCU的掉电检测接口电压为高电平。因此，B点电压减去0.7V就是掉电电压阈值，而B点的电压比A点的电压低0.7V，A点的电压是由两个电平叠加而来，其中一个是第二电阻R2的分压，另一个是第八电阻R8和第二电容C2滤波得到的直流电平，对于第二电阻R2的分压是由R1和R2决定的，对于一个固定的电路而言，其属于固定值，然而第八电阻R8和第二电容C2滤波得到的直流电平却是由PWM信号的占空比决定的，PWM占空比越小，第八电阻R8和第二电容C2滤波得到的直流电平越小，可以通过示波器进行验证，A点的电压就越低，从而降低了B点的电压，使得掉电电压阈值与PWM信号的占空比有关系，即PWM信号的占空比越低，掉电电压阈值越低，因此，可以针对不同的环境，调节MCU的PWM信号占空比，从而改变掉电电压阈值，使得电器的在不改电路的情况下能适应更多的应用场景。
Claims (1)
1.掉电电压阈值可调的掉电检测电路，用于MCU掉电检测，其特征在于，包括第一电阻、第二电阻、第三电阻、第四电阻、第五电阻、第六电阻、第七电阻、第八电阻、第一电容、第二电容、第一二极管、第一三极管、第二三极管和第三三极管，所述第一电阻的一端与供电电源相连，第一电阻的另一端分别与第二电阻的一端、第一二极管的正极、第二电容的一端、第八电阻的一端相连，第二电阻的另一端与第一电容的一端相连并接地，第一电容的另一端分别与第一二极管的负极和第一三极管的发射极相连，第一三极管的基极与第三电阻的一端相连，第三电阻的另一端与供电电源相连，第一三极管的集电极与第四电阻的一端相连，第四电阻的另一端分别与第五电阻的一端和第二三极管的基极相连，第五电阻的另一端与第二三极管的发射极相连并接地，第二三极管的集电极分别与MCU的掉电检测接口和高电平相连，第二电容的另一端接地，第八电阻的另一端与第三三极管的集电极相连，第三三极管的发射极分别与供电电源和第七电阻的一端相连，第七电阻的另一端分别与第三三极管的基极和第六电阻的一端相连，第六电阻的另一端与MCU的PWM信号接口相连。
Priority Applications (1)
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| CN202221093476.0U CN217639267U (zh) | 2022-05-09 | 2022-05-09 | 掉电电压阈值可调的掉电检测电路 |
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Publications (1)
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| CN217639267U true CN217639267U (zh) | 2022-10-21 |
Family
ID=83651950
Family Applications (1)
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Country Status (1)
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|---|---|
| CN (1) | CN217639267U (zh) |
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2022
- 2022-05-09 CN CN202221093476.0U patent/CN217639267U/zh active Active
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