CN217112442U - 一种用于半导体芯片测试的微调支架 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种用于半导体芯片测试的微调支架，包括底座，所述底座的上端设有滑动板，所述滑动板的下端与底座的上端滑动连接，所述滑动板的上端设有支撑杆，所述支撑杆的下端固定连接有第二矩形块，所述第二矩形块与滑动板的上端转动连接，所述支撑杆的右侧设有放置板，所述放置板的左侧固定连接有第一矩形块，所述第一矩形块与支撑杆的右侧转动连接。该微调支架可以将放置板转动至与支撑杆平行，然后再将支撑杆转动至与滑动板平行，从而便于对支架整体进行收纳，减少其占用空间，且收纳完毕后，SOCKET板会位于收纳槽内，对SOCKET板进行保护，避免灰尘粘附在SOCKET板上。
Description
技术领域
本实用新型涉及半导体芯片技术领域，尤其涉及一种用于半导体芯片测试的微调支架。
背景技术
现有的半导体测试装置测试时是通过测试机将芯片压入PCB测试板上的SOCKET板的凹槽内,然后在PCB测试板上输入一定电压查看输出的情况，不同的电压会产生不同的通路进而有不同的输出，输出与需要的参数相符合即为良品，在进行测试时，通常需要对支架进行微调，从而确保芯片进入至SOCKET板内，然而现有的微调支架在使用时仍然存在以下问题：
现有的微笑支架在使用时，由于支撑杆一般竖直固定在移动板上，放置台一般固定在支撑杆的右侧，从而导致在对支架进行移动的过程中，支架整体占用的空间较大，导致支架无法进行很好的收纳，从而使得移动运输较为麻烦，且由于现有的支架上的SOCKET通常是直接放置在放置板上，使得在平时不使用时，灰尘易粘附在SOCKET板上，导致其内部电子元件发生损坏，影响后续的使用，因此，如何合理的解决这个问题是我们所需要考虑的。
实用新型内容
本实用新型的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的一种用于半导体芯片测试的微调支架，该微调支架可以将放置板转动至与支撑杆平行，然后再将支撑杆转动至与滑动板平行，从而便于对支架整体进行收纳，减少其占用空间，且收纳完毕后，SOCKET板会位于收纳槽内，对SOCKET板进行保护，避免灰尘粘附在SOCKET板上。
为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：
一种用于半导体芯片测试的微调支架，包括底座，所述底座的上端设有滑动板，所述滑动板的下端与底座的上端滑动连接，所述滑动板的上端设有支撑杆，所述支撑杆的下端固定连接有第二矩形块，所述第二矩形块与滑动板的上端转动连接，所述支撑杆的右侧设有放置板，所述放置板的左侧固定连接有第一矩形块，所述第一矩形块与支撑杆的右侧转动连接，所述第一矩形块与支撑杆之间通过卡位组件进行限位。
优选地，所述卡位组件包括设置在第一矩形块左侧的卡槽，所述支撑杆的右侧设有移动槽，所述移动槽内设有卡块，所述卡块与移动槽的内壁滑动连接，所述卡块的右侧延伸至卡槽内，所述卡块的左侧与移动槽的左侧内壁通过复位弹簧弹性连接。
优选地，所述支撑杆的左侧设有拉环，所述拉环的右侧固定连接有拉绳，所述拉绳远离拉环的一端与卡块的左侧固定连接。
优选地，所述支撑杆与滑动板之间通过限位组件进行限位，所述限位组件包括设置在第二矩形块下端的限位槽，所述滑动板的上端设有转动槽，所述转动槽内设有横杆，所述横杆的两端与转动槽的两侧内壁转动连接，所述横杆的外壁固定连接有与限位槽相配合的限位块，所述横杆的右端延伸至外界并固定连接有转盘。
优选地，所述滑动板的上端设有收纳槽，所述收纳槽位于转动槽的右侧。
优选地，所述底座内设有滑动腔，所述滑动腔的上方设有条形开口，所述滑动板的下方固定连接有连接块，所述连接块贯穿条形开口并固定连接有齿条，所述滑动腔内设有第一转杆和第二转杆，所述第一转杆和第二转杆的两端均与滑动腔的前后侧内壁转动连接，所述第一转杆的外壁固定连接有第一齿轮，所述第二转杆的外壁固定连接有第二齿轮，所述第二齿轮与齿条相啮合，所述第一齿轮和第二齿轮相互啮合，所述第一转杆的前侧延伸至外界并固定连接有旋钮。
与现有的技术相比，本装置的优点在于：
1、与现有技术相比，通过放置板和支撑杆均可转动的设置，使得在运输过程中，可以对支架进行折叠收纳，从而减少支架整体的占用空间，便于支架进行运输；
2、与现有技术相比，在折叠收纳后，此时SOCKET板会进入至收纳槽内，从而对SOCKET板进行保护，避免灰尘粘附在SOCKET板影响SOCKET板的后续使用。
附图说明
图1为本实用新型提出的一种用于半导体芯片测试的微调支架的结构示意图；
图2为图1中A处的放大结构示意图；
图3为图1中B处的放大结构示意图。
图4为图1的正面示意图。
图中：1底座、2滑动腔、3第一转杆、4第一齿轮、5第二齿轮、6条形开口、7齿条、8连接块、9收纳槽、10滑动板、11支撑杆、12放置板、13第一安装块、14第一矩形块、15卡槽、16卡块、17移动槽、18拉环、19第二矩形块、20限位槽、21转动槽、22限位块、23横杆、24旋钮。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。
参照图1-4，一种用于半导体芯片测试的微调支架，包括底座1，底座1的上端设有滑动板10，滑动板10的上端设有收纳槽9，收纳槽9位于转动槽21的右侧，滑动板10的下端与底座1的上端滑动连接，滑动板10的上端设有支撑杆11，支撑杆11的下端固定连接有第二矩形块19，第二矩形块19与滑动板10的上端转动连接，支撑杆11的右侧设有放置板12，放置板12的左侧固定连接有第一矩形块14，第一矩形块14与支撑杆11的右侧转动连接，第一矩形块14与支撑杆11之间通过卡位组件进行限位，卡位组件包括设置在第一矩形块14左侧的卡槽15，支撑杆11的右侧设有移动槽17，移动槽17内设有卡块16，卡块16的右侧为弧形，卡块16与移动槽17的内壁滑动连接，卡块16的右侧延伸至卡槽15内，卡块16的左侧与移动槽17的左侧内壁通过复位弹簧弹性连接。
其中，支撑杆11的左侧设有拉环18，拉环18的右侧固定连接有拉绳，拉绳远离拉环18的一端与卡块16的左侧固定连接。
其中，支撑杆11与滑动板10之间通过限位组件进行限位，限位组件包括设置在第二矩形块19下端的限位槽20，滑动板10的上端设有转动槽21，转动槽21内设有横杆23，横杆23的两端与转动槽21的两侧内壁转动连接，横杆23的外壁固定连接有与限位槽20相配合的限位块22，横杆23的右端延伸至外界并固定连接有转盘。
其中，底座1内设有滑动腔2，滑动腔2的上方设有条形开口6，滑动板10的下方固定连接有连接块8，连接块8贯穿条形开口6并固定连接有齿条7，滑动腔2内设有第一转杆3和第二转杆，第一转杆3和第二转杆的两端均与滑动腔2的前后侧内壁转动连接，第一转杆3的外壁固定连接有第一齿轮4，第二转杆的外壁固定连接有第二齿轮5，第一齿轮4的半径为第二齿轮5的四分之一，第二齿轮5与齿条7相啮合，第一齿轮4和第二齿轮5相互啮合，第一转杆3的前侧延伸至外界并固定连接有旋钮24。
本实用新型可通过以下操作方式阐述其功能原理：在实际使用时，限位块22位于限位槽20内，此时将支撑杆11竖直限位，然后卡块16的右端位于卡槽15内，从而对放置板12进行水平限位，使得支架能够进行使用，当需要进行微调时，此时转动旋钮24，从而使得第一齿轮4带动第二齿轮5转动，使得齿条7通过连接块8带动滑动板10左右移动，对SOCKET板进行微调，确保芯片进入至SOCKET板内；
当需要将支架移动至其他位置时，此时只需拉动拉环18左移，使得卡块16左移脱离卡槽15后，向下转动放置板12，使得放置板12转动至与支撑杆11平行，然后再转动转盘，使得限位块22转动脱离限位槽20，此时即可转动支撑杆11使其与滑动板10平行，从而减小支架整体的占用空间，从而便于运输，同时收纳完毕后，此时SOCKET板会进入至收纳槽9内，从而对SOCKET板进行保护，避免灰尘粘附在SOCKET板上影响其后续的使用。
以上所述，仅为本实用新型较佳的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，根据本实用新型的技术方案及其实用新型构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。
Claims (6)
1.一种用于半导体芯片测试的微调支架，包括底座(1)，其特征在于：所述底座(1)的上端设有滑动板(10)，所述滑动板(10)的下端与底座(1)的上端滑动连接，所述滑动板(10)的上端设有支撑杆(11)，所述支撑杆(11)的下端固定连接有第二矩形块(19)，所述第二矩形块(19)与滑动板(10)的上端转动连接，所述支撑杆(11)的右侧设有放置板(12)，所述放置板(12)的左侧固定连接有第一矩形块(14)，所述第一矩形块(14)与支撑杆(11)的右侧转动连接，所述第一矩形块(14)与支撑杆(11)之间通过卡位组件进行限位。
2.根据权利要求1所述的一种用于半导体芯片测试的微调支架，其特征在于：所述卡位组件包括设置在第一矩形块(14)左侧的卡槽(15)，所述支撑杆(11)的右侧设有移动槽(17)，所述移动槽(17)内设有卡块(16)，所述卡块(16)与移动槽(17)的内壁滑动连接，所述卡块(16)的右侧延伸至卡槽(15)内，所述卡块(16)的左侧与移动槽(17)的左侧内壁通过复位弹簧弹性连接。
3.根据权利要求2所述的一种用于半导体芯片测试的微调支架，其特征在于：所述支撑杆(11)的左侧设有拉环(18)，所述拉环(18)的右侧固定连接有拉绳，所述拉绳远离拉环(18)的一端与卡块(16)的左侧固定连接。
4.根据权利要求1所述的一种用于半导体芯片测试的微调支架，其特征在于：所述支撑杆(11)与滑动板(10)之间通过限位组件进行限位，所述限位组件包括设置在第二矩形块(19)下端的限位槽(20)，所述滑动板(10)的上端设有转动槽(21)，所述转动槽(21)内设有横杆(23)，所述横杆(23)的两端与转动槽(21)的两侧内壁转动连接，所述横杆(23)的外壁固定连接有与限位槽(20)相配合的限位块(22)，所述横杆(23)的右端延伸至外界并固定连接有转盘。
5.根据权利要求4所述的一种用于半导体芯片测试的微调支架，其特征在于：所述滑动板(10)的上端设有收纳槽(9)，所述收纳槽(9)位于转动槽(21)的右侧。
6.根据权利要求1所述的一种用于半导体芯片测试的微调支架，其特征在于：所述底座(1)内设有滑动腔(2)，所述滑动腔(2)的上方设有条形开口(6)，所述滑动板(10)的下方固定连接有连接块(8)，所述连接块(8)贯穿条形开口(6)并固定连接有齿条(7)，所述滑动腔(2)内设有第一转杆(3)和第二转杆，所述第一转杆(3)和第二转杆的两端均与滑动腔(2)的前后侧内壁转动连接，所述第一转杆(3)的外壁固定连接有第一齿轮(4)，所述第二转杆的外壁固定连接有第二齿轮(5)，所述第二齿轮(5)与齿条(7)相啮合，所述第一齿轮(4)和第二齿轮(5)相互啮合，所述第一转杆(3)的前侧延伸至外界并固定连接有旋钮(24)。
Priority Applications (1)
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| CN202220411299.XU CN217112442U (zh) | 2022-02-28 | 2022-02-28 | 一种用于半导体芯片测试的微调支架 |
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