CN216979190U - 一种测试治具及测试系统 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及测试治具技术领域，公开一种测试治具及测试系统。测试治具包括控制器、电源开关电路及设备开关电路，电源开关电路包括第一光耦隔离电路与第一开关电路，第一光耦隔离电路响应所述控制器发送的第一驱动信号，控制第一开关电路的通断，以控制电子设备的电源供应；设备开关电路包括第二光耦隔离电路与第二开关电路，第二光耦隔离电路响应控制器发送的第二驱动信号，控制第二开关电路的通断，以控制电子设备的开关机状态。由于各个光耦隔离电路能够隔离诸如强电压等干扰信号，测试治具能够可靠地控制对应开关电路的工作状态，从而更加可靠地对电子设备进行测试。

Description

一种测试治具及测试系统

技术领域

本实用新型涉及测试治具技术领域，尤其涉及一种测试治具及测试系统。

背景技术

通常，电子设备出厂前都需要测试，尤其需要测试电子设备的开关机性能。测试治具能够自动化测试电子设备的开关机性能，减少人为干预，提供测试准确性。

现有测试治具包括中控器与继电器，继电器分别与电子设备和市电电源电连接，中控器通过控制继电器的通断，以控制电子设备的开关机状态。然而，当外部电源不稳定时，例如外部电源突然增加，此类现象比较容易损坏继电器，从而降低测试治具的工作可靠性。

实用新型内容

为了解决上述技术问题，本实用新型实施例的一个目的旨在提供一种测试治具及测试系统，用于解决现有技术存在的缺陷。

本实用新型实施例解决其技术问题采用以下技术方案：

一种测试治具，包括：

控制器；

电源开关电路，包括第一光耦隔离电路与第一开关电路，所述第一光耦隔离电路分别与所述第一开关电路和所述控制器电连接，所述第一开关电路用于电连接电子设备，所述第一光耦隔离电路响应所述控制器发送的第一驱动信号，控制所述第一开关电路的通断，以控制所述电子设备的电源供应；

设备开关电路，包括第二光耦隔离电路与第二开关电路，所述第二光耦隔离电路与所述第二开关电路连接，所述第二开关电路用于电连接电子设备，所述第二光耦隔离电路响应所述控制器发送的第二驱动信号，控制所述第二开关电路的通断，以控制所述电子设备的开关机状态。

可选地，所述第一光耦隔离电路包括：

第一限流分压电路；

第一光耦，所述第一光耦的原边分别与所述第一限流分压电路和所述控制器电连接，所述第一光耦的副边与所述第一开关电路电连接，所述第一光耦响应所述控制器发送的第一驱动信号，控制所述第一开关电路的通断。

可选地，所述第一光耦隔离电路还包括第二限流分压电路，所述第二限流分压电路电连接在所述第一光耦的原边与所述控制器之间。

可选地，所述第一开关电路包括第一开关与第二开关，所述第一开关分别与所述第一光耦隔离电路和所述第二开关电连接，当所述第一光耦隔离电路控制所述第一开关导通时，所述第一开关触发所述第二开关导通，市电电源通过所述第二开关供应给所述电子设备，当所述第一光耦隔离电路控制所述第一开关断开时，所述第一开关触发所述第二开关断开，所述第二开关断开所述电子设备的电源供应。

可选地，所述第一开关为第一NPN三极管，所述第一NPN三极管的基极与所述第一光耦隔离电路电连接，发射极接地；

所述第二开关为第一继电器，所述第一继电器包括第一线圈与第一继电动作组件，所述第一线圈一端用于与系统电源电连接，所述第一线圈另一端与所述第一NPN三极管的集电极电连接，所述市电电源与所述电子设备用于串联在所述第一继电动作组件的两个触点之间。

可选地，所述第二光耦隔离电路包括：

第三限流分压电路；

第二光耦，所述第二光耦的原边分别与所述第三限流分压电路和所述控制器电连接，所述第二光耦的副边与所述第二开关电路电连接，所述第二光耦响应所述控制器发送的第二驱动信号，控制所述第二开关电路的通断。

可选地，所述第二开关电路包括第三开关与第四开关，所述第三开关分别与所述第二光耦隔离电路和所述第四开关电连接，当所述第二光耦隔离电路控制所述第三开关导通时，所述第三开关触发所述第四开关导通以控制所述电子设备处于开机状态，当所述第二光耦隔离电路控制所述第三开关断开时，所述第三开关触发所述第四开关断开以控制所述电子设备处于关机状态。

可选地，所述第三开关为第二NPN三极管，所述第二NPN三极管的基极与所述第二光耦隔离电路电连接，发射极接地；

所述第四开关为第二继电器，所述第二继电器包括第二线圈与第二继电动作组件，所述第二线圈一端与系统电源电连接，所述第二线圈另一端与所述第二NPN三极管的集电极电连接，所述电子设备的开关按钮用于电连接在所述第二继电动作组件的两个触点之间。

可选地，所述控制器设有USB端口，所述USB端口用于电连接所述电子设备。

本实用新型实施例解决其技术问题采用以下技术方案：

一种测试系统，包括：

电子设备，包括显示屏；

摄像模组，与所述电子设备电连接，用于拍摄所述显示屏的屏幕画面；

上述的测试治具，分别与所述电子设备和所述摄像模组电连接。

与现有技术相比较，在本实用新型实施例的测试治具中，电源开关电路包括第一光耦隔离电路与第一开关电路，第一光耦隔离电路分别与第一开关电路和控制器电连接，第一开关电路用于电连接电子设备，第一光耦隔离电路响应控制器发送的第一驱动信号，控制第一开关电路的通断，以控制电子设备的电源供应；设备开关电路包括第二光耦隔离电路与第二开关电路，第二光耦隔离电路与第二开关电路连接，第二开关电路用于电连接电子设备，第二光耦隔离电路响应控制器发送的第二驱动信号，控制第二开关电路的通断，以控制电子设备的开关机状态。由于各个光耦隔离电路能够隔离诸如强电压等干扰信号，测试治具能够可靠地控制对应开关电路的工作状态，从而更加可靠地对电子设备进行测试。

附图说明

一个或多个实施例通过与之对应的附图中的图片进行示例性说明，这些示例性说明并不构成对实施例的限定，附图中具有相同参考数字标号的元件表示为类似的元件，除非有特别申明，附图中的图不构成比例限制。

图1为本实用新型实施例提供的一种测试系统的结构示意图；

图2为本实用新型实施例提供的一种测试治具的电路结构示意图；

图3为本实用新型另一实施例提供的一种测试治具的电路结构示意图；

图4为本实用新型再一实施例提供的一种测试治具的电路结构示意图。

具体实施方式

为了便于理解本实用新型，下面结合附图和具体实施例，对本实用新型进行更详细的说明。需要说明的是，当元件被表述“固定于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上、或者其间可以存在一个或多个居中的元件。当一个元件被表述“电连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件、或者其间可以存在一个或多个居中的元件。本说明书所使用的术语“上”、“下”、“内”、“外”、“底部”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。此外，术语“第一”、“第二”“第三”等仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。

除非另有定义，本说明书所使用的所有的技术和科学术语与属于本实用新型的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。在本实用新型的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是用于限制本实用新型。本说明书所使用的术语“和/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。

此外，下面所描述的本实用新型不同实施例中所涉及的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互结合。

本实用新型实施例提供一种测试系统，请参阅图1，测试系统100包括电子设备200、摄像模组300及测试治具400，测试治具400分别与电子设备200 和摄像模组300电连接。

电子设备200包括显示屏，其中，测试时，电子设备200可以控制显示屏呈现任意合适测试图像，例如，测试图像为二维码或者条形码或者其它图片。测试图像由用户预先配置在电子设备200中，测试时，电子设备200调取测试图像，并将测试图像呈现在显示屏中，例如，开机时，电子设备200 将测试图像呈现在显示屏的屏幕最前端，从而防止测试图像被其它Windows 程序遮挡。

当显示屏的显示功能或者电子设备200的显示操作功能为正常的，显示屏可以呈现测试图像。当显示屏的显示功能或者电子设备200的显示操作功能为异常的，显示屏呈现不出测试图像。

在一些实施例中，电子设备200包括台式电脑、笔记本电脑、平板电脑、智能手机、智能手表等智能终端。

摄像模组300用于拍摄显示屏的屏幕画面，得到拍摄图像，如前所述，当显示屏可以呈现测试图像，则拍摄图像可以包括测试图像对应的区域，当显示屏呈现不出测试图像，则拍摄图像未能够包括测试图像对应的区域，例如，此时拍摄图像为黑色屏幕画面的图像。

举例而言，测试图像为预设二维码图像，摄像模组300扫描显示屏的屏幕画面，得到视频流，并将视频流发送给电子设备200，电子设备200使用 AForge图像库解析视频流，得到若干帧拍摄图像。接着，电子设备200用ZXing 解码库进行二维码解析，判断拍摄图像是否存在预设二维码图像，若存在，电子设备200向测试治具400发送指令，并且电子设备200开始进入关机状态，测试治具400根据指令，切断电子设备200的电源供应，并且延时预设时长后，测试治具400恢复电子设备200的电源供应，并控制电子设备200 进入开机状态，从而进入新的测试过程。若不存在，电子设备200将测试异常结果记录在本地日志文件中，并保持在显示屏的屏幕显示异常状态，另外电子设备200还停止发送指令给测试治具400，以便测试人员分析异常原因。

测试治具400用于断开或恢复电子设备200的电源供应，以及控制电子设备200的开关机状态。

请参阅图2，测试治具400包括控制器41、电源开关电路42及设备开关电路43。

控制器41为测试治具400的控制核心，用于控制测试治具400的工作状态，在测试系统100中，控制器41与电子设备200电连接，电子设备200可以向控制器41发送指令，控制器41根据指令，控制电源开关电路42。

在一些实施例中，控制器41可以为通用处理器、数字信号处理器(DSP)、专用集成电路(ASIC)、现场可编程门阵列(FPGA)、单片机、ARM(Acorn RISC Machine)或其它可编程逻辑器件、分立门或晶体管逻辑、分立的硬件组件或者这些部件的任何组合。还有，控制器41还可以是任何传统处理器、控制器、微控制器或状态机。控制器41也可以被实现为计算设备的组合，例如，DSP和微处理器的组合、多个微处理器、一个或多个微处理器结合DSP核、或任何其它这种配置。

电源开关电路42包括第一光耦隔离电路421与第一开关电路422，第一光耦隔离电路421分别与第一开关电路422和控制器41电连接，第一开关电路422用于电连接电子设备200，第一光耦隔离电路421响应控制器41发送的第一驱动信号，控制第一开关电路422的通断，以控制电子设备200的电源供应。

当第一驱动信号为低电平时，第一光耦隔离电路421触发第一开关电路 422工作在导通状态，市电电源通过第一开关电路422施加给电子设备200，从而完成电子设备200的电源供应。其中，第一光耦隔离电路421能够将外部电源作光耦隔离处理，形成属于弱电类型的开关信号以触发第一开关电路 422，期间即使外部电源出现波动。

举例而言，外部电源突然变大，第一光耦隔离电路421能够将较大的外部电源作隔离，将属于强电类型的外部电源转换成属于弱电类型的开关信号，从而过滤掉一些杂波信号等干扰信号，保证开关信号不会过于波动，进而能够可靠稳定地控制第一开光电路422的工作状态。另外，由于开关信号属于弱电类型的信号，避免现有技术的开关信号过大而损坏第一开关电路422，从而提高测试治具400的使用寿命。

当第一驱动信号为高电平时，第一光耦隔离电路421因无法触发第一开关电路422工作而使得第一开关电路422处于断开状态，市电电源无法通过第一开关电路422施加给电子设备200，亦即处于断开状态的第一开关电路 422可以断开电子设备200的电源供应。

当电子设备200获得电源供应，后续测试治具400可以控制电子设备200 的开关机状态。

可以理解的是，可以合适设计第一光耦隔离电路421与第一开关电路422 的电路结构，使得当第一驱动信号为高电平时，第一光耦隔离电路421触发第一开关电路422工作在导通状态，当第一驱动信号为低电平时，第一开关电路422处于断开状态。

设备开关电路43包括第二光耦隔离电路431与第二开关电路432，第二光耦隔离电路431与第二开关电路432连接，第二开关电路432用于电连接电子设备200，第二光耦隔离电路431响应控制器41发送的第二驱动信号，控制第二开关电路432的通断，以控制电子设备200的开关机状态。其中，第二光耦隔离电路431的工作原理与第一光耦隔离电路421的工作原理相同，在此不赘述。

当第二驱动信号为低电平时，第二光耦隔离电路431触发第二开关电路 432工作在导通状态，于是，电子设备200被设置在开机状态。

当第二驱动信号为高电平时，第二光耦隔离电路431因无法触发第二开关电路432工作而使得第二开关电路432处于断开状态，于是，电子设备200 被设置在关机状态。

可以理解的是，可以合适设计第二光耦隔离电路431与第二开关电路432 的电路结构，使得当第二驱动信号为高电平时，第二光耦隔离电路431触发第二开关电路432工作在导通状态，当第二驱动信号为低电平时，第二开关电路432处于断开状态。

如前所述，由于各个光耦隔离电路能够隔离诸如强电压等干扰信号，测试治具400能够可靠地控制对应开关电路的工作状态，从而更加可靠地对电子设备200进行测试。

在一些实施例中，请参阅图3，第一光耦隔离电路421包括第一限流分压电路4211与第一光耦4212。

第一限流分压电路4211用于对外部电源作限流分压处理，从而为第一光耦4212提供合适电流和电压，以保护第一光耦4212。

第一光耦4212的原边分别与第一限流分压电路4211和控制器41电连接，第一光耦4212的副边与第一开关电路422电连接，第一光耦4212响应控制器41发送的第一驱动信号，控制第一开关电路422的通断。

举例而言，请结合图4，第一限流分压电路4211为第一电阻R1，第一电阻R1一端被施加外部电源44，另一端与第一光耦4212的二极管正极电连接，二极管负极与控制器41电连接，当第一驱动信号为低电平时，亦即控制器41 的第一驱动引脚411被设置在低电平状态，于是，第一光耦4212的原边导通，副边的三极管也导通，电压值为12伏的系统电源45通过第二电阻R2施加给第一开关电路422，第一开关电路422导通。市电电源46与电子设备200形成回路，其中，在图4中，电子设备200插在插座47上。

当第一驱动信号为高电平时，亦即，控制器41的第一驱动引脚411被设置在高电平状态，第一光耦4212的原边不能导通，第一光耦4212处于断开状态，第一开关电路422也处于断开状态，市电电源46未能够与电子设备200 形成回路，电子设备200处于关机状态。

在一些实施例中，请继续参阅图3，第一光耦隔离电路421还包括第二限流分压电路4213，第二限流分压电路4213电连接在第一光耦4212的原边与控制器41之间。第二限流分压电路4213用于对外部电源作限流分压处理，从而为第一光耦4212提供合适电流和电压，以更加可靠地保护第一光耦4212。

请参阅图4，第二限流分压电路4213为第二电阻R2，第二电阻R2电连接在第一光耦4212的原边与控制器41之间。

在一些实施例中，请继续参阅图3，第一开关电路422包括第一开关4221 与第二开关4222，第一开关4221分别与第一光耦隔离电路421和第二开关 4222电连接，当第一光耦隔离电路421控制第一开关4221导通时，第一开关 4221触发第二开关4222导通，市电电源46通过第二开关4222供应给电子设备200，当第一光耦隔离电路421控制第一开关4221断开时，第一开关4221 触发第二开关4222断开，第二开关4222断开电子设备200的电源供应。采用双开关控制电路，第一开关4221与第二开关4222能够双重可靠控制电子设备200的电源供应。

请结合图4，在一些实施例中，第一开关4221为第一NPN三极管Q1，第一NPN三极管Q1的基极与第一光耦隔离电路421电连接，发射极接地。第二开关4222为第一继电器KM1，第一继电器KM2包括第一线圈与第一继电动作组件，第一线圈一端用于与系统电源45电连接，第一线圈另一端与第一NPN三极管Q1的集电极电连接，市电电源46与电子设备200用于串联在第一继电动作组件的两个触点之间。在本实施例中，当第一线圈通电时，第一继电动作组件执行闭合动作，使得第一继电器KM1闭合。当第一线圈未通电时，第一继电动作组件执行打开动作，使得第一继电器KM1打开。

在一些实施例中，第一开关电路422还包括第三电阻R3，第三电阻R3 电连接在第一光耦隔离电路421与第一NPN三极管Q1的基极之间，第三电阻R3用于限制第一NPN三极管Q1的基极电流，以保护第一NPN三极管Q1。

如前所述，当第一驱动信号为低电平时，系统电源通过第三电阻R3施加给第一NPN三极管Q1，第一NPN三极管Q1导通。当第一NPN三极管Q1 导通，系统电源45与第一继电器KM1的第一线圈形成回路，于是第一继电动作组件执行闭合动作，使得第一继电器KM1闭合。市电电源46通过第一继电器KM2与电子设备200形成回路。

当第一驱动信号为高电平时，由于第一NPN三极管Q1处于断开状态。系统电源45与第一继电器KM2的第一线圈未能够形成回路，第一继电器KM2 打开。系统电源45与第一继电器KM1的第一线圈无法形成回路，市电电源 46无法通过第一继电器KM1与电子设备200形成回路。

第一NPN三极管Q1作为电子开关管，利用电子开关管触发第一继电器 KM2动作，有利于提高测试效率。另外利用了继电器的隔离特性，有利于提高整机的抗干扰能力。

在一些实施例中，请继续参阅图3，第二光耦隔离电路431包括第三限流分压电路4311与第二光耦4312，第二光耦4312的原边分别与第三限流分压电路4311和控制器41电连接，第二光耦4312的副边与第二开关电路432电连接，第二光耦4312响应控制器41发送的第二驱动信号，控制第二开关电路432的通断。

举例而言，请结合图4，第三限流分压电路4311为第四电阻R4，第四电阻R4一端被施加外部电源44，另一端与第二光耦4312的二极管正极电连接，二极管负极与控制器41电连接，当第二驱动信号为低电平时，亦即控制器41 的第二驱动引脚412被设置在低电平状态，于是，第二光耦4312的原边导通，副边的三极管也导通，电压值为12伏的系统电源45通过第四电阻R4施加给第二开关电路432，第二开关电路432导通，于是，电子设备200被设置在开机状态。

当第二驱动信号为高电平时，亦即，控制器41的第二驱动引脚412被设置在高电平状态，第二光耦4312的原边不能导通，第二光耦4312处于断开状态，第二开关电路432也处于断开状态，于是，电子设备200被设置在关机状态。

在一些实施例中，请继续参阅图3，第二光耦隔离电路431还包括第四限流分压电路4313，第四限流分压电路4313电连接在第二光耦4312的原边与控制器41之间。第四限流分压电路4313用于对外部电源作限流分压处理，从而为第二光耦4312提供合适电流和电压，以更加可靠地保护第二光耦4312。

请结合图4，第四限流分压电路4313为第五电阻R5，第五电阻R5电连接在第二光耦4312的原边与控制器41之间。

在一些实施例中，请继续参阅图3，第二开关电路432包括第三开关4321 与第四开关4322，第三开关4321分别与第二光耦隔离电路431和第四开关 4322电连接，当第二光耦隔离电路431控制第三开关4321导通时，第三开关 4321触发第四开关4322导通以控制电子设备200处于开机状态，当第二光耦隔离电路431控制第三开关4321断开时，第三开关4321触发第四开关4322 断开以控制所述电子设备处于关机状态。采用双开关控制电路，第三开关4321 与第四开关4322能够双重可靠控制电子设备200的电源供应。

请结合图4，在一些实施例中，第三开关4321为第二NPN三极管Q2，第二NPN三极管Q2的基极与第二光耦隔离电路431电连接，发射极接地。

第四开关4322为第二继电器KM2，第二继电器KM2包括第二线圈与第二继电动作组件，第二线圈一端与系统电源电连接，第二线圈另一端与第二 NPN三极管的集电极电连接，电子设备200的开关按钮21用于电连接在第二继电动作组件的两个触点之间。在本实施例中，当第二线圈通电时，第二继电动作组件执行闭合动作，使得第二继电器KM2闭合。当第二线圈未通电时，第二继电动作组件执行打开动作，使得第二继电器KM2打开。

在一些实施例中，第二开关电路432还包括第六电阻R6，第六电阻R6 电连接在第二光耦隔离电路431与第二NPN三极管Q2的基极之间，第五电阻R5用于限制第二NPN三极管Q3的基极电流，以保护第二NPN三极管Q2。

如前所述，当第二驱动信号为低电平时，系统电源通过第六电阻R6施加给第二NPN三极管Q2，第二NPN三极管Q2导通。当第二NPN三极管Q2 导通，系统电源45与第二继电器KM2的第二线圈形成回路，于是第二继电动作组件执行闭合动作，使得第二继电器KM2闭合，于是，电子设备200被设置在开机状态。

当第二驱动信号为高电平时，由于第二NPN三极管Q2处于断开状态。系统电源45与第二继电器KM2的第二线圈未能够形成回路，第二继电器KM2 打开。系统电源45与第二继电器KM2的第二线圈无法形成回路，于是，电子设备200被设置在关机状态。

在一些实施例中，控制器41设有USB端口413，USB端口413用于电连接电子设备200，因此，测试治具400能够与电子设备200使用USB-HID协议通信，无需安装驱动即插即用，且USB-HID协议无需设置端口号即可通信，从而提高测试治具400与电子设备200的通信效率。

最后应说明的是：以上实施例仅用以说明本实用新型的技术方案，而非对其限制；在本实用新型的思路下，以上实施例或者不同实施例中的技术特征之间也可以进行组合，步骤可以以任意顺序实现，并存在如上所述的本实用新型的不同方面的许多其它变化，为了简明，它们没有在细节中提供；尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本实用新型各实施例技术方案的范围。

Claims (10)

1.一种测试治具，其特征在于，包括：

控制器；

电源开关电路，包括第一光耦隔离电路与第一开关电路，所述第一光耦隔离电路分别与所述第一开关电路和所述控制器电连接，所述第一开关电路用于电连接电子设备，所述第一光耦隔离电路响应所述控制器发送的第一驱动信号，控制所述第一开关电路的通断，以控制所述电子设备的电源供应；

设备开关电路，包括第二光耦隔离电路与第二开关电路，所述第二光耦隔离电路与所述第二开关电路连接，所述第二开关电路用于电连接电子设备，所述第二光耦隔离电路响应所述控制器发送的第二驱动信号，控制所述第二开关电路的通断，以控制所述电子设备的开关机状态。

2.根据权利要求1所述的测试治具，其特征在于，所述第一光耦隔离电路包括：

第一限流分压电路；

第一光耦，所述第一光耦的原边分别与所述第一限流分压电路和所述控制器电连接，所述第一光耦的副边与所述第一开关电路电连接，所述第一光耦响应所述控制器发送的第一驱动信号，控制所述第一开关电路的通断。

3.根据权利要求2所述的测试治具，其特征在于，所述第一光耦隔离电路还包括第二限流分压电路，所述第二限流分压电路电连接在所述第一光耦的原边与所述控制器之间。

4.根据权利要求1所述的测试治具，其特征在于，所述第一开关电路包括第一开关与第二开关，所述第一开关分别与所述第一光耦隔离电路和所述第二开关电连接，当所述第一光耦隔离电路控制所述第一开关导通时，所述第一开关触发所述第二开关导通，市电电源通过所述第二开关供应给所述电子设备，当所述第一光耦隔离电路控制所述第一开关断开时，所述第一开关触发所述第二开关断开，所述第二开关断开所述电子设备的电源供应。

5.根据权利要求4所述的测试治具，其特征在于，

所述第一开关为第一NPN三极管，所述第一NPN三极管的基极与所述第一光耦隔离电路电连接，发射极接地；

所述第二开关为第一继电器，所述第一继电器包括第一线圈与第一继电动作组件，所述第一线圈一端用于与系统电源电连接，所述第一线圈另一端与所述第一NPN三极管的集电极电连接，所述市电电源与所述电子设备用于串联在所述第一继电动作组件的两个触点之间。

6.根据权利要求1至5任一项所述的测试治具，其特征在于，所述第二光耦隔离电路包括：

第三限流分压电路；

第二光耦，所述第二光耦的原边分别与所述第三限流分压电路和所述控制器电连接，所述第二光耦的副边与所述第二开关电路电连接，所述第二光耦响应所述控制器发送的第二驱动信号，控制所述第二开关电路的通断。

7.根据权利要求1至5任一项所述的测试治具，其特征在于，所述第二开关电路包括第三开关与第四开关，所述第三开关分别与所述第二光耦隔离电路和所述第四开关电连接，当所述第二光耦隔离电路控制所述第三开关导通时，所述第三开关触发所述第四开关导通以控制所述电子设备处于开机状态，当所述第二光耦隔离电路控制所述第三开关断开时，所述第三开关触发所述第四开关断开以控制所述电子设备处于关机状态。

8.根据权利要求7所述的测试治具，其特征在于，

所述第三开关为第二NPN三极管，所述第二NPN三极管的基极与所述第二光耦隔离电路电连接，发射极接地；

所述第四开关为第二继电器，所述第二继电器包括第二线圈与第二继电动作组件，所述第二线圈一端与系统电源电连接，所述第二线圈另一端与所述第二NPN三极管的集电极电连接，所述电子设备的开关按钮用于电连接在所述第二继电动作组件的两个触点之间。

9.根据权利要求1至5任一项所述的测试治具，其特征在于，所述控制器设有USB端口，所述USB端口用于电连接所述电子设备。

10.一种测试系统，其特征在于，包括：

电子设备，包括显示屏；

摄像模组，与所述电子设备电连接，用于拍摄所述显示屏的屏幕画面；

如权利要求1至9任一项所述的测试治具，分别与所述电子设备和所述摄像模组电连接。

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