CN217111845U - 一种用于芯片封装支架缺陷的检测装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种用于芯片封装支架缺陷的检测装置，包括底板，所述底板的顶部固定连接有支撑板，所述支撑板的表面固定连接有固定板，所述固定板的底部贯穿连接有插杆，所述插杆的底部安装有液压缸，所述液压缸的底部安装有检测头，所述固定板的顶部开设有多个插孔，所述插杆与插孔贯穿连接，所述固定板的顶部设置有螺纹环，所述插杆的表面开设有螺纹槽。本实用新型通过插杆、固定板、插孔和螺纹环之间的配合下，使得装置在进行使用的时候，可以有效的根据需要调节液压缸和检测头的位置，从而使得在对材料的表面进行检测的时候，可以根据需要调节对其不同的位置进行检测，进而使得装置在进行检测的时候，检测起来更加方便轻松。

Description

一种用于芯片封装支架缺陷的检测装置

技术领域

本实用新型涉及检测设备相关技术领域，具体为一种用于芯片封装支架缺陷的检测装置。

背景技术

集成电路或称为微芯片、晶片和芯片，在电子学中是一种将电路(主要包括半导体设备，也包括被动组件等)小型化的方式，并时常制造在半导体晶圆表面上，检测设备有很多种类，工厂常用的检测设备有很多，包括测量设备卡尺、天平、打点机等，另外还有质量检测分析仪器，材质检测、包装检测设备等也是常见的检测设备。在包装环节中比较常见的有包装材料检测仪、金属检测设备、非金属检测设备以及无损检测设备等，在对芯片封装的时候，需要对其支架情况进行检测，在对其进行检测的时候，需要用到检测装置。

但是现有的装置在技术还存在以下缺点：

1、现有的，在进行检测的时候，不便根据材料的情况对其检测头的位置进行调节，导致在进行检测的时候，导致部分位置检测不到的情况发生，影响检测的效果；

2、现有的，在对材料进行检测的时候，不便对材料进行夹持固定，导致材料在进行加工的时候，因为晃动，从而影响检测的准备。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种用于芯片封装支架缺陷的检测装置，以解决上述不便根据材料的情况对其检测头的位置进行调节和不便对材料进行夹持固定提出的问题。

为了解决上述技术问题，本实用新型提供如下技术方案：一种用于芯片封装支架缺陷的检测装置，包括底板，所述底板的顶部固定连接有支撑板，所述支撑板的表面固定连接有固定板，所述固定板的底部贯穿连接有插杆，所述插杆的底部安装有液压缸，所述液压缸的底部安装有检测头，所述固定板的顶部开设有多个插孔，所述插杆与插孔贯穿连接，所述固定板的顶部设置有螺纹环，所述插杆的表面开设有螺纹槽，所述螺纹环和螺纹槽螺纹连接。

进一步的，所述底板的顶部分别固定连接有第一夹持组件和第二夹持组件，所述第一夹持组件和第二夹持组件位于同一水平位置。

进一步的，所述第一夹持组件包括第一安装板，所述第一安装板的底部与底板固定连接所述第一安装板的侧边螺纹连接有螺纹杆，所述螺纹杆的端部通过轴承转动连接有第一夹持板，所述第一夹持板的底部与底板的顶部滑动连接。

进一步的，所述第二夹持组件包括第二安装板，所述第二安装板的底部与底板固定连接，所述第二安装板的侧边固定连接有夹持弹簧，所述夹持弹簧的端部固定连接有第二夹持板。

进一步的，所述第一安装板的侧边固定连接有螺纹套，所述第一安装板通过螺纹套与螺纹杆螺纹连接。

进一步的，所述第二安装板的侧边固定连接有伸缩杆，所述伸缩杆的端部与第二夹持板固定连接。

与现有技术相比，本实用新型所达到的有益效果是：

(1)本实用新型通过插杆、固定板、插孔和螺纹环之间的配合下，使得装置在进行使用的时候，可以有效的根据需要调节液压缸和检测头的位置，从而使得在对材料的表面进行检测的时候，可以根据需要调节对其不同的位置进行检测，进而使得装置在进行检测的时候，检测起来更加方便轻松。

(2)本实用新型通过第一夹持组件和第二夹持组件之间的配合下，使得装置在进行使用的时候，可以有效的对材料起到夹持固定的作用，进而保证了材料在进行加工时加工的效果，避免了因材料发生晃动，从而与装置发生脱离，进而影响检测的准确。

附图说明

附图用来提供对本实用新型的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本实用新型的实施例一起用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的限制。在附图中：

图1是本实用新型结构示意图；

图2是本实用新型夹持机构结构示意图；

图3是本实用新型图1中A区域放大示意图。

图中：1、底板；2、支撑板；3、固定板；4、插杆；5、液压缸；6、检测头；7、插孔；8、螺纹环；9、第一夹持组件；91、第一安装板；92、螺纹杆；93、第一夹持板；94、螺纹套；10、螺纹槽；11、第二夹持组件；111、第二安装板；112、夹持弹簧；113、第二夹持板；114、伸缩杆。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

请参阅图1-3，本实用新型提供技术方案：一种用于芯片封装支架缺陷的检测装置，包括底板1，底板1的顶部固定连接有支撑板2，支撑板2的表面固定连接有固定板3，固定板3的底部贯穿连接有插杆4，插杆4的底部安装有液压缸5，液压缸5的底部安装有检测头6，固定板3的顶部开设有多个插孔7，插杆4与插孔7贯穿连接，固定板3的顶部设置有螺纹环8，插杆4的表面开设有螺纹槽10，螺纹环8和螺纹槽10螺纹连接，装置在进行使用的时候，通过设置的液压缸5方便对检测头6的驱动，通过设置的支撑板2起到支撑的作用，通过设置的固定板3方便对插杆4的固定和限位，通过设置的螺纹环8和螺纹槽10的螺纹连接，使得插杆4在插入到固定板3的顶部后，可以起到固定支撑的作用。

具体的，底板1的顶部分别固定连接有第一夹持组件9和第二夹持组件11，第一夹持组件9和第二夹持组件11位于同一水平位置，通过设置的第一夹持组件9起到硬性夹持的作用，通过设置的第二夹持组件11起到弹性夹持的作用。

具体的，第一夹持组件9包括第一安装板91，第一安装板91的底部与底板1固定连接第一安装板91的侧边螺纹连接有螺纹杆92，螺纹杆92的端部通过轴承转动连接有第一夹持板93，第一夹持板93的底部与底板1的顶部滑动连接，通过设置的第一安装板91起到对螺纹杆92进行限位和支撑的作用，通过设置的第一夹持板93的底部与底板1的顶部滑动连接，进而保证了第一夹持板93不会随着螺纹杆92的转动而发生转动。

具体的，第二夹持组件11包括第二安装板111，第二安装板111的底部与底板1固定连接，第二安装板111的侧边固定连接有夹持弹簧112，夹持弹簧112的端部固定连接有第二夹持板113，通过设置的夹持弹簧112的回弹力有效的达到弹性夹持的作用，通过设置的第二安装板111方便与底板1进行固定。

具体的，第一安装板91的侧边固定连接有螺纹套94，第一安装板91通过螺纹套94与螺纹杆92螺纹连接，通过设置的螺纹套94起到固定的作用，保证了螺纹杆92在进行调节后可以进行固定和限位。

具体的，第二安装板111的侧边固定连接有伸缩杆114，伸缩杆114的端部与第二夹持板113固定连接，在进行使用的时候，通过设置的伸缩杆114起到支撑导向的作用，从而保证了第二夹持板113移动的稳定。

本实用新型的工作原理：装置在进行使用的时候，通过将材料放置到底板1的顶部，然后通过第一夹持组件9和第二夹持组件11的配合对其进行夹持固定，在进行夹持固定的时候，通过转动螺纹杆92带动第一夹持板93发生移动，从而达到对材料进行夹持的时候，根据材料的大小调节夹持距离的作用，在进行夹持后，通过设置的夹持弹簧112的回弹力对第二夹持板113进行推动，从而达到弹性夹持的作用，在保证了对材料的固定效果的同时，也不会导致材料因为夹持力度过大出现损坏的情况发生，在对材料进行检测的时候，可以根据材料需要检测的位置对插杆4进行调节，在进行调节的时候，通过将插杆4插入到不同位置的插孔7中，然后通过螺纹环8和螺纹槽10进行螺纹连接，从而达到将插杆4悬挂在固定板3处的作用，然后在进行检测的时候，通过启动液压缸5带动检测头6进行移动，从而对材料进行施压，以便于对其抗压能力进行检测。

需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。

最后应说明的是：以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已，并不用于限制本实用新型，尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换。凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (6)

1.一种用于芯片封装支架缺陷的检测装置，其特征在于：包括底板(1)，所述底板(1)的顶部固定连接有支撑板(2)，所述支撑板(2)的表面固定连接有固定板(3)，所述固定板(3)的底部贯穿连接有插杆(4)，所述插杆(4)的底部安装有液压缸(5)，所述液压缸(5)的底部安装有检测头(6)，所述固定板(3)的顶部开设有多个插孔(7)，所述插杆(4)与插孔(7)贯穿连接，所述固定板(3)的顶部设置有螺纹环(8)，所述插杆(4)的表面开设有螺纹槽(10)，所述螺纹环(8)和螺纹槽(10)螺纹连接。

2.根据权利要求1所述的一种用于芯片封装支架缺陷的检测装置，其特征在于：所述底板(1)的顶部分别固定连接有第一夹持组件(9)和第二夹持组件(11)，所述第一夹持组件(9)和第二夹持组件(11)位于同一水平位置。

3.根据权利要求2所述的一种用于芯片封装支架缺陷的检测装置，其特征在于：所述第一夹持组件(9)包括第一安装板(91)，所述第一安装板(91)的底部与底板(1)固定连接所述第一安装板(91)的侧边螺纹连接有螺纹杆(92)，所述螺纹杆(92)的端部通过轴承转动连接有第一夹持板(93)，所述第一夹持板(93)的底部与底板(1)的顶部滑动连接。

4.根据权利要求2所述的一种用于芯片封装支架缺陷的检测装置，其特征在于：所述第二夹持组件(11)包括第二安装板(111)，所述第二安装板(111)的底部与底板(1)固定连接，所述第二安装板(111)的侧边固定连接有夹持弹簧(112)，所述夹持弹簧(112)的端部固定连接有第二夹持板(113)。

5.根据权利要求3所述的一种用于芯片封装支架缺陷的检测装置，其特征在于：所述第一安装板(91)的侧边固定连接有螺纹套(94)，所述第一安装板(91)通过螺纹套(94)与螺纹杆(92)螺纹连接。

6.根据权利要求4所述的一种用于芯片封装支架缺陷的检测装置，其特征在于：所述第二安装板(111)的侧边固定连接有伸缩杆(114)，所述伸缩杆(114)的端部与第二夹持板(113)固定连接。

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