CN217425556U - 一种电子元器件耐寒温度检测设备 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种电子元器件耐寒温度检测设备，包括箱体，该箱体内间隔形成数据采集仓和制冷控制仓。数据采集仓内置数据采集器，制冷控制仓从上至下分别设有工作室、散热器和制冷器，工作室的上方呈敞口设置，且工作室的上方设有密封盖，数据采集器通过数据连接线与工作室上设置的插接口连接。本实用新型将数据采集仓、制冷控制仓集成式设置，设计紧凑，通过制冷控制仓的制冷器对工作室内的产品进行快速降温，进而耐寒温度检测设备可直接配置于电子元器件生产线上，并通过电连接的数据采集器进行在线连接检测是否正常工作，可满足生产线频繁开关门且不影响降温，达到生产线快速降温，快速检测的目的，提高了检测效率和产品质量。

Description

一种电子元器件耐寒温度检测设备

技术领域

本实用新型涉及电子元器件稳定性检测技术领域，具体涉及一种电子元器件耐寒温度检测设备。

背景技术

在电子工业发展过程中，特别是5G技术应用的快速崛起环境下，巨量的电子元器件应用给电子行业在生产制造过程中质与量的控制带来了巨大挑战。其中，对于不同行业的应用，涉及到不同的使用环境，如在极限寒冷的温度情况下，对于电子元器件的工作稳定性要求极高，需保证电子元器件在极限寒冷的温度条件下能正常工作。因此，对于制造后的电子元器件在极限寒冷温度下的性能检测作为了我们日常重点工作。

但是现有的电子元器件在耐寒情况检测过程中，由于生产线的设计缺陷及检测设备的缺陷，检测设备太大且不能快速降温，因此，不能频繁开启和关闭，容易造成温度达不到检测目标温度，因此，需要将一批产品批量放置于降温设备中进行耐温测试，且现有的检测设备温降装置和检测装置采用分开设置，通常将抽检的产品批量放置在温降设备中达到预设温度，然后取出在检测装置中检测其是否正常工作。现有的检测设备采用分体式设计，检测设备尺寸较大，且不能快速降温，不能频繁开启和关闭，因此不能安装到生产线上。现有的检测设备造成检测时间较长，不能接入生产线进行流水线检测和产品的全部检测，只能单独放置进行抽样检测，但是，产品抽检方式远远适应不了现在市场的需求，容易出现次品的出现，一旦有瑕疵部件流入终端设备，出故障带来的影响和损失是巨大的。

实用新型内容

针对上述不足，本实用新型的目的在于，提供一种电子元器件耐寒温度检测设备，其解决了现有技术中低温检测设备不能接入生产线进行快速降温和快速检测的问题。

为实现上述目的，本实用新型所提供的技术方案是：

一种电子元器件耐寒温度检测设备，包括箱体，该箱体内间隔形成数据采集仓和制冷控制仓。所述数据采集仓内置数据采集器，所述制冷控制仓从上至下分别设有工作室、散热器和制冷器，所述工作室的上方呈敞口设置，且工作室的上方设有密封盖，所述数据采集器通过数据连接线与所述工作室上设置的插接口连接。

采用上述结构设计，所述检测设备将数据采集仓、制冷控制仓集成式设置在一起，减少了设备的外形尺寸。同时，所述制冷控制仓内设置的工作室、散热器和制冷器能快速完成工作室的降温，因而耐寒温度检测设备可直接配置于电子元器件生产线上，通过制冷控制仓的制冷器对工作室内的产品进行快速降温，并通过电连接的数据采集器进行连接检测是否正常工作，通过大功率的制冷器完成快速降温，实时对产品电连接进行是否正常工作的检测，本设备能接入生产线尽快产品快速检测，提高了检测效率和产品质量。

优选的，所述数据采集仓内置的安装架，且安装架采用多层设置，所述数据采集器装设于所述安装架上。

采用上述结构设计，所述安装架的设置，便于数据采集器的安装和拆卸，同时便于检修。

优选的，所述数据采集仓的侧板可拆卸设置，且一侧侧板上贯穿开设有多个分别与数据采集仓连通的散热孔，且所述散热孔内装设有散热风扇。

采用上述结构设计，所述侧板可拆卸设置便于数据采集仓内进行检修，同时所述散热风扇的设置便于数据采集器产生的热量进行散热，保证数据采集器的正常工作，防止其过热。

优选的，所述数据采集仓和制冷控制仓之间的隔离板上开设有多个布线孔，且布线孔上设有中部开口的密封胶片，所述数据采集器通过数据连接线穿过布线孔与所述工作室上的插接口连接。

采用上述结构设计，所述密封胶片的设置便于布线安装，同时可一定程度防止数据采集仓和制冷控制仓的热交换。

优选的，所述箱体上端设有检测显示器和温控仪表，所述检测显示器电连接所述数据采集仓的数据采集器采集数据进行显示，所述温控仪表电连接所述工作室内置的温度传感器进行温度监控。

采用上述结构设计，可通过预设的检测温度对工作室内的产品在预设温度情况下完成产品的数据采集，确定产品是否正常工作。

优选的，所述密封盖的一端铰接于箱体上且位于所述工作室上方，所述密封盖另一端设置的卡扣可拆卸的固定于箱体的另一侧，所述密封盖的底部设有外层密封圈和内层密封圈。

优选的，所述制冷器采用覆叠制冷进行快速制冷，且制冷器通过管道与所述工作室内连通进行制冷，所述散热器设置于所述工作室的下方并通过管道与所述工作室连通进行热交换。

采用上述结构设计，所述密封盖底部的双层密封圈的设置能保证工作室内的密封效果，并配合制冷器采用了覆叠制冷，提高制冷效果，实现了工作室内的快速温降，能达到每分钟降温10℃，进而可满足生产线频繁开关门且不影响降温，达到生产线快速降温，快速检测的目的。

优选的，所述密封盖的下方开设有避让槽，且所述密封盖通过气缸打开和关闭，所述气缸的上端铰接于所述避让槽内，下端铰接于所述箱体上，密封盖关闭时所述气缸容置于所述避让槽内。

采用上述结构设计，所述密封盖通过气缸打开和关闭，且通过避让槽的设置便于气缸的收纳，进而不影响密封盖的密封。

相对于现有技术，本实用新型的有益效果为：

1、本实用新型将数据采集仓、制冷控制仓集成式设置在一起，减少了设备的外形尺寸，同时，所述制冷控制仓内设置的工作室、散热器和制冷器能快速完成工作室的降温数据采集仓和制冷控制仓设置，设计紧凑，更加轻量化，进而耐寒温度检测设备可直接配置于电子元器件生产线上，通过制冷控制仓的制冷器对工作室内的产品进行快速降温，并通过电连接的数据采集器进行连接在线检测是否正常工作，通过大功率的制冷器完成快速降温，能达到每分钟降温10℃，进而可满足生产线频繁开关门且不影响降温，达到生产线快速降温，快速检测的目的，提高了检测效率和产品质量。

2、本实用新型为了配合工作室的保温性能，密封盖加厚隔热设置，增加了密封盖的重量，本申请的密封盖通过气缸打开和关闭，且通过避让槽的设置便于气缸的收纳，不仅保证了密封盖的密封性能，且便于开启和关闭，操作更方便。

3、本实用新型将工作室设置于制冷控制仓的上方且控制其大小，并通过下端设置的覆叠制冷的制冷器进行制冷，能对工作室快速降温，完成生产线上产品的快速检测。

附图说明

附图是用来提供对本实用新型的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与下面的具体实施方式一起用于解释本实用新型，但并不构成对本实用新型的限制。在附图中：

图1是本实用新型一种电子元器件耐寒温度检测设备的结构示意图；

图2是图1中的去除检修门体和密封盖后的结构示意图；

图3是图2在A处的放大图；

图4是图2中B处的放大图；

图5是图1中另一角度的结构示意图；

图6是图5中沿箱体竖直方向的剖视图。

图中各附图标记说明如下。

箱体1、数据采集仓1a、散热孔11a、散热风扇12a、制冷控制仓1b、密封盖1c、卡扣11c、外层密封圈12c、内层密封圈13c、避让槽14c、隔离板1d、布线孔11d、密封胶片12d、数据采集器2、工作室3、插接口3a、散热器4、制冷器5、安装架6、检测显示器7、温控仪表8、气缸9、温度传感器10、报警器11、观察窗12。

具体实施方式

为详细说明本实用新型的技术内容、构造特征、所实现目的及效果，以下结合实施方式并配合附图详予说明。

下面将结合附图对本实用新型的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。在本实用新型的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。

请参阅图1至图6，一种电子元器件耐寒温度检测设备，包括箱体1，该箱体1内间隔形成数据采集仓1a和制冷控制仓1b。所述数据采集仓1a内置数据采集器2，且数据采集仓1a内于所述数据采集器2的下方设置有电器控制柜。所述制冷控制仓1b从上至下分别设有工作室3、散热器4和制冷器5。本申请中检测设备的结构紧凑，尺寸相对于现有技术中的检测设备大大减小，进而可保证接入生产线后不会占用太大空间。所述工作室3的上方呈敞口设置，且工作室3的上方设有密封盖1c，且密封盖1c可实现90°开启。所述数据采集器2通过数据连接线与所述工作室3上设置的插接口3a连接。所述箱体1上端设有检测显示器7和温控仪表8，所述检测显示器7电连接所述数据采集仓1a的数据采集器2采集数据进行显示，所述温控仪表8电连接所述工作室3内置的温度传感器10进行温度监控，所述箱体1上还设置有与检测显示器7电连接的报警器11，当出现不合格产品时报警器11同时出现报警。在本申请中，所述数据采集器2仅仅用于在低温状态下的电子元器件产品的电连接，检测和传输电信号是否稳定，不需要依托程序进行解算和分析。所述检测设备将数据采集仓1a、制冷控制仓1b集成式设置在一起，减少了设备的外形尺寸。同时，所述制冷控制仓1a内设置的工作室3、散热器4和制冷器5能快速完成工作室3的降温，因此该检测设备发挥了尺寸小，降温快的优点，能接入到电子元器件生产线上，可满足生产线频繁开关门且不影响降温，达到生产线快速降温，快速检测的目的，提高了检测效率和产品质量。

请参阅图2、图3和图4，进一步的，所述数据采集仓1a内置的安装架6，且安装架6采用多层设置，所述数据采集器2装设于所述安装架6上，可便于数据采集器2的组装和拆装检修。所述数据采集仓1a的侧板可拆卸设置，且一侧侧板上贯穿开设有多个分别与数据采集仓1a连通的散热孔11a，且所述散热孔11a内装设有散热风扇12a。用于数据采集器2进行散热，防止其过热出现损坏。所述数据采集仓1a和制冷控制仓1b的前端均设有检修门体(图为标示)，且所述制冷控制仓1b内壁上设有隔热板(图未示)。

所述数据采集仓1a和制冷控制仓1b之间的隔离板1d上开设有多个布线孔11d，且布线孔11d上设有中部开口的密封胶片12d，所述数据采集器2通过数据连接线穿过布线孔11d与所述工作室3上的插接口3a连接。所述密封胶片12d可在一定程度上较少数据采集仓1a和制冷控制仓1b之间的热交换。

请参阅图5和图6，所述密封盖1c的一端铰接于箱体1上且位于所述工作室3上方，所述密封盖1c另一端设置的卡扣11c可拆卸的固定于箱体1的另一侧，所述密封盖1c的底部设有外层密封圈12c和内层密封圈13c。所述密封盖1c的下方开设有避让槽14c，且所述密封盖1c通过气缸9打开和关闭，所述气缸9的上端铰接于所述避让槽14c内，下端铰接于所述箱体1上，密封盖1c关闭时所述气缸9容置于所述避让槽14c内。在本实施例中，为了保证工作室3的温降和密封性，将密封盖1c设计为厚度较大且隔热性能好，因此密封盖1c的重量较大，在开启和关闭时，通过气缸9自动开启和关闭，同时通过双层密封圈保证密封效果，所述外层密封圈12c和内层密封圈13c的高度为20mm，提高了密封效果。同时，在本实施例中，所述工作室3的尺寸设计为长宽高分别为620mm、450mm、250mm，且所述制冷器5采用覆叠制冷进行快速制冷，且制冷器5通过管道与所述工作室3内连通进行制冷，所述散热器4设置于所述工作室3的下方并通过管道与所述工作室3连通进行热交换。因此，在制冷器5增大制冷量的情况下，可保证该尺寸下的工作室3快速完成温降，控制其温度在-70～150摄氏度，且能达到每分钟降温10℃，进而可满足生产线频繁开关门且不影响降温，达到生产线快速降温，快速检测的目的。在本实施例中，所述密封盖1c的上端设有透明的观察窗12。

本实用新型的工作原理：

将本申请中的检测设备设置于电子元器件制造生产线上的最下游，并开启设备通过制冷器5工作将工作室3内的温度降至设定温度并于温控仪表8上进行显示，然后打开密封盖1c将制造完成后的产品放入工作室3内并将产品接口与插接口3a连接，关闭密封盖1c。通过数据采集器2进行电连接检测产品在设定温度下是否能实现电连接并正常工作并在监测显示器7上进行显示，完成检测。

根据上述说明书的揭示和教导，本实用新型所属领域的技术人员还可以对上述实施方式进行变更和修改。因此，本实用新型并不局限于上面揭示和描述的具体实施方式，对本实用新型的一些修改和变更也应当落入本实用新型的权利要求的保护范围内。此外，尽管本说明书中使用了一些特定的术语，但这些术语只是为了方便说明，并不对本实用新型构成任何限制，采用与其相同或相似的其它装置，均在本实用新型保护范围内。

Claims (8)

1.一种电子元器件耐寒温度检测设备，其特征在于，包括箱体(1)，该箱体(1)内间隔形成数据采集仓(1a)和制冷控制仓(1b)，所述数据采集仓(1a)内置数据采集器(2)，所述制冷控制仓(1b)从上至下分别设有工作室(3)、散热器(4)和制冷器(5)，所述工作室(3)的上方呈敞口设置，且工作室(3)的上方设有密封盖(1c)，所述数据采集器(2)通过数据连接线与所述工作室(3)上设置的插接口(3a)连接。

2.如权利要求1所述的一种电子元器件耐寒温度检测设备，其特征在于，所述数据采集仓(1a)内置的安装架(6)，且安装架(6)采用多层设置，所述数据采集器(2)装设于所述安装架(6)上。

3.如权利要求1或2所述的一种电子元器件耐寒温度检测设备，其特征在于，所述数据采集仓(1a)的侧板可拆卸设置，且一侧侧板上贯穿开设有多个分别与数据采集仓(1a)连通的散热孔(11a)，且所述散热孔(11a)内装设有散热风扇(12a)。

4.如权利要求1所述的一种电子元器件耐寒温度检测设备，其特征在于，所述数据采集仓(1a)和制冷控制仓(1b)之间的隔离板(1d)上开设有多个布线孔(11d)，且布线孔(11d)上设有中部开口的密封胶片(12d)，所述数据采集器(2)通过数据连接线穿过布线孔(11d)与所述工作室(3)上的插接口(3a)连接。

5.如权利要求1所述的一种电子元器件耐寒温度检测设备，其特征在于，所述箱体(1)上端设有检测显示器(7)和温控仪表(8)，所述检测显示器(7)电连接所述数据采集仓(1a)的数据采集器(2)采集数据进行显示，所述温控仪表(8)电连接所述工作室(3)内置的温度传感器(10)进行温度监控。

6.如权利要求1所述的一种电子元器件耐寒温度检测设备，其特征在于，所述密封盖(1c)的一端铰接于箱体(1)上且位于所述工作室(3)上方，所述密封盖(1c)另一端设置的卡扣(11c)可拆卸的固定于箱体(1)的另一侧，所述密封盖(1c)的底部设有外层密封圈(12c)和内层密封圈(13c)。

7.如权利要求6所述的一种电子元器件耐寒温度检测设备，其特征在于，所述密封盖(1c)的下方开设有避让槽(14c)，且所述密封盖(1c)通过气缸(9)打开和关闭，所述气缸(9)的上端铰接于所述避让槽(14c)内，下端铰接于所述箱体(1)上，密封盖(1c)关闭时所述气缸(9)容置于所述避让槽(14c)内。

8.如权利要求1所述的一种电子元器件耐寒温度检测设备，其特征在于，所述制冷器(5)采用覆叠制冷进行快速制冷，且制冷器(5)通过管道与所述工作室(3)内连通进行制冷，所述散热器(4)设置于所述工作室(3)的下方并通过管道与所述工作室(3)连通进行热交换。

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