CN217484375U - 测试套件及测试设备 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开一种测试套件及测试设备。测试套件包括转接板组件和安装座，通过转接板组件的底板与上板将传输信号的方式重整，并且将转接板组件固定于安装座的安装槽以改变安装方式，据此通过重新设计测试套件且当安装于测试设备的测试机上时，测试套件可以适用不同规格的测试载板而安装在一台测试机上进行测试。本实用新型能将测试载板的可用空间挪用出来，而且可重新设计测试载板让待测物的可测试容量提升，在测试套件以及测试设备的一套设备前提下，减少设备的设置成本、测试的复杂度并同时提高测试产出的效率。

Description

测试套件及测试设备

技术领域

本实用新型涉及一种半导体或电子元器件的测试，尤其涉及一种测试套件及测试设备。

背景技术

半导体元件及晶片或较低阶的电子电路元件及晶片不仅均包含了复杂的制造、封装工艺与测试相关步骤，而封装的晶片(集成电路)可以泛指包括具有半导体的元器件，于制造后进行相关测试流程。

而测试半导体晶片的设备或装置中，具有专门测试半导体晶片的测试主机以及安装待测物要使用的载板，测试主机可称作测试机或测试头，将载板进行安装及测试待测物，测试主机为产生测试信号或信号源头的装置。

由于供待测物安装的载板与测试主机安装好以后，只能测试基于载板特定规格的待测物，当要测试不同待测物时，仅能改用其他规格的载板与测试主机，其测试主机无法通用，即一套设备无法测试其他规格或功能的待测物。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提出一种测试套件及测试设备，以解决上述至少一个问题。

本实用新型所要解决的技术问题在于，针对现有技术的不足提供一种测试套件，包括：一转接板组件，该转接板组件设置有一底板和一上板，该底板下表面设置有多个第一信号连接部和至少供一继电器控制开关板连接的一第一连接器，该上板的上表面设置有供多个转接板连接器连接的多个第二信号连接部；以及一安装座，该安装座设置有一安装槽，该安装槽供该转接板组件固定，该安装座上设置有至少一第一固定件；其中，该底板的上表面设置有多个第三信号连接部，该上板的下表面设置有多个第四信号连接部，该底板的该多个第三信号连接部通过多个第二连接器和该上板的该多个第四信号连接部连接；其中，该底板的该多个第一信号连接部设置为第一方向，该上板的该多个第二信号连接部以及该多个第四信号连接部和该底板的该多个第三信号连接部设置为第二方向。

优选地，该底板下表面的该多个第一信号连接部的该第一方向的设置方向和该底板上表面的该多个第三信号连接部的该第二方向的设置方向呈现垂直。

优选地，该第一信号连接部由多个第一电接点构成，该第二信号连接部由多个第二电接点构成，该第三信号连接部由多个第三电接点构成，该第四信号连接部由多个第四电接点构成。

优选地，该第一固定件为滚轮，该底板或该安装座上设置有至少一支撑柱用以垫高。

优选地，进一步包括一测试载板，该测试载板的下表面设置有多个下表面信号连接部，该多个下表面信号连接部电性连接于该上板上表面的该多个转接板连接器，该测试载板的上表面设置有多个上表面信号连接部，该下表面信号连接部由多个第五电接点构成，该上表面信号连接部由多个第六电接点构成。

优选地，进一步包括一测试载板，该测试载板的下表面设置有供该多个转接板连接器连接的多个第五信号连接部以及至少一第六信号连接部，该测试载板的上表面设置有多个第七信号连接部，该第六信号连接部设置为第三方向，部分的该多个第七信号连接部设置为第四方向且在之上设置多个第三连接器，该第三方向和该第四方向不同，该第三连接器由多个堆叠相接的连接器构成。

本实用新型还公开了一种测试设备，该测试设备包括：一测试套件；以及一测试机，该测试机上设置有供该多个第一信号连接部连接的多个测试机信号连接器；其中，当该底板的该多个第一信号连接部安装连接于该测试机的该多个测试机信号连接器上时，该测试机的该多个测试机信号连接器所提供的多个测试信号通过该底板下表面的该多个第一信号连接部后，再由该底板上表面的该多个第三信号连接部以及该多个第二连接器将该多个测试信号传出。

优选地，该第二连接器为板对板的连接器，该转接板连接器为弹簧针形式的连接器。

优选地，该测试机上设置有一连杆固定装置，该连杆固定装置设置有一第一控制轴装置，该第一控制轴装置设有一第一压制装置和一第一连杆，该第一连杆连接在一第一轨道上移动的一第一固定载具上，该第一固定载具设置有一第一凹槽且该第一凹槽设置有一第一延伸轨道，该第一延伸轨道设置有一倾斜角度，该第一固定载具上设置有该第一凹槽的一第一置入孔，当该底板的该多个第一信号连接部安装连接于该测试机的该多个测试机信号连接器上时，该第一固定件同时由该第一置入孔套入该第一凹槽内，再通过该第一压制装置相对于该第一控制轴装置的操作使得经由该第一连杆带动该第一固定载具于该第一轨道上移动，通过该第一固定载具的移动使得该第一固定件相对移动于该第一延伸轨道内进行限位及固定。

优选地，该测试机上设置有一测试载板连杆固定装置，该测试载板连杆固定装置设置有一第二控制轴装置，该第二控制轴装置设置有一第二压制装置和一第二连杆，该第二连杆连接在一第二轨道上移动的一第二固定载具上，该第二固定载具设置有一第二凹槽且该第二凹槽设置有一第二延伸轨道，该第二延伸轨道设置有一倾斜角度，该第二固定载具上设置有该第二凹槽的一第二置入孔，以及该测试载板设置有一固定框板，该固定框板设置有两个扶手以及至少一第二固定件，该第二固定件为滚轮，当该测试载板连接于该上板上表面的该多个转接板连接器时，该第二固定件同时由该第二置入孔套入该第二凹槽内，再通过该第二压制装置相对于该第二控制轴装置的操作使得经由该第二连杆带动该第二固定载具于该第二轨道上移动，通过该第二固定载具的移动使得该第二固定件相对移动于该第二延伸轨道内进行限位及固定。

本实用新型的其中一有益效果在于，将测试套件中的转接板组件进行信号重整，改变信号传输路径以及安装架构和方式，进而达到测试载板的测试可用空间挪用出来避免影响到测试载板上的元器件。而且本实用新型可通过将测试载板进行重新设计让测试载板的可测试容量大幅提升，重新设计的测试载板和现有的测试载板可直接适用于转接板组件上的转接板连接器进行组装及测试，在一套测试设备下，减少设备设置成本以及加速(倍)测试的产出。

为使能更进一步了解本实用新型的特征及技术内容，请参阅以下有关本实用新型的详细说明与附图，然而所提供的附图仅用于提供参考与说明，并非用来对本实用新型加以限制。

附图说明

图1呈现本实用新型一实施例所示出测试套件安装于测试机，构成测试设备的立体分解结构示意图。

图2呈现本实用新型一实施例所示出测试套件安装于测试机，构成测试设备的立体组合结构示意图。

图3呈现本实用新型一实施例所示出测试套件的结构及透视示意图。

图4呈现本实用新型一实施例所示出测试套件的底板与上板的结构及透视示意图。

图5呈现本实用新型一实施例所示出测试套件与测试机安装好后，进而安装测试载板的示意图。

图6呈现本实用新型一实施例所示出测试套件与测试机安装好后，进而安装现有测试载板的示意图。

图7呈现本实用新型一实施例所示出将现有测试载板重新设计的结构及透视示意图。

图8呈现本实用新型一实施例所示出通过固定件将测试套件进行固定时的使用状态示意图。

图9呈现本实用新型一实施例所示出通过固定件将测试套件进行固定时，固定件套入进行固定及限位的使用状态示意图。

具体实施方式

以下是通过特定的具体实施例来说明本实用新型所提供有关“测试套件及测试设备”的实施方式，本领域技术人员可由本说明书所提供的内容了解本实用新型的优点与效果。本实用新型可通过其他不同的具体实施例加以施行或应用，本说明书中的各项细节也可基于不同观点与应用，在不悖离本实用新型的构思下进行各种修改与变更。另外，本实用新型的附图仅为简单示意说明，并非依实际尺寸的描绘，事先声明。以下的实施方式将进一步详细说明本实用新型的相关技术内容，但所提供的内容并非用以限制本实用新型的保护范围。

应当可以理解的是，虽然本文中可能会使用到“第一”、“第二”、“第三”等术语来描述各种组件或者信号，但这些组件或者信号不应受这些术语的限制。这些术语主要是用以区分一组件与另一组件，或者一信号与另一信号。另外，本文中所使用的术语“或”，应视实际情况可能包含相关联的列出项目中的任一个或者多个的组合。

本实用新型公开一种测试套件及测试设备，测试套件中的底板与上板的材料使用，可为一般常见绝缘及耐燃的电路基板、塑胶板、橡胶板、电木板、玻璃纤维基板的其中一种或是任何可供进行电路布局的板体。另外测试设备所使用的测试机可以安装有提供测试信号的软硬体或提供测试信号的主板，而且测试机具有连接外部电源线的电源插座以供测试机连接电源及进行运作。

测试设备的测试机可以安装移动的机构，例如滑轮，来让整台测试设备可以轻易移动或配合设置支架来承载测试机的重量。而且测试机也能够不安装移动的机构，以摆放于厂区的特定位置。测试机原则上设置有一测试台面以供测试套件进行安装与更换，而且测试机的内部也可安装有散热的风扇或鳍片并配合测试机上的散热孔，以供测试机在运作时可以辅助散热。

当测试机安装好测试套件要进行测试时，可通过测试机安装于可转动的支撑杆上让测试机可以基于一个轴心进行转动而改变测试台面的角度，据此也便于操作者进行安装、拆除及进行检修的工作。

请继续参阅以下说明，根据本实用新型的一实施例，请参阅图1至图4，图1呈现本实用新型一实施例所示出测试套件安装于测试机，构成测试设备的立体分解结构示意图。图2呈现本实用新型一实施例所示出测试套件安装于测试机，构成测试设备的立体组合结构示意图。图3呈现本实用新型一实施例所示出测试套件的结构及透视示意图。图4呈现本实用新型一实施例所示出测试套件的底板与上板的结构及透视示意图。

本实用新型提供一种测试套件，可适用于半导体的测试设备上，测试设备包括测试套件1和测试机2，所述测试套件1包括但不限于：一转接板组件11以及一安装座12。

转接板组件11设置有一底板111和一上板112，两个板体平行设置，底板111下表面设置有多个第一信号连接部113和至少供一继电器控制开关板115连接的一第一连接器114。上板112通过多个第二连接器116和底板111连接，上板112的上表面设置有供多个转接板连接器117连接的多个第二信号连接部117A。

在一实施例中，第一连接器114可设置多个以分别对应连接一个继电器控制开关板115，而且第一连接器114通过底板111的电路布局或电路布局层而电性连接部分的多个第一信号连接部113，继电器控制开关板115的作用在于控制其中的多个继电器开关的适时开启或关闭，以达到改变或扩充测试机的输入输出脚位的效果。也即通过每颗继电器的控制通电与断电，让测试机的测试信号通过继电器控制开关板115中的多个继电器，改变其中继电器的断路为通路或通路为断路的信号传输路径，即能改变或扩充测试机所能测试的输入输出脚位数量。其中第一连接器114可以是背板连接器(backplane connector)，转接板连接器可以是弹簧针(Pogo pin)形式的连接器并且弹簧针连接器具有一定的高度，但本实用新型不以前述为限制。

测试套件1还包括安装座12，安装座12设置有一安装槽121，安装槽121提供转接板组件11进行固定。在一实施例中，可将上板112卡入安装槽121内进行固定或将底板111与上板112都卡入安装槽121进行固定，但本实用新型不以前述为限制。

而且安装座12上设置有多个第一固定件122，通过板体将多个第一固定件122设置于安装座12的侧边。

本实用新型通过转接板组件11并将其中进行信号传输的多个板体进行信号重整，且安装方式也对应调整，不仅能连接单一规格测试设备的测试机，而且也能通过信号重整后，以适用不同规格的测试载板及对应的待测物。

参阅图3、图4，因此本实用新型的信号重整是在底板111的上表面设置有多个第三信号连接部118，上板112的下表面设置有多个第四信号连接部112A，底板111的多个第三信号连接部118通过多个第二连接器116和上板223的多个第四信号连接部112A连接。而且底板111的多个第一信号连接部113设置为第一方向，上板112的多个第二信号连接部117A以及多个第四信号连接部112A和底板111的多个第三信号连接部118设置为第二方向。

在一实施例中，底板111下表面的多个第一信号连接部113的第一方向的设置方向和底板111上表面的多个第三信号连接部118的第二方向的设置方向呈现垂直。

在一实施例中，底板111的多个第一信号连接部113通过底板111的一第一电路布局层而改变底板111上表面供多个第二连接器116连接的多个第三信号连接部118的设置方向。以及在上板112的下表面设置有多个第四信号连接部112A，上板112的下表面供多个第二连接器116连接的多个第四信号连接部112A的设置方向和多个第三信号连接部118的设置方向及设置数量相同或可不同，多个第四信号连接部112A通过上板112的一第二电路布局层而分别电性连接至多个第二信号连接部117A。

在一实施例中，第一信号连接部113由多个第一电接点构成，第二信号连接部117A由多个第二电接点构成，第三信号连接部118由多个第三电接点构成，第四信号连接部112A由多个第四电接点构成，且皆不以前述为限制。

在一实施例中，底板111下表面的多个第一信号连接部113的设置方向和底板111上表面的多个第三信号连接部118的设置方向不同而相互呈现垂直或不限。亦即本实用新型当通过第一电路布局层改变了多个第三信号连接部118的设置方向后，即能改变上板112的设置大小以及上板112元器件的布局位置。故当改变上板112的设置大小以及上板112元器件的布局位置后，并设置转接板连接器117就能将后续要安装的测试载板的连接空间挪用出来，转接板连接器117连接不同规格的测试载板及对应的待测物。故此时测试载板的安装及测试可用空间即可挪出(配合转接板连接器117)，已经能避免如传统测试载板直接安装于单一测试机及空间的限制，以增加测试载板的安装及测试的可用空间，并且能增加测试载板安装好以后在之上的元器件的设置高度，避免元器件在测试载板安装及测试时受到干扰(因为测试载板的下表面也通常设置有元器件，可减少或避免元器件受到干扰而无法顺利安装测试载板的问题)。

在一实施例中，鉴于本实用新型增加测试载板的安装及测试的可用空间并且可避免影响测试载板之上的元器件，本实用新型还能据此而重新设计测试载板，使得待测物相对于测试载板所能安装的测试位置及数量能提升，例如将四个测试位置(4site)改为八个测试位置(8site)或更多的测试位置。即能将测试载板脱离直接在测试机安装的限制，不仅能重新设计测试载板，也能改变待测物相对于测试载板能安装的数量。

在一实施例中，转接板组件11固定于安装槽121时，是以嵌合的方式进行固定或其它固定手段例如锁接固定、铆接固定等来进行固定，且本实用新型不以前述为限制。

请继续参阅图5至图9，并可配合参阅图1至图4，图5呈现本实用新型一实施例所示出测试套件与测试机安装好后，进而安装测试载板的示意图。图6呈现本实用新型一实施例所示出测试套件与测试机安装好后，进而安装现有测试载板的示意图。图7呈现本实用新型一实施例所示出将现有测试载板重新设计的结构及透视示意图。图8呈现本实用新型一实施例所示出通过固定件将测试套件进行固定时的使用状态示意图。图9呈现本实用新型一实施例所示出通过固定件将测试套件进行固定时，固定件套入进行固定及限位的使用状态示意图。而其中图8以及9是图2的IX区域的放大图。

当要通过本实用新型的测试套件1安装特定规格的测试载板3、4进行测试时，即可通过重新设计或现有的测试载板3、4进行测试。在一实施例中，请看图5，测试载板3的下表面设置有多个下表面信号连接部31，多个下表面信号连接部31电性连接于上板112上表面的多个转接板连接器117，测试载板3的上表面设置有多个上表面信号连接部32。

在一实施例中，测试载板3设置有一测试载板电路布局层，多个下表面信号连接部31通过测试载板3的测试载板电路布局层而在测试载板3的上表面设置有多个上表面信号连接部32，下表面信号连接部31由多个第五电接点构成，上表面信号连接部32由多个第六电接点构成。

在一实施例中，参阅图1及图5，进行测试时准备测试机2，并安装测试套件1以及测试载板3。其中测试机2上设置有提供测试套件1的底板111的多个第一信号连接部113连接的多个测试机信号连接器21，当测试套件1的底板111的多个第一信号连接部113安装连接于测试机2的多个测试机信号连接器21上时，再使得测试载板3的多个下表面信号连接部31安装(电性连接)于测试套件1的上板112上表面的多个转接板连接器117，安装好后以进行后续测试。

在一实施例中，测试机2的多个测试机信号连接器21所提供的多个测试信号通过底板111下表面的多个第一信号连接部113后，再由底板111上表面的多个第三信号连接部118以及多个第二连接器116将多个测试信号传出。其中通过转接板组件11的信号重整及重新设计或现有的测试载板3、4进行组装测试时，不仅能扩大测试载板3、4的测试可用空间及测试载板3、4安装和测试时可不影响上面的元器件，而且还能快速切换支持测试不同规格的待测物，以对应安装不同规格的测试载板3、4。例如在一套测试设备的测试机2与测试套件1的条件下，由测试载板3切换到测试载板4进行不同规格载板的安装及测试。

在一实施例中，除了重新设计的测试载板3、4以外，也能是现有的载板，例如可以是S100-7D-BY8-2MM-Raising-diag-LB规格的载板，以连接于Pogo pin形式的转接板连接器117上，但本实用新型不以前述为限制。

由于本实用新型通过测试套件1中的转接板组件11将传输测试信号的路径以及测试套件1相对于测试机2的安装方式改变及重整后，让测试套件1上的转接板连接器117直接适用并连接不同规格经过设计的测试载板3、4或现有的S100-7D-V50-ITF-BD规格的测试载板3、4，例如图6所示，而且现有的S100-7D-V50-ITF-BD规格的测试载板3、4也能经过设计。

在一实施例中，参阅图6、图7，S100-7D-V50-ITF-BD规格的测试载板4的下表面设置有供多个转接板连接器117连接的多个第五信号连接部41以及两个第六信号连接部42，测试载板4的上表面设置有多个第七信号连接部43。第六信号连接部42设置为第三方向，部分的多个第七信号连接部43设置为第四方向且在之上设置多个第三连接器5，第三方向和第四方向不同。

在一实施例中，两个第六信号连接部42通过测试载板4的一测试载板电路布局层而改变测试载板4上表面供多个第三连接器5连接的部分多个第七信号连接部43的设置方向，所述设置方向的改变为部分的第七信号连接部43和第六信号连接部42的设置方向为相互垂直或不限，而且第三连接器5由多个堆叠相接的连接器构成。

在一实施例中，第三连接器5为多个堆叠相接的连接器时可以是板对板的连接器，而且板对板的连接器可以是三排插孔具有64Pin并且配合锁固的固定手段安装于测试载板4上，各第三连接器5以供安装待测电路板(图未示)，并且本实用新型不以前述为限制。

因此本实用新型通过测试载板4改变部分多个第七信号连接部43的设置方向以将信号重整，并且以相互堆叠的连接器做进一步垫高，使得本实用新型在安装现有并经过设计的S100-7D-V50-ITF-BD规格的测试载板4的待测物(例如是一个待测电路板)时，进而将测试载板4的测试可用空间挪用出来，以避免测试载板4安装时影响到在之上原先设置的元器件。由此，本实用新型通过转接板组件11的信号路径及安装方式的重整，让任何规格经过设计或现有的测试载板3、4都能通过测试套件1轻易的安装于测试机2上进行快速切换各测试载板3、4的安装，例如各转接板连接器117为Pogo pin形式的连接器时，可快速替换S100-7D-BY8-2MM-Raising-diag-LB规格的载板或S100-7D-V50-ITF-BD规格的载板进行测试，以快速切换并支持安装不同规格的测试载板3或测试载板4。

而且，测试载板3、4的测试可用空间挪用出来后，不仅可经过设计改变测试载板3、4的测试容量。除此之外，在半导体测试设备成本昂贵的前提下可以有效将具有测试机2的测试设备减少为一套，并且在相同的测试厂区或测试区域能快速替换不同规格的测试载板3、4，可获得加速或倍数的测试产出。

在一实施例中，参阅图3、5、6，测试套件1安装于测试机2上进行信号转接时，第二连接器116可设置为板对板的连接器，以增高底板111与上板112整体的设置高度。而且底板111或安装座12上也能设置有多个支撑柱13用以垫高，进而将测试套件1安装时的高度再垫高，使得后续在之上安装的测试载板3、4能更加的提升测试可用空间，而基本上不会被测试机2影响到。

在一实施例中，测试套件1的安装座12上可设置有对称的扶手123，当相对于测试机2进行安装或拆卸时可让测试人员通过扶手123进行快速对准安装及轻易拆卸，可避免测试套件1的底板111与测试机2的电接点之间无法容易对准连接以及无法可靠连接的问题，而且也能提供测试人员轻松的移除测试套件1。

在一实施例中，参阅图1、3、8、9，本实用新型进行安装测试套件1以及测试载板3、4时原则上是将测试套件1的转接板组件11中底板111的多个第一信号连接部113和测试机2的多个测试机信号连接器21进行电性接触连接即可。同理，测试载板3、4的信号连接部和转接板组件11的上板112上的转接板连接器117之间，通过弹簧针连接器弹簧的弹簧力也进行电性接触连接即可。但是本实用新型进行测试时还能对测试套件1以及测试载板3、4相对于测试机2进行有效固定，避免测试时产生信号传输问题。

因此在一实施例中，测试套件1的安装座12上设置有一或多个第一固定件122，可设置分布于安装座12的四周，而且第一固定件122为滚轮。其中测试机2的测试台面上包括一组或多组连杆固定装置6，连杆固定装置6设置有一第一控制轴装置61，第一控制轴装置61设有一第一压制装置610和一第一连杆611，第一连杆611连接在一第一轨道7上移动的一第一固定载具612上，第一固定载具612设置有一第一凹槽613且第一凹槽613设置有一第一延伸轨道614，第一延伸轨道614设置有一倾斜角度，第一固定载具612上设置有第一凹槽613的一第一置入孔615。

当底板111的多个第一信号连接部113安装连接于测试机2的多个测试机信号连接器21上时，第一固定件122同时由第一置入孔615套入第一凹槽613内(此时安装座12可容置于连杆固定装置6的一旁)，再通过第一压制装置610相对于第一控制轴装置61的操作使得经由第一连杆611带动第一固定载具612于第一轨道7上移动，通过第一固定载具612的移动使得第一固定件122为滚轮时相对移动于第一延伸轨道614内进行限位及固定。

在一实施例中，连杆固定装置6为多组时，第一固定载具612及其对应的第一凹槽613、第一置入孔615、第一轨道7以及第一延伸轨道614可设置多组，而且多组第一固定载具612之间彼此控制连动。亦即其中一第一控制轴装置61的一端通过第一连杆611控制第一固定载具612的移动对测试套件1进行限位及固定，再者同一第一控制轴装置61的另一端再通过一中间连杆连接，中间连杆再通过另一第一控制轴装置61连接另一第一固定载具612，相对于另一轨道进行设置，据此带动各固定载具于轨道上移动时，各第一固定件122为滚轮时相对移动于各固定载具的延伸轨道内进行限位及固定，以强化固定测试套件1的安装。

另外测试载板3、4相对于测试机2也能加强固定，其中测试机2上设置有一或多组测试载板连杆固定装置8，其与前述连杆固定装置6的结构与动作原理相同或近似。测试载板连杆固定装置8设置有一第二控制轴装置81，第二控制轴装置81设置有一第二压制装置811和一第二连杆812，第二连杆812连接在一第二轨道9上移动的一第二固定载具813上，第二固定载具813设置有一第二凹槽814且第二凹槽814设置有一第二延伸轨道815，第二延伸轨道815具有一倾斜角度，第二固定载具813上设置有第二凹槽814的一第二置入孔816。以及再配合图7，测试载板3、4可设置有一固定框板100，固定框板100设置有两个扶手200以及多个第二固定件300，第二固定件300为滚轮。

当测试载板3、4连接于上板112上表面的多个转接板连接器117时，第二固定件300同时由第二置入孔816套入第二凹槽814内，再通过第二压制装置811相对于第二控制轴装置81的操作使得经由第二连杆812带动第二固定载具813于第二轨道9上移动，通过第二固定载具813的移动使得第二固定件300为滚轮时相对移动于第二延伸轨道815内进行限位及固定。因此测试载板3、4也能如同测试套件1进行有效固定以及便于测试人员测试时的操作。

在一实施例中，前述电接点可以是金手指的电接点、电镀的电接点、具有焊料的电接点、印刷电接点或任何电路板(PCB)工艺产生的电接点等等，且本实用新型不以前述为限制。

[实施例的有益效果]：

本实用新型的其中一有益效果在于，将测试套件中的转接板组件进行信号重整，改变信号传输路径以及安装架构和方式，进而达到测试载板的测试可用空间挪用出来避免影响到测试载板上的元器件。而且本实用新型可通过将测试载板进行重新设计让测试载板的可测试容量大幅提升，重新设计的测试载板和现有的测试载板可直接适用于转接板组件上的转接板连接器进行组装及测试，在一套测试设备下，减少(厂区)设备设置成本以及加速(倍)测试的产出。

以上所提供的内容仅为本实用新型的优选可行实施例，并非因此局限本实用新型的权利要求，所以凡是运用本实用新型说明书及附图内容所做的等效技术变化，均包含于本实用新型的权利要求内。

Claims (10)

1.一种测试套件，其特征在于，包括：

一转接板组件，该转接板组件设置有一底板和一上板，该底板下表面设置有多个第一信号连接部和至少供一继电器控制开关板连接的一第一连接器，该上板的上表面设置有供多个转接板连接器连接的多个第二信号连接部；以及

一安装座，该安装座设置有一安装槽，该安装槽供该转接板组件固定，该安装座上设置有至少一第一固定件；

其中，该底板的上表面设置有多个第三信号连接部，该上板的下表面设置有多个第四信号连接部，该底板的该多个第三信号连接部通过多个第二连接器和该上板的该多个第四信号连接部连接；

其中，该底板的该多个第一信号连接部设置为第一方向，该上板的该多个第二信号连接部、该多个第四信号连接部以及该底板的该多个第三信号连接部设置为第二方向。

2.如权利要求1所述的测试套件，其特征在于，该底板下表面的该多个第一信号连接部的该第一方向的设置方向和该底板上表面的该多个第三信号连接部的该第二方向的设置方向呈现垂直。

3.如权利要求1所述的测试套件，其特征在于，该第一信号连接部由多个第一电接点构成，该第二信号连接部由多个第二电接点构成，该第三信号连接部由多个第三电接点构成，该第四信号连接部由多个第四电接点构成。

4.如权利要求1所述的测试套件，其特征在于，该第一固定件为滚轮，该底板或该安装座上设置有至少一支撑柱用以垫高。

5.如权利要求1所述的测试套件，其特征在于，进一步包括一测试载板，该测试载板的下表面设置有多个下表面信号连接部，该多个下表面信号连接部电性连接于该上板上表面的该多个转接板连接器，该测试载板的上表面设置有多个上表面信号连接部，该下表面信号连接部由多个第五电接点构成，该上表面信号连接部由多个第六电接点构成。

6.如权利要求1所述的测试套件，其特征在于，进一步包括一测试载板，该测试载板的下表面设置有供该多个转接板连接器连接的多个第五信号连接部以及至少一第六信号连接部，该测试载板的上表面设置有多个第七信号连接部，该第六信号连接部设置为第三方向，部分的该多个第七信号连接部设置为第四方向且在之上设置多个第三连接器，该第三方向和该第四方向不同，该第三连接器由多个堆叠相接的连接器构成。

7.一种测试设备，其特征在于，包括：

一具有如权利要求5至6任一项所述的测试套件；以及

一测试机，该测试机上设置有供该多个第一信号连接部连接的多个测试机信号连接器；

其中，当该底板的该多个第一信号连接部安装连接于该测试机的该多个测试机信号连接器上时，该测试机的该多个测试机信号连接器所提供的多个测试信号通过该底板下表面的该多个第一信号连接部后，再由该底板上表面的该多个第三信号连接部以及该多个第二连接器将该多个测试信号传出。

8.如权利要求7所述的测试设备，其特征在于，该第二连接器为板对板的连接器，该转接板连接器为弹簧针形式的连接器。

9.如权利要求7所述的测试设备，其特征在于，该测试机上设置有一连杆固定装置，该连杆固定装置设置有一第一控制轴装置，该第一控制轴装置设有一第一压制装置和一第一连杆，该第一连杆连接在一第一轨道上移动的一第一固定载具上，该第一固定载具设置有一第一凹槽且该第一凹槽设置有一第一延伸轨道，该第一延伸轨道设置有一倾斜角度，该第一固定载具上设置有该第一凹槽的一第一置入孔，当该底板的该多个第一信号连接部安装连接于该测试机的该多个测试机信号连接器上时，该第一固定件同时由该第一置入孔套入该第一凹槽内，再通过该第一压制装置相对于该第一控制轴装置的操作使得经由该第一连杆带动该第一固定载具于该第一轨道上移动，通过该第一固定载具的移动使得该第一固定件相对移动于该第一延伸轨道内进行限位及固定。

10.如权利要求9所述的测试设备，其特征在于，该测试机上设置有一测试载板连杆固定装置，该测试载板连杆固定装置设置有一第二控制轴装置，该第二控制轴装置设置有一第二压制装置和一第二连杆，该第二连杆连接在一第二轨道上移动的一第二固定载具上，该第二固定载具设置有一第二凹槽且该第二凹槽设置有一第二延伸轨道，该第二延伸轨道设置有一倾斜角度，该第二固定载具上设置有该第二凹槽的一第二置入孔，以及该测试载板设置有一固定框板，该固定框板设置有两个扶手以及至少一第二固定件，该第二固定件为滚轮，当该测试载板连接于该上板上表面的该多个转接板连接器时，该第二固定件同时由该第二置入孔套入该第二凹槽内，再通过该第二压制装置相对于该第二控制轴装置的操作使得经由该第二连杆带动该第二固定载具于该第二轨道上移动，通过该第二固定载具的移动使得该第二固定件相对移动于该第二延伸轨道内进行限位及固定。

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