CN217112420U - 一种模块测试装置及模块测试系统 - Google Patents

Abstract

本申请公开了一种模块测试装置及模块测试系统。该模块测试装置包括：测试开关以及测试电路；其中，所述测试开关的第一端口与测试夹具连接，所述测试开关的第二端口与所述测试电路的第一端口连接，所述测试电路的第二端口与微控制单元连接；所述测试开关用于根据所述测试夹具的状态闭合或断开，所述测试电路用于根据所述测试开关的闭合状态或断开状态输出测试信号，所述测试信号用于指示对测试夹具板供电或断电，所述测试夹具以及所述测试夹具板为用于对模块进行测试的夹具装置。本装置可以解决模块放入夹具时带电操作所带来的模块损坏问题，实现模块测试全过程的自动化操作，提高模块测试安全性和测试效率。

Description

一种模块测试装置及模块测试系统

技术领域

本申请涉及电子电力技术领域，尤其涉及一种模块测试装置及模块测试系统。

背景技术

模块一般用于其他设备上承担某项特定功能，例如，通讯模块是指用于其他设备上承担通讯功能的模块。在模块生产完成或安装在上述其他设备之前需要对其进行全面的性能测试，以保证模块的产品性能。

目前，较为常用的模块测试过程是将模块放入夹具，夹具板和模块通过PIN针连接，下压夹具，开始对模块测试；测试完成后，夹具上抬，模块和PIN针断开，取出模块完成测试。

但是，上述模块测试在模块放入夹具时可能存在带电操作的情况，测试安全性低，并且测试过程中，在放入模块和取出模块的情况下，需要手动控制对夹具板的供电断电，测试效率低。

实用新型内容

本申请实施例提供了一种模块测试装置及模块测试系统，可以解决模块放入夹具时带电操作所带来的模块损坏问题，实现模块测试全过程的自动化操作，提高模块测试安全性和测试效率。

第一方面，本申请实施例提供了一种模块测试装置，该模块测试装置包括：

测试开关以及测试电路；

其中，所述测试开关的第一端口与测试夹具连接，所述测试开关的第二端口与所述测试电路的第一端口连接，所述测试电路的第二端口与微控制单元连接；

所述测试开关用于根据所述测试夹具的状态闭合或断开，所述测试电路用于根据所述测试开关的闭合状态或断开状态输出测试信号，所述测试信号用于指示对测试夹具板供电或断电，所述测试夹具以及所述测试夹具板为用于对模块进行测试的夹具装置。

本申请实施例中，模块测试装置包括测试开关和测试电路，测试开关通过与测试夹具连接获取测试夹具的状态，并根据测试夹具的状态闭合或断开，测试夹具的状态包括下压闭合状态和上抬断开状态，测试电路根据测试开关的闭合状态或断开状态输出测试信号，指示对测试夹具板供电或断电，从而可以解决模块放入测试夹具时带电操作所带来的模块损坏问题，实现模块测试全过程的自动化操作，提高模块测试安全性和测试效率。

在一种可能的实施方式中，所述测试电路包括：

插座、第一电阻、第二电阻、第三电阻以及开关管；

其中，所述插座的第一端口分别与所述第一电阻的第一端口、所述开关管的第一端口连接，所述插座的第二端口与所述第二电阻的第一端口连接，所述插座的第三端口通过电子线与所述测试开关连接，所述第一电阻的第二端口接地，所述开关管的第二端口接地，所述第二电阻的第二端口分别与所述第三电阻的第一端口、电源连接，所述第三电阻的第二端口与所述开关管的第三端口相接于测试点；

所述开关管在所述测试开关处于闭合状态时导通，所述开关管在所述测试开关处于断开状态时断开，所述测试点用于输出所述测试信号。

在本申请实施例中，测试电路包括插座、第一电阻、第二电阻、第三电阻以及开关管，第三电阻位于电源和测试点之间，可以作为测试点的上拉电阻，插座通过电子线与测试开关连接，开关管与插座连接，开关管在测试开关处于闭合状态时导通，在测试开关处于断开状态时断开，从而测试点输出的测试信号的电平是变化的，该测试信号可以用于指示对测试夹具板供电或断电，实现模块测试全过程的自动化操作，提高模块测试安全性和测试效率。

在一种可能的实施方式中，所述测试电路还包括：

第一电容；

其中，所述第一电容的第一端口分别与所述插座的第一端口、所述第一电阻的第一端口以及所述开关管的第一端口连接；

所述第一电容在所述测试开关闭合时储能，所述第一电容在所述测试开关断开时放能。

在本申请实施例中，测试电路还包括第一电容，第一电容与插座连接，在测试开关闭合时储能，可以用于降低开关管导通快启动时过流造成的器件损伤，在测试开关断开时放能，可以用于去除开关管断开时的电压抖动，通过第一电容可以提高测试电路的测试安全性和测试稳定性。

在一种可能的实施方式中，所述开关管包括N型金属氧化物半导体场效应晶体管。

在一种可能的实施方式中，所述测试开关在所述测试夹具处于下压闭合状态的情况下闭合，所述测试电路处于短路状态；所述测试开关在所述测试夹具处于上抬断开状态的情况下断开，所述测试电路处于断路状态。

在本申请实施例中，当测试夹具下压闭合时，与测试夹具连接的测试开关闭合，此时的测试电路处于短路状态，当测试夹具上抬断开时，与测试夹具连接的测试开关断开，此时的测试电路处于断路状态。

在一种可能的实施方式中，所述测试信号在所述测试开关处于闭合状态的情况下为第一电平，所述测试信号在所述测试开关处于断开状态的情况下为第二电平，所述第一电平和所述第二电平不同。

在本申请实施例中，当测试开关处于闭合状态时，测试电路处于短路状态，测试电路的测试点输出的测试信号为第一电平，当测试开关处于断开状态时，测试电路处于断路状态，测试电路的测试点输出的测试信号为第二电平，其中，第一电平与第二电平不同，表示测试点输出的测试信号的电平是变化的，该测试信号可以用于指示对测试夹具板供电或断电，实现模块测试全过程的自动化操作，提高模块测试安全性和测试效率。

在一种可能的实施方式中，所述第一电平用于指示对所述测试夹具板供电，所述第二电平用于指示对所述测试夹具板断电。

在本申请实施例中，第一电平为低电平，用于指示对测试夹具板供电，第二电平为高电平，用于指示对测试夹具板断电，从而解决模块放入测试夹具时带电操作所带来的模块损坏问题，实现模块测试全过程的自动化操作。

在一种可能的实施方式中，所述第一电平用于指示在所述测试开关处于闭合状态后的第一时间段内对所述测试夹具板供电。

在本申请实施例中，第一电平指示在测试开关闭合后的某个时间段内对测试夹具板供电，可以满足模块的延时上电需求，从而解决模块放入测试夹具时带电操作所带来的模块损坏问题，提高模块测试安全性。

第二方面，本申请实施例提供了一种模块测试系统，该模块测试系统包括：

测试夹具、测试夹具板、电源、上位机、微控制单元功能板以及上述第一方面及任一项可能的实施方式所述的模块测试装置；

其中，所述测试夹具分别与所述测试夹具板、所述模块测试装置中的测试开关连接，所述模块测试装置中的测试电路与所述微控制单元功能板中的微控制单元连接，所述微控制单元与所述上位机连接，所述上位机与所述电源连接，所述电源与所述测试夹具板连接；

所述测试夹具以及所述测试夹具板为用于对模块进行测试的夹具装置，所述模块测试装置用于根据所述测试夹具的状态输出测试信号，所述测试信号经过所述微控制单元传输至所述上位机，所述上位机用于根据所述测试信号控制所述电源对所述测试夹具板供电或断电。

在一种可能的实施方式中，所述测试信号在所述测试夹具处于下压闭合状态的情况下为第一电平，所述第一电平用于指示对所述测试夹具板供电；

所述测试信号在所述测试夹具处于上抬断开状态的情况下为第二电平，所述第二电平用于指示对所述测试夹具板断电。

关于第二方面以及任一项可能的实施方式所带来的技术效果，可参考对应于第一方面以及相应的实施方式的技术效果的介绍。

第三方面，本申请实施例提供了一种终端设备，该终端设备包括上述第一方面或上述第一方面任一项可能的实施方式所述的模块测试装置，或者，上述第二方面或上述第二方面任一项可能的实施方式所述的模块测试系统。

本申请实施例，测试开关与测试夹具连接，根据测试夹具的状态闭合或断开，测试电路根据测试开关的闭合状态或断开状态输出测试信号，指示对测试夹具板供电或断电，从而可以解决模块放入测试夹具时带电操作所带来的模块损坏问题，实现模块测试全过程的自动化操作，提高模块测试安全性和测试效率。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案，下面将对本申请实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面所描述的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为一种常用的模块测试的结构示意图；

图2为本申请实施例提供的一种模块测试装置的结构示意图；

图3为本申请实施例提供的另一种模块测试装置的结构示意图；

图4为本申请实施例提供的另一种模块测试装置的结构示意图。

具体实施方式

为了使本申请的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请实施例中的附图对本申请实施例进行描述。

本申请的说明书、权利要求书及附图中的术语“第一”和“第二”等是用于区别不同对象，而不是用于描述特定顺序。此外，术语“包括”和“具有”以及它们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含。例如包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备等，没有限定于已列出的步骤或单元，而是可选地还包括没有列出的步骤或单元等，或可选地还包括对于这些过程、方法、产品或设备等固有的其它步骤或单元。

在本文中提及的“实施例”意味着，结合实施例描述的特定特征、结构或特性可以包含在本申请的至少一个实施例中。在说明书中的各个位置出现该短语并不一定均是指相同的实施例，也不是与其它实施例互斥的独立的或备选的实施例。本领域技术人员可以显式地和隐式地理解的是，本文所描述的实施例可以与其它实施例相结合。

应当理解，在本申请中，“至少一个(项)”是指一个或者多个，“多个”是指两个或两个以上，“至少两个(项)”是指两个或三个及三个以上，“和/或”，用于描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，“A和/或B”可以表示：只存在A，只存在B以及同时存在A和B三种情况，其中A，B可以是单数或者复数。字符“/”一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。“以下至少一项(个)”或其类似表达，是指这些项中的任意组合，包括单项(个)或复数项(个)的任意组合。例如，a，b或c中的至少一项(个)，可以表示：a，b，c，“a和b”，“a和c”，“b和c”，或“a和b和c”，其中a，b，c可以是单个，也可以是多个。

如背景技术部分所述，目前需要研究如何提高模块测试安全性和测试效率。本申请提供了一种模块测试装置及模块测试系统，涉及电子电力技术领域，可以解决模块放入夹具时带电操作所带来的模块损坏问题，实现模块测试全过程的自动化操作，提高模块测试安全性和测试效率。

为了更清楚地描述本申请的方案，下面先介绍一些与模块测试相关的知识。

测试夹具：测试模块制作的测试装备，包含机械结构，由夹具板等组成。

测试夹具板：制作用于测试模块的成品印刷电路板装配(printed circuit boardassembly，PCBA)，PCBA指的是PCB元器件。

模块：一般用于其他设备上承担某项特定功能，例如，通讯模块是指用于其他设备上承担通讯功能的模块。在模块生产完成或安装在上述其他设备之前需要对其进行全面的性能测试，以保证模块的产品性能。

目前，较为常用的模块测试过程是将模块放入夹具，夹具板和模块通过PIN针连接，下压夹具，开始对模块测试；测试完成后，夹具上抬，模块和PIN针断开，取出模块完成测试。

具体可参阅图1，图1为一种常用的模块测试的结构示意图。

如图1所示，测试夹具板由电源供电，该电源具体可以是程控电源。PIN针固定在测试夹具板上，测试夹具板通过PIN针与模块连接，PIN针是连接器中用来完成电(信号)的导电(传输)的一种金属物质。

(1)、测试时，放入模块，测试夹具下压闭合，测试夹具板和模块通过PIN针连接，对模块开始测试；

(2)、测试完成，测试夹具上抬断开，模块和PIN针断开，取出模块完成测试。

但是，上述模块测试过程中可能存在以下问题：

(1)、程控电源上电之后，放入模块，存在带电操作的情况，虽然电压较低，模块有静电阻抗器(electro-static discharge，ESD)等器件保护，但仍会有损坏模块的风险，模块测试安全性低；

(2)、模块放入后，再开启程控电源供电，待完成模块测试后，关闭程控电源供电，再取出模块，虽然测试安全性高，但该过程均需要手动控制程控电源对测试夹具板的供电或断电，模块测试效率低。

基于目前模块测试过程中测试安全性和测试效率较低的技术问题，本申请提出了一种新的模块测试装置及模块测试系统，通过本申请中的模块测试装置和模块测试系统，可以解决模块放入夹具时带电操作所带来的模块损坏问题，实现模块测试全过程的自动化操作，提高模块测试安全性和测试效率。

下面结合本申请实施例中的附图对本申请实施例提供的模块测试装置和模块测试系统进行描述。

请参阅图2，图2为本申请实施例提供的一种模块测试装置的结构示意图。

如图2所示，模块测试装置包括测试开关以及测试电路。

在一些可能的实施例中，测试开关以及测试电路的连接关系如下：

测试开关的第一端口与测试夹具连接，测试开关的第二端口与测试电路的第一端口连接，测试电路的第二端口与微控制单元(micro control unit，MCU)连接，MCU与上位机连接。其中，测试电路和MCU可以集成于MCU功能板上，该MCU功能板还可以通过板对板(board to board，BTB)连接器与测试夹具板连接，从而获取测试夹具板的状态信息。

此外，测试夹具、测试夹具板、模块、电源的连接关系可以与上述图1中的连接关系一致，此处不再赘述。

在一些可能的实施例中，测试开关以及测试电路的功能如下：

测试开关通过与测试夹具连接获取测试夹具的状态，并根据测试夹具的状态闭合或断开。其中，测试夹具的状态包括下压闭合状态和上抬断开状态，当测试夹具处于下压闭合状态时，测试开关闭合，当测试夹具处于上抬断开状态时，测试开关断开。

测试电路根据测试开关的闭合状态或断开状态输出测试信号，该测试信号经过MCU传输至上位机，用于指示上位机控制电源对测试夹具板供电或断电。其中，测试电路在测试开关处于闭合状态下输出的测试信号的电平与在测试开关处于断开状态下输出的测试信号的电平是不同的，从而可以利用电平变化的测试信号解决模块放入测试夹具时带电操作所带来的模块损坏问题，实现模块测试全过程的自动化操作，提高模块测试安全性和测试效率。

下面结合附图介绍一下测试电路的一种可能的结构。

请参阅图3，图3为本申请实施例提供的另一种模块测试装置的结构示意图。

如图3所示，测试电路包括插座J1、第一电阻R1、第二电阻R2、第三电阻R3以及开关管Q1。

在一些可能的实施例中，插座J1、第一电阻R1、第二电阻R2、第三电阻R3以及开关管Q1的连接关系如下：

插座J1的第一端口分别与第一电阻R1的第一端口、开关管Q1的第一端口连接，插座J1的第二端口与第二电阻R2的第一端口连接，插座J1的第三端口通过电子线与测试开关连接，第一电阻R1的第二端口接地，开关管Q1的第二端口接地，第二电阻R2的第二端口分别与第三电阻R3的第一端口、电源VDD连接，第三电阻R3的第二端口与开关管Q1的第三端口相接于测试点T1。此外，测试点T1与MCU连接，MCU与上位机连接。

在一些可能的实施例中，插座J1、第一电阻R1、第二电阻R2、第三电阻R3以及开关管Q1的功能如下：

第三电阻R3位于电源VDD和测试点T1之间，可以作为测试点T1的上拉电阻。

插座J1通过电子线与测试开关连接，当测试开关处于闭合状态(即短路状态)时，插座J1连接闭合，当测试开关处于断开状态(即断路状态)时，插座J1连接断开。

第一电阻R1和第二电阻R2在插座J1连接闭合时组成分压电路，提供给开关管Q1第一端口足够的电压，以保证开关管Q1导通。

开关管Q1与插座J1连接，当插座J1连接闭合时，开关管Q1导通，当插座J1连接断开时，开关管Q1断开。

测试点T1在开关管Q1导通和断开的情况下输出的测试信号的电平是变化的，该测试信号可以用于指示对测试夹具板供电或断电，实现模块测试全过程的自动化操作，提高模块测试安全性和测试效率。

在一些可能的实施例中，开关管Q1包括N型金属氧化物半导体场效应晶体管。

在一些可能的实施例中，当测试夹具下压闭合时，与测试夹具连接的测试开关闭合，此时的测试电路处于短路状态，当测试夹具上抬断开时，与测试夹具连接的测试开关断开，此时的测试电路处于断路状态。

在一些可能的实施例中，当测试开关处于闭合状态时，测试电路处于短路状态，测试电路的测试点T1输出的测试信号为第一电平，当测试开关处于断开状态时，测试电路处于断路状态，测试电路的测试点T1输出的测试信号为第二电平，其中，第一电平与第二电平不同，表示测试点T1输出的测试信号的电平是变化的，该测试信号可以用于指示对测试夹具板供电或断电，实现模块测试全过程的自动化操作，提高模块测试安全性和测试效率。

在一些可能的实施例中，第一电平为低电平，用于指示对测试夹具板供电，第二电平为高电平，用于指示对测试夹具板断电，从而解决模块放入测试夹具时带电操作所带来的模块损坏问题，实现模块测试全过程的自动化操作。

在一些可能的实施例中，第一电平指示在测试开关闭合后的某个时间段内对测试夹具板供电，可以满足模块的延时上电需求，从而解决模块放入测试夹具时带电操作所带来的模块损坏问题，提高模块测试安全性。

下面结合附图介绍一下测试电路的另一种可能的结构。

请参阅图4，图4为本申请实施例提供的另一种模块测试装置的结构示意图。

如图4所示，测试电路还包括第一电容C1。

在一些可能的实施例中，第一电容C1的连接关系如下：

第一电容C1的第一端口分别与插座J1的第一端口、第一电阻R1的第一端口以及开关管Q1的第一端口连接。

此外，插座J1、第一电阻R1、第二电阻R2以及开关管Q1的连接关系可以与上述图3中的连接关系一致，此处不再赘述。

在一些可能的实施例中，第一电容C1的功能如下：

第一电容C1与插座J1连接，在测试开关闭合时储能，可以用于降低开关管Q1导通快启动时过流造成的器件损伤，在测试开关断开时放能，可以用于去除开关管Q1断开时的电压抖动，通过第一电容C1可以提高测试电路的测试安全性和测试稳定性。

下面将对上述图2至图4中的任一种模块测试装置测试得到的静态测试数据进行介绍。

测试电路静态万用表和示波器的测试数据如下表一所示：

表一

下面将对上述图2至图4中的任一种模块测试装置测试得到的动态测试数据进行介绍。

测试电路动态测试指的是测试夹具工作时，利用万用表和示波器测得的动态数据，如下表二所示：表二

上述图2至图4中的任一种模块测试装置适用于各种夹具模块的测试场景，下面将介绍几个可能的测试场景。

测试场景一：

手动夹具模块的测试流程如下：

(1)、测试准备阶段：

A、测试夹具和测试夹具板制作完成，上述图2至图4中任一项的模块测试装置准备完成；

B、VDD供电，模块测试装置正常工作；

(2)、测试阶段：

A、按照要求将模块放入测试夹具；

B、手动压下测试夹具，保证模块和测试夹具板PIN针接触正常；

C、测试开关闭合，与测试电路接触良好；

(3)、自动测试：

通过测试点T1(即开关管Q1的D极)的电平从3.3V下降到0V完成自动测试，此处可以通过下降沿或者低电平检测来判断测试夹具是否处于下压闭合状态；

需要注意的是，测试夹具下压闭合即可检测到测试点T1处的电平变化，因此，需要在测试夹具下压前放入模块，此外，还可以在测试过程中根据模块性能是否正常判断模块是否正确放入。

测试场景二：

气动夹具模块的测试流程如下：

气动夹具模块的测试流程与手动夹具模块的测试流程类似，与手动夹具相比较，气动夹具差异主要是放入模块后，测试夹具可自动下压闭合，完成后续测试操作；

需要注意的是，气动夹具测试完成后会自动上抬测试夹具，整个测试夹具下压和上抬操作都在上位机控制下完成。

测试场景三：

测试夹具板延时上电实现流程如下：

(1)、根据测试点T1输出的测试信号的电平变化，可以准确判断出测试夹具下压完成；

(2)、上位机根据测试信号的电平变化信息，控制程控电源在某段时间内打开输出开关给测试夹具板供电；

(3)、测试夹具板上电后，通过PIN针完成给模块供电。

可以看出，上述测试夹具板延时上电的整个实现过程，可以通过合理设置延时时间，控制程控电源在某段时间内给测试夹具板供电，满足延时上电需求，有效完成模块测试。

本申请还提供了一种模块测试系统，该模块测试系统包括测试夹具、测试夹具板、电源、上位机、MCU功能板以及上述图2至图4中任一项所述的模块测试装置。

在一些可能的实施例中，测试夹具、测试夹具板、电源、上位机、MCU功能板以及模块测试装置的连接关系如下：

测试夹具分别与测试夹具板、模块测试装置中的测试开关连接，模块测试装置中的测试电路与MCU功能板中的MCU连接，MCU与上位机连接，上位机与电源连接，电源与测试夹具板连接；

在一些可能的实施例中，测试夹具、测试夹具板、电源、上位机、MCU功能板以及模块测试装置的功能如下：

测试夹具以及测试夹具板为用于对模块进行测试的夹具装置，模块测试装置用于根据测试夹具的状态输出测试信号，该测试信号经过MCU传输至上位机，上位机用于根据测试信号控制电源对测试夹具板供电或断电。

在一些可能的实施例中，测试信号在测试夹具处于下压闭合状态的情况下为第一电平，第一电平用于指示对测试夹具板供电；测试信号在测试夹具处于上抬断开状态的情况下为第二电平，第二电平用于指示对测试夹具板断电。

其具体实现及带来的相应的技术效果可以参照上述图2至图4中的说明，此处不再赘述。

综上所述，本申请提供的模块测试装置和模块测试系统，测试开关与测试夹具连接，根据测试夹具的状态闭合或断开，测试电路根据测试开关的闭合状态或断开状态输出测试信号，指示对测试夹具板供电或断电，从而可以解决模块放入测试夹具时带电操作所带来的模块损坏问题，实现模块测试全过程的自动化操作，提高模块测试安全性和测试效率。

本申请提供了一种终端设备，该终端设备包括本申请提供的模块测试装置或模块测试系统，可以实现上述图2至图4所示的模块测试装置/模块测试系统的功能。

以上所述，仅为本申请的具体实施方式，但本申请的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本申请揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本申请的保护范围之内。因此，本申请的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。

Claims (10)

1.一种模块测试装置，其特征在于，包括：

测试开关以及测试电路；

其中，所述测试开关的第一端口与测试夹具连接，所述测试开关的第二端口与所述测试电路的第一端口连接，所述测试电路的第二端口与微控制单元连接；

所述测试开关用于根据所述测试夹具的状态闭合或断开，所述测试电路用于根据所述测试开关的闭合状态或断开状态输出测试信号，所述测试信号用于指示对测试夹具板供电或断电，所述测试夹具以及所述测试夹具板为用于对模块进行测试的夹具装置。

2.根据权利要求1所述的模块测试装置，其特征在于，所述测试电路包括：

插座、第一电阻、第二电阻、第三电阻以及开关管；

其中，所述插座的第一端口分别与所述第一电阻的第一端口、所述开关管的第一端口连接，所述插座的第二端口与所述第二电阻的第一端口连接，所述插座的第三端口通过电子线与所述测试开关连接，所述第一电阻的第二端口接地，所述开关管的第二端口接地，所述第二电阻的第二端口分别与所述第三电阻的第一端口、电源连接，所述第三电阻的第二端口与所述开关管的第三端口相接于测试点；

所述开关管在所述测试开关处于闭合状态时导通，所述开关管在所述测试开关处于断开状态时断开，所述测试点用于输出所述测试信号。

3.根据权利要求2所述的模块测试装置，其特征在于，所述测试电路还包括：

第一电容；

其中，所述第一电容的第一端口分别与所述插座的第一端口、所述第一电阻的第一端口以及所述开关管的第一端口连接；

所述第一电容在所述测试开关闭合时储能，所述第一电容在所述测试开关断开时放能。

4.根据权利要求2或3所述的模块测试装置，其特征在于，所述开关管包括N型金属氧化物半导体场效应晶体管。

5.根据权利要求1至3中任一项所述的模块测试装置，其特征在于，所述测试开关在所述测试夹具处于下压闭合状态的情况下闭合，所述测试电路处于短路状态；所述测试开关在所述测试夹具处于上抬断开状态的情况下断开，所述测试电路处于断路状态。

6.根据权利要求1至3中任一项所述的模块测试装置，其特征在于，所述测试信号在所述测试开关处于闭合状态的情况下为第一电平，所述测试信号在所述测试开关处于断开状态的情况下为第二电平，所述第一电平和所述第二电平不同。

7.根据权利要求6所述的模块测试装置，其特征在于，所述第一电平用于指示对所述测试夹具板供电，所述第二电平用于指示对所述测试夹具板断电。

8.根据权利要求6所述的模块测试装置，其特征在于，所述第一电平用于指示在所述测试开关处于闭合状态后的第一时间段内对所述测试夹具板供电。

9.一种模块测试系统，其特征在于，包括：

测试夹具、测试夹具板、电源、上位机、微控制单元功能板以及权利要求1至8中任一项所述的模块测试装置；

其中，所述测试夹具分别与所述测试夹具板、所述模块测试装置中的测试开关连接，所述模块测试装置中的测试电路与所述微控制单元功能板中的微控制单元连接，所述微控制单元与所述上位机连接，所述上位机与所述电源连接，所述电源与所述测试夹具板连接；

所述测试夹具以及所述测试夹具板为用于对模块进行测试的夹具装置，所述模块测试装置用于根据所述测试夹具的状态输出测试信号，所述测试信号经过所述微控制单元传输至所述上位机，所述上位机用于根据所述测试信号控制所述电源对所述测试夹具板供电或断电。

10.根据权利要求9所述的模块测试系统，其特征在于，所述测试信号在所述测试夹具处于下压闭合状态的情况下为第一电平，所述第一电平用于指示对所述测试夹具板供电；

所述测试信号在所述测试夹具处于上抬断开状态的情况下为第二电平，所述第二电平用于指示对所述测试夹具板断电。

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