CN216951464U - 一种少子寿命测试仪防护支撑架 - Google Patents

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杨强
周宏邦
张恒
贾海洋
娄中士
王淼
甄新雷
罗润泽
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Abstract

本实用新型提供一种少子寿命测试仪防护支撑架,包括:支撑板、支撑杆和可调件,所述支撑杆设置于所述支撑板的下方,用于支撑所述支撑板;所述可调件设置于所述支撑杆远离所述支撑板的一侧,用于调整支撑架的支撑高度与水平;所述支撑板被设置于少子寿命测试仪的上方;所述支撑杆被设置于所述少子寿命测试仪的侧面。本实用新型的有益效果是该支撑架结构简单,维修方便,加工成本低;通过设置独立支撑防护架,在对晶棒进行寿命检测时,减少寿命仪外壳与晶棒接触变形损坏;同时电极发光板内嵌设置,避免发光电极板受力,延长了使用寿命和更换周期,进一步节约了生产成本;尤其针对大尺寸晶棒的寿命检测,不存在放置困难或者不平稳等现象。

Description

一种少子寿命测试仪防护支撑架
技术领域
本实用新型属于光伏生产辅助用具领域,尤其是涉及一种少子寿命测试仪防护支撑架。
背景技术
目前进行晶棒的寿命检测过程中,厂家大多采用内嵌式支撑架,支撑能力不够,现有寿命仪支撑架承重无法满足需要,容易变形。同时发光电极板为凸出状态,测试晶棒寿命过程中容易变形损坏。在测试大尺寸(8寸以上) 晶棒时承重能力有限,同时发光电极板(直径为160mm的正方形)单独与晶棒端面接触,大直径(8寸以上)晶棒放置困难,容易压坏寿命仪外壳,并且放置不平稳。
实用新型内容
本实用新型要解决的问题是提供一种少子寿命测试仪防护支撑架,尤其适用于大尺寸晶棒的正常监测,减少少子寿命仪外壳与晶棒接触变形损坏。
为解决上述技术问题,本实用新型采用的技术方案是:一种少子寿命测试仪防护支撑架,包括:支撑板、支撑杆和可调件,所述支撑杆设置于所述支撑板的下方,用于支撑所述支撑板;
所述可调件设置于所述支撑杆远离所述支撑板的一侧,用于调整支撑架的支撑高度与水平;
所述支撑板被设置于少子寿命测试仪的上方;所述支撑杆被设置于所述少子寿命测试仪的侧面。
进一步的,所述支撑板至少设置有两层。
进一步的,所述支撑板远离所述支撑杆的一侧的一层设置为非金属层,用于避免晶棒与金属接触。
进一步的,所述非金属层为塑料材质。
进一步的,所述支撑板靠近所述支撑杆的一侧的一层设置有金属层。
进一步的,所述非金属层上开设有方形孔;所述金属层上开设有圆孔。
进一步的,所述方形孔与所述圆孔同心设置,所述方形孔与所述圆孔连通设置。
进一步的,所述圆孔的直径小于所述方形孔的边长,用于承托发光电极板。
进一步的,所述可调件上套设有压缩弹簧,所述压缩弹簧设置于所述可调件与所述支撑杆之间,用于减震。
进一步的,所述支撑架还包括:放置平台,所述放置平台平行所述支撑板设置于所述支撑杆之间,用于放置所述少子寿命测试仪。
由于采用上述技术方案,具有以下有益效果:
该支撑架结构简单,维修方便,加工成本低;通过设置独立支撑防护架,在对晶棒进行寿命检测时,减少寿命仪外壳与晶棒接触变形损坏;同时电极发光板内嵌设置,避免发光电极板受力,延长了使用寿命和更换周期,进一步节约了生产成本;尤其针对大尺寸晶棒的寿命检测,可实现正常测试,不存在放置困难或者不平稳等现象,提高了工作效率。
附图说明
图1是本实用新型一种实施例的整体结构示意图;
图2是本实用新型两种实施例的不锈钢板结构示意图;
图3是本实用新型两种实施例的PVC板结构示意图;
图4是本实用新型另一种实施例的整体结构示意图。
图中:
10、支撑板 20、支撑杆 30、可调件
40、压缩弹簧 11、PVC板 12、不锈钢板
50、放置平台
具体实施方式
下面结合实施例和附图对本实用新型作进一步说明:
在本实用新型的一种实施例中,如图1所示,一种少子寿命测试仪防护支撑架,包括:支撑板10、支撑杆20和可调件30,支撑杆20设置于支撑板10的下方,用于支撑支撑板10;可调件30设置于支撑杆20远离支撑板10的一侧,用于调整支撑架的支撑高度与水平;可调件30上套设有压缩弹簧40,压缩弹簧40设置于可调件30与支撑杆20之间,用于在支撑板10上放置晶棒时达到减震的作用。
在本实施例中,该可调件30采用可调整螺栓,可以想到,其他可以起到调整作用的结构均可。
如图1所示的本实施例中,支撑板10为矩形结构,该支撑板10的四角处各设置有一个支撑杆20,支撑板10被设置于少子寿命测试仪的上方,支撑杆20被设置于少子寿命测试仪的侧面,在进行晶棒的测试,尤其是大直径晶棒的测试时,通过可调件30调整支撑件的高度以及水平度后,将支撑架罩于少子寿命测试仪上方,将晶棒放置于支撑板10的上方,通过设置有独立的支撑架,起到支撑和防护的作用,减少了少子寿命测试仪外壳与晶棒接触的变形损坏;在本实施例中,支撑杆20可以但不限于不锈方钢。
其中,支撑板10至少设置有两层,支撑板10远离支撑杆20的一侧的一层设置为非金属层,非金属层上开设有方形孔,可以避免晶棒与金属接触。支撑板10靠近支撑杆20的一侧的一层设置有金属层,金属层上开设有圆孔。方形孔与圆孔同心设置,方形孔与圆孔连通设置,即两层以上的支撑板10 开设有将方形孔与圆孔连通的孔。该圆孔的直径小于方形孔的边长,使得发光电极板可以嵌入到方形孔中,放置单晶测试寿命时与金属接触。
在本实施例中,支撑板10共设置有两层,支撑板10远离支撑杆20的一侧设置为塑料材质,选取该非金属层为PVC板11,选取该金属层为不锈钢板12,PVC板11和不锈钢板12的尺寸相同,均取长度为530mm,宽度为 320mm,本实施例中通过螺纹孔将PVC板11和不锈钢板12进行连接;可以想到,支撑板10的尺寸可以根据所述防护的少子寿命测试仪的尺寸做适应性更改,并不限于本实施例中的具体尺寸。
具体的,如图2、图3所示中,设置PVC板11的厚度为8mm,该尺寸可以根据发光电极板的尺寸进行适应性调整,使得便于发光电极板的安装;设置不锈钢板12的厚度为10mm,便于对大尺寸的单晶可以进行测试,在受力后不会变形,不稳定影响测试结果;不锈钢板12上圆孔的直径取108mm,便于电极板下方的线路与设备连接。不锈钢板12的中心位置开设圆孔,保证发光电极板的底端可伸入;PVC板11上方形孔的边长取165mm,该尺寸可以根据发光电极板的尺寸进行适应性调整,使得便于发光电极板的安装,PVC 板的中心位置开设方形孔,保证发光电极板可内嵌到方形孔内,同时该发光电极板的上端面与PVC板11在同一水平面上,检测时,晶棒放置于发光电极板的上端面,防止晶棒使用少子寿命测试仪进行寿命检测时与金属接触,避免金属污染,影响单晶品质。
在本实用新型的另一种实施例中,如图4所示,与实施例一相比不同之处在于平行支撑板10设置于支撑杆20之间还设置有放置平台50。
如图4所示,一种少子寿命测试仪防护支撑架,包括:支撑板10、支撑杆20、可调件30和放置平台50,支撑杆20设置于支撑板10的下方,用于支撑支撑板10;可调件30设置于支撑杆20远离支撑板10的一侧,用于调整支撑架的支撑高度与水平;可调件30上套设有压缩弹簧40,压缩弹簧40设置于可调件30与支撑杆20之间,用于在支撑板10上放置晶棒时达到减震的作用;平行支撑板10设置于支撑杆20之间还设置有放置平台50,其中该放置平台50与支撑板10下端面之间的距离不小于少子寿命测试仪的高度,便于放置少子寿命测试仪。
通过放置平台50,使得少子寿命测试仪可以随同支撑架一起移动,便于移动和搬运,同时进一步保证了整体的水平度。
在本实施例中,该可调件30采用可调整螺栓,可以想到,其他可以起到调整作用的结构均可。
在本实施例中,支撑板10为矩形结构,该支撑板10的四角处各设置有一个支撑杆20,支撑板10被设置于少子寿命测试仪的上方,支撑杆20被设置于少子寿命测试仪的侧面,在进行晶棒的测试,尤其是大直径晶棒的测试时,通过可调件30调整支撑架的高度以及水平度后,将支撑架罩于少子寿命测试仪上方,将晶棒放置于支撑板10的上方,通过设置有独立的支撑架,起到支撑和防护的作用,减少了少子寿命测试仪外壳与晶棒接触的变形损坏;在本实施例中,支撑杆20可以但不限于不锈方钢。
其中,支撑板10至少设置有两层,支撑板10远离支撑杆20的一侧的一层设置为非金属层,非金属层上开设有方形孔,可以避免晶棒与金属接触。支撑板10靠近支撑杆20的一侧的一层设置有金属层,金属层上开设有圆孔。方形孔与圆孔同心设置,方形孔与圆孔连通设置,即两层以上的支撑板10 开设有将方形孔与圆孔连通的孔。该圆孔的直径小于方形孔的边长,使得发光电极板可以嵌入到方形孔中,放置单晶测试寿命时与金属接触。
在本实施例中,支撑板10共设置有两层,支撑板10远离支撑杆20的一侧设置为塑料材质,选取该非金属层为PVC板11,选取该金属层为不锈钢板12,PVC板11和不锈钢板12的尺寸相同,均取长度为530mm,宽度为 320mm,本实施例中通过螺纹孔将PVC板11和不锈钢板12进行连接;可以想到,支撑板10的尺寸可以根据所述防护的少子寿命测试仪的尺寸做适应性更改,并不限于本实施例中的具体尺寸。
具体的,如图2、图3所示中,设置PVC板11的厚度为8mm,该尺寸可以根据发光电极板的尺寸进行适应性调整,使得便于发光电极板的安装;设置不锈钢板12的厚度为10mm,便于对大尺寸的单晶可以进行测试,在受力后不会变形,不稳定影响测试结果;不锈钢板12上圆孔的直径取108mm,便于电极板下方的线路与设备连接。不锈钢板12的中心位置开设圆孔,保证发光电极板的底端可伸入;PVC板11上方形孔的边长取165mm,该尺寸可以根据发光电极板的尺寸进行适应性调整,使得便于发光电极板的安装,PVC 板的中心位置开设方形孔,保证发光电极板可内嵌到方形孔内,同时该发光电极板的上端面与PVC板11在同一水平面上,检测时,晶棒放置于发光电极板的上端面,防止晶棒使用少子寿命测试仪进行寿命检测时与金属接触,避免金属污染,影响单晶品质。
本实用新型的两种实施例的工作过程:
直接将少子寿命测试仪放置于操作平台上,支撑架直接罩设于少子寿命测试仪的上方;或将少子寿命测试仪放置于放置平台50,将整个支撑架放置于操作平台上,通过调节可调件30适当调节高度,保证支撑板10水平,同时将发光电极板置入方形孔中,保证发光电极板可内嵌到孔内,同时与 PVC板11的上端面在同一水平面,放置单晶测试寿命时与金属接触,发光电极板的底端伸入圆孔中;将晶棒放置于发光电极板上,直接进行晶棒的寿命测试。
以上对本实用新型的实施例进行了详细说明,但所述内容仅为本实用新型的较佳实施例,不能被认为用于限定本实用新型的实施范围。凡依本实用新型申请范围所作的均等变化与改进等,均应仍归属于本实用新型的专利涵盖范围之内。

Claims (10)

1.一种少子寿命测试仪防护支撑架,其特征在于,包括:支撑板、支撑杆和可调件,所述支撑杆设置于所述支撑板的下方,用于支撑所述支撑板;
所述可调件设置于所述支撑杆远离所述支撑板的一侧,用于调整支撑架的支撑高度与水平;
所述支撑板被设置于少子寿命测试仪的上方;所述支撑杆被设置于所述少子寿命测试仪的侧面。
2.根据权利要求1所述的一种少子寿命测试仪防护支撑架,其特征在于:所述支撑板至少设置有两层。
3.根据权利要求2所述的一种少子寿命测试仪防护支撑架,其特征在于:所述支撑板远离所述支撑杆的一侧的一层设置为非金属层,用于避免晶棒与金属接触。
4.根据权利要求3所述的一种少子寿命测试仪防护支撑架,其特征在于:所述非金属层为塑料材质。
5.根据权利要求3或4所述的一种少子寿命测试仪防护支撑架,其特征在于:所述支撑板靠近所述支撑杆的一侧的一层设置有金属层。
6.根据权利要求5所述的一种少子寿命测试仪防护支撑架,其特征在于:所述非金属层上开设有方形孔;所述金属层上开设有圆孔。
7.根据权利要求6所述的一种少子寿命测试仪防护支撑架,其特征在于:所述方形孔与所述圆孔同心设置,所述方形孔与所述圆孔连通设置。
8.根据权利要求6所述的一种少子寿命测试仪防护支撑架,其特征在于:所述圆孔的直径小于所述方形孔的边长,用于承托发光电极板。
9.根据权利要求1所述的一种少子寿命测试仪防护支撑架,其特征在于:所述可调件上套设有压缩弹簧,所述压缩弹簧设置于所述可调件与所述支撑杆之间,用于减震。
10.根据权利要求1所述的一种少子寿命测试仪防护支撑架,其特征在于:所述支撑架还包括:放置平台,所述放置平台平行所述支撑板设置于所述支撑杆之间,用于放置所述少子寿命测试仪。
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