CN216951464U - 一种少子寿命测试仪防护支撑架 - Google Patents
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Abstract
本实用新型提供一种少子寿命测试仪防护支撑架，包括：支撑板、支撑杆和可调件，所述支撑杆设置于所述支撑板的下方，用于支撑所述支撑板；所述可调件设置于所述支撑杆远离所述支撑板的一侧，用于调整支撑架的支撑高度与水平；所述支撑板被设置于少子寿命测试仪的上方；所述支撑杆被设置于所述少子寿命测试仪的侧面。本实用新型的有益效果是该支撑架结构简单，维修方便，加工成本低；通过设置独立支撑防护架，在对晶棒进行寿命检测时，减少寿命仪外壳与晶棒接触变形损坏；同时电极发光板内嵌设置，避免发光电极板受力，延长了使用寿命和更换周期，进一步节约了生产成本；尤其针对大尺寸晶棒的寿命检测，不存在放置困难或者不平稳等现象。
Description
技术领域
本实用新型属于光伏生产辅助用具领域，尤其是涉及一种少子寿命测试仪防护支撑架。
背景技术
目前进行晶棒的寿命检测过程中，厂家大多采用内嵌式支撑架，支撑能力不够，现有寿命仪支撑架承重无法满足需要，容易变形。同时发光电极板为凸出状态，测试晶棒寿命过程中容易变形损坏。在测试大尺寸(8寸以上) 晶棒时承重能力有限，同时发光电极板(直径为160mm的正方形)单独与晶棒端面接触，大直径(8寸以上)晶棒放置困难，容易压坏寿命仪外壳，并且放置不平稳。
实用新型内容
本实用新型要解决的问题是提供一种少子寿命测试仪防护支撑架，尤其适用于大尺寸晶棒的正常监测，减少少子寿命仪外壳与晶棒接触变形损坏。
为解决上述技术问题，本实用新型采用的技术方案是：一种少子寿命测试仪防护支撑架，包括：支撑板、支撑杆和可调件，所述支撑杆设置于所述支撑板的下方，用于支撑所述支撑板；
所述可调件设置于所述支撑杆远离所述支撑板的一侧，用于调整支撑架的支撑高度与水平；
所述支撑板被设置于少子寿命测试仪的上方；所述支撑杆被设置于所述少子寿命测试仪的侧面。
进一步的，所述支撑板至少设置有两层。
进一步的，所述支撑板远离所述支撑杆的一侧的一层设置为非金属层，用于避免晶棒与金属接触。
进一步的，所述非金属层为塑料材质。
进一步的，所述支撑板靠近所述支撑杆的一侧的一层设置有金属层。
进一步的，所述非金属层上开设有方形孔；所述金属层上开设有圆孔。
进一步的，所述方形孔与所述圆孔同心设置，所述方形孔与所述圆孔连通设置。
进一步的，所述圆孔的直径小于所述方形孔的边长，用于承托发光电极板。
进一步的，所述可调件上套设有压缩弹簧，所述压缩弹簧设置于所述可调件与所述支撑杆之间，用于减震。
进一步的，所述支撑架还包括：放置平台，所述放置平台平行所述支撑板设置于所述支撑杆之间，用于放置所述少子寿命测试仪。
由于采用上述技术方案，具有以下有益效果：
该支撑架结构简单，维修方便，加工成本低；通过设置独立支撑防护架，在对晶棒进行寿命检测时，减少寿命仪外壳与晶棒接触变形损坏；同时电极发光板内嵌设置，避免发光电极板受力，延长了使用寿命和更换周期，进一步节约了生产成本；尤其针对大尺寸晶棒的寿命检测，可实现正常测试，不存在放置困难或者不平稳等现象，提高了工作效率。
附图说明
图1是本实用新型一种实施例的整体结构示意图；
图2是本实用新型两种实施例的不锈钢板结构示意图；
图3是本实用新型两种实施例的PVC板结构示意图；
图4是本实用新型另一种实施例的整体结构示意图。
图中：
10、支撑板 20、支撑杆 30、可调件
40、压缩弹簧 11、PVC板 12、不锈钢板
50、放置平台
具体实施方式
下面结合实施例和附图对本实用新型作进一步说明：
在本实用新型的一种实施例中，如图1所示，一种少子寿命测试仪防护支撑架，包括：支撑板10、支撑杆20和可调件30，支撑杆20设置于支撑板10的下方，用于支撑支撑板10；可调件30设置于支撑杆20远离支撑板10的一侧，用于调整支撑架的支撑高度与水平；可调件30上套设有压缩弹簧40，压缩弹簧40设置于可调件30与支撑杆20之间，用于在支撑板10上放置晶棒时达到减震的作用。
在本实施例中，该可调件30采用可调整螺栓，可以想到，其他可以起到调整作用的结构均可。
如图1所示的本实施例中，支撑板10为矩形结构，该支撑板10的四角处各设置有一个支撑杆20，支撑板10被设置于少子寿命测试仪的上方，支撑杆20被设置于少子寿命测试仪的侧面，在进行晶棒的测试，尤其是大直径晶棒的测试时，通过可调件30调整支撑件的高度以及水平度后，将支撑架罩于少子寿命测试仪上方，将晶棒放置于支撑板10的上方，通过设置有独立的支撑架，起到支撑和防护的作用，减少了少子寿命测试仪外壳与晶棒接触的变形损坏；在本实施例中，支撑杆20可以但不限于不锈方钢。
其中，支撑板10至少设置有两层，支撑板10远离支撑杆20的一侧的一层设置为非金属层，非金属层上开设有方形孔，可以避免晶棒与金属接触。支撑板10靠近支撑杆20的一侧的一层设置有金属层，金属层上开设有圆孔。方形孔与圆孔同心设置，方形孔与圆孔连通设置，即两层以上的支撑板10 开设有将方形孔与圆孔连通的孔。该圆孔的直径小于方形孔的边长，使得发光电极板可以嵌入到方形孔中，放置单晶测试寿命时与金属接触。
在本实施例中，支撑板10共设置有两层，支撑板10远离支撑杆20的一侧设置为塑料材质，选取该非金属层为PVC板11，选取该金属层为不锈钢板12，PVC板11和不锈钢板12的尺寸相同，均取长度为530mm，宽度为 320mm，本实施例中通过螺纹孔将PVC板11和不锈钢板12进行连接；可以想到，支撑板10的尺寸可以根据所述防护的少子寿命测试仪的尺寸做适应性更改，并不限于本实施例中的具体尺寸。
具体的，如图2、图3所示中，设置PVC板11的厚度为8mm，该尺寸可以根据发光电极板的尺寸进行适应性调整，使得便于发光电极板的安装；设置不锈钢板12的厚度为10mm，便于对大尺寸的单晶可以进行测试，在受力后不会变形，不稳定影响测试结果；不锈钢板12上圆孔的直径取108mm，便于电极板下方的线路与设备连接。不锈钢板12的中心位置开设圆孔，保证发光电极板的底端可伸入；PVC板11上方形孔的边长取165mm，该尺寸可以根据发光电极板的尺寸进行适应性调整，使得便于发光电极板的安装，PVC 板的中心位置开设方形孔，保证发光电极板可内嵌到方形孔内，同时该发光电极板的上端面与PVC板11在同一水平面上，检测时，晶棒放置于发光电极板的上端面，防止晶棒使用少子寿命测试仪进行寿命检测时与金属接触，避免金属污染，影响单晶品质。
在本实用新型的另一种实施例中，如图4所示，与实施例一相比不同之处在于平行支撑板10设置于支撑杆20之间还设置有放置平台50。
如图4所示，一种少子寿命测试仪防护支撑架，包括：支撑板10、支撑杆20、可调件30和放置平台50，支撑杆20设置于支撑板10的下方，用于支撑支撑板10；可调件30设置于支撑杆20远离支撑板10的一侧，用于调整支撑架的支撑高度与水平；可调件30上套设有压缩弹簧40，压缩弹簧40设置于可调件30与支撑杆20之间，用于在支撑板10上放置晶棒时达到减震的作用；平行支撑板10设置于支撑杆20之间还设置有放置平台50，其中该放置平台50与支撑板10下端面之间的距离不小于少子寿命测试仪的高度，便于放置少子寿命测试仪。
通过放置平台50，使得少子寿命测试仪可以随同支撑架一起移动，便于移动和搬运，同时进一步保证了整体的水平度。
在本实施例中，该可调件30采用可调整螺栓，可以想到，其他可以起到调整作用的结构均可。
在本实施例中，支撑板10为矩形结构，该支撑板10的四角处各设置有一个支撑杆20，支撑板10被设置于少子寿命测试仪的上方，支撑杆20被设置于少子寿命测试仪的侧面，在进行晶棒的测试，尤其是大直径晶棒的测试时，通过可调件30调整支撑架的高度以及水平度后，将支撑架罩于少子寿命测试仪上方，将晶棒放置于支撑板10的上方，通过设置有独立的支撑架，起到支撑和防护的作用，减少了少子寿命测试仪外壳与晶棒接触的变形损坏；在本实施例中，支撑杆20可以但不限于不锈方钢。
其中，支撑板10至少设置有两层，支撑板10远离支撑杆20的一侧的一层设置为非金属层，非金属层上开设有方形孔，可以避免晶棒与金属接触。支撑板10靠近支撑杆20的一侧的一层设置有金属层，金属层上开设有圆孔。方形孔与圆孔同心设置，方形孔与圆孔连通设置，即两层以上的支撑板10 开设有将方形孔与圆孔连通的孔。该圆孔的直径小于方形孔的边长，使得发光电极板可以嵌入到方形孔中，放置单晶测试寿命时与金属接触。
在本实施例中，支撑板10共设置有两层，支撑板10远离支撑杆20的一侧设置为塑料材质，选取该非金属层为PVC板11，选取该金属层为不锈钢板12，PVC板11和不锈钢板12的尺寸相同，均取长度为530mm，宽度为 320mm，本实施例中通过螺纹孔将PVC板11和不锈钢板12进行连接；可以想到，支撑板10的尺寸可以根据所述防护的少子寿命测试仪的尺寸做适应性更改，并不限于本实施例中的具体尺寸。
具体的，如图2、图3所示中，设置PVC板11的厚度为8mm，该尺寸可以根据发光电极板的尺寸进行适应性调整，使得便于发光电极板的安装；设置不锈钢板12的厚度为10mm，便于对大尺寸的单晶可以进行测试，在受力后不会变形，不稳定影响测试结果；不锈钢板12上圆孔的直径取108mm，便于电极板下方的线路与设备连接。不锈钢板12的中心位置开设圆孔，保证发光电极板的底端可伸入；PVC板11上方形孔的边长取165mm，该尺寸可以根据发光电极板的尺寸进行适应性调整，使得便于发光电极板的安装，PVC 板的中心位置开设方形孔，保证发光电极板可内嵌到方形孔内，同时该发光电极板的上端面与PVC板11在同一水平面上，检测时，晶棒放置于发光电极板的上端面，防止晶棒使用少子寿命测试仪进行寿命检测时与金属接触，避免金属污染，影响单晶品质。
本实用新型的两种实施例的工作过程：
直接将少子寿命测试仪放置于操作平台上，支撑架直接罩设于少子寿命测试仪的上方；或将少子寿命测试仪放置于放置平台50，将整个支撑架放置于操作平台上，通过调节可调件30适当调节高度，保证支撑板10水平，同时将发光电极板置入方形孔中，保证发光电极板可内嵌到孔内，同时与 PVC板11的上端面在同一水平面，放置单晶测试寿命时与金属接触，发光电极板的底端伸入圆孔中；将晶棒放置于发光电极板上，直接进行晶棒的寿命测试。
以上对本实用新型的实施例进行了详细说明，但所述内容仅为本实用新型的较佳实施例，不能被认为用于限定本实用新型的实施范围。凡依本实用新型申请范围所作的均等变化与改进等，均应仍归属于本实用新型的专利涵盖范围之内。
Claims (10)
1.一种少子寿命测试仪防护支撑架，其特征在于，包括：支撑板、支撑杆和可调件，所述支撑杆设置于所述支撑板的下方，用于支撑所述支撑板；
所述可调件设置于所述支撑杆远离所述支撑板的一侧，用于调整支撑架的支撑高度与水平；
所述支撑板被设置于少子寿命测试仪的上方；所述支撑杆被设置于所述少子寿命测试仪的侧面。
2.根据权利要求1所述的一种少子寿命测试仪防护支撑架，其特征在于：所述支撑板至少设置有两层。
3.根据权利要求2所述的一种少子寿命测试仪防护支撑架，其特征在于：所述支撑板远离所述支撑杆的一侧的一层设置为非金属层，用于避免晶棒与金属接触。
4.根据权利要求3所述的一种少子寿命测试仪防护支撑架，其特征在于：所述非金属层为塑料材质。
5.根据权利要求3或4所述的一种少子寿命测试仪防护支撑架，其特征在于：所述支撑板靠近所述支撑杆的一侧的一层设置有金属层。
6.根据权利要求5所述的一种少子寿命测试仪防护支撑架，其特征在于：所述非金属层上开设有方形孔；所述金属层上开设有圆孔。
7.根据权利要求6所述的一种少子寿命测试仪防护支撑架，其特征在于：所述方形孔与所述圆孔同心设置，所述方形孔与所述圆孔连通设置。
8.根据权利要求6所述的一种少子寿命测试仪防护支撑架，其特征在于：所述圆孔的直径小于所述方形孔的边长，用于承托发光电极板。
9.根据权利要求1所述的一种少子寿命测试仪防护支撑架，其特征在于：所述可调件上套设有压缩弹簧，所述压缩弹簧设置于所述可调件与所述支撑杆之间，用于减震。
10.根据权利要求1所述的一种少子寿命测试仪防护支撑架，其特征在于：所述支撑架还包括：放置平台，所述放置平台平行所述支撑板设置于所述支撑杆之间，用于放置所述少子寿命测试仪。
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